在實際應用上，因為主流溫度(Tm)不是常數，所以[2.4]式必須利用杜 罕莫疊加原理(Duhamel superposition theorem)，如以下數學式表示：
∑
=紐賽數(Nusselt number Nu)，利用公式[2.6]可分析冷卻通道內的熱傳 效果。 對熱傳係數的影響。由 Dittus/Boelter-McAdams 關係式可計算出紐賽數 (Nu)的比值：
在高速旋轉過程中會產生科氏力以及旋轉浮力，對於通道內熱傳分佈有極
中色調(H)主要用來分辨顏色，不同波長的光顯現出不同顏色，如:紅、橙、
(2) 向列型(Nematic): 由長型棒狀分子組成，排列方式為縱向平行排列，
不同層的結構中分子排列位置皆不相同，排列方式較無規則性，向列型優 點為:黏滯性小，液晶分子的方向容易改變，反之，缺點為:易流動的特性 不適用於當作顯像的介質。
(3) 膽固醇型(Cholesteric):由長型棒狀或板狀分子組成，排列方式逐層 以螺旋方式堆疊而成，在各層中均沿著某特定方向平行排列，而層與層之 間排列方向的角度略發生一些變化。膽固醇液晶的特殊排列方式，具有特 別的光學性質，如:選擇性光散射以及旋光性等性質。
本實驗採用膽固醇型液晶，隨著溫度上升，螺旋旋距會縮減，波長也 跟著變短，在液晶變色範圍內，從低溫到高溫的變化過程，起先為無色慢 慢轉變成紅色，隨著溫度升高，液晶顏色順序為黃、綠、藍、紫，當超過 液晶變成範圍後，漸漸的又變回無色狀態。
2-5 靜止液晶校正曲線
不同操作參數下，如:光源選用、CCD拍攝位置以及液晶噴塗厚度等，
不同參數下液晶校正曲線有所差異，因此在實驗機台架設完成後，必須對 液晶先進行一次校正，且確保日後實驗的環境和校正時之環境相同，並求 出校正曲線圖。校正過程利用15mm × 15mm之銅片，將熱電偶線(type T)黏 在銅片上並連接到溫度記錄器，以便記錄銅片溫度的變化過程，由於銅片
2-6 旋轉液晶校正曲線
當測試通道處於高速旋轉狀態下，將造成光源之反射角度改變以及冷卻 通道產生微小的角度偏差，為了避免上述變因造成實驗之誤差，因此本文 列出不同操作條件下，對於液晶校正曲線的差異性。
對於微小角度偏差的影響，本實驗設置偏差角度為: 1∘、3∘、5∘以 及10∘，藉由結果來判別角度對於液晶校正曲線之影響程度。而在不同旋 轉速度下，液晶校正曲線也會有些許差異，因此對於旋轉速度的影響，本 文使用了三種頻率進行校正，分別為:5Hz、6Hz以及7Hz，所對應之旋轉速 度為:300RPM、360RPM以及420RPM，經由各種測試方式，找出實驗之不準度 誤差值。
閃頻儀中的占空比(Duty Cycle)也是影響實驗參數之一，本文使用固定 方波之訊號，方波一個週期為1/6s，而占空比的大小決定視覺暫留的時間，
若占空比設定太大，導致冷卻通道產生殘影現象，因此必須選定適合的占 空比，以占空比1%為例，表示真正有作用的時間為1/600s，其餘時間不作 用，由此可見，占空比越小，視覺暫留的效果越佳，對此本實驗做了占空 比為: 50%以及1%之校正，並和全亮光源之校正曲線做比較。
2-7 內冷卻通道之旋轉效應
冷卻通道在高速旋轉中，熱傳分佈會被科氏力(Coriolis)以及旋轉浮力 (buoyancy)所影響，科氏力的產生會改變速度場以及溫度場的偏移。[圖 2-4]
顯示旋轉產生之科氏力與浮力，對於內冷卻通道之影響，在第一通道區中 (First pass) ， 冷 卻 流 體 因 科 氏 力 的 影 響 強 制 偏 向 翼 後 緣 (Trailing Surface)，進而提升此區域之熱傳分佈 ，另一方面，在第二通道區中 (Second pass) ， 冷 卻 流 體 因 科 氏 力 的 影 響 強 制 偏 向 翼 前 緣 (Leading Surface)之位置。高速旋轉的離心力(centrifugal force)以及溫度差的因 素造成浮力產生，在第一通道中，浮力和流場慣性力有疊加的效果，而在 第二通道區，因流體的流向導致旋轉浮力和慣性力的作用剛好相反，因此 在第一通道區的熱傳值，翼後緣將會大於翼前緣，而第二通道區熱傳分佈，
翼前緣將會大於翼後緣。由[圖 2-5]可得知，旋轉方向若為逆時針方向旋轉，
迎風面的部位稱為翼前緣(Leading Surface)，背風面的部位稱為翼後緣 (Trailing Surface)，不同的旋轉方向，翼前緣以及翼後緣的定義也不同。
2-8 不準度分析
本實驗不準度分析(Uncertainty)之計算是根據 Moffat 在 1988 年所提 出的分析方法[37]，文中提到實驗的總結果 R 是由一連串的量測數據X1, X2, X3, …, XN(無論是由量測工具或是人為觀察)所計算得知，故 R 的組成函 數可以由[2.10]式表示：
R=R(X1, X2, X3, …, XN) [2.10]
文中定義Xi為一量測結果之數值，其有一量測誤差為δXi，並將其量測 誤差所造成的量測結果數據表示成：
Xi = Xi(measured) ± δXi [2.11]
並且必須符合以下定義：
1. 最精準的量測結果為Xi(measured) 2. Xi量測的不準度最大值為δXi
3. ±δXi的值大於Xi的機率應為 2.5%以下
文中並參考 Kline and McClintock 在 1953 年的論述[38]，在實驗中 若第 i 項量測數據有誤差存在時，將 R 對Xi作偏微分可得：
δRXi =δδXR
iδXi [2.12]
而當實驗中的結果 R 函數中有數個各別獨立的量測誤差，則 將其總實驗誤差用統計平方公差法(root-sum-square method)表示：
δR = �∑ �δδXR
(表 2.1)表示經計算後的各量測參數之誤差量，表中也列舉出本實驗各 參數的誤差範圍，並且以本實驗非肋條正上方的局部熱對流係數值計算其 不準度，可以計算出局部熱對流係數 h 之總誤差量，即：
δh = [(12.62)2+ (19.36)2+ (4.75)2+ (11.62)2+ (5.01)2]12 = 26.77(W/m2℃)
故本實驗之不準確度δh/h為 21.76%
h=123.01
Tm Tw,i Tw t k�
Uncertainty 0.5℃ 0.5℃ 0.5℃ 0.2s 30 hTm hTw,i hTw ht hk�
135.63 142.37 127.77 134.63 117.99 δhTm δhTw,i δhTw δht δhk�
δR
δXiδXi 12.62 19.36 4.75 11.62 5.01 δh h⁄ =21.76%
表 2-1:不準度分析