實驗方法

1.樣品製作

﹙1﹚在玻璃基板上塗佈配向膜，使用烤箱以 50℃/24 小時進行預烤，

主要除去配向膜中部分溶劑，來取得乾燥固態粉末。

2. 樣品測量條件

﹙1﹚將 2～5mg 樣品置於 DSC Cell 中，在通有穩定的氮氣的環境，

由一開始的 40℃加熱以 20℃/min 之加熱速率升溫至 220 及 230℃，

來觀察樣品的玻璃轉移溫度。

4.2.2 光學穿透率 1.樣品製作

﹙1﹚在玻璃基板上塗佈配向膜其膜厚 1100~1200A，進行 60℃/80sec 預烤，再固烤 220℃/1200sec 或者 230℃/1200sce。

2.樣品測量條件

﹙1﹚將固烤完畢的配向膜之玻璃基板，使用 UV-vis specturm 測量取 得 400~700nm 可見光的 Spectrum。

4.2.3 紅外線光譜分析與環化率測定方法 1.作環化率測定基板

﹙1﹚在鍍鋁反射基板上塗佈配向膜，利用所求的環化率條件進行烘烤。

﹙2﹚基板上將配向膜利用 FT-IR 測量取得 Spectrum。

﹙3﹚於 1512cm-1 附近的吸收 peak(Benzene 環)(a)與 1375cm-1 附近 的吸收 peak(Imidizatiom 環化)(b)來進行測量，計算出 b/a。

2.製作基準環化率測定基板

﹙1﹚在鍍鋁反射基板上塗佈配向膜，利用 300℃\60 分鐘進行烘烤。

﹙2﹚基板上將配向膜利用 FT-IR 來測量取得 Spectrum。

﹙3﹚於 1512cm-1 附近的吸收 peak(a1)與 1375cm-1 附近的吸收 peak 的高(b1)來進行測量並算出 b1/a1，如圖 4.1 所示。

圖 4.1 配向膜環化率計算的特定吸收峰示意圖 3.環化率的計算方法

將所測定出的(b1/a1)假設為環化率 100%，來計算出所求的 b/a 的

4.2.4 配向膜的阻抗值量測方法 1.阻值量測方法如圖 4.2 所示

﹙a﹚ ﹙b﹚

圖 4.2 配向膜的阻值量測示意圖﹙a﹚量測方式﹙b﹚樣品架設 資料來源：日產化學提供

2.樣品製作條件

預烤溫度：60 度/80sec

固烤溫度：220 度/1200sec；230 度/1200sec 3.量測條件

樣品：ITO/Polyimide(200nm~300nm)/Au(100nm) 導電的面積：1.77mm2

操作電壓：DC 10V 4.阻值計算公式

Volume resistivity﹙Ωcmρ﹚=R*(S/L)

R:Resistivity﹙Ω﹚；S:Electrode Area cm2；L:Sample thickness

﹙cm﹚

4.2.5 電壓保持率

1.VHR 的定義為外加一起始電壓 V1 於液晶盒上，經過一個幀的開 路時間之後所量測到的電壓值 V2 的比值，即 VHR=V2 / V1 如圖 4.3 電壓保持率量測示意圖。

圖 4.3 電壓保持率量測示意圖

2.實驗條件 Soak : 5V

Soak time : 60us Discharge : 0 second Measure time : 16.67ms Temp. : 70℃

Machine : Toyo 6254

V₁ V₂

4.2.6 離子濃度

Machine : Toyo 6254 3.電壓保持率計算公式

Current = dQ/dt=>∫current dt = ∫ｄQ ………4.2.6

V

4.2.7 閃爍的量測 1.閃爍量測定義

針對面板顯示畫面分 9 區塊進行閃爍量測，如下圖 4.5 所示。

圖 4.5 閃爍量測位置圖 2.實驗條件

Test pattern: L0/L127 Gray pattern Inversion : Dot Inversion

Frame time :60 Hz 爍公式定義為：Flicker(dB) ＝ -20×Log(AC/DC) ………4.2.7

1 2 3

4 5 6

7 8 9

4.2.8 影像殘影的測試 1.影像殘影測試定義

在影像殘留的測試棋盤格圖案下，燒機測試 1 小時與 6 小時後，

切換至特定灰階畫面下檢查有、無殘影現象，如圖 4.6 影像殘留的測 試方法。

﹙1﹚

﹙2﹚ ﹙3﹚

圖 4.6 影像殘留的測試方法；﹙1﹚觀察殘影的黑色與白色的棋盤格圖 案﹙2﹚在特定灰階畫面下有殘影現象 ﹙3﹚在特定灰階畫面下無殘影 現象。

2.在影像殘影測試的前、後進行閃爍及灰階 vs 亮度量測

影像殘留通常是有直流電壓施加到液晶上造成，而直流電壓的來 源則是配向膜中的殘留電荷，若正負半週所施加在液晶上的電壓不相 同，長時間累積下來就會引起配向膜中的離子電荷聚集，殘留的直流 電壓會使得畫素顯示不正確的灰階，因此在影像殘影測試的前、後進 行閃爍及灰階 vs 亮度量測。

2.實驗條件 Test pattern:

﹙1﹚影像殘影測試畫面為 Checker pattern

﹙2﹚殘影判定畫面分別為 0%、25%、50%亮度的 Gray pattern

﹙3﹚閃爍測試畫面為 L0/L127 Gray pattern

﹙4﹚灰階 vs 亮度量測畫面為 L0~L255 Gray pattern Inversion : Dot Inversion

Frame time :60 Hz Temp. : 25℃

Machine : K10