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5-1 量測系統簡介

5-1-1 電流-電壓量測系統

將製備完成的晶片架設在探針座上,並使用HP4145B半導體參數分析儀提供 電壓並量測電流變化,搭配Labview程式控制讀取HP4145B上的資料。儀器架設如 圖5-1。

圖5-1 電壓-電流量測系統

圖5-2 HP4145B機台外觀

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圖5-3 量測平台與探針座

圖5-4 I-V量測圖

5-2 退火對薄膜表面結構之影響分析

本實驗的 MIS 元件為 Al/SiO2/Si(P-type),我們嘗試在 SiO2層堆疊後進行退火 及未退火兩種製程;分冸為圖 5-5 SiO2層未退火之 MIS device 及圖 5-6 SiO2層退火 之 MIS device。透過 I-V 量測曲線,在正電壓下,可以發現 SiO2層為退火晶片在 照光時,達鋸齒狀曲線前,電流會多一段階梯狀的上升趨勢,而 SiO2層經過退火 的晶片則平緩上升。未經退火者,因為製程上的堆疊成長不完美,而產生結構上

有缺陷,當照光給予能量時,便透過缺陷產生了中間一段電流上升的現象;反之,

經過退火者,排列較為緊密,缺陷相對減少 ,電流趨勢平緩上升,而後才有一段 因電壓過大,導致 SiO2的漏電流電壓所產生的鋸齒狀曲線,被有效的阻隔,而光 照下電荷庫倫堵塞,形成量子穿隧效應電流隨電壓上升。

圖5-5 SiO2層未退火之MIS device I-V曲線

圖5-6 SiO2層經退火之MIS device I-V曲線

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圖5-8 正電壓時能階圖

圖5-9 Al/SiO2/Si光譜電流圖

SiO2

V>0

Ec

Ev Ei EF

EF

4.28eV

3.2eV

Al Photonic

光電流

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圖5-10 Al/SiO2/Si 0~10V光譜電流圖

圖5-11 Al/SiO2/Si -10~0V光譜電流圖

表 5-1 高介電常數材料之性質對 MOSFET 元件的影響[27]

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圖5-13 光功率與光波長關係圖

圖5-14 CM-110單光儀儀器圖

利用光源透過單色分光儀,將不同的光波長照射在元件上,再量測元件的對光電 流值,分析光對元件的響應度。我們利用式 5-1 來計算光響應度

(公式 5-1) R :光響應度,I :光電流,P:單位面積入射光功率,A:元件受光面積

觀察 Al/SiO2/Si 的光響應測量結果,如圖 5-15 及圖 5-16,我們發現元件受光 後的光電流響應輸出,在 0V 的時候,幾乎沒有太大的響應,要持續加電壓,才有 更好的反應,代表這個元件屬於高響應元件。

圖 5-15 及圖 5-16 的光響應結果,可以發現 Al/SiO2/Si 元件在紫外光區及遠紅 外光區有較高的響應,可見光區的響應較低,原因為此元件在可見光區有強的反 射率,而紫外光 300~400nm 及遠紅外 800~900nm 區反射率較低與使用圖 5-17 反射光譜儀 UV2101-PC(Shimatsu scanning spectrophotometer),波長範圍 250nm~

900nm 所量測之反射率結果一致,如圖 5-18 所示;而 1000nm 的光響應部分則是 半導體(Si)本身的能隙所造成。

比較圖 5-15 及圖 5-16 的光響應量測結果,更可以說明在 P-type Si 中產生光電 流之差異,當照射不同波長色光下,圖 5-15 為外加正電壓,其光電流由電洞所產 生;圖 5-16 為外加負電壓,其光電流由電子所產生。

受外加正電壓產生之電場影響,電洞在 P-Si 中移動相對較難,其產生之光電 流小,而電子在 P-Si 中為少數載子,受外加負電壓產生之電場影響,能帶彎曲明 顯,金屬層能帶上升與非金屬層間的能障變小,可能產生漏電流,計算光響應時 之電流成份含有大量漏電流,導致所計算出的光響應較大,此現象恰好說明負電 壓區的光響應較正電壓區光響應大。

因為負電壓區的光響應含有漏電流之成份,並非純光電流所產生,所以此工 作區不適合作為後續應用;正電壓區所產生之電流成份扣除暗電流(無照光時之電 流),即為純光電流,適合作為後續應用之工作區使用,因此,後續研究著重於正 電壓區之光響應分析。

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圖5-15 Al/SiO2/Si 0~10V的光響應圖

圖5-16 Al/SiO2/Si -10~0V的光響應圖

圖5-17 反射光譜儀

圖5-18 Al/SiO2/Si之R(%)

本實驗 Al/SiO2/Si 光偵測器元件製程中 SiO2層厚度分冸為 1000Å 、1400Å 以 及 2000Å ,觀察上述三者皆經過退火程序之 MIS 晶片光響應度比較,可以發現當 膜厚越薄,光響應度越好,其原因為施加電壓所產生的電場所造成的影響,當絕 緣層(SiO2)薄膜越薄,外加電壓產生的電場所造成的影響越大,光響應也隨之變大。

如下圖 5-19 SiO2層厚度 1000Å 之光響應圖、圖 5-20 SiO2層厚度 1400Å 之光響應 圖以及圖 5-21 SiO2層厚度 2000Å 之光響應圖所示。

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圖5-19 Al/SiO2/Si 1000Å 0~10V的光響應圖

圖5-20 Al/SiO2/Si 1400Å 0~10V的光響應圖

圖5-21 Al/SiO2/Si 2000Å 0~10V的光響應圖

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