“Test Stimulus Compression Based on Broadcast Scan with One Single Input”發表於2017年之TCAD，
“測試資料儲存於掃描鏈之自我測試架 構 ” 及 ” Output Bit Selection Methodology for Test Response Compaction”及” Autonomous Testing for 3D-ICs with
IEEE Std. 1687”此三篇學術研究分別發表於2017
5 4 3 2
Q
Q
_ 1
Scan SI
input Scan
output
input Scan
output
Test control signals
controller Cores under test
Recorded test data 1 Response
3
...
圖二、測試資料儲存之自我測試架構
C Setup signals (Iteration n) R Shift in Pattern (Iteration n)
Shift out recorded test data for pattern recovering (iteration n) and for next pattern
(iteration n+1) X
Shift out response (Iteration n-1) Scan-in
Scan-out
Shift in Pattern (Iteration n-1) R
Shift out recorded test data for pattern recovering (iteration n-1) and for next
pattern (iteration n)
Compressed Pattern
...
...
Iteration n Iteration n-1
R: Reset C: Capture Time
R C R
圖 圖三、測試流程[ITC 2016]
Shift in 2nd half pattern (Iteration n-1) R
2
Shift out 2nd part recorded test data
(Iteration n) (Iteration n-1)
1st
Clock2 gated R
1
Shift out 1st part recorded test data
(Iteration n)
R 2
Shift out 1st part recorded test data (Iteration n+1)
Setup signals (Iteration n) (Iteration n)
X recorded test data (Iteration n+1)
CUT
SCC SCC
SCC
Clock1Reset1 Shiftenable
Testpat.
Possibility of record all compressed data
16 core Rotor CPU
7750 4136 Yes
8 core OpenSpracT 2
420k 250k Yes
Test time [cycles] Shift power [W]
Area
Obfuscating places Number of possibilities The number of possible positions of KFFs 𝐶𝐾
𝑏 𝑆𝐿∗#𝑆𝐶
The number of possible keys 2𝐾𝑏
The possible input combinations of the Check Logic
∑(𝐶𝑘#𝑆𝐶∗ 2𝑘
#𝑆𝐶
𝑘=1
)
The possible number of trigger data for each pattern
SL
The possible position of the trigger signal Kb
表三、暴力破解我們的架構之可能性 (Kb denotes the number of bits of the key, SL denotes the Benchmarks 128-bit
AES
ISCAS89 s9234
wb_conmax Leon3mp
#SC 8 32 19 256
137991 18875 225733 7985855 Area
overhead
+1.01% +4.66% +0.63% +0.025%
科技部補助專題研究計畫出席國際學術會議心得報告
日期：2016 年 12 月 07 日
計畫編號 MOST 105－2221－E－006－242－
計畫名稱 車用電子之獨立式測試系統暨測試架構防駭安全技術 出國人員
姓名 李昆忠 服務機構
及職稱 成功大學電機系教授
會議時間
2016 年 11 月 13 日至
2016 年 11 月 18 日
會議地點
美國德州沃斯堡 (Fort Worth, Texas, USA)
會議名稱
(中文) 2016 國際測試會議
(英文) 2016 International Test Conference (ITC)
發表題目
(中文)
(英文) An On-Chip Self-Test Architecture with Test Patterns Recorded in Scan Chains
(中文)
(英文) Transformation of Multiple Fault Models to a Unified Model for ATPG Efficiency Enhancement
附件五
參加 2016 年國際測試會議報告 出席者： 成功大學電機系 李昆忠教授
會議名稱 :中文 : 2016 國際測試會議
英文 : 2016 International Test Conference (ITC) 時間 : 2016 年 11 月 13 日~18 日
地點 : 美國德州沃斯堡 (Fort Worth, Texas, USA)
一. 參加會議經過 :
國際測試會議 (International Test Conference, ITC)由國際電機電子學會(IEEE)所舉辦，會議宗旨為 探討積體電路、電路系統乃至於印刷電路板之測試相關問題與技術研發。ITC 為世界上位居領導地位、
水準最高且規模最大之測試相關會議，在為期一週之 Test Week 中，許多世界上最頂尖之測試專家學者 聚集在一起，針對測試相關之不同主題進行深入且專業之討論。會議討論內容包括從電路及系統測試 (Test)、設計驗證 (Design verification)、錯誤分析 (Failure analysis)及錯誤診斷 (Diagnosis)到電路安全 性等主題，為一在探討測試方面相關問題及技術非常完整之會議。
2016 年國際測試會議(ITC)於 11 月 13 日至 18 日在美國德州沃斯堡之沃斯堡會議中心(Fort Worth Convention Center)舉行。和往年類似，今年的議程亦相當豐富，共有 12 場教學講習 (Tutorial) 、3 場 專題演講(Keynote Speech)、5 場專題討論 (Panel Discussion)、18 場技術論文發表會 (Technical Paper Sessions)，7 場特別論文發表(Special Sessions)、一埸海報展示(Poster Session)及一大規模之業界展覽 (Exhibit)。與會者在參加完會議後，對於測試之相關主題均可有相當豐富之收穫。今年共有數十家工業 界之公司參與業界展覽，讓與會者不僅在學術上更能在實際應用上有更多交流之機會。
本人今年參加此會議的主要任務有二，其一為在 ITC 指導委員會(Steering Committee ) 報告 ITC-Asia 的籌備狀況，另一為發表三篇論文(包括一篇本人所指導的博士生參加博士論文競賽的文章) 並與與會人士進行交流。ITC-Asia 為明年將於台灣舉辦的新會議，主要目的為將類似 ITC 的會議方式 帶到亞洲，包括現場的展覽及以業界為主之各項論文發表及討論。本人被推舉為第一屆 ITC-Asia 之大 會主席，故有必要在 ITC 報告 ITC-Asia 的籌備狀況，報告過程相當順利，與會 ITC 指導委員會委員 提出不少問題，但因本人準備相當充分，故所有問題均可給予發問者滿意的答覆。本人另有三篇論文 發表，這不僅為台灣最多(其他台灣作者最多一篇)，且在全世界亦僅次另一目前測試界最富盛名之國際 學者 Krishnendu Chakrabarty，可說是收獲相當豐碩的一年。
本人於台灣時間 11 月 13 日早上 10 點從高雄小港國際機場搭機經由日本東京轉機，並於美國德州 當地時間 11 月 13 日約下午 2 點抵達沃斯堡。休息一晚之後便開始數天的會議行程。本人於 11 月 14 日中午即在 ITC 指導委員會報告 ITC-Asia 的籌備狀況，如前所述報告過程相當順利。另大會在 14 日主要的議程為教學講習 (Tutorial)，主題包括 TSV Testing、Application of Data Analytics、Secure Hardware、Testing of Automotive ICs、Yield Analysis、Cell-aware Fault Models、Memory Test、Root-Cause Identification、Mixed Signal DFT and BIST、Automotive Reliability、Test Approaches Across System Levels 跟 Practices in High-Speed I/O Testing。本人因需在 ITC 指導委員會報告，故未參加這些 tutorials。
大會主要議程從 11 月 15 開始，大會開埸時主要由大會主席及議程主席致歡迎詞及說明大會籌備 狀況及議程內容，其中並特明提到明年將在台灣舉辦之 ITC-Asia。接著由 Walden C. Rhines (Chairman and Chief Executive Officer, Mentor Graphics) 主講第一埸 Keynote Speech，題目為“The Business of Test:
共設立了 55 個攤位，展出他們最新的研發產品，也有一些小公司首次在此展出他們的產品。
技術論文發表 (Technical Session)於 14 日下午正式在會議中心內之各廳展開並持續到 11 月 17 日 下午。今年主題相當多元，總共有 34 種主題，每種主題有三到四篇論文發表，其中也包含許多由業 界來的邀請演講。今年的接受率大約 30%，發表的論文大部分為業界獨自或學界與業界合作所產生的 成果，本人的論文為少數完全由學界撰寫之論文，能被接受應屬相當不易。
本人的第一篇論文即為代表亞洲參加 E.J McCluskey 全世界博士論文競賽的論文，由本人已畢業 目前在聯發科工作之連唯証博士報告，其報告非常精釆，一開始頗有奪冠架勢，可惜最後仍不敵一篇 在美國由前述之 Krishnendu Chakrabarty 所指導的學生所撰寫，有大量業界合作的論文，不過連唯証 的博士論文能在亞洲勇奪第一已屬相當難得。
本人的另兩論文於 11 月 17 日早上 9 點開始之 Session 16 “Test Generation” 發表，第一篇由本人 之博士研究生吳政鴻報告，過程相當順利，報告後並有多人提出問題，吳生均能清楚回答。第二篇則 由本人報告，此篇內容為將一含數百萬邏輯閘之電路之所有測試資料壓縮到少於一個測試向量之資料 量，此壓縮能力大幅超越目前之技術，因此引起極大的迴響，主持人在本人報告完後即立即說他期待 將有極多人會提問，果不其然，發問者非常踴躍，幾乎欲罷不能，因此主持人特別延長發問時間，比 原先預定結東的時間多了 15 分鐘左右，這在一個正式的國際會議中幾乎是不可能發生的事。
今年另有一個相當特殊的 PANEL，主題為 “The Unknown Unknowns of Test” 由 ARM 公司的 R.
Aitken 主持，Panelist 包括 W. Eklow, D. Armstrong (Advantest), R. Arnold (Infineon), K. Chakrabarty (Duke University), P. Nigh (GLOBALFOUNDRIEST) 及 Y. Zorian (Synopsys). 此 panel 主要目的在深入 探討 the mysteries of unknown unknowns of test. 各 panelist 提出很多在測試界中一些 Unknowns 的問 題如何成為 knowns 並被有效解決。可看出一些所謂的先知先覺者如何引領趨勢，對測試產業作出極 大的影響。目前測試產業仍有極多問題極待解決，有許多甚至大家都不知道問題在那裡，此 panel 實 可令人深思。
本人於當地時間 11 月 18 日中午 11 點搭機經由東京成田機埸轉機，於台灣時間 11 月 19 日約晚上 11 點返抵高雄小港機場，回到台南已是 20 日凌晨。
二、與會心得及建議：
由於國際測試會議之投稿論文接受與否具有相當高之競爭性，每篇論文均至少由 5 位以上相當專 業之評選委員仔細評閱，因此本人的研究成果能夠被世界各地之測試專家學者所認同並為此會議所接 受實為極高之榮譽。特別是在一年內有三篇論文，在全界亦不多見。參與這次會議的過程中，讓本人 能夠見到許多測試界的老朋友及世界各國頂尖專家學者，同時，受邀在 ITC 指導委員會議報告 ITC-Asia 亦獲得不少經驗。在參與會議聆聽技術論文發表的過程中及與一些頂尖專家學者的交流，受益良多。
三、攜回資料名稱及內容：
1. 2016 國際測試會議論文集網址帳號及密碼，內容包括此次會議所發表之所有論文全文及大 部分口頭發表論文之投影片。
2. 2016 國際測試會議議程。
3. 參展廠商相關技術文件。
科技部補助專題研究計畫出席國際學術會議心得報告
日期：2016 年 12 月 16 日
計畫編號 MOST 105－2221－E－006－242－
計畫名稱 車用電子之獨立式測試系統暨測試架構防駭安全技術 出國人員
姓名 李昆忠 服務機構
及職稱 成功大學電機系教授
會議時間
2016 年 11 月 21 日至
2016 年 11 月 24 日
會議地點
日本廣島(Hiroshima)國際會議中心
會議名稱
(中文) 2016 亞洲測試會議
(英文) 2016 Asian Test Symposium
發表題目
(中文)
(英文) Repairable Cell-Based Chip Design for Simultaneous Yield Enhancement and Fault Diagnosis
(中文)
(英文) Autonomous Testing for 3D-ICs with IEEE Std. 1687
附件五
參加 2016 年亞洲測試會議報告 出席者： 成功大學電機系 李昆忠教授
會議名稱 :中文 : 2016 亞洲測試會議
英文 : 2016 Asian Test Symposium 時間 : 2016 年 11 月 21 日~24 日
地點 : 日本廣島(Hiroshima)國際會議中心
一. 參加會議經過 :
2016 年亞洲測試會議 (Asian Test Symposium, ATS) 於 11 月 21~24 日在日本廣島市的 International Convention Center 舉行，參加的人員來自世界 13 個國家及地區，除亞洲的日本、台灣、中國大陸、香 港、新加坡、泰國、阿聯酋及印度外，尚有來自歐美國家的學者及業界人士參與，故其規模已不侷限 於亞洲，為亞洲 VLSI 測試界的一大盛事。
本人今年參加此會議主要任務有二，第一為主持 ATS 之指導委員會議，本人現為 ATS 指導委員 會主席，今年為本人任期最後一年。今年要討論的議題相當多，包括 final report of ATS2015, status report of ATS2016, progress reports of ATS2017, 2018 and 2019, award committee report, 25th anniversary report 以 及一個由馬來西亞提出申辦 2020 ATS 之討論。另亦將選出新一期(2017~2019)的 ATS 指導委員會主席。
本人事先即詳細規劃議程並進行沙盤推演，故會議進行相當順利且效率極佳，在不到兩個小時的時間 內即將所有議程討論完畢。本人第二項任務則在發表二篇論文並與與會人士進行交流。
今年會議主要內容為 2 場短期課程(tutorials)、1 場主題演講(keynote speech)、1 場 2 場邀請演講 (invited speech)、1 場座談會(panel discussion)、15 場 technical paper sessions 及 4 場 special sessions (3 industry sessions and 1 PhD thesis contest)，另有一特別的主題來緬懷剛過逝的測試領域巨擘，Prof.
Edward J. McCluskey。另今年適逢 ATS25 週年，所以另有一特別的 25 週年慶祝活動。
大會於 11 月 21 日安排兩場短期課程 (Tutorial)，題目分別是 Industrial Advancements in Diagnosis Driven Yield Analysis 及 Combining Structural and Functional Test Approaches Across System Levels。正式 會議於 11 月 22 日早上 8 點 30 分開始，在大會及議程主席簡短介紹後，即由 GlobalFoundries 的 John M.
Carulli Jr. 所主講的 Keynote Speech 揭開序曲，題目為“Embracing Failures”，主要內容為說明現今晶片 的複雜度已大到錯誤無可避免，而需以可以接受的方式來進行測試。接著是大會特別用來緬懷 Prof.
Edward J. McCluskey 的特別主題，由清大的吳誠文教授首先以一個題目為Symbiotic-System Approach
for IoT Devices 的Keynote 來說明當今 IoT 可能面臨的能源不足的問題及其可能的解決之道，並以此來
紀念 McCluskey 教授總能在大家尚未明瞭一個重要問題前扮演先知先覺的角色。接著由四個教授分別 介紹 Prof. McCluskey 的貢獻及對其之影響。緊接的是兩場 Invited Talk，第一場由 Synopsys 的 Yervant Zorian 所主講，題目為“Quality and Reliability Challenges in Internet of Things”。第二場由 Mentor Graphics 的 Michael Chen 主講，題目為 “Secure Value Chain Enablement with Smart-Connected SoCs”。
大會之 15 埸 technical paper sessions 總共包含了 46 篇論文，分三個埸地同時進行。筆者之兩論