第四章 TO-can高精度封蓋治具
4.3 量產可行性分析
4.2.2 作業方式
step 1：cap 置入下電極，cap 被磁鐵自動吸引至一定位置(圖 4-7)。
step 2：stem 置於cap 上方，利用stem clamp定位，將stem推至同一個固定位 置，並挾持住stem，(圖4-9)。
step 3：上電極下降，通電執行電銲作業，使cap與stem達到氣密結合(圖4-10)。
2. 美國 W.A. Shewhart 博士於 1924 年發明管制圖，開啟了統計品管的新時 代，1940 年代 (二次世界大戰期間)--英美政府及企業開始引進，1950 日 本邀請美國品管權威戴明(W.E. Deming)舉辦講習，其對日本工業發展之 影響與貢獻，被稱為日本品管之父。
4.3.2 名詞解釋
SPC管制圖，以監控製程是否處於管制狀態，並決定製程能力指數，了解目 前製程能力水準。統計製程管制(statistical process control)。
Ca ：製程精確度(capability of accuracy)，比較製程分配中心與規格平均值一 致之情形。
Cp ：製程精密度(capability of precision)，比較製程分散寬度與公差範圍。
Cpk：雙邊規格管制界限之製程能力指數(process capability index)，ca與cp 之 總合指數。
CpU：單邊規格管制上限之製程能力指數(process capability upper index) CpL：單邊規格管制下限之製程能力指數(process capability lower index)
X-Rm chart：平均所有樣品各別值(X)及移動差異值(Rm)，得到X，Rm。
CLx=X ; UCLx=X+E2*Rm ; LCLx=X-E2*Rm
CLRm=Rm ; UCLRm=D4*Rm ; LCLRm=D3*Rm (4-1)
X-Rm管制圖：各別值與移動全距管制圖，是一種計量的圖形。
X-Rm定義：只從製程中讀取一個讀值，來代表製程輸出，由於只有一個讀
X-Rm管制圖用途：
A. 產品之品質特性分析或測試，手續較為麻煩，需花費很多時間，而有 誤工作時效者。
B. 產品之品質特性極為均勻一致，像液體或氣體，如溫度、壓力、濕度 等，測定值只要一點即可代表全體樣本時。
C. 產品需經一段很長的時間，才能製造完成，獲得一個測定值。
D. 產品為非常貴重之物品，測試一個樣本即損失很多金錢者。
E. 破壞性之試驗，每檢驗一個產品，即損失一個。
管制圖：在平均值處作成管制中心線(central line) ，簡寫為 CL 。在平均值加/
減 3 個標準差處作成上/下管制界限(upper/lower control limit) ，簡寫 為 UCL/LCL。如下圖所示。
計算製程能力以決定製程的Ca、Cp與Cpk。
Cpk 定義：表示製程可製造合乎規格產品的能力的一種指數。
A. σ：標準差，一組數值自平均值分散開來的程度的一種測量觀念。
2
(X -X)
i= (n-1)
(4-2)
B. X ：製程實際平均值。
C. μ：規格中心值。
D. Su：規格上限。
E. Sl：規格下限。
F. T：規格範圍(圖面公差)＝規格上限(Su)－規格下限(Sl )。
計算公式 代號 判定
雙邊規格 單邊規格
等級 分級標準
Ca 準確度 X-Ca= T
2
無
A B C D
|Ca|≦12.5%
12.5%<|Ca|≦25%
25%<|Ca|≦50%
50%<|Ca|
Cp 精密度 Cp= T 6
Cp=SU-X 3
Cp=X-SL 3
A B C D
1.33≦|Cp|
1.0 ≦|Cp|<1.33 0.83≦|Cp|<1.0
|Cp|<0.83 Cpk 製程能
力指數 Cpk=(1-|Ca|)
A B C
1.33≦Cpk 1.0 ≦Cpk<1.33
Cpk<1.0 (表 4-1 評價計算公式及分級標準)
Ca等級評定後之處置原則：
A 級：作業員遵守作業標準操作並達規格要求，須繼續維持。
B 級：有必要儘可能將其改進為A級。
C 級：作業員可能看錯規格或不按作業標準操作，應檢討規格及作業標準。
D 級：應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因素，必要時得停止製造。
Cp等級評定後之處置原則：
A 級：此製程極為穩定，可將規格容許誤差縮小或勝任更精密的工作。
B 級：有發生不良品的危險，須加以注意，設法維持不要使其變壞並迅速追 查。
C 級：檢討規格及作業標準，可能本製程不能勝任如此精密之工作。
D 級：應採取緊急措施，全面檢討所有可能影響之因素，必要時應停止製造。
Cpk等級評定後之處置原則：
A 級：製程能力足夠。
B 級：製程能力尚可，應再努力。
C 級：製程應加以改善。