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第一章 緒 論

1.3 離子效應研究方式

過去數十年間,已有許多關於液晶層中離子分布的情形以及液晶分子 轉動行為的研究,其實驗研究手法以電壓保持率與離子濃度間之關係

[2, 4]

、 光電特性的量測

[5–8]、液晶元件電容與阻抗係數量測 [5, 9, 10]

與暫態電 流量測

[2, 11, 12]

為主。其中,利用電性量測的方式(電壓保持率、電容與 阻抗係數與暫態電流),由於可直接量測到離子電荷在有外加電場時的響應,

且可以準確獲得離子電荷的物理特性;故相較於光電特性量測來說,將更適 合用來研究離子電荷的傳輸行為。以下分別詳細介紹各種基本量測的機制。

(1) 光電量測:

光電量測之基本架構如圖 1.1(依文獻

[13]

重繪)所示。圖 1.2(引用

文獻

[14])為液晶盒內離子受電場影響示意圖。當施加於液晶盒的電

壓為低頻或甚至為直流電壓時,液晶層中的正電荷及負電荷離子將會 受外加電壓所影響遷移到兩側,進而形成極性相反的電雙層(electric double layers);此時快速切換不同電壓,光穿透率變化極大,並可觀 察到影像閃爍的現象。若頻率降低,則將發現光穿透率變化增加,影像 閃爍愈明顯;當長時間顯示同一個畫面(施加固定直流電壓),在瞬間 關掉電壓時,液晶層中的離子早在基板兩側形成電雙層,瞬間將無法讓 液晶分子轉向(reorientation),因此會產生影像殘留的現象。光電量測

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中,液晶盒被放置於兩正交偏光板之間,且液晶分子導軸與偏光板光軸 相夾 45,此時為正常顯白(normally white)。若直流電壓由小到大,

再從大到小這樣來回施加信號,藉由施加不同的電壓,讓液晶分子有不 同程度的旋轉(orientation),如此將會造成相位差的改變,使穿透光 的強度產生變化。當離子濃度大時,液晶之閾值電壓會上升,且量測時 升高電壓及降低電壓所對應之穿透光強造成的遲滯(hysteresis)寬度也 變大。因此,研究上可藉由此方法來比較出液晶盒之離子濃度大小。

(2) 電容量測:

電容量測是利用液晶分子在變動的直流電壓下,其分子轉動造成電容 值發生變化來進行量測。施加電壓來回變化過程中,所量測的電容對直 流電壓曲線會呈現遲滯的現象,此現象與光電量測理論相似,主要是受 到液晶盒內部離子電荷濃度多寡影響;當內部的離子越多,則閾值電壓 越大,遲滯寬度也愈大,研究上也可以藉由此方法,來比較出液晶盒內 部離子電荷濃度大小。

(3) 暫態電流:

暫態電流量測對於研究液晶元件中離子電荷的特性、種類以及液晶分 子轉動反應來說是非常重要的。此量測是藉由液晶盒所受施加電壓影 響,使液晶分子轉動及離子運動,觀測電流–時間(I–t)曲線,此曲線

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可分為充電電流、峰值電流以及導電電流三成分,如圖 1.3(依文獻

[14]

重繪)。其中,充電電流為電容充電行為;峰值電流為液晶分子轉動所 造成電位移電流的變化;導電電流則為液晶盒內離子電荷所貢獻。研究 上可利用理論公式來擬合電流–時間(I–t)曲線,來得知離子電荷的濃 度和遷移率

[15]

,以及液晶材料的介電常數、導電率(conductivity)、

旋轉黏滯度(rotational viscosity)、預傾角與液晶分子轉動行為等基本 物理參數。將可於讓吾人更進一步的了解液晶盒內離子分布狀況。

(4) 介電頻譜術:

介電頻譜術如圖 1.4(依文獻

[16]

重繪)為一電性量測方式,此量測 方式是固定小交流電場並改變感測電壓頻率(通常遠小於閾值電壓),

使液晶產生極化,再對其極化鬆弛過程進行探討。藉由量測液晶分子的 極化行為,吾人將可得到液晶分子的有效介電常數與介電異方性(ε =

ε

– ε),並藉由理論模型擬合離子電荷之密度、擴散、飄移等

[17]

(5) 電壓保持率:

電壓保持率(VHR)量測法是量測液晶元件兩端的開路(open-circuit)

電壓降與輸入脈衝電壓的比值,此方法簡單且能快速檢測液晶元件之 好壞,為一個相當重要的參數及量測方式。當電壓保持率越小,表示液 晶元件內部離子電荷濃度越大;反之,則表示離子電荷濃度越小。由於

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此量測方式簡單且快速,因此為業界用來檢測薄膜電晶體液晶顯示器

(thin-film-transistor liquid-crystal display; TFT–LCD)品質的一種量測 方式。

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