第四章 立體微組裝技術
4.8 立體微組裝結果與討論
在上節已經使用簡化結構(無焊接樑),第二個設計方案,來驗證微電阻焊在
立體微組裝的可行性。由於簡化結構有其限制,導致了結構上以及電路上的困 難。在此節將會提出成功組裝第一設計結構的實驗資料 (定性與定量)來進一步 了解這個研究所提出的組裝技術。如圖 32成功地將第一種設計方案的微元件組 裝固定在直立的角度上。
圖 32 成功將第一款結構組裝在出平面的位置上,設計的微元件有 (a) 致動器 與 (b) 曲折式結構
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藉由移動在平台下方的磁鐵,讓它靠近或者遠離試片,可以舉起鉸接的鎳微 結構在不同位置。而這兩者之間的關係,就如圖 33所示,在這裡當Xmagnet = 0 定義成磁鐵就在試片的正下方,而且在這個位置微結構是完全直立的狀態。在圖 33中,所有的數據都是針對同一個元件多次重複量測的結果。在不同磁鐵位置 的情況之下,重複三次測量舉起的角度。從結果可知,當Xmagnet 介於 +12 mm 與 -12 mm之間,旋轉角度可以在 10.5° 與 175°之間改變。若是磁鐵的位置距 離試片超過 ±12 mm的話,旋轉的角度可以分別達到 0°或者 180 º。
圖 33 在焊接程序之前,磁鐵位置與元件旋轉角度之間的關係
然而,當元件被轉到將近180º 的時候,元件會跟其他固定在基板上的結構 產生碰觸。 而且也因為結構厚度的關係,懸浮的轉軸也會被抬昇一小段距離,
因此焊接樑以及轉軸將不會完全處在同一平面的位置。如以一來就會造成焊接的 困難。更進一步說,在焊接的過程當中,致動器會施力往前推動已經旋轉了一個
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角度的轉軸,而轉軸被抬升一小段距離,會使得0°或者 180º 的焊接不容易達成。
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圖 34是電阻焊過程中經由光學顯微鏡拍攝下的圖片,在焊接區域的變化情況。
焊接過程首先將試片放置固定在壓克力平台之後,元件受到外加磁場的影響而舉 起,圖 34(a),隨後,致動器推動焊接樑和旋轉軸,使得兩者與固定錨墊 (anchor) 接觸,圖 34(b)。當微焊接完成之後,致動器就會停止出力,放開焊接點,圖 34(c)。
為了要驗證這個研究所提出的多角度組裝的能力,因此這個實驗嘗試著將元 件固定在不同的位置上,例如圖 35是一組組裝完成之後元件的照片,三個元件 都在同一片晶片上,然後被個別地組裝在不同的角度上,個別大約是 14°、35°
以及90°。展示了這個研究所提出的微焊接技術在多角度組裝的能力。
圖 34 光學顯微鏡拍攝的照片: 立體微組裝的焊接過程 (a) 製造完成後的結構 在致動器前端、焊接樑、轉軸與固定錨墊之間都有間距 (b) 致動器推動焊接樑 與轉軸接觸,使得焊接區域 (welding site)有適當的接觸壓力 (c) 焊接完成之後 致動器停止施力放開焊接區域 。
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圖 35 經過立體微組裝之後的微元件,這三個微元件被固定在三個不同的角 度,分別是14°,35°以及 90°。這裡展示了這個研究所提出的立體微組裝技術 能夠將元件組裝在各種不同的角度。
除此之外,為了要定量地了解在焊接前後角度上是否有差異,因此另外量測 了48 個元件在焊接前後的角度變化,在定量的實驗當中,元件在被磁場舉起後 焊接前的角度將被紀錄下來,並且與焊接後的角度作一個比較,如圖 36。當磁
鐵位置Xmagnet在0、4、8 與 12 mm 時,焊接之後平均的角度是 90.3°、66.5°、
43.6°以及 15.5°,同時重複測量多次在這些位置角度的標準差是 4.1°、2.3°、3.6°
以及3.5°。再比較焊接前以及焊接之後的角度,當Xmagnet = 12 mm的時候,兩 者的差異最小,其值約2.3°。由以上數據可定性證明,這個研究所提出的組裝方 法不僅僅可以將元件作三度空間的組裝,更進一步,還可以組裝在不同的角度 上,也就是多角度組裝。
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圖 36 磁鐵位置介在 0 至 12 mm 之間,焊接前與焊接後的角度變化。
在焊接過程當中,隨著時間的焊接電壓與電流都有被紀錄下來,依據這些資 料,可以計算出每個時刻瞬間的電阻值,或者稱為焊接過程中的動態電阻。動態 電阻在此定義為某個時間點的瞬間電壓除以瞬間電流。在這個研究利用元件直立 90 度位置時的微電阻焊的測量資料來得到的動態電阻的曲線,如圖 37,它所呈
現的是一個典型的動態電阻。在傳統電阻焊中已經有許多研究針對動態電阻提出 相關的實驗與觀察,並且解釋它在焊接過程中的變化情況[30, 31],在這個研究 當中,也觀察到動態電阻在焊接的過程當中有特定的變化,如圖 37(a)。
在焊接尚未發生的時候,表面上有許多微觀的粗糙突起。當焊接樑與轉軸的 焊接處開始接觸的時候,這些微小的突起互相接觸,因而形成可能的電流路徑。
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然而在一般情況之下,金屬表面上存在氧化物或者細微的污染物,這些物質會對 電流產生很高的電阻。因此在電阻焊剛開始的期間 (圖 37(a)),動態電阻曲線會 有一個很高的值。隨著電壓逐漸增加,電流會穿破這層絕緣層,讓表面氧化物崩 潰,使得電流得以通過微小的接觸點。當電流通過這些接觸點時,會產生焦耳熱,
局部的溫度也隨之上升,可以進一步軟化這些細微突起,因而增加接觸的面積,
導致電阻下降。然而由於金屬的電阻係數隨著溫度增加而增加,這個效應又會使 得電阻升高。在這個階段,電阻的上升或者下降就是倚賴這兩個互相抵抗的效應 所決定,其結果就是在這階段的電阻會有一個局部最小值。隨後由於電阻係數隨 溫度增加而上升的效應比較明顯,因此電阻會從局部最小值開始往上增加。隨著 焊接過程繼續進行,熱量持續產生,更多的材料逐漸被熱量熔融,也就是焊接過 程中的熔核逐漸成長擴大,導致更多的材料接觸。當溫度逐漸穩定之後,動態電 阻會從局部的高峰往下降,此時熔核成長的效果主宰了這個部分的動態電阻曲 線,所以導致電阻下降,到最後電阻會達成一個平衡沒有變化的狀態,完成電阻 焊的整個過程,如圖 37(a)所示,焊接完成時間約 22 秒。
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圖 37 三種不同焊接樑寬度微元件的動態電阻曲線:(a) WC = 30 μm (b) WC = 11 μm 以及 (c) WC = 4 μm。
在這個研究中設計了三種不同寬度的焊接樑,除了WC = 30 μm 已如前述說 明之外,圖 37(b)(c)也顯示了另外兩種元件的動態電阻曲線。從結果發現,三種
寬度的元件在焊接時都有類似的動態曲線的變化。在同一個焊接電壓1.5 伏特的 情況下,從結果數據可以發現局部最大值A1、A2與A3 隨著寬度的縮小而降低。
比較寬的焊接樑有比較大的彈簧常數,這代表了抵抗致動器的阻力也比較大。致
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動器輸出的力量必須要先抵抗焊接樑的阻力,之後的力量才提供焊接時所需要的 接觸壓力。在相同的致動器出力情況下,比較窄的焊接樑,阻力比較小,因此接 觸壓力比較大,可以使得接觸面比較緊密地接觸,如此一來,可有比較低的局部 最高電阻。先前微電阻焊的可行性評估研究當中,可以知道接觸電阻越小,將有 助於提高焊接的接合力。然而,太窄的焊接樑卻會受到焊接過程當中的熱量影響 產生不必要的熱變形,如圖 38。在WC = 11 μm的元件當中,可以觀察到明顯的 熱變形。相對來說, WC = 30 μm 的焊接樑在經歷過焊接過程之後依舊可以保
持原來的幾何外型。綜合以上,焊接樑的寬度這兩者的妥協。過寬的焊接樑不利 於焊接的接合強度,過細的焊接樑無法承受焊接電流而產生熱變形。
圖 38 掃描式電子顯微鏡所拍攝的照片,在焊接之後焊接樑的熱變形: (a) WC = 30 μm (b) WC = 11 μm
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對於相同寬度的焊接樑來說,不同角度的焊接對於動態電阻並沒有明顯的差 異。設計焊接樑以及旋轉軸時,橫剖面理想的形狀應是矩形,但是由於製程上的 誤差,黃光微影製程的光阻橫剖面往往都是梯形,導致最後製造出的焊接樑以及 旋轉軸是具有倒梯形的橫剖面。因此兩者在焊接時,受到致動器推擠後的接觸容 易是線的接觸,而不容易是面與面的接觸。更進一步說明,即使在不同的角度,
接觸的面積不會有劇烈的變化,因為都是線的接觸。例如在90 度位置不會是面 與面接觸而與45 度位置的接觸面積有所不同。因此,這可能導致在不同的焊接 角度有類似的動態電阻曲線。
另外,在這個研究中,鉸鏈結構的間隙設計得足夠讓旋轉軸在其中自由轉 動,以避免產生卡住的情況[9],實驗過程當中也沒有發現鉸鏈結構有卡住的現 象。然而在製造過程當中,釋放結構過程當中的粘黏現象卻是經常發生,按照這 個實驗的製程能力,在同一個晶粒上的八個元件,至少有六個能夠成功被釋放。
一但微結構可以成功地被懸浮,後續的磁場致動都可以可靠地被順利驅動產生出 平面的旋轉。因此只要鉸鏈結構設計的安全裕度夠大,將不會是實驗過程的瓶頸。
在這個實驗當中,另外還磁性舉起、組裝並且測試一個主動的微元件,例如 一個電熱式致動器。並且給予這個已經組裝過後元件所需的電力,在 0.56 瓦特 的電源供應之下,這個組裝過後的元件可以達到27.7 μm 出平面的位移量,如
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圖 39。如此,在這個立體微組裝技術當中,可以更進一步確認焊接處在焊接完
成之後的導電能力。將可以實現各種微致動器以及微感測器的立體微組裝應用 上。
圖 39 測試已經組裝完成的微致動器 (a) 原來狀態 (b) 在供應 0.56 瓦特的電 力之後,前端向上位移了27.7 μm。
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