4.4 形變測量與分析
4.4.2 PZT(0.2 mm)
Figure 4.23: (a) 應變計黏於 0.2 mm 厚 PZT 上之裝置示意圖 (b) 量測結果
由於已知 Strain gauge 在不同擺放位置所測得 PZT 的形變趨勢相同，所以量測 0.2 mm 厚之 PZT 時，我們只黏上一個 Strain gauge，如圖4.23所示。其形變量為 0.224‰，
形狀變化如圖4.24，當電場加到 + 350 V/mm 時，其長和寬變小，高變大；關回零場時，
其長和寬變大，高變窄，但不會回到原本的形狀；再將電場加到 - 350 V/mm，其長和寬 變更大，高變更窄；關回零場時，其長和寬變小，高變大，也不會回到原來的形狀；再加至 + 350 V/mm，其長和寬變更小，高變更大；最後關回零場，其長和寬變大，高變窄，和最原 始的形狀也不同。
Figure 4.24: 通電場後 0.2 mm 厚 PZT 之形變
4.4. 形變測量與分析 33
4.4.3 Pd/Ni/Pd/Mica/PZT
Figure 4.25: 應變計黏於 Pd(4.2 nm)/Ni(15 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm) 上之裝置示意圖 (a) 正面 (b) 背面
在 Pd(4.2 nm)/Ni(15 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm) 此樣品上，PZT 的形變對磁 性薄膜的影響，加電場後我們量測到磁性改變，且是有序的變化，針對此樣品又再量了一 次 Strain 變化，並且得到形變與磁性的關係，同時我們也對 PZT 的形變會傳遞多少到 Mica 上感興趣，所以我們也在 Mica 上黏了一片 Strain gauge，裝置如圖4.25，量測結果 如圖4.26。形狀變化如圖4.27，形變趨勢和 0.2 mm 厚的 PZT 通電壓後相似，當電場加到 + 350 V/mm 時，其長和寬變小，高變大；關回零場時，其長和寬變大，高變窄，但不會回到 原本的形狀；再將電場加到 - 350 V/mm，其長和寬變更大，高變更窄；關回零場時，其長 和寬變小，高變大，也不會回到原來的形狀；再加至 + 350 V/mm，其長和寬變更小，高變 更大；最後關回零場，其長和寬變大，高變窄，和最原始的形狀也不同。PZT 形變量大約為 0.507‰，在 Mica 上量到的形變量大約為 0.465‰，表示 PZT 的形變並沒有完全傳遞到 Mica 上。
Figure 4.26: (a) 在 Mica 上所測得的形變量 (b) 整塊 PZT 的形變量
4.4. 形變測量與分析 34
Figure 4.27: 通電場後樣品 Pd(4.2 nm)/Ni(15 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm) 之形變
Chapter 5
第三，對於加電壓後有量到磁性變化的樣品 Pd(4.2 nm)/Ni(15 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm)，其 HC 對 E 圖，如圖4.7，在 0 V 到 15 V 間有不連續的行為，可能是因為 PZT 極化
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到垂直異向性，所以 HC 變小；相反的，若壓電材料獲得負應力，磁性層就需要較大的磁 能，磁矩才能從水平翻轉到垂直異向性，故 HC 變大。
Figure 5.1: HC、施加的電場與應力 ε 的相互關係圖
Chapter 6
結論
藉由壓電材料 PZT 的形變帶動磁性薄膜，在量測其型形變對於磁性的影響，起初我 們選擇最簡單且隨手可得的壓電銅片 - 蜂鳴器當作基板，從拋光開始由粗拋到細拋，最後 再上一層銅油，則雷射打到蜂鳴器拋光面後的反射光就會聚成一點，雖然加電壓後沒有 量到磁性變化，但是對其形變已有初步的了解。
在 Pd(4.2 nm)/Ni(15 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm) 此樣品上我們量測到加電 壓後磁性行為的變化，是有序的，且從文獻中初步估算，鎳薄膜的磁矩從水平異向性翻轉 到垂直異向性所需要的能量為 0.16ε′0MJm−3，而其 HC 對 E 圖，在 0 V 到 15 V 間有不 連續的行為，是由於 PZT 已被極化，形狀和極化前不同。除此之外，將 Pd(4.2 nm)/Ni(24 nm)/Pd(14 nm)/Mica/PZT(2 mm) 此樣品的雲母片用刀片刮下很薄一層後，再黏於 PZT 另一面，加電壓後也量到有序的磁性行為變化。
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