【19】中華民國 【12】專利公報 (B)
【11】證書號數:I564740 【45】公告日: 中華民國 106 (2017) 年 01 月 01 日 【51】Int. Cl.: G06F17/30 (2006.01) G06F17/27 (2006.01) 發明 全 4 頁 【54】名 稱:互斥與完備集合的特徵選擇方法、電腦程式產品MUTUALLY-EXCLUSIVE AND COLLECTIVELY-EXHAUSTIVE (MECE) FEATURE SELECTION METHOD AND COMPUTER PROGRAM
PRODUCT
【21】申請案號:104127537 【22】申請日: 中華民國 104 (2015) 年 08 月 24 日 【72】發 明 人: 李家岩 (TW) LEE, CHIA YEN;陳柏勳 (TW) CHEN, BO SYUN
【71】申 請 人: 國立成功大學 NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY 臺南市大學路 1 號 【74】代 理 人: 李世章;秦建譜 【56】參考文獻: TW I294971 US 6529895B2 TW 201126354A US 6977679B2 審查人員:施易昉 [57]申請專利範圍 1. 一種互斥與完備集合的特徵選擇方法,用於一電子裝置,該特徵選擇方法包括:取得多 個樣本,其中每一該些樣本具有多個變數;進行一獨立性變數產生步驟,從每一該些樣 本中取得該些變數的其中之一來產生一向量以代表對應的該變數,以根據一分群數目將 該些變數分為多個變數群組,並從每一該些變數群組中選擇該些變數的其中至少一者來 產生多個獨立性變數;從該些獨立性變數中選出多個重要變數;根據該些重要變數計算 該些樣本的一第一分群指標;重複執行一第一程序一預設次數,其中該第一程序包括: 對每一該些樣本產生一啞變數;以及將該些重要變數與該啞變數結合,以計算該些樣本 的一第二分群指標;判斷該第一分群指標與該些第二分群指標是否通過一完整性測試; 以及當該第一分群指標與該些第二分群指標通過該完整性測試時,輸出該些重要變數。 2. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,其中該獨立性變數產生步驟包括:對該些 樣本執行一華德法(Ward’s method),以決定 該分群數目;根據該分群數目對該些變數執 行一 K 均值(K-means)分群演算法,以將該些變數分為該些變數群組;對於每一該些變數 群組中的每一該些變數均計算一第三分群指標;以及根據該些第三分群指標,從每一該 些變數群組中選出該些變數的其中之一者。 3. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,其中所述從該些獨立性變數中選出該些重 要變數的步驟包括:對該些獨立性變數執行一步進選擇(stepwise selection)演算法以選出 該些重要變數。 4. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,其中所述從該些獨立性變數中選出該些重 要變數的步驟包括:對該些獨立性變數執行一最佳子集合(best subset)演算法以選出該些 重要變數。 5. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,其中所述對每一該些樣本產生該啞變數的 步驟包括:對每一該些樣本以一均勻分佈(uniform distribution)隨機地產生該啞變數。 6645
-6. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,其中所述判斷該第一分群指標與該些第二 分群指標是否通過該完整性測試的步驟包括:計算該些第二分群指標的一平均值;執行 一統計假設檢定,其中在該統計假設檢定中,一虛無假設(null hypothesis)被設定為該第 一分群指標相同於該平均值;以及若該虛無假設被接受,則判斷該第一分群指標與該些 第二分群指標通過該完整性測試。 7. 如申請專利範圍第 1 項所述之特徵選擇方法,更包括:若該第一分群指標與該些第二分 群指標沒有通過該完整性測試,判斷該些重要變數的數目是否小於該些變數的數目;以 及若該些重要變數的數目小於該些變數的數目,則增加該分群數目,並根據增加後的該 分群數目重新進行該獨立性變數產生步驟。 8. 一種電腦程式產品,當電腦載入此電腦程式產品並執行後,可完成如請求項 1 至 7 任一 項所述之特徵選擇方法。 圖式簡單說明 [圖 1]是根據一實施例繪示電子裝置的方塊圖。 [圖 2]是根據一實施例描述互斥與完備集合原則的示意圖。 [圖 3]是根據一實施例繪示特徵選擇方法的流程圖。 [圖 4A]與[圖 4B]是根據一實施例繪示特徵選擇方法的流程圖。 (2) 6646
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