第三章 研究結果與結構分析
3.2 失效模式與效應分析
本失效模式與效應分析包括（1）元件名稱/編號；（2）元件功 能/用途；（3）失效模式；（4）失效原因；（5）失效效應；（6）失效 偵測方法；（7）補救措施；（8）嚴重等級；（9）失效機率/失效率；（10） 備註。
失效偵測方法（Failure Detection Method），是指產品在進入使 用階段，失效機率/失效率應是屬於關鍵性分析（CA）之部分，使用 者在使用過程中用來發現或研判失效之方法，一般為目視與自測
（Built In Test； BIT）。補救措施（Compensating Provision）指在使 用階段中，使用者採行使產品能繼續運作的措施。在此暫且將其應用 到本文中之失效模式與效應分析裡一併分析。失效機率/失效率一般 分為兩種方法：（1）定性法；（2）定量法。
本文取定性法加以評定，此法是指當特定元件之型態或失效數據 無法肯定時，按照表3-3之原則，定性的將系統失效機率（Cr）等級 加以劃分成五级。
嚴重等級可分為三種方法：（1）多要因評估法；（2）單要因評 估法；（3）列表評估法，本文以單要因評估法加以作評估。
單要因評估法就是僅以單一要因來進行失效模式嚴重等級之判
定，評估失效模式的發生對產品之影響程度，如表3-4所示，美軍標
準 MIL-STD-1692亦以此作為評定標準。表 3-5 及表 3-6即為本產品
之失效模式與效應分析表，表3-7為說明失效機構與挑選是驗項目的 關係
表 3-3 定性的失效機率等級 等 級（Cr） 內 涵
A B C D E
經常發生 相當可能發生
偶而發生 極少發生 幾乎不可能發生
表 3-4 系統的損害程度
該失效模式對系統之影響 嚴重等級 備註 系統輸出功能盡失，嚴重降低任務能力。 I 致命失效 嚴重減低系統輸出功能，造成較高層次系
統的失效。 II 嚴重失效
造成其它層次系統的失效，減低系統輸出
功能，對任務影響極小。 III 主要失效
減低其它層次系統的功能，不至於造成系
統受損，但須不定期維修。 IV 次要失效
表 3-5 本產品之失效模式與效應分析表
元件名稱 元件功能 失效模式 失效原因 失效效應 失效偵測方式 補救措施 嚴重等級 失效率（Cr）
上蓋
開放式設 計，
亦取放IC，
熱散逸能力 優良。
結構變形。
卡溝斷裂損 壞
不當使 用。超過 210℃之環
境下預燒 過久。
無法與誘導體 或壓力臂組 合，上失其功
能。
目視 更換上蓋 II 級 D
上蓋彈簧
在上蓋和誘 導體提供一 彈力，固定
IC。
結構變形 不當組裝
無法與上蓋和 誘導體提供一 彈力，固定IC。
目視 更換上蓋彈
簧 II 級 D
誘導體
開放式設 計，易於定 位IC 使其接
觸正確。
卡榫斷裂 不當拆裝 無法組裝預燒
承座。 目視 更換誘導體 I 級 C
壓力臂
藉此結構，
使IC 接觸穩 定
結構變形
不當使 用。在超過 210℃之環 境下預燒
過久。
脫離上蓋之勾
槽。 目視 更換壓力臂 II 級 E
表3-5 本產品之失效模式與效應分析表（續）
元件名稱 元件功能 失效模式 失效原因 失效效應 失效偵測方式 補救措施 嚴重等級 失效率（Cr）
彈簧針座（上 蓋、底座）
組裝彈簧 針，為轉接板
和IC 間之媒 介
1.孔洞破裂 2.定位銷斷
裂
不當組裝，
施力過大。
影響彈簧針與 錫球之定位，影
響轉接板與底 座之定位。
目視 更換彈簧座 II 級 D
轉接板
提供高腳數 轉往低腳數
的功能
電性測試不 導通
預燒後銅箔 表面產生氧 化層，影響 電性測試。
無法測得預燒
承座之電性。 自測 靜待30 分鐘
即可 IV 級 A
基座
作為預燒承 座與預燒板 間的媒介
卡榫斷裂 不當組裝 無法組裝預燒
承座。 目視 更換基座 I 級 C
彈簧針
提供IC 與預 燒板間之良 好導通途徑
結構變形，
電性測試不 導通
不當組裝。
表面產生氧 化層，影響 電性測試。
無法測得預燒
承座之電性。 自測 更換彈簧針
與彈簧針座 III 級 C
接觸針
提供轉接板 與預燒板間 之導通途徑
結構變形。
電性測試不 導通
預燒後銅箔 表面產生氧 化層，影響 電性測試。
電性無法測得 目視 選用高傳導
型材料代替 IV 級 A
表3-6 失效機構與挑選試驗項目的關係 失 效 機 能
挑 選 項 目 打 線
黏 著
雜 微 粒 物
包 裝 缺 陷
包 裝 封 閉 缺 陷
熱 不 平 衡
製 程 缺 陷
表 面 缺 陷
介 質 缺 線
鍍 鋁
外 接 腳 缺 陷
封蓋前內部檢查 × × × × × ×
燒 烤 × × ×
溫 度 循 環 × × × × × × 離 心 試 驗 × × × × ×
機 械 衝 擊 × × × × 振 動 × × × × 漏 測 ×
燒 入 × × × × × 逆 壓 燒 入 × × × × × X 光 × × × × ×
外 部 封 蓋 檢 查 × ×