實驗結果

本研究的實驗耗時長久，故無法進行太多實驗，最後共進行 17 次輝度及變 形實驗(包含試片架設測試)，各項實驗目的如表 6.1 所示。在進行輝度量測時，

會對各個試片進行熱測試，即將 OLED 試片通電約一小時，用遠紅外線溫度計 測 OLED 發光區域的溫度，如表 6.2 所示，NO.3 ~ NO.7 實驗的實驗室室溫均為 當時室溫 27.0 ℃，NO.3 ~ NO.7 實驗發覺溫度升高或下降 0.5 至 1.0 ℃，顯然溫 度變化不大，熱的影響應不大。

6.2.1 長期工作電壓的選取 長期工作電壓的選取 長期工作電壓的選取 長期工作電壓的選取

錸寶公司所提供藍色螢光試片的工作電壓約為 3.0 ~ 4.5 V，短期測試實驗的 目的在找出藍光試片適合長期實驗的工作電壓，在相同電壓的條件下對試片的 發光輝度與薄膜變形量同時進行實驗。實驗共使用五片試片每次歷時 40 分鐘左 右，實驗編號為 NO.3 ~ NO.7。

如圖 6.7 所示，NO.3 ~ NO.7 實驗的藍光試片上一塊發光面積所發光的輝度 值，皆隨電壓增大而遞增，在 0 ~ 4.0 V，NO.3 ~ NO.7 實驗輝度值的斜率逐漸昇高，

4.0 V 後輝度值的斜率繼續上升，在電壓 4.5 V 時，NO.3 ~ NO.7 的輝度值都為最大 值，表示越大電壓能使發光區域輝度值越高。如圖 6.8 所示，NO.3 ~ NO.7 實驗的 藍光試片上薄膜變形量皆隨電壓增大而遞增，在電壓 4.5 V 時，NO.3 ~ NO.7 實驗 的變形量差值都為最大值，表示越大電壓能使有機薄膜變形量差值越大。長期工 作電壓的選取中，由圖 6.7 和圖 6.8 所示，電壓在 4.5 V 時，藍光試片的薄膜變形 量差值和發光輝度為最大值最易檢測，因此初步選定 4.5 V 為長期實驗的工作電 壓，但 4.5 V 的工作電壓經實驗測試後，如圖 6.9 所示，NO.8 實驗的輝度值從 1242 Nit 開始逐漸下降至 329 Nit，在時間 4500 min 後，輝度值突然降為零，表示試片 發光區域沒有在發光，4510 min 的發光壽命過於短，故 4.5 V 不適合做為長時間藍 色試片的工作電壓，為確認 4.5 V 是否適合長時間藍色試片的工作電壓進行實驗 NO.9，設定工作電壓為 5.0 V，如圖 6.10 所示，在 240 min 之後，試片就會熄滅，

不在發光，故確定 4.5 V 工作電壓過高，不適合做為長時間實驗的工作電壓，然後 改採 4.0 V 為工作電壓，進行 NO.10 實驗，如圖 6.11 所示，實驗的一開始輝度值 從 534 Nit 隨時間增加而慢慢遞減，在 5000 min 時，輝度值約為 149 Nit，故工作 電壓 4.0 V 的發光輝度值在長時間實驗之下，輝度值隨時間增加而遞減，有符合一 般期待，而不會在某個輝度值時，發光區域瞬間熄滅，電壓 4.0 V 為藍光試片長時 間量測之最佳工作電壓。

6.2.2 長期實驗 長期實驗 長期實驗 長期實驗

就小幅向下振盪，變化振幅ㄧ直保持不大，直到 54 hour，變形量突然再急遽增加， 關係。NO.13 實驗的輝度值衰減度大約 266 Nit，總變形量差值為 40.0 µm；NO.14 實驗的輝度值衰減度大約 482 Nit，總變形量差值 47.8 µm，顯然 NO.14 實驗的發

形量快速增加至 85.0 µm 左右。接著從如圖 6.18 與圖 6.19 進行比較，可看出在 NO.16 實驗輝度值為零後，變形量有明顯上升。

如圖 6.20 和 6.21 所示，NO.17 實驗的發光面積所發光的輝度値隨時間而遞減，

符合一般常理，實驗的發光區輝度值ㄧ開始是從 491 Nit 隨時間逐漸往下遞減，實 驗的變形量開始就急遽遞增至 28.8 µm 左右，在 1310 min 時，輝度值為 245 Nit 後，

輝度值緩慢上升，直到 2680 min，在這期間變形量並未減少，反而稍微遞減至約 27.3 µm，在 2680 min，輝度值 212 Nit 慢慢下降至 185 Nit，變形量開始就小幅下 降振盪，在 3430 min 後，輝度值突然急速到達 0 Nit，變形量趨於平緩至 31 µm。

接著從如圖 6.20 與圖 6.21 進行比較，可看出在 NO.17 實驗輝度值為零後，變形量 的振盪有明顯趨於和緩，NO.17 實驗在 0 ~ 1000 min 時，輝度值急遽下降而變形急 速上升；NO.17 實驗在 1320 ~ 2680 min 時，輝度值有明顯上升而變形量也有明顯 下降，此兩塊時間範圍可得知，輝度值與變形量有密切的關係。

在三次實驗中，在最後發光區域熄滅時薄膜變形量都很大，熄滅後 NO.15 實 驗的變形量有明顯小幅增加的振盪，NO.16 實驗的變形量有明顯的增加，NO.17 實驗變形量有小幅的振盪。如圖 6.22 所示，當電源關閉後，發光區域上會產生白 點，全部發光區域的薄膜會繼續向下變動，這表示發光區域的薄膜似已造成脫層，

因此可證明當薄膜脫層就失去發光能力的推論，實驗 NO.15 ~ NO.17 的試片發光 熄滅後，變形量不是大增或是有振盪的現象，這都是薄膜產生脫層的現象。NO.15 實驗的發光區域壽命為 40 min，其輝度值衰減度為 277 Nit，總變形量差值為 11.9

µm，通常變形量差值越小，表示其附著力高，此實驗的差值很小就產生脫層，似 乎意味著正常的 OLED 薄膜在初期通電時，應有適度的變形，才會有正常的發光 能力；NO.16 實驗的發光區域壽命為 170 min，其輝度值衰減度為 107 Nit，總變形 量差值為 84.0 µm，此實驗輝度值一開始就不是很穩定，導致薄膜變形過大，產生 薄膜脫層；NO.17 實驗的發光區域壽命為 3430 min，其輝度值衰減度為 491 Nit，

變形量差值為 31.9 µm，由於此實驗在 1320 ~ 2670 min 時，輝度值和變形量同時間 產生變化，輝度值上升和變形量變小的關係後，薄膜就產生小幅振盪，此現象可 能導致發光區域薄膜不穩，產生脫層。此三次實驗的發光壽命過於短，三塊發光 區域應為不良品。