摩擦 PI 膜之後分子的排列指向性會沿著摩擦方向在之前的論文 已經證實過了[31~34]，而在摩擦基板後，會在表面形成溝槽，造成 異向性。下圖為摩擦 PI 膜三次之後的*原子力顯微鏡圖:
圖 5-1 摩擦三次之後的 PI 膜原子力顯微鏡圖
利用原子力顯微鏡可以更清楚看到摩擦後溝槽的形成。而摩擦之後造 成PI膜的分子重新排列，使液晶配向，這在之前的論文已經證實過了 [35]。在未摩擦的基板其分子指向性呈現混亂不均，液晶配向效果也 為混亂且無單一指向，而摩擦基板後的分子排列較有指向性，且配向 效果較為均勻。
摩擦後基板與為摩擦的基板所製作的液晶盒，利用顯微鏡觀察可 以更瞭解其摩擦所造成的異向性與其配向效果。本次使用的顯微鏡在 第四章已經介紹過，而在觀察液晶盒時，上偏光片與下偏光片其兩者
穿透軸夾角為90°，當光源穿透下偏光，液晶盒與上偏光片後的光強 度方程式可利用Jones Matrix推得如下:
2 2
I 1 s i n ( ) s i n ( 2 )
2 2
= δ ψ
(5-1)其中δ為液晶盒之光學延遲量(Retardation Phase)，Ψ為液晶盒的 方位角。
圖5-2(a)為無摩擦基板所製作的液晶盒灌注液晶後在光學顯微 鏡下的圖像，其光學圖像呈現散亂不規則，明暗條紋交錯，很明顯並 不是均勻的光學圖形。圖5-2(b) 為摩擦基板三次後製作的液晶盒且 液晶盒方位角在45°時的圖形，由式5-1可得知，此時的光學圖形呈現 最亮的時候。從此圖中可以觀察到，其在顯微鏡下呈現均勻的光學圖 形，當轉動顯微鏡旋轉盤時，其圖形會慢慢變暗，可瞭解液晶盒具有 單一指向且均勻。
(a)
(b)
圖 5-2(a,b) 無摩擦與摩擦基板所製作之液晶盒圖形
摩擦次數過多時，會使得液晶配向效果下降，故本次只使用到摩擦五 次的基板比較即可。本章節為討論當摩擦基板，基板表面分子重新排 列後，所造成的異向性。並利用 RAS 與接觸角分析摩擦後所造成的異 向性，以及預傾角及 RAS 訊號作一簡單的比對。
5-1 RAS Signal 與摩擦強度的關係
Real Part of Δr/r (×1000)
圖 5-3 無摩擦之基板與RAS訊號圖
因為光電偵測器所能夠取得訊號為波長從 350 到 950nm 這個區間，而 在本實驗架構量測時，400nm 以下的波長光電偵測器幾乎無法偵測到 直流訊號，所以此次實驗並沒有量測到 400nm 以下波長的訊號。
從圖 5-3 發現無摩擦基板的異向性訊號仍然存在。在之前 RAS 與 摩擦 polyimide film 之間的研究[20,21]與在第二章的理論分析可以 瞭解到，在均勻塗布 Polyimide film 後的基板其所得到的 RAS 訊號 是接近零的，但是在此次實驗中，可以明顯看到未摩擦的基板，其訊 號仍舊是非常的強烈，並不是在零的地方。
當 Fresnel 反射係數為零的時候，反射訊號才能夠真的為零，
而此次所架設的光路因為受限於光源與光學元件，並無法真的使入射 角度為零度，而使得在反射在未摩擦的基板時，也產生了異向性訊 號。而此訊號有可能並不完全是異向性訊號，是入射角不為零的反射 訊號，而在內部結構產生了干涉的訊號，可能因此使得摩擦後的異向 性訊號產生誤差。
從雙折射的理論來看，分子結構如果是異性向，其極化也將呈現 異向性，致使電磁波在入射晶體產生雙折射現象。當塗布 PI 膜在 ITO 玻璃基板時，雖然表面看起來均勻透明，但是分子之間的排列並無從 看出。使得電磁波入射後，p 波或是 s 波其中之一反射訊號較強，使 得某一極化方向的 Fresnel 反射係數較強，致使未摩擦基板有異向 性訊號。
再繼續利用同一片基板從無摩擦做到摩擦六次，而固定入毛深度 在 0.3mm 後所得到的 real part[Δr/r]乘上 1000 倍被所得到的結果 如圖 5-4:
0.00
Re al P ar t of Δ r/ r (× 1000)
NO RUBBING
斷的加強，Macdonald 等人在 2003 的論文中[24]提出一種論述:當不斷摩擦基板時其毛刷不斷對表面摩擦，使得溝槽形成層與未摩擦 層之間產生“能量偏移”(Energy Shift)，而在摩擦基板後所形成的 溝槽，在不同的光子能量，使得
r
x 與r
y 的不同。而其兩者之間的關係可由下兩式瞭解到: