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氯氣分子在探針脫附的孤立 Dangling Bond 的反應

第三章 實驗數據分析討論

3.1 Cl 2 氣體分子在孤立的Dangling Bond上的動力學機制

3.1.3 氯氣分子在探針脫附的孤立 Dangling Bond 的反應

此小節我們將使用探針脫附的方式,來產生孤立的懸鍵,如圖 3.20 所示。

在曝上Cl2氣體分子,以了解Cl2氣體分子的吸附情形,如圖 3.21。然而我們也分 別對他們做統計上的分析,如同 3.1.1 小節中所禪訴的方法,其表格如 3.22 所示。

圖 3.20 室溫下探針脫附於 Si(100)-2×1:H 表面上,圖中亮點為成對的懸鍵,取 圖的區域為 18 ×13 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -1.82V、ΙfeedbackΙ= 0.31nA。

圖 3.21 11.52 L Cl on Si(100)-2×1:H,圖中亮點為 Cl 原子,取圖的區域為 17 × 16 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -1.82V、

ΙfeedbackΙ= 0.31nA。

個 數

Single DB Cl 19

Single DB H 20

H Cl 31

同 row 和 不 row 置 換 12

Total DB 39 Single DB 變 成 氯 的 機 率 31/39=79%

圖 表 3.22 為 對 圖 3.20 和 圖 3.21 所 做 的 個 數 變 化 的 統 計 表 。

然而 3.1.2 小節、3.1.3 小節實驗結果和機制跟 3.1.1 小節討論的實驗結果相吻合,

其孤立的懸鍵,碰到Cl2氣體分子時,將會以Cl原子的方式吸附,形成穩定的狀 態,所以我們可以明確的暸解到Cl 氣體分子在懸鍵上吸附的機制有氯原子的吸 附方式。

2

第三章 實驗數據分析

3.2 Cl 2 氣體分子在成對的Dangling Bond上的動力學機制

3.2.1 氯氣分子在成對的 Dangling Bond 的反應

在 3.1 節中,我們分析及討論了Cl2氣體分子在孤立的懸鍵上的動力學機 制,然而我們亦想了解Cl2氣體分子在成對的懸鍵上的吸附情形,是否跟 3.1 節中 探討的吸附狀況一樣,在dimer上的成對的懸鍵,經曝Cl2氣體分子後,是呈現H-Cl 的組合模式。即是以一顆Cl原子的吸附,而不是兩顆Cl原子的吸附情形。所以在 此我們是使用針脫附的方式,來畫出我們要的成對的懸鍵,如圖 3.20、3.21、3.22 所示。

圖 3.20 室溫下針脫附於 Si(100)-2×1:H 表面上,圖中亮點為懸鍵,取圖的區 域為 11 × 7 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -2.4V、

ΙfeedbackΙ= 0.31nA

圖 3.21 室溫下針脫附於 Si(100)-2×1:H 表面上,圖中亮點為懸鍵,取圖的區 域為 27 × 27 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e =

-1.82V、 ΙfeedbackΙ= 0.28nA

圖 3.22 室溫下針脫附於 Si(100)-2×1:H 表面上,圖中亮點為懸鍵,取圖的區 域為 9 × 5 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -1.82V、

ΙfeedbackΙ= 0.28nA

其後在圖 3.20、圖 3.21 及圖 3.22 中,分別曝上Cl2氣體分子,如圖 3.23、圖 3.24、

圖 3.25 所示,並討論他們的化學吸附狀況。

圖 3.23 11.52 L Cl on Si(100)-2×1:H,圖中亮點為 Cl 原子,取圖的區域為 7 × 6 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -2.4V、

ΙfeedbackΙ= 0.31nA

圖 3.20、3.21、3.22 的大亮點是我們使用針脫附時,而產生的成對的懸鍵,然而 當成對的懸鍵產生時,將會造成微弱的π鍵形成,且因懸鍵是屬於活性很大的 鍵,所以當曝上Cl2氣體分子時,Cl2氣體分子將會破壞Si(100)-2X1 表面上微弱的 π鍵,而不會分裂Si上的dimer進行吸附。因此對於Cl2氣體分子而言,兩顆Cl原 子吸附在成對的懸鍵的dimer上,將可減少π鍵的形成,是最穩定和能量最低的 狀態。所以我們可以清楚的看到圖 3.20、3.21、3.22 所形成的成對的懸鍵,在經 過曝Cl2氣體分子的過程中,將是成對的吸附在成對的懸鍵上如圖 3.23、3.24、3.25 所示。所以、在此我們可以明確的指出,Cl 氣體分子在懸鍵上吸附的結構有兩 種情況,其中一種是H-Si-Si-Cl的鍵結,來至於 3.1 節的介紹、另一種是Cl-Si-Si-Cl 的鍵結,前者發生的原因是當 Cl 氣體分子看到孤立的懸鍵時,會造成電子雲的 轉移,使得一顆氯原子吸附在孤立的懸鍵的位子上,另一個氯原子就在表面遊 走,找尋可吸附的位子,後者是因外來的原子接近樣品表面時,將打斷成對懸鍵 上的微弱π鍵形成Cl-Si-Si-Cl鍵結,因此可以在圖上明確的看到成對的Cl原子吸 附在 Dimer 上。

2

2

3.2.2 Cl 吸附電子結構的變化

然而,有趣的Cl2氣體分子的化學吸附所呈現的物理圖像,如圖 3.24、3.25 所示,我們可以很明確的看到,當兩顆Cl原子吸附形成Cl-Si-Si-Cl鍵結時,STM 在正sample bias時dimer上的兩顆Cl原子將產生分離、負sample bias時dimer上的兩 顆Cl原子將在一起的,不同吸附情況。而這是因Cl吸附於懸鍵上,將造成電子結 構的改變,使得STM上的圖像產生變化。

圖 3.24 11.52 L Cl on Si(100)-2×1:H,圖中亮點為 Cl 原子,取圖的區域為 30 ×30 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = -1.82V、

ΙfeedbackΙ= 0.29nA

圖 3.25 11.52 L Cl on Si(100)-2×1:H,圖中亮點為 Cl 原子,取圖的區域為 8 × 7nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = +1.82V、

ΙfeedbackΙ= 0.28nA

在此,我們用圖 3.26 Si dimer的能階圖來解釋圖 3.24 和圖 3.25 所看到的影像。

圖 3.26(a) Si dimer未吸附Cl2氣體分子、3.26(b)一顆Cl原子吸附在Si dimer上、

3.26(c)兩顆Cl原子吸附在Si dimer。

圖 3.26 (a) Si dimer未吸附Cl2氣體分子的能階圖、(b)一顆Cl原子吸附在 Si dimer 上能階圖、(c)兩顆 Cl 原子吸附在 Si dimer 能階圖。

在處理過的乾淨 Si(100)-2×1 的表面,每一個 Si 原子有兩個 sigma back 鍵 (

σ

b),

一個 dimer sigma 鍵 (

σ

d) 和 sp -hybridized 懸鍵,然而、因彼此間 Si 懸鍵的交 互作用是透過微弱的π鍵,所以將形成佔據態的鍵結(

3

π

d)和沒有佔據態的反鍵結 (

π

d *),顯示的圖形如圖 3.26(a)所示。對於這些能階而言,決定 STM 穿襚電流大 小的值是靠近 Fermi level (

E

F)的能態。所以當一顆 Cl 原子吸附在 Si dimer 上時,

π

d鍵將會被破壞而 Si-Clσ 鍵將形成,只留下一個沒有成對的 sp 懸鍵於第二個 Si 原子上,如圖 3.26(b)所示。當兩顆 Cl 原子吸附於一個 Si dimer 上,則兩個

3

Si−Cl

σ

鍵將形成,如圖 3.26(c)所示。

然而有趣的是兩顆氯原子吸附在成對的懸鍵時,我們用正的 Sample Bias 將看到 dimer 上兩個分離的 Cl 原子如圖 3.25 所示、用負的 Sample Bias,看到 dimer 上兩 個在一起的 Cl 原子如圖 3.24 所示,且這是什們的物理現象,我們將加以說明和 解釋。

從能階圖 3.26(c)所示,我們可以看到,對於STM穿襚電流而言,filled state和empty state的圖像,是來致於能階態的filled dimer的鍵結態(

σ

b)和unfilled反鍵結態 (

σ

Si−Cl),然而雖然dimer 非佔據態 ( ) 和反鍵結態( )有相同的能階位子 圖,但因 態有較大的能階空位給於Cl原子,所以對於STM而言 empty states

的圖像是來致於 態的貢獻,然而因 的軌域是被 態所分離,所以 的dimer上是分開的。另一方面,filler state圖像的貢獻是來至於

σ

d軌域如圖 3.26(c) 所示,所以我們可以看到Cl2氣體分子吸附於成對的懸鍵的dimer上是在一起的。

第四章 結論

Si是半導體領域中是最重要也是最常用到的元素,不論是在電腦中的中央 處理器或記憶體,還是時下熱門的手機中的電子元件..等,都是要用到矽 元素的。然而,在半導體製程技術中也常使用SiH4、SiH2Cl2、SiHCl3、SiCl4等 氣體來成長Si薄膜或介電質薄膜於Si表面上,或使用Cl2氣體來蝕刻Si表面,而 HCl氣體也常是製程技術中的伴隨產物,所以、對於了解氣體分子共存於Si表 面上時的原子擴散、自我組裝與熱反應等研究是重要的。因此,本論文主要 是探討氣體分子在懸鍵上的分子動態研究,讓我們能夠了解分子氣體如何在 樣品表面移動、排列、聚集與進行化學鍵結反應,並且進而了解表面原子的 磊晶成長的分佈行為及許多表面化學反應的基本機制。

本實驗將以Cl2氣體分子和Si(100)-2×1:H為研究的題材,因此我們先在 Si(100)-2×1 表面上,先曝滿H2氣體,形成 1ML的 Si(100)-2×1:H的resist再使 用探針脫附、熱脫附、或控制曝氫的量,來產生我們要的孤立的懸鍵或成對 的懸鍵,其後再曝上Cl2氣體分子,再分別探討他們各別的化學吸附機制。然 而、對於孤立的懸鍵的實驗數據,經統計、整理如表 4.1(a)、圖 4.1(b)、表 4.2(a)、

圖 4.2(b)所示、表 4.3(a)、圖 4.3(b),其中 4.1(a)(b)和 4.2(a)(b)的數據(一)、數 據(二)、數據(三)為分別對樣品進行熱脫附或控制曝氫的量之後,所取的不同 區域範圍的圖在進行曝氯所做的統計表,而 4.3(a)(b)為使用探針脫附所做的統 計。至於成對的懸鍵的吸附情況,將由STM的圖像來觀看,如 4.3(a)(b),並把 它轉為矩陣圖來探討如圖 4.3(c)。

數 據 (一 ) 數 據 (二 ) 數 據 (三 )

139/156=89% 117/145=80% 124/144= 86%

表 4.1(a) 數 據 (一 )、 數 據 (二 )、 數 據 (三 ), 為 熱 脫 附 以 後 取 不 同

數 據 (一 ) 數 據 (二 ) 數 據 (三 )

180/197=91% 166/188=88% 106/133= 79%

表 4.2(a) 數 據 (一 )、 數 據 (二 )、 數 據 (三 ), 為 控 制 曝 氫 的 量 以 後 取

個 數

左圖 4.3(a) 室溫下針脫附於 Si(100)-2×1:H 表面上,圖中亮點為成對的懸 鍵,取圖的區域為 9 × 5 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為 Vs a m p l e = -1.82V、 ΙfeedbackΙ= 0.28nA

右圖 4.3(b) 11.52 L Cl on Si(100)-2×1:H,圖中亮點為 Cl 原子,取圖的區域 為 8 × 7 nm2, STM的偏壓和回饋電流分別為Vs a m p l e = +1.82V、ΙfeedbackΙ= 0.28nA

圖 4.3(c) 為圖 4.3(b)的矩陣圖,綠色為懸鍵變成氯、藍色為氫變成氯、 黃 色為懸鍵變成氫。從圖可發現許多成對的懸鍵變成氯。

最後我們綜合上面的實驗數據和圖像,得到下列二項了解:

一、由表 4.1(a)、圖 4.1(b)、表 4.2(a)、圖 4.2(b)我們了解Cl2氣體分子對於孤立 的懸鍵的吸附方式是以H-Si-Si-Cl的鍵結,因Cl 氣體分子看到孤立的懸鍵時,

會造成電子雲的轉移,使得一顆氯原子吸附在孤立的懸鍵的位子上,另一個 氯原子會在表面遊走,找尋可吸附的位子,且又因Si-Cl的鍵結能為 4eV、Cl-Cl 的鍵結能 1.4eV、Si-H的鍵結能為 3.5eV,因此我們可以了解到Si-Cl的鍵結是比 較穩定的形式。

2

二、由圖 4.3(a)(b)(c)我們可以知道Cl2氣體分子對於成對的懸鍵的化學吸附方 式,是因成對的懸鍵產生時將會造成微弱的π鍵形成,因此很容易被外來氣 體打斷而形成鍵結,所以我們可以觀測到兩顆Cl原子吸附在成對的懸鍵上形成 Cl-Si-Si-Cl的鍵結,然而因兩顆氯原子吸附在矽-矽雙原子單體(Si-Si dimer)上將

造成電子結構的改變,讓 的軌域是被 所分離,所以我們可以在STM

empty state看到dimer上的兩顆Cl原子是分離的圖像。

Si−Cl

σ

*

σ

*d

參考文獻

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