2-1 液晶定向理論 2-1-1 溝槽模型理論
溝槽模型理論以溝槽理論來解釋液晶分子的定向作用,則考 慮液晶分子的彈性形變。因為液晶有液態的性質,不能產生像固 體那樣的形變。但是描述液晶分子排列取向的指向矢的變化:在 外場作用下可以改變方向;在取消外場後,通過分子之間的相互 作用,又有恢復到原有取向的趨勢,與固體的彈性變化有類似 處。因此亦將液晶的形變稱為彈性形變。
對向列形液晶(nematic liquid crystal)這種棒狀分子而言,可 以用一指向矢 來表示分子的取向。向列型液晶有三種類型的形 變:斜展( splay )形變、扭曲( twist )形變及彎曲( bend )形變,如 圖2-1 所示。液晶形變自由能密度以指向矢表示的函數為:
nˆ
( )
2 2( )
2 3(
21
ˆ ˆ
2 ˆ 1 2 ˆ
ˆ 1 2
1 k n k n n k n n
F
d= ∇ ⋅ + ⋅ ∇ × + × ∇ × )
( 2-1 )其中,第一項為斜展自由能密度、第二項為扭曲自由能密度、
第三項為彎曲自由能密度,k1、k2、k3 相應於三種形變的彈性 係數(elastic constant)[4]。
4
若考慮表面溝槽定向,並由液晶分子的形變自由能密度出 發,且在其溝槽模型的理論計算之下[1],可得知液晶分子的排列 傾向於形變自由能量最低時,也就是液晶分子長軸會傾向於平行 溝槽的方向排列,圖2-2。Berreman 便以溝槽理論來解釋液晶分 子排列傾向。
2-1-2 配向膜分子的順向性
配向膜分子的為具備主鏈(main chain)以及側鏈(slide chain) 結構的線狀高分子,當受定向磨擦時,絨毛纖維直接接觸配向膜 表面並施加定方向的剪力於配向膜上,使其產生剪力變形。所以 配向膜分子主鏈將由隨機排列變成沿磨刷方向排列。隨著磨刷強 度增加,其主鏈分子平均指向將會越朝磨刷方向排列。故由高分 子鏈和液晶分子的交互作用造呈液晶分子的定向排列。
2-2 液晶盒厚度量測原理
量測空樣品(empty cell)的厚度是利用光的干涉現象,如圖 2-3;
光程差
θ θ λ
θ d m
d
−2 tan sin = cos2
λ
θ θ
m
d − =
⇒ ( 1 sin ) cos
2
25
λ θ m
d =
⇒ 2 cos
For θ
=
θ1→ 2
dcos
θ1=
m1λFor θ
=
θ2→ 2
dcos
θ2=
m2λ⇒
2
d(cos
θ2− cos
θ1) = ∆
mλ where∆
m=
m2−
m1⇒ 2(cos
θ
2 cosθ
1)λ
−
= ∆
m
d
(2 - 2)藉由雷射光由不同的角度入射空樣品,如圖2-4,利用光偵 測器紀錄光穿透後所得的干涉條紋強度變化,如圖 2-5,再從圖 形分析讀取任兩個干涉強度最大時的角度代入公式計算,例如 θ2=26.4°,θ1=31.0°,△m=1,λ=0.6328μm,代入(2-2)中得到 液晶盒厚度為8.209μm。[5][6]
2-3 對比值量測原理
我們將製作完成的液晶樣品置於兩垂直偏振方向的偏振片 中,並旋轉樣品,由於光通過偏振片並經過旋轉的液晶樣品後,
光會順著液晶分子的旋開而改變光的偏振方向,測量光訊號通過 兩片偏振片及液晶樣品後的最大與最小值(Tmax and Tmin),定義 此液晶樣品的對比值為Tmax /Tmin。
6
2-4 擬合定向強度的相關參數
2-4-1 雙折射係數 ∆n 之擬合
本實驗曾使用之雷射光波長為632.8nm,由於物質對不同波 長之光折射係數不同,本實驗必需要有此波長在不同溫度下折射 率之值。參考[5],在特定溫度下,選取兩個最靠近本實驗使用 之波長λ1 、λ2及所對應的折射係數n1、n2,代入公式(2-3)
2 2
1
λ
C C
n
≅ + , ( 2-3 ) 可得兩條方程式,其中有兩未知數C1、C2,解二元一次聯立 方程式,可求得C1及C2,再利用此C1及C2,代回公式(2-3),求出 欲知波長λ之折射係數,數據整理如表 2-1 前四欄。利用此法,求出 632.8nm在五個不同溫度下之折射係數,參考表 2-1 後兩 欄。再利用Table Curve擬合△n=ne-no 對溫度變化關係。
λ=632.8nm 時,
T
e
a bT cT de
n = +
2.5+
3+
(2-4)a = 1.687557
b = 5.72x10-5
d = -10-5
d = -4.5x10-18
1 bT dT2
o e
cT
n =
+ a++ (2-5)a = 0.442335
b = -0.02024
c = -0.00992
7
d = -6x10-5
2-5 定向強度(anchoring strength)量測原理 2-5-1 定向強度理論
在液晶樣品中,液晶分子與基板之間,單位面積上的自由能 除了考慮表面自由能(surface anchoring energy)外,變形能
(distortion energy)也必需考慮,因此單位面積上的自由能 F,為 變形能Fd表面自由能 Fs之總合:
K22為旋轉彈性係數(twist elastic constant),
8
d 為液晶樣品玻璃基板之間距(cell gap),
θ為液晶分子的扭轉角度(twist angle),
0
A:表面定向強度(Surface anchoring strength)
如圖2-4 所示,下基板的配向方向(easy direction 1)為 x,上基板
⎟⎟ ⎠
參考Lien[12],Akahane[7],以及[8][9][10]之論文,將具扭轉 變形的液晶樣品,置於一組正交的偏極片(cross polarizer)間,假 設光經過起振器(polarizer)後的電場向量為(1,0),垂直入射光經過 實驗裝置後的出射電場,可用瓊斯向量(Jones Vectors)如下表示:
⎥ ⎦
(Jones Matrix):A TN 角度定義如圖2-10,
ϕ
p為起振器(polarizer)與檢偏器(analyzer)的 夾角,而ϕ
0為第一層液晶分子方向矢(director)與起振器(polarizer) 的夾角。公式(2-10)為繞 z 軸方向旋轉 φ 的矩陣。 director)方向,則 TN 型樣品的 Jones matrix 可表示成如下10
⎥⎦
參考圖2-9,將樣品放在正交的偏振片下(crossed polarizers),旋
11
轉液晶樣品角度x 度時,同時也旋轉檢偏器(analyzer) 2x 度,即 度(twist angle)可得。
2-5-3 非對稱性樣品的量測原理
液晶夾的角度為總扭轉角θt,φt0為上下兩基板配向方向的夾角,
For minimum free energy,
1
液晶分子的光軸(optic axis)與玻璃基板表面所夾的角稱為 預傾角。預傾角的大小會影響到液晶元件的表現。具有小預傾角 的液晶元件(如:twisted nematic displays)會有光散射的效應,
13
具有大預傾角的液晶元件具有干涉的色彩和較小的元件電容 值,因此預傾角的量測是非常重要的。
一般預傾角的量測方法有多種,包括最大相位延遲法(crystal rotation method)、電容法(capacitive method)、磁場法(magnetic null method)。本實驗中使用最大相位延遲法(crystal rotation method),此法是利用旋轉液晶元件,改變入射光與液晶元件的 角度,利用最大相位延遲時之入射角與穿透率曲線的關係,在經 過計算即可以達到預傾角α,液晶元件中預傾角與玻璃基板的關
係如圖2-13。
液晶分子可以視為一個長形的單軸分子,且具有雙折射
(Birefringence)性質,因此入射光進入到液晶元件中時,入射 光會分為兩道光:尋常光(ordinary ray,簡稱o-ray)和非尋常光
(extraordinary ray,簡稱e-ray),液晶分子對應此兩道光的折射 率分別為no與ne(θ),θ為e-ray行進方向與液晶分子光軸(optic axis)所夾的角(參考圖 2-11)。
首先推導這兩道光的相位延遲(phase retardation)。在考慮 預傾角的情形下,圖 2-14 為單層液晶的光徑圖,
其中,
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( )
OPL (2-35)
由(2-16)、(2-17)可知 o-ray 與 e-ray 的光程差為:
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( ) ⎥
sin cos tan
為量測穿透率之變化,將液晶元件置於Crossed polarizers 下
(偏極片與檢偏片夾角為90°),並使第一片偏極片之偏極方向與
將所量測到的穿透率I(ϕ)對ϕ作圖,可得到一個對稱角度ϕx,
ne為液晶分子的非尋常折射率(extraordinary refractive
index),no為液晶分子的尋常折射率(ordinary refractive index),
ϕx為有最大相位延遲的入射角,也就是T(ϕ)對ϕ作圖中的對稱點。
將ϕx代入(2-25),因ne、no均已知,解此方程式即可得到預 傾角α。
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