現 今 市 面 上 常 用 的 真 空 紫 外 線 激 發 之 綠 色 螢 光 體 商 品 為 (Zn,Mn)2SiO4,其晶態為六方晶系(Hexagonal crystal system),晶格 常 數 分 別 為 a = b = 13.948Å 、 c = 9.315Å , 而 空 間 群 為R3H (No.
148)[26]。由於此化合物於真空紫外波段具有相當好的吸收,且其放光 強度十分優異,故本研究希望探討結構與其極為類似的Zn2GeO4 (六 方晶系、a=b=14.284Å、c=9.547Å,R3H(No. 148)。),並探討以
26
(Y,Gd,Eu)BO3
(Y0.75Gd0.2Eu0.05)(V0.4P0.6)O4
圖4–17 Zn2GeO4晶體結構示意圖
Si4+部分取代 Ge4+所產生的效應。Zn2GeO4的晶格結構中存在有三種 獨立的陽離子格位:其中兩種為Zn2+格位與另一種為Ge4+格位,三種 皆為四面體配位(Tetrahedral site),周圍有四個氧原子[27]。其晶體結 構如圖4–17。而(Zn,Mn)2(Ge,Si)O4螢光體係利用固態法製備,其實驗 步驟可分為兩個階段:首先為找出(Zn,Mn)2GeO4的 Mn2+最佳摻雜濃 度。將計量的反應物ZnO、GeO2和MnO 研磨均勻後,置入高溫爐,
在空氣中以 1200℃燒結 8 小時,即可獲得白色粉末產物。藉由 XRD 對不同 Mn2+摻雜比例的(Zn,Mn)2GeO4進行相鑑定,圖 4–18 之 XRD 圖譜顯示所有繞射峰與 ICSD 資料庫第 68382 號標準 XRD 圖譜完全 吻合,此表示在實驗所摻雜的 Mn2+濃度範圍中,並不產生雜相,也
不會影響Zn2GeO4原有的晶格結構。
0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 9.48
9.50 9.52 9.54 14.25 14.30 14.35 14.40
Param et er val ue/ Å
x / mol %
a/b parameterc parameter
圖4–19 摻雜不同 Mn2+濃度(Zn1-xMnx)2GeO4的晶格常數之變化
依據不同配位數(Coordination number, CN)之有效陽離子半徑 得知:四配位的Mn2+(0.66 Å @ CN = 4)與 Zn2+(0.6 Å @ CN = 4)
兩者的離子半徑相近,而四配位的Ge4+(0.39 Å @ CN = 4)相對於 Mn2+的離子半徑(0.66 Å @ CN = 4)太小,因此推論 Mn2+會優先進 入Zn2+格位[17]。另外,依據價荷相符原則,Mn2+二價離子亦偏好 Zn2+
二價格位。
圖 4–20 為以 10 wt% NH4Cl 為助熔劑所製得之最佳化樣品
(Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4 在不同放大倍率之電子顯微影像。由圖
4–20 (a)可以看到有多處堆疊的情形,若進一步以 3000x(圖 4–20 (b))
徑大小約為2µm。當改以 6000(圖 4–20 (c))倍率來看,可發現晶粒表 面十分光滑。若局部再放大(圖 4–20 (d)),則更清楚地看到每個例子 的形狀皆有所不同,十分不規則。
圖4–20 (Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4樣品之SEM 影像:(a) 100X、(b)3000X、
(c)6000X 與(d)9000X
圖4–21 為(Zn,Mn)2GeO4的發光(Photoluminescence, PL)光譜,
由於 Mn2+是 d-d 電子躍遷,為 Laporte 選擇律中禁制的,所以 Mn2+
的電子較難從基態被激發,而需要藉由Zn2GeO4主體先行吸收能量後 再傳遞至Mn2+而放光。此外,波長為529 nm 的寬放射帶屬於 Mn2+
(a) (b)
(c) (d)
圖4–21 (Zn1-xMnx)2GeO4 (x = 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1.0%)發光光譜之比較:
λ
ex = (a) 147圖4–22 為不同 Si4+取代比例的(Zn0.994Mn0.006)2(Ge1-ySiy)O4XRD 圖
a 和 c 之晶格常數之變化圖。依圖所示,當摻雜濃度逐漸增加時,晶 格常數數值也隨之產生規律的變化:當摻雜濃度增加時,晶格常數a 和c 之值皆隨之逐漸減少。造成此現象是因為取代的離子 Si4+要較原 本的Ge4+離子半徑來的小,兩者半徑有所差異,因此造成晶格的大小 改變,晶格常數數值也隨之而變。由於Zn2GeO4與Zn2SiO4互為等結 構,因此 Si4+應可完全取代 Ge4+而不會破壞晶體結構,圖 4–23 顯示 在此 Si4+取代比例範圍內之晶格常數皆有規律之變化,因此可知 Si4+
確有取代Ge4+之格位。
(Zn0.994Mn0.006)2(Ge1-ySiy)O4 (y = 0, 0.2, 0.4, 0.6, 0.8, 1.0)系列螢光
0 20 40 60 80 100
9.40 9.45 9.50 14.20 14.25 14.30 14.35
Param et er val ue/ Å
y / mol %
a/b parameter c parameter
圖4–23 不同 Si4+取代比例(Zn0.994Mn0.006)2(Ge1-ySiy)O4晶格常數之變化
體的發光光譜之比較如圖4–24 所示,其放光現象與圖 4–21 同,為典
主體自放光,因此最後只有產生Mn2+的放光(如圖 4–21 與圖 4–24),
140 160 180 200 220 240 260 280 300
0.1
300 400 500 600 700 800
(b) Zn2SiO4
λex=147 nm
300 400 500 600 700 800
(a) Zn2GeO4
λex=147 nm
Mn's excitation band (ref. 30)
band gap of Zn2GeO4
比較,可推論波長為140 – 200 nm 範圍內應為屬於 GeO44-、SiO44-的 The gap between valence and core states (Ry)
Zn2SiO4 3.1
圖4–26 理論計算所得之(a)Zn2GeO4與(b)Zn2SiO4DOS 示意圖之比較
以及O(2s, 2p)軌域所組成,因此可知有 Ge-O 與 Zn-O 鍵結產生。若 以圖4–26(a)與(b)互作比較,可以發現 Zn2GeO4與Zn2SiO4兩者計算 所得的DOS 圖是非常類似的:在 Zn2SiO4中,從-5 eV 到 0 eV 的價帶 是由O(2p)和 Zn(3d)的軌域所貢獻;於 3 和 15 eV 間的傳導帶則是由 Zn(4s,4p)、Si(4s, 4p)以及 O(2s, 2p)軌域所組成,因而形成 Si-O 與 Zn-O 鍵結。本研究測量光譜時,所使用之激發的光源波長為147 nm (8.4 eV) 或172 nm (7.2 eV),可以推論當(Zn0.994Mn0.006)(Ge0.4Si0.6)O4吸收147 nm (8.4 eV)或 172 nm (7.2 eV)之激發光後,可能有 Ge(4s, 4p)-O(2s,
2p)、Si(3s, 3p)-O(2s, 2p)以及 Zn(4s,4p)-O(2s, 2p)的 charge transfer,與
前述PLE 光譜相互吻合。圖 4–27 為(Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4與(Zn,Mn)2SiO4 (P1-G1)商
或172 nm 波長激發所得之放射峰強度皆優商品;若改以放射峰積分 面 積 值 進 行 比 較 ,(Zn0.994Mn0.006)2 (Ge0.4Si0.6)O4 亦 皆 較 佔 優 勢 : (Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4為商品之145% (@147 nm)、164%(@172 nm)。
400 450 500 550 600 650 700
0.0
(Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4主要的放射峰源自於 Mn2+的 4T1(4G)
→6A1(6S)之翠綠光。此樣品與商品相比,CIE 色度座標差異不大。表 4-4 列出不同組成樣品之 CIE 色度座標之比較。圖 4–28 為商品 (Zn,Mn)2SiO4與(Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4之CIE 座標值之比較。
圖4–28 商品(Zn,Mn)2SiO4與(Zn0.994Mn0.006)2(Ge0.4Si0.6)O4CIE 座標之比較(λex = 147 nm)