經過一系列的磁光量測以及分析後，我們能夠判斷出一些結果：
1. YIG 薄膜需經過退火處理，轉變成石榴石晶相後才能產生磁性。
2. 我們所嘗試的三種退火溫度對於樣品的磁光特性影響並不明顯。
3. 當薄膜厚度改變時，樣品鐵磁特性變化相當明顯，厚度增加則能隙變小，磁 特性增強，反之則能隙變大，磁特性減弱。
4. 經由 XRD 的分析可知樣品晶格結構與理論值基本對應，表示晶格的長程結 構沒有變化。
5. XANES 的結果證明鐵的價數未改變，而 EXAFS 卻略有偏移，因此確認樣品因 厚度所造成的鐵磁特性變化與鐵的價數無關，但與晶格的短程結構改變有關。
針對以上的結果做更深入的討論，第一，石榴石所造成的磁性來自其特殊的晶相，
因此需要將原本的非晶狀材料轉變成晶質才能夠產生其磁性；第二，雖然我們嘗 試的三種退火溫度對於樣品的影響不大，但不代表退火溫度對樣品沒有影響，由 於我們猜測沒有變化的原因是因為晶粒生長空間不足，所以未來可能可以延伸研 究的方向便是更低溫一些的退火溫度，比方說 500℃或 600℃，或者如參考文獻 中的溫度間隔，650℃、700℃、750℃等等；第三，我們注意到厚度變化時，MCD 訊號所顯示的能帶窄化現象，我們以示意圖來解釋 MCD 顯示的能帶結構，如圖 5-1.1。
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圖 4-4.1 能帶結構變化示意圖
深入探討為何厚度影響能帶寬窄變化，XANES 的結果證明鐵離子的價數沒有改變，
因此其與 YIG 結構中的鐵離子無關，但卻由 EXAFS 證實此變化與局域結構的改變 有關，而此結構的改變源自於基板對於 YIG 薄膜生長之影響，如圖之 5-1.2 所示，
當薄膜剛開始生長時，由於與基板的距離短，與基板的交互作用較明顯，反之，
當濺鍍時間增加，樣品厚度變厚時，較高層的 YIG 距離基板較遠，也就較不受基 板影響。（圖中不同顏色代表受到基板影響程度不同）
圖 4-4.2 薄膜受基板影響示意圖
因此，在本研究中我們最重要的發現是薄膜厚度對磁特性的影響，雖然厚度改變 能夠影響薄膜的磁性能，但增加厚度來優化磁特性，對於目標在於縮小元件大小 的工程而言是一個不小的挑戰，也是必須面對的問題。另外，目前論文中以不同
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濺鍍時間來表示薄膜樣品的厚薄,未來我們將使用 TEM（穿隧式掃描電子顯微鏡）
做更進一步的樣品厚度確認與觀察,以建立更清楚的物理圖像與機制。
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參考文獻
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