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第五章 銅導線數值模擬研究方法與結果討論

5.6 結果與討論

圖 5-9~5-10 皆為銅導線銲線接合分別由電子顯微鏡(SEM)與光學顯微鏡 (OM)拍攝,採用銅導線進行銲線接合中,受到銅球體衝擊擠壓造成銲墊 (Al-Pad)推擠現象發生。將實驗後所得材料機械性質代入數值模擬中結果發現 同樣發生銲墊被推擠現象,圖5-11。

圖5-9.銲墊造成推擠現象(SEM)

圖5-10.銲墊造成推擠現象(OM)[42]

圖5-11.數值模擬後銲墊造成推擠現象

研究中三種銲針移動機制,圖 5-7(I)(II)(III),在銲線接合完成後呈現等效 應力分布圖(von Mises Stresss)。

銅導線受到 25℃與溫度 125℃和 200℃之退火處理,其材料組織結構變化 造成機械性質的改變,圖 5-14 以銲針機制型態-I,接觸速度固定之下,不同 退火程度的球體(FAB)受到銲針的衝擊擠壓至銲墊上,則造成銲墊被推擠情 形,研究中以圖5-13 取銲墊隆起量最高的元素節點

線材已退火處理的機械性質代入模擬發現,常溫 25℃的銅線直接上打線 機(Wire Bonding)進行銲接接時,銲墊被推擠最高超出 1µm 以上,銲墊本身高 度 1µm,圖 5-14,雖然被推擠的銲墊並無完全被推開,但是應力集中也可能 造成 Passivation 層以下結構受損。經退火後的線材造成推擠現象明顯下降,

被推擠高度約 0.8µm 以下,研究中認為是受到衝擊過程中材料強度係數、應 變硬化指數之間的影響,它們的特性反應在降伏強度與極限拉伸強度之間的 斜率。原來使用的金導線,當受到衝擊之時金無法承受降伏應力,應力持續 一但過了降伏應力則材料快速變形,並且達到極限拉伸強度,因此球體鍵結 於銲墊不會發生推擠現象。現今降低成本銅導線的採用,其受到衝擊之時雖 然降伏強度比金低,但是它的極限拉伸強度高,造成降伏強度與極限拉伸強 度之間斜率高,直接影響到強度係數與應變硬化指數高,因此銅導線受到衝 擊之時應力持續增加,並通過降伏點開始塑性變形之時,應力每持續則降伏 強度的能力也增加,下一個時間點降伏強度能力比上一個時間點降伏強度能 力更高,如此的原因銅導線抵抗塑性便能力高,雖然圖 4-70 銲墊(Al-Pad)的 強度係數與應變硬化指數和銅導線相近,但是降伏強度與極線拉伸強度能力 低,而造成銲墊無法承受並且導致推擠大變形。若這項証明是合理,可將銅 線連銅線與線軸進入烘箱加溫進行退火處理,充加氮氣防止氧化與氫氣進行 還原,必須注意是線軸的材質會與銅線產生擴散,明顯影響性質,因此線軸

材料選擇必需考量。因此在圖 5-14 可看出退火處理 200℃的性質如:降伏強 度、極限拉伸強度、強度係數與應變硬化指等性質下降,有助於降低銲墊的 推擠量。

研究中以退火溫度 200℃的線材持續探討,接觸速度(C/V)的改變圖 5-15,發現(C/V)=1mil/ms 造成銲墊推擠量最少,也就是說衝擊速度越快有助 於降低銲墊的推擠量0.74µm。圖 5-16,將接觸速度固定改變超音波振幅分別 為0.5µm、1.0µm 和 1.5µm,振幅時間固定 0.15ms 固定下壓 5µm 位移,發現 振幅越大銲墊被推擠量越少。

將三種銲針機制的型態進行比較,圖 5-17,發現第二種型態的銲接方式 大幅提升問題的解決,從接觸到鍵結(Bonding)完成一直持續超音波震盪,有 助於降低銲墊推擠量,其產生隆起量0.5µm。圖 5-18 型態-II 的銲針機制,更 改不同持續超音波的時間,並無改善。

銅球鍵結於銲墊之時造成推擠現象是必然的,研究中的目的是降低銲墊 推擠量,銲墊的高度1µm 若不降低推擠量則衝擊過程之時造成銲墊完全磨損 直至鈍化層(Passivation layer),嚴重至鈍化層以下的結構體產裂紋,因此探討 降低銲墊推擠量。

圖5-12(I).銲針機制型態-I,等效應力圖(von Mises Stress)(MPa)

圖5-12(II) .銲針機制型態-II,等效應力圖(von Mises Stress)(MPa)

圖5-12(III) .銲針機制型態-III,等效應力圖(von Mises Stress)(MPa)

圖5-13.銲墊推擠元素節點-最高隆起的元素節點

圖5-14.銲接機制型態-I,在不同退火溫度球體材料特性造成銲墊推擠量

圖5-15.銲接機制型態-I 在不同接觸速度(C/V)造成銲墊推擠量

圖5-16. 銲接機制型態-I 在不同超音波振幅造成銲墊推擠量

圖5-17.銲接機制 I.II.III.的三種型態造成銲墊推擠量

圖5-18. 銲接機制型態-II,在不同超音波持續時間造成銲墊推擠量

第六章、結論

銅導線的取代目的是為了降低成本之考量,由於銅導線的性質直接影響 銲接過程,而過程中因銅導線強度造成銲墊推擠,嚴重至發生鈍化層以下晶 片結構造成破裂電性失效。本研究目的是降低銅導線強度之探討。本研究過 程分兩部份進行:ㄧ、與應變率相關(Strain rate dependent)的材料性質實驗,

二、運用ANSYS/LS-DYNA 商用套裝有限元素軟體數值模擬分析。研究過程 中採用兩種不同方式來達到機械性質強度降低,方法為:一、一次電子燒球 (Primary Electronic Flame Off)與二次電子燒球(Secondary Electronic Flame Off) 狀態下性質比較,並且使用微小硬度與奈米硬度證明性質變化;另一方法,

試片退火處理與常溫之下的兩種狀態試片,實驗與比較。經電子燒球後的熱 影響區晶粒組織改變其機械性質跟著改變,影響低弧銲線接合製程。實驗所 得材料性質代入數值模擬中模擬與分析之,以下幾點結論:

1. 材料經退火溫度後性質有明顯下降趨勢,二次燒球的性質比一次燒球 低,而承受應力的能力皆下降例如:楊氏係數、降伏強度、極限抗拉強 度、硬化指數及強度係數,而材料的延展性增加趨勢,對於材料組織軟 化提升。

2. 真實銅線銲接過程中銲針接觸速度(C/V)約ε =102 ~101S1。在拉伸與拉 球試驗中與應變率有關ε =602S1 與ε =104S1,材料受到高應變率負載 其強度升高,例如降伏強度、極限抗拉強度、硬化指數、強度係數以及 延展性。

3. 圖 4-32,微小硬度試驗其壓痕 Hv 反應出ㄧ次燒球後的熱影響區的長度 (Heat Affect Zone,HAZ)約 500µm。而二次燒球後的熱影響區(Heat Affect Zone,HAZ)範圍約 650µm。此熱影響的範圍代表最嚴重範圍。經微小硬

度 試 驗 證 明 熱 影 區 範 圍 硬 度 Hv 低 ( 軟 ) , Hall-Petch 方 程 式 式 中 (UTS)分別 217.1MPa、213.3MPa 和 198.6MPa。二次燒球熱影響區的性質 雖然下降約 10%,對於低弧銲線製程中的銲線迴路之時球頸上方的強度

7. 金(Au)從降伏強度到極限拉伸強度,由於應變硬化值接近 0 幾乎是完全塑 性,因此很快到達極限拉伸強度,立即頸縮。銅(Cu)從降伏強度到極限拉 伸強度過程中,銅(Cu)降伏強度比金(Au)低,但是銅(Cu)的應變硬化與金 (Au)相差約 6 倍之多,即使過了降伏強度它的應力越大抵擋塑性變形能力 越高。另一個常數為強度係數與應變和應變硬化之間關係反應在應力 上。實驗中應變硬化能力高強度係數能力也提升,但是材料性質中抵抗 降伏強度能力低,強度係數也會受到影響。當電子燒球過後銅球經衝擊 (Impact)撞至銲墊上,它有塑性變形時抵擋塑性變形能力,因此容易造成 銲墊被推擠的原因之ㄧ。因此發現二次燒球有助降低應變硬化。

8. 因此從銅導線銲線接合數值模擬中,認為是受到衝擊過程中降伏強度與 極限拉伸強度之間的影響,它們的特性反應在強度係數與應變-硬化指 數,因此銲墊無法承受應力很快就被推擠開來。因此在圖 5-14 可看出退 火處理200℃的性質如:降伏強度、極限拉伸強度、強度係數與應變硬化 指等性質下降,有助於降低銲墊的推擠量。

9. 而數值模擬中發現越高接觸速度(C/V)與超音波振福越大有助於降低銲墊 推擠量。三種型態的銲針機制,發現型態-II 大幅提升問題的解決,從接 觸到鍵結(Bonding)完成一直持續超音波震盪,有助於降低銲墊推擠量,

其產生隆起量 0.5µm,但是進一步探討將超音波持續加長時間,固定振 幅,發現並無降低銲墊推擠量。銅球鍵結於銲墊之時造成推擠現象是必 然的,銲墊的高度 1µm 則衝擊過程之時造成銲墊推擠容易磨損直至鈍化 層(Passivation layer),嚴重至鈍化層以下的結構體產裂紋,因此探討降低 銲墊推擠量。

參考文獻

一、書

[1]. S. K. Prasad , Advanced Wirebond Interconnection Technology, Kluwer Academic Publishers, 2004

[2]. G. G. Harman. , Wire Binding in Microelectronics- Materials , Processes and Yield , 2/e , McGraw-Hill , 1997.

[3]. William D. and Callister, JR , Fundamentals of Materials Science and Engineering/An Interactive , E.Test , John Wiley & Sons, Insc , New York , 2001.

[4]. G. E. Dieter , Mechanical Metallurgy , SI Metric Edition , Mc-Graw-Hill , 1988.

[5]. J. R. Klepaczko , A General Approach to Rate Sensitivity and Constiutive Modelling of FCC and BCC Metals , IMPACT:Effects of Fast Transient Loadings , Ammann et al.(eds) , Rotterdam , 1988.

[6]. M. A. Meyers and K. K. Chawla , Mechanical Behavior of Materials , Prentice-Hall , 1999.

[7]. R. E. Reed-Hill and R. Abbaschian , Physical Metallurgy Principles , Third Edition , PWS , Boston , 1994.

[8]. W. F. Hosford , Mechanical Behavior of Material , Cambridge University , 2005.

[9]. 國家度量衡標準實驗室,

奈米科技與檢測技術

,工業技術研究

中心-量測技術發展中心,pp59-102,全華,中華民國九十二年 十二月。

[10].Anthony C. and Fischer-Cripps , Nanoindentation , 2/e , New York , Springer-Verlag , 2004.

[11].Anthony C. and Fischer-Cripps , Introduction to Contact Mechanics , 2/e , New York , Springer-Verlag , 2007.

[12].大塚寬治、宇佐美保原著,郭嘉龍編譯,半導體封裝工程,全 華科技,中華民國九十年二月,初版三刷。

[13].P. Wriggers , Computational Contact Mechanics , 2/e , New York , Springer-Verlag , 2006.

[14].D. C. Ma , J. Gvildys and Y. W. Chang , Gap and Impact Problems in LMR Piping Systems and Reactor Components , IMPACT:Effects of Fast Transient Loadings , Ammann et al.(eds) , Rotterdam , 1988.

二、期刊

[15].李少濠、劉湘麟、潘文生,淺談半導體封裝製程用金線之製程 技術,電子月刊第十一卷第九期,2005,9 月。

[16].L. J. Huang, K. Ramakrishna and I. M. Cohen , An Analysis of Shrinkage Porosity in Aluminum Ball Bonding Process , Transactions of the ASME Journal of Electronic Packaging , ASME , Vol.111 , No.3 , pp592-597 , 1989.

[17].D. S. LIU and Y. C. Chao , Effects of Dopant Temperature and Strain Rate on the Mechanical Properties of Micrometer Gold-Bonding Wire , Journal of Electronic Material , Vol.32 , No.3 , 2003.

[18].D. S. Liu , Y. C. Chao and C. H. Wang , Study of Wire Bonding

Looping Formation in the Electronic Packaging Process Using the Three-Dimensional Finite Element Method , Finite Element in Analysis and Design , Vol.40 , Issue 3 , pp.263-286 ,2004.

[19].K. J. Chung , J. B. Bernstein and L. Yang , Experimental Study of EFO Ward Electrode Wear, Surface Pollution, and Discharge Gaps in Wire Bonding Process , Tamkang Journal of Science and Engineering , Vol.6 , No.1 , pp.43-48 , 2003.

[20].N. Srikanth , S. Murali , Y.M. Wong and Charles J. Vath III , Critical Study of Thermosonic Copper Ball Bonding , Thin solid Films , pp.339-345 , 2004.

[21].S. Murali , N. Srikanth and Charles J. Vath III , Grains Deformation Substructures and Slip Bands Observed in Thermosonic Copper Ball Bonding , Materials Characterization , Vol.50 , pp.39-50 , 2003.

[22].F. Y. Hung , T. S. Lui , L. H. Che and Y. T. Wang , Recrystallization and Fracture Characteristics of Thin Copper Wire , Journal of Materials Science , Vol.42 , pp.5476-5482 , 2007 , Springer Verlag.

[23].C. L. Yeh and Y. S. Lai , Transient Analysis of the Impact Stage of Wirebonding on Cu/Low-K Wafers , Microelectronics Reliability , Vol.45 , pp371-378 , 2005.

[24].C. L. Yeh and Y. S. Lai , Comprehensive Dynamic Analysis of Wirebonding on Cu/Low-K Wafers , IEEE Transactions on Advanced Packaging , Vol.29 , No.2 , 2006.

[25].C. L. Yeh and Y. S. Lai , Transient Simulation of Wire Pull Test on Cu/Low-K Wafers , IEEE Transactions on Advanced Packaging , Vol.29 , No.3 , 2006.

[26].R. C. Guimara~es and R. J. DE Angelis , On the Calculation of the Tensile Strain Associated With Mechanical Twinning , Metallurgical

Transactions A , Volume 8A pp.219, January 1977.

[27].F. J. M. Boratto , A. M. Garde and R. E. Reed-Hill , Discussion of“On the Calculation of the Tensile Strain Associated With Mechanical Twinning” , Metallurgical Transactions A , Volume 8A , pp.219-220 , January 1977.

[28].A. Nadai , Theory of flow and Fracture of Solid , Vol. I , pp.74-75 , McGraw-Hill , 1950.

[29].王自力,顧永寧 , 應變率敏感性對船體結構碰撞性能的影響, 上

海交通大學學報, 34 卷 12 期 , pp.1704-1707 , 2000.

[30].E. O. Hall , The Deformation and Ageing of Mild Steel III

[30].E. O. Hall , The Deformation and Ageing of Mild Steel III

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