• 沒有找到結果。

使用 Plasma 一詞,例如在生物學上半流動性的細胞質簡稱為 Plasma,在醫 學上對於血漿或是淋巴液也是以 Plasma 稱呼[2]

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電漿的溫度依照氣體分子本身溫度可分為熱電漿(Thermal plasmas)及冷 電漿(Non-thermal plasmas),因為空間中氣體分子數量相當龐大,假設電漿 系統中的氣體分子能量分佈遵守馬克士威–波茲曼分布(Maxwell-Boltzman distribution),那麼氣體分子的平均能量遵守下式 1-1:

(1-1)

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圖 1-1 在固定電流下,電子和氣體溫度對氣壓關係圖[4]

圖 1-2 熱平衡與非平衡電漿於電子密度及電子溫度分佈圖[5]

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1-2-2 不同氣壓電漿性質比較

以氣體壓力做區分可分為低壓電漿(Low-pressure plasmas)與常壓電漿 (Atmospheric-pressure plasmas),當在低壓環境約 10~10-2 Torr 的低壓下通以 高壓電直流電源產生電漿,如圖 1-3[6],按照低壓直流放電其電壓與電流的 關係可劃分為下列六個區域:

(a)暗光放電(Background ionization);

(b)飽和電流區(Saturation regime);

(c)湯遜放電(Townsend regime);

(d)正常輝光放電(Normal glow discharge);

(e)非正常輝光放電(Abnormal glow discharge);

(f)電弧放電(Arc glow discharge)

雖然地球在大氣層的保護下,只有少量來自宇宙的 γ-Ray 進入,但這些

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火步驟,進入正常輝光放電區(Normal glow discharge),兩電極間出現輝光。

電漿在此時會維持電極板上的電流密度,因此電壓固定,而電流增加是由 於電極平面上放電面積的增加。這個區域電漿有集中的現象是因為當氣體 被游離後,電阻值會下降,使電流走最低電阻的路徑。當放電面積充滿整 個電極表面後,要繼續提高電流只能增加電流密度,此時如果持續增加電 壓,電極溫度會隨著電流密度增加而提高,此區域稱為非正常輝光放電 (Abnormal glow discharge)。在半導體製程都利用此區域操作,因為此區域 放電面積最大、電漿均勻,且電壓電流的關係接近線性。當電流繼續增加,

代表電流密度也會持續增加,陰極表面的溫度會隨著電流密度提高,而陰 極溫度不斷提高會使表面產生大量的熱電子,此時電漿內部電子主要來源 為熱電子而不是中性原子經離子碰撞產生的電子,因此不需要高電壓加速 電子,反應器內部呈負電阻值,電壓反而下降,此區域稱為電弧放電(Arc glow discharge)。通常利用電漿進行熔煉、焊接、切割技術皆在此區域操作。

早期關於電漿性質的研究皆在低壓環境進行實驗,原因在於如果容器內 部處於低壓時,容器內部粒子密度較低,有較長的分子平均自由路徑,增

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理性質以及化學性質不盡相同,藉由實驗數據可繪製出 Paschen curve,並 可計算出各氣體最低崩潰電壓值,如表 1-1[9]。低溫電漿優點在於整體溫度

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(a) 通入高電流的直流或交流電源,產生極高溫度的電漿炬(Plasma torch),

常見設計圖如圖 1-5[10,11],電漿炬中心溫度可高達數萬度,由於此種電漿

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長。

(c) 介電質放電,為本研究使用的放電方式,使用高壓交流電源通入電極,

並在電極兩端加入絕緣的介電層,其性質與優缺點將於下一個小節詳細 說明。

圖 1-3 在低壓環境下電流對電壓關係圖[6]

圖 1-4 不同氣體之崩潰電壓與氣體壓力、電極間距乘積的關係圖[8]

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表 1-1 各種常見氣體最低崩潰電壓及氣壓、電極間距乘積表[9]

Gas Vmin (V) p.d at Vmin (cm-torr)

Air 327 0.57

Argon 137 0.90

Hydrogen 273 1.15

Helium 156 4.00

Carbon dioxide 420 0.51

Nitrogen 251 0.67

Nitrous oxide 418 0.50

Oxygen 450 0.70

Sulphur dioxide 457 0.33

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圖 1-5 電火炬裝置設計圖[10,11]

圖 1-6 常見電暈放電形式圖[12]

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1-3 介電質放電電漿

有關於介電質放電的研究,最早可追朔到1857年[13],W. Siemens提出新 型的氣體放電方法,能夠使氧氣在常壓下產生臭氧。其裝置設計的概念為 在準備半徑不同的兩個同心圓玻璃管,在外玻璃管加上電極並通以足夠的 電壓,使得流經兩同心圓玻璃管之間的氣體產生崩潰放電,如圖1-7[13]。由 於放電的過程必須經過介電質(Dielectric barrier)的玻璃層,因此這種放電形 式稱為介電質放電(Dielectric barrier discharge, DBD)。幾年後,在1860年 Andrews 及Tait[14]將介電質放電稱呼為無聲放電(Silent discharge),該名稱延 用至今。20世紀初期,法國的Otto[15]以及德國的Becker[16,17]利用介電質放電 應用在工業上大規模的製造臭氧。1943年,T. C. Manley[18]提出有關於動力 方面的方程式,推導製造臭氧公式有關於消散功率、操作頻率、施加尖峰 之間的關係。1981年,Yagi和Tabata[19]第一次將介電質放電應用在產生紅外 線二氧化碳雷射。

由上述一系列可發現,介電質放電(Dielectric barrier discharge, DBD)與 其他放電形式產生的電漿最大的不同在於,產生電漿的兩電極之間至少要 加上一層以上的介電層(玻璃、石英、陶瓷等),如圖 1-8[20]。由於電極表面 覆蓋一層絕緣的介電層,因此要驅動介電質放電所使用的外部電源必須為 交流電源,通常使用正弦波形(Sinusoidal wave)的交流電,也有研究是使用 其他波形的電壓連接兩電極,如脈衝波形(Pulse wave)或方波(Square

wave)。

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大的聲響,所以又稱為無聲放電(Silent discharge)。2000 年 M. Walhout[22]等 人利用內徑 2 mm、外徑 7.5 mm、長 30 cm 的玻璃管並在兩端塗上銀漆做為 電極,接著在電極兩端通入頻率 16 kHz 正弦波交流電源,通入氦氣、氬氣 的混合氣體,隨著施加電壓的上升,可觀察到放電情形的改變。一開始在 約 570-610 伏特時開始產生週期性的微絲放電(Micro discharge),如圖(a)、

(b);接著將電壓提高到 700-920 伏特,如圖(c)-(e),微絲放電的數量會變多 而且趨於密集;當電壓加至 940-980 伏特,電絲放電開始會不規律的出現,

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如圖(f)、(g);電壓提升至 980-1200 伏特,電絲放電開始消失形成朦朧狀態 的電漿,如圖(h)、(i);最後當電壓超過 1200 伏特以上電絲放電會消失混在 一起,產生類似電弧放電的電漿光,如圖(j)。

整體而言介電質放電的優點在於能夠在常壓下產生非平衡電漿(低溫電 漿),能廣泛的應用在各領域,例如在工業上利用它來產生臭氧、對物質做 表面改質、電漿化學氣相沉積、激發二氧化碳雷射等,近年來,也有人將 其應用於生技產業或是醫學治療上。

圖 1-7 同心圓玻璃管產生臭氧裝置圖[13]

圖 1-8 常見幾種介電質放電形式[20]

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圖 1-9 介電質放電週期示意圖[21]

圖 1-10 不同電壓下介電質電漿放電情形[22]

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1-4 電漿應用於分析化學領域

關於將電漿技術應用於分析化學領域研究,可追朔到 1950 年代,早在 1956 年,Harley 以及 Pretorius[23]測量當樣品通過電漿時,對電壓是否有影 響變化。在 1958 年 Pikethly[24]則發現不同濃度 iso-butane 和 n-butane,在通 過氮氣輝光電漿可以找到光譜變化的線性關係。1958 年到 1962 年,

Lovelock[25-27]在小體積容器當中,加入高直流電壓產生電漿,將樣品離子化 並且進行檢測。到了 1968 年,Braman 和 Dynako[28]將內徑 1-2 mm 的石英 管通以高直流電壓產生電漿,連接到氣相層析的分離管柱,應用在選擇性 的偵測鹵素和碳等元素。

測量頻率或是電壓變化的部分,1991 年 Kuzuya 和 Piepmeier[29]在氖氣 電漿中測量高壓電源頻率的變化;1993 年 Petrovic 和 Phelps[30-32]等人以及 1994 年 Zhubiao 和 Piemeier[33],進一步探討在低電流下電漿震盪頻率機構,

以及改變壓力、電極間距來觀察頻率、電流變化,並且提出 SPAN theory,

有關輝光放電的組成、傳導、累積、中性電荷的反應機構;Wentworth[34]等 人,以脈衝的高電壓源產生電漿,測量一系列低濃度有機、無機氣體的離 子化程度;後來 Smith 和 Piepmeier[35,36],同樣利用低壓的輝光放電系統,

來分析數種混和碳氫化合物。1997 年 Dae[37]等人在低壓下,測量不同的電 極間距產生電漿對於電壓、電漿頻率之間的影響。2000 年 Kim[38]等人在大 氣壓下,使用高壓直流電測量混合氣體的電壓及頻率的層析圖。

光譜測量方面,1989 年 Blades[39]在石英管中裝入兩個平行電極,在電

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極上通以高頻電源,由於裝置類似於電路中的電容,因而命名為電容偶合 電漿,利用該裝置偵測有機化合物。1989 年以後,Puig[40-42]等人利用測量 原子光譜(Atomic emission spectrometric)變化偵測 F、Cl、Br 等非金屬元素。

P. C. Bessoth[43]等人,利用交流電壓,測量混合氣體光譜變化,並且有良好 的偵測下限。1999 年,Manz[44,45]等人,以及 2002 年之後 Bessoth[46]等人,

在微小晶片上,測量樣品通過直流電漿時所產生的電漿光譜變化,分析混 合氣體在電漿區域中光譜變化。

由於先前許多科學家的努力,成功的開發利用電漿發光放電的性質,量 測當待測樣品通過時,電漿的光譜、頻率或是電流電壓變化,做為氣體樣 品的一種偵測方法。

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中處於激發態(Excited state)的原子或分子返回基態(Ground state),其釋放的 能量以光的形式放出,通常反應可用式 1-7 表示:

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Electron/Molecular Reactions

Excitation e- + A2 → A2 -Atomic/Molecular Reactions

Penning Dissociation M* + A2 → 2A + M

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圖 1-11 空氣電漿各路徑化學反應[48]

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iso-Butanol ACROS

Bromopentane ACROS

Chlorobenzene ACROS

Fluorobenzene 景明化工代理

Heptane 友和貿易代理

Hexan-2-one 景明化工代理

2-Heptanone Alfa Aesar

Methyl isobutyl ketone Fluka Toluene Mallinckrodt Chemicals

m-Xylene ACROS

去離子水 (deionized water, 18.2 MΩ) Millipore Bedford

導電銀膠 思必可有限公司

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Capillary Union 宏濬儀器代理 移液管 (Eppendorf 255237) 尚上儀器 單軸微調平台 (LC-65 XYZ,LC-90 X) 坦聯企業

DC-DC 變壓器 (SKA15A-12) 銓品有限公司

瓦斯噴火槍 (PT-200) Iroda

高壓衰減棒 (HVP-08) 品極電子有限公司

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2-1-3 儀器設備

01.資料擷取卡 (USB-6212):美商慧碁代理; 做為擷取 FID 訊號、控制六 向閥、馬達的運作。

02.薄膜式氣體幫浦 (NMP015S):台灣凱恩孚有限公司;用於抽取採樣袋內 有機氣體進入樣品環以固定進樣體積。

03.氣相層析儀與火焰離子偵測器 (GC-FID, HP-5890):安捷倫科技;控制烘 箱溫度及溫度梯度、偵測晶片分離出的有機氣體化合物。

04.六向閥 (E2C6UWT-110):恆奕有限公司代理;配合氣體幫浦及樣品環控 制樣品採集,以及控制流道方向變換。

05.電子式氣體流量計:Varian analytical instrument;以數位方式顯示氣體流 量,用來確認基本測試之流量值。

06.乾式流量計 (Model DC-2):Tokyo Shinagawa;以指針指示通過的氣體流 量,用來固定標準品的氣體體積。

07.高壓產生器 (CHP-1036E):晶勇實業有限公司;提供高壓、高頻的正弦 波交流電源,做為電漿偵測器輸入電源。

08.紫外光/可見光光譜儀 (Ocean USB-2000):雲陽科技代理;量測並記錄電 漿偵測器的放射光譜。

09.數位示波器 (GDS-1072A-U):固緯電子實業有限公司;測量本研究使用 的高壓電源,確認電源的電壓以及頻率。

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2-2 電漿偵測器的製作

先裁切一段直徑 100 μm、長度 30 cm 的白金(Pt)線作為裝置的電極。

另取數支外徑 500 μm、內徑 400 μm、長度 10 cm 玻璃毛細管作為裝置 電極外部的絕緣層。將白金線直接穿過 10 cm 的玻璃管,尾端露出玻璃管 外的白金線以鱷魚夾固定,如圖 2-1(a)。另準備一個 10 × 10 cm 的可移動 平台,剪一小段膠帶固定一條橡皮圈於平台中央,利用剛剛夾住白金線的 鱷魚夾牙齒後方空間套住平台上的橡皮圈,並且移動至橡皮圈對應膠帶的

另取數支外徑 500 μm、內徑 400 μm、長度 10 cm 玻璃毛細管作為裝置 電極外部的絕緣層。將白金線直接穿過 10 cm 的玻璃管,尾端露出玻璃管 外的白金線以鱷魚夾固定,如圖 2-1(a)。另準備一個 10 × 10 cm 的可移動 平台,剪一小段膠帶固定一條橡皮圈於平台中央,利用剛剛夾住白金線的 鱷魚夾牙齒後方空間套住平台上的橡皮圈,並且移動至橡皮圈對應膠帶的

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