第三章 實驗系統與操作原理
3.2 薄膜沉積系統簡介與步驟
本實驗使用脈衝雷射蒸鍍系統(Pulse Laser Deposition System; PLD)製作薄膜,
系統架構如圖 3. 2 所示。
圖 3. 2:PLD 設備。
利用聚焦後的雷射光束打破材料表面數層的原子、分子結合能,瞬間將物質昇華剝 離;由於雷射為脈衝形式,材料只有表面會產生反應,能保持靶材之原子、分子成份,
因此可蒸鍍化合物而不破壞其組織成份。脈衝雷射沉積具有蒸鍍速率高、蒸鍍薄膜和靶 材的組成非常相近的特性,且品質良好純淨、系統架設簡易、不須額外電源即可產生電 漿環境等優點。多年來在製備高超導薄膜、金屬氧化物薄膜…等樣品,已有廣泛的應用。
本實驗室所使用的雷射為 KrF 準分子雷射(Lambda Physika Lextra 200),光源波長 為𝜆=248 nm,脈衝寬度為 12 ns。每一個脈衝最高輸出能量為 500 mJ,雷射出光頻率可 從 1 Hz 調整至 10 Hz。由於雷射輸出波長屬於紫外光波段,無法以肉眼觀察,因此另外 採用一可見光束來做為校準光源。校準光源為綠色可見光的 Nd-YAG 雷射,將其光源設 置在 KrF 準分子雷射後頭,如圖 3. 3 所示,使 Nd-YAG 雷射與 KrF 準分子雷射兩光源 的路徑幾乎相同。鍍膜前調整好綠光位置,使 KrF 準分子雷射可精準的打在靶材表面適 當的位置上。
圖 3. 3:KrF 準分子雷射與 Nd-YAG 雷射位置相對示意圖。
由於雷射出光能量並非均勻,因此先利用一長方形的限光器,只擷取雷射中央能量 較均勻的部份;經過限光器的光束再經過一反射鏡,將光源引向真空腔的方向。利用焦 距為 40 cm 的抗反射覆膜透鏡聚焦,控制雷射轟擊靶材表面的能量密度。經過反射聚焦 後,雷射光束將聚焦在靶材上,面積約 4 cm2;而光束與靶材表面的夾角為45˚。
鍍膜的步驟如圖 3. 4 所示。
圖 3. 4:鍍膜流程示意圖。
(a) 潔淨基板:
a-1:利用鎢鋼筆將基板裁切成適當的大小後,裝在燒杯中分別用丙酮、甲醇、
去離子水以隔水的方式,置於超音波震盪器中震盪五分鐘,最後用氮氣吹淨表面。
a-2:依序利用不同型號之砂紙,由粗至細,將鋼板拋光後,分別以丙酮、甲醇、
去離子水擦拭乾淨,並用氮氣吹淨表面。
KrF 準分子雷射共振腔 綠光 Nd-YAG 雷射
(b)真空系統
(c)控制鍍膜條件
(d)成長薄膜 (a)潔淨基板
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a-3:利用銀膠將基板黏貼在鋼板上,用烤盤以 150 ˚C 烤 15 分鐘。
(b) 真空系統:
b-1:將高真空計與分子幫浦閥門關閉後,通以液氧氣體使真空腔體充滿氧氣,
使之破真空。
b-2:將黏貼好基板的鋼板置於加熱燈泡前,分別將感溫計、吹風口及靶材的位 置調好,測試靶材自轉、雷射光路、出風口位置後,關閉真空腔門。
b-3:如圖 3. 5 所示,先打開閥門 B,用機械幫浦將真空腔體初抽至5 × 10−2 torr 以下,關閉閥門 B 後,打開分子幫浦電源及閥門 C,使分子幫浦運轉至正常轉速後,
再打開閥門 A,將真空度抽至6 × 10−6 torr 以下。
圖 3. 5:真空系統示意圖。
Laser beam
靶材
吹氣口 基板
加熱燈泡 真空計
機械幫浦
分子幫浦 閥門 A
閥門 B
閥門 C
圖 3. 6:由觀景窗往 chamber M 內拍攝鍍膜情形。
(c) 控制鍍膜條件:
鍍膜條件設定脈衝頻率 5 Hz、雷射能量約 3~5 J/cm2為鍍膜條件。打開加熱燈泡 電流使真空腔體環境加熱到適當溫度,控制超高純氧至適當氧壓,使靶材自轉後可 開始鍍膜。
(d) 成長薄膜:
將 La0.5Ca0.5MnO3靶材用脈衝雷射蒸鍍出電漿後,電漿離子會在基板表面沉積成 核島,最後再聚集成連續薄膜,如圖 3. 7 所示。
圖 3. 7:薄膜沉積原理示意圖。
鍍膜完成後關閉加熱器、真空計、靶材自轉電流、雷射及閥門 A,將大量氧氣通入 鍍膜腔體內進行淬冷(quench),直到溫度降為常溫。
靶材 holder Laser 入光
靶材自轉與公轉軸 出風
控溫 加熱燈
基板黏貼
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