製程瑕疵型檢測

製程瑕疵型之瑕疵項目為表面不潔、缺口、電極遺失等。其中，表面不潔與 缺口之影像特徵，皆有 SMD-LED 區域灰階不均之現象；但不同的是，缺口 SMD-LED 區域灰階不均之暗處與邊緣連通，表面不潔則並非如此。因此，我們 將灰階不均處之較暗區域找出，若發現其與邊緣連通則為缺口，否則即為表面不 潔。我們以區域成長法將灰階不均之較亮區域 b 找出，再將這些區域邊緣修正後 取其最小包覆矩形 Rec_b，以最小包覆矩形減去灰階不均處，就可得出灰階不均之 較暗區域 d，此區域即可能為缺口或表面不潔發生處。為了分辨此兩者，首先找 出缺口區域 n，再以 d 減去 n 便能找出表面不潔區域。至於電極遺失情形，可計 算元件最小包覆矩形的長，與已訓練之閥值，加以判別，而得出檢測結果。流程 如圖 3-14 所示，將於下詳述之。

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對RLED_inspection進行 區域成長取出b

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製程瑕疵型之檢測，可利用檢測人員於訓練階段之參數設定，判斷該項瑕疵 是否須進行檢測；若不需檢測，則跳過該項檢測演算法。首先檢測之項目為缺口 和表面不潔—兩者均有灰階不均之現象。首先，先對RLED_inspection進行區域成長，

其方法是取RLED_inspection區域中之灰階值為眾數的點，做為種子(seed)，開始進行 區域成長，而後，我們將區域成長結果記為b。接下來，計算b之最小包覆多邊形，

並且加入邊緣修正得出

Rec

_b ，將

Rec

_b 填滿後，減去b則為灰階不均之較暗區域d，

d區域即可能為缺口或表面不潔發生處，如表3-5所示。

表3-5 分解說明找出灰階不均之暗處

Step

影像 著色區域 說明

(a)

原影像 具有缺口及表面髒汙之影像

(b)

b

黃色區域為b，

以RLED_inspection進行區域成長得出

(c)

Rec

b

綠色區域為填滿之

Rec

b

，

藉由計算b之最小包覆多邊形和 邊緣修正而得

(d)

d

紅色區域d，為灰階不均之暗區

域，藉由

Rec

b

- b而得

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缺口與表面不潔檢測

藉由觀察可以發現，表面不潔與缺口的差異在於灰階不均較暗處之位置會有 不同，缺口會與邊緣連通，而表面不潔則不會。故我們先將成長區域填滿為Fb，

以

Rec

_b 對 Fb取差集後，得出缺口候選區c₀，再將c0 與Rn_inspection取交集，可得 出框選區域欲檢測之缺口後選區c1，最後，再把c1減去非檢測區域則得出真正之 缺口區域c。

缺口區找到後，我們以全部灰階不均之較暗區 d 對缺口區 c 取差集d - c後，

d - c 即為表面不潔之區域，此不潔之區域再扣除非檢測區域，得出欲檢測區域

之不潔區域。最後使用標準元件資料庫中，檢測人員設定的規範，判斷缺口區域 和表面不潔區域之面積是否在合格範圍內，以表3-6說明此檢測過程。

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由填滿RLED_inspection而得

(b)

由Rn_inspection∩c₀而得

(註:藍色區域為缺口檢測區Rn_inspection)

(d)

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電極遺失檢測

電極遺失之情形，可觀察出，當電極發生遺失時，SMD-LED 區域之最小包 覆矩形的長將會縮短。故先分別計算元件最小包覆矩形的長 L；若 L 小於已訓練 之閥值β，即判斷為電極遺失，以虛擬碼描述如下:

Define βis a constant from training phase If L

< β

Then 電極遺失

End if

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在文檔中 側照式SMD-LED瑕疵自動光學檢測系統 (頁 45-51)