第四章 、 結果與討論
4.2 量子點大小對基態激子偏振光譜的影響
在固定量子點短軸長度和高度時,當量子點長軸長度被拉長,則電子感受到的位能井的 寬度變大,所以電子基態的能量下降,因為 x 方向為量子點長軸方向,所以拉長 x 方向 對基態能階的改變不大。
其電子基態波包函數在 xy 平面,如下圖 4.2.2:
(a) (b)
圖 4.2.2、固定ly=8.0nm和
η
⊥≈ 0.31
下,電子基態波包函數。(a) xy 平面,取 z=0,η
=1.5。(b) xy 平面,取 z=0,
η
=3.0。電子基態波包函數在 xz 平面,如下圖 4.2.3:
(a) (b)
圖 4.2.3、固定ly=8.0nm和
η
⊥ ≈0.31下,電子基態波包函數。(a)xz
平面,取 y=0,η
=1.5。(b)xz
平 面,取 y=0,η
=3.0。QD QD
QD QD
在電洞部分,輕重電洞的束縛位能,如下圖 4.2.4:
(a) (b)
圖 4.2.4、固定ly=8.0nm和
η
⊥≈ 0.31
下,輕重電洞的束縛位能。(a)x
方向,取y= 0,
z= 0
,η
=1.5。 (b)x
方向,取y= 0,
z= 0
,η = 3.0。在固定量子點短軸長度和高度時,當量子點長軸長度被拉長,則電洞感受到的位能 井的寬度變大,所以電洞基態的能量下降,因為 x 方向為量子點長軸方向,所以拉長 x 方向對基態能階的改變不大。這部分的結果和電子的結論是一致的。
電洞的波包函數在 xy 平面,如下圖 4.2.5:
(a)
QD
QD QD
(b)
圖 4.2.5、固定ly=8.0nm和
η
⊥≈ 0.31
下,電洞基態波包函數。(a)xy
平面,取 z=0,η
=1.5。(b)xy
平 面,取 z=0,η
=3.0。電洞的波包函數在 xz 平面,如下圖 4.2.6:
(a)
(b)
圖 4.2.6、固定ly=8.0nm和
η
⊥ ≈0.31下,電洞基態波包函數。(a)xz
平面,取 y=0,η
=1.5。(b)xz
平 面,取 y=0,η
=3.0。QD
QD
QD
量子點
xy
平面不對稱性對偏振的影響,其數值模擬結果如下圖 4.2.7:圖 4.2.10、固定ly =8.0nm和
η
⊥ ≈0.31
下,不對稱 性η
=1.253.50的重電洞(3/2)和輕電洞(-1/2)的 成份圖。圖 4.2.11、固定ly =8.0nm和
η
⊥ ≈0.31
下,不對稱 性η
=1.253.50的輕電洞(-1/2)和電子波包函數 的重疊比例圖。在圖 4.2.10 和 4.2.11 中發現,當固定量子點短軸長度
l
y時,量子點不對稱性增加,其∆ 變化不大,所以輕電洞的混成比例幾乎不變,如圖 4.2.10,但是HL
ρ
HL卻大幅的增加,使得電子(+1/2)和輕電洞(-1/2)的波包函數的重疊比例上升,如圖 4.2.11,導致偏振強度 變強。
(b) 量子點的高度
H
對偏振的影響:在探討量子點的高度
H (
∝η
⊥)
對偏振強度的影響,取l
y和η定值,則激子系統的束 縛位能的變化主要是在 z 方向,所以首先看 z 方向的位能變化。電子感受到的 z 方向束縛位能,如下圖 4.2.12:
(a) (b)
圖 4.2.12、固定
l
y= 8.0 nm
和η
≈2.25下,電子的束縛位能。(a) z方向,取x= 0,
y= 0
,η⊥≈0.19。 (b) z方向,取x= 0,
y= 0
,η⊥≈0.44。在固定量子點長短軸長度後,將量子點變高,所以電子感受到的位能井變寬,使得基態 能階下降,而下降幅度較大的原因是量子點的高度一般來說都較小,當量子點高度變化 時造成基態能階的變化幅度也較大。
電子基態波包函數 xy 平面,如下圖 4.2.13:
(a) (b)
圖 4.2.13、固定
l
y= 8.0 nm
和η
≈2.25下,電子基態波包函數。(a)xy
平面,取 z=0,η⊥≈0.19。(b)xy
平面,取 z=0,η⊥ ≈0.44。
QD QD
QD QD
電子基態波包函數 xz 平面,如下圖 4.2.14:
(a) (b)
圖 4.2.14、固定
l
y= 8.0 nm
和η
≈2.25下,電子基態波包函數。(a)xz
平面,y=0,η⊥≈0.19。(b)xz
平 面,y=0,η⊥ ≈0.44。電洞部分,首先是輕重電洞感受到的 z 方向束縛位能,如下圖 4.2.15:
(a) (b)
圖 4.2.15、固定
l
y= 8.0 nm
和η
≈2.25下,電洞的束縛位能。(a) z方向,取x= 0,
y= 0
,η⊥≈0.19。 (b) z方向,取x= 0,
y= 0
,η⊥≈0.44。在固定量子點長短軸長度後,將量子點變高,電洞的基態能階變化和電子的基態能階變 化一樣,都是下降的趨勢。
QD QD
QD QD
電洞的基態 xy 平面波包函數,如下圖 4.2.16:
(a)
(b)
圖 4.2.16、固定
l
y= 8.0 nm
和η
=2.25下,電洞基態波包函數。(a)xy
平面,取 z=0,η⊥≈0.19。(b)xy
平面,取 z=0,η⊥ ≈0.44。
電洞的基態 xz 平面波包函數,如下圖 4.2.17:
(a)
QD
QD
QD
(b)
圖 4.2.17、固定
l
y= 8.0 nm
和η
=2.25下,電洞基態波包函數。(a)xz
平面,y=0,η⊥ ≈0.19。(b)xz
平 面,y=0,η⊥≈0.44。量子點高度改變下,偏振強度的數值模擬結果,如下圖 4.2.18:
圖 4.2.18、固定量子點短軸長度ly =8.00(nm)及
xy
平面不對稱性(η = 1.25、1.75、2.25
、2.75、3.50 ) 下,改變量子點高度(η
⊥ ≈0.19、0.25
、0.31
、0.38
、0.44
)對偏振強度的影響。在圖 4.2.18 中,我們可以看到,當量子點高度上升時,偏振持續變強,且量子點越高時 偏振變強的速率越快,所以當我們想要偏振變強時,提高量子點高度是一個相當有效率 的方法。
z
QD QD
x
QDQD QD
量子點高度增加,則偏振變強的原因,由∆ 和HL