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量子點大小對基態激子偏振光譜的影響

第四章 、 結果與討論

4.2 量子點大小對基態激子偏振光譜的影響

在固定量子點短軸長度和高度時,當量子點長軸長度被拉長,則電子感受到的位能井的 寬度變大,所以電子基態的能量下降,因為 x 方向為量子點長軸方向,所以拉長 x 方向 對基態能階的改變不大。

其電子基態波包函數在 xy 平面,如下圖 4.2.2:

(a) (b)

圖 4.2.2、固定ly=8.0nm

η

≈ 0.31

下,電子基態波包函數。(a) xy 平面,取 z=0,

η

=1.5。(b) xy 平面,

取 z=0,

η

=3.0

電子基態波包函數在 xz 平面,如下圖 4.2.3:

(a) (b)

圖 4.2.3、固定ly=8.0nm

η

≈0.31下,電子基態波包函數。(a)

xz

平面,取 y=0,

η

=1.5。(b)

xz

面,取 y=0,

η

=3.0

QD QD

QD QD

在電洞部分,輕重電洞的束縛位能,如下圖 4.2.4:

(a) (b)

圖 4.2.4、固定ly=8.0nm

η

≈ 0.31

下,輕重電洞的束縛位能。(a)

x

方向,取y

= 0,

z

= 0

η

=1.5 (b)

x

方向,取y

= 0,

z

= 0

,η = 3.0

在固定量子點短軸長度和高度時,當量子點長軸長度被拉長,則電洞感受到的位能 井的寬度變大,所以電洞基態的能量下降,因為 x 方向為量子點長軸方向,所以拉長 x 方向對基態能階的改變不大。這部分的結果和電子的結論是一致的。

電洞的波包函數在 xy 平面,如下圖 4.2.5:

(a)

QD

QD QD

(b)

圖 4.2.5、固定ly=8.0nm

η

≈ 0.31

下,電洞基態波包函數。(a)

xy

平面,取 z=0,

η

=1.5。(b)

xy

面,取 z=0,

η

=3.0

電洞的波包函數在 xz 平面,如下圖 4.2.6:

(a)

(b)

圖 4.2.6、固定ly=8.0nm

η

≈0.31下,電洞基態波包函數。(a)

xz

平面,取 y=0,

η

=1.5。(b)

xz

面,取 y=0,

η

=3.0

QD

QD

QD

量子點

xy

平面不對稱性對偏振的影響,其數值模擬結果如下圖 4.2.7:

圖 4.2.10、固定ly =8.0nm

η

0.31

下,不對稱

η

=1.253.50的重電洞(3/2)和輕電洞(-1/2)的 成份圖。

圖 4.2.11、固定ly =8.0nm

η

0.31

下,不對稱

η

=1.253.50的輕電洞(-1/2)和電子波包函數 的重疊比例圖。

在圖 4.2.10 和 4.2.11 中發現,當固定量子點短軸長度

l

y時,量子點不對稱性增加,

其∆ 變化不大,所以輕電洞的混成比例幾乎不變,如圖 4.2.10,但是HL

ρ

HL卻大幅的增加,

使得電子(+1/2)和輕電洞(-1/2)的波包函數的重疊比例上升,如圖 4.2.11,導致偏振強度 變強。

(b) 量子點的高度

H

對偏振的影響:

在探討量子點的高度

H (

η

)

對偏振強度的影響,取

l

y和η定值,則激子系統的束 縛位能的變化主要是在 z 方向,所以首先看 z 方向的位能變化。

電子感受到的 z 方向束縛位能,如下圖 4.2.12:

(a) (b)

圖 4.2.12、固定

l

y

= 8.0 nm

η

≈2.25下,電子的束縛位能。(a) z方向,取x

= 0,

y

= 0

η≈0.19 (b) z方向,取x

= 0,

y

= 0

,η≈0.44。

在固定量子點長短軸長度後,將量子點變高,所以電子感受到的位能井變寬,使得基態 能階下降,而下降幅度較大的原因是量子點的高度一般來說都較小,當量子點高度變化 時造成基態能階的變化幅度也較大。

電子基態波包函數 xy 平面,如下圖 4.2.13:

(a) (b)

圖 4.2.13、固定

l

y

= 8.0 nm

η

≈2.25下,電子基態波包函數。(a)

xy

平面,取 z=0,η≈0.19。(b)

xy

平面,取 z=0,η ≈0.44

QD QD

QD QD

電子基態波包函數 xz 平面,如下圖 4.2.14:

(a) (b)

圖 4.2.14、固定

l

y

= 8.0 nm

η

≈2.25下,電子基態波包函數。(a)

xz

平面,y=0,η≈0.19。(b)

xz

面,y=0,η ≈0.44

電洞部分,首先是輕重電洞感受到的 z 方向束縛位能,如下圖 4.2.15:

(a) (b)

圖 4.2.15、固定

l

y

= 8.0 nm

η

≈2.25下,電洞的束縛位能。(a) z方向,取x

= 0,

y

= 0

η≈0.19 (b) z方向,取x

= 0,

y

= 0

,η≈0.44。

在固定量子點長短軸長度後,將量子點變高,電洞的基態能階變化和電子的基態能階變 化一樣,都是下降的趨勢。

QD QD

QD QD

電洞的基態 xy 平面波包函數,如下圖 4.2.16:

(a)

(b)

圖 4.2.16、固定

l

y

= 8.0 nm

η

=2.25下,電洞基態波包函數。(a)

xy

平面,取 z=0,η≈0.19。(b)

xy

平面,取 z=0,η ≈0.44

電洞的基態 xz 平面波包函數,如下圖 4.2.17:

(a)

QD

QD

QD

(b)

圖 4.2.17、固定

l

y

= 8.0 nm

η

=2.25下,電洞基態波包函數。(a)

xz

平面,y=0,η ≈0.19。(b)

xz

面,y=0,η≈0.44

量子點高度改變下,偏振強度的數值模擬結果,如下圖 4.2.18:

圖 4.2.18、固定量子點短軸長度ly =8.00(nm)

xy

平面不對稱性(η = 1.25、1.75、

2.25

、2.75、3.50 ) 下,改變量子點高度(

η

≈0.19

0.25

0.31

0.38

0.44

)對偏振強度的影響。

在圖 4.2.18 中,我們可以看到,當量子點高度上升時,偏振持續變強,且量子點越高時 偏振變強的速率越快,所以當我們想要偏振變強時,提高量子點高度是一個相當有效率 的方法。

z

QD QD

x

QDQD QD

量子點高度增加,則偏振變強的原因,由∆ 和HL

ρ

HL進行了解:

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