正式接收程序

此部分之程式碼，如圖 6.19 左側虛線範圍所示。當確定接收器 所接收到之訊號為較穩定之情況時，即可按下程式面板中之「Start to test」鍵，開始進行衝擊反應法之施測。此時，程式將優先運行一觸 發判斷之迴圈，屆時，程式將同時擷取衝擊鎚與速度規之訊號，並於 衝擊鎚之訊號中判斷觸發與否。而判斷觸發之方式，經多方考量，最 後決定使用如圖 6.20 所示之觸發判斷方式。此方式將能降低筆記型 電腦之作業系統之負荷。此流程之動作，將透過 LabVIEW 軟體內建

之主要功能為，從「已取得之資料點中」判斷觸發點之位置，並利用 其「落差補償」（offset）之功能來控制其「開始顯示於圖形產生器」

之位置。舉例來說，若 offset 設為-4000，則資料於圖形產生器中將由

「判斷觸發點」之前 4000 筆資料開始顯示，如圖 6.21 所示。若將 offset 設為 0，則圖形將由觸發判斷點開始顯示，如圖 6.22 所示。若取消其 offset 功能，則資料將從擷取卡所接收之第一筆資料開始顯示於圖形 產生器中，如圖 6.23 所示。

圖 6.19 「正式接收」區段之程式碼(虛線範圍內)

圖 6.20 觸發判斷流程圖

圖 6.21 「狀況擷取」中之「落差補償」設為-4000 之曲線顯示結果

圖 6.23 取消「狀況擷取」機制之曲線顯示結果

當程式接收到施測者所施以衝擊鎚之觸發訊號後，接著便進行接 收訊號之平行矩陣之數量判斷。而矩陣數量之多寡，將影響力學導納 曲線之解析度。本研究在觸發判斷之程序後加上此一步驟，係因「狀 況擷取」機制之啟動，將可能造成訊號擷取量之不足。關於此部分之 問題，可利用圖 6.24 與圖 6.25 來輔助說明之。於此程序中，若系統 判斷其所擷取到之資料量不足之時，系統將顯示出錯誤視窗以提醒施 測者，並於按下 OK 鍵後便可重新開始施測，如圖 6.26 所示。若此 階段之判斷結果為通過，由此開始，程式流程便跳離接收訊號與判斷 檢核之程序，並接續進行下一個步驟。

圖 6.24 「狀況擷取」機制運行結果示意圖

圖 6.25 「狀況擷取」機制實際運行結果案例

圖 6.26 矩陣數不足情況下所出現之警訊視窗 6.5.3 資料處理

此部分之程式碼，如圖 6.27 右側虛線範圍所示。當程式進入此 步驟時，首先將對於速度規所接收之訊號進行高通濾波之處理，以濾 除極低頻之雜訊。進行此項處理的原因是測試速度規時，發現其接收 到之訊號中，會包含一極低頻且類似正弦波之訊號，如圖 6.28 所示。

此現象將嚴重影響到後續訊號之處理與判斷工作。惟需注意的是，一 般基樁非破壞檢測所得之訊號亦屬低頻區。因此若濾除太多，將連帶 濾掉可能有用之反應訊號。由此可知，此濾除低頻波之動作，將必須 經過多次反覆測試，才能獲得最佳之效果，如圖 6.29、圖 6.30 與圖 6.31 所示即為「阻截頻率」（cutoff frequency）分別為 10、30 與 50 Hz 時之濾除效果圖。

當訊號通過濾波器之後，即可進行「將電壓轉換為實際物理量」

始進行力學導納曲線之運算，並呈現於程式面板上。

圖 6.27 「資料處理」區段之程式碼(虛線範圍內)

圖 6.28 「資料處理」區段中含極低頻振盪之原始曲線

圖 6.30 阻截頻率為 30 Hz 之高通濾波處理後之結果曲線

圖 6.31 阻截頻率為 50 Hz 之高通濾波處理後之結果曲線