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動態斯塔克效應 AC-Stark effect

在雷射輻射下,會有幾個不同的效應伴隨著多光子躍遷,其中一個現象就是 AC-Stark effect 造成原子能態的偏移。當雷射打入原子後,因為雷射電場的振幅隨時 間改變而改變,能態的偏移會隨著雷射電場的振幅逐漸增長,而增加過了脈衝峰頂後,

就慢慢的遞減直到脈衝的結束。其中特別一個例子是電場振幅呈週期性改變,而這種 能態的偏移情形我們稱之為動態斯塔克效應 AC-Stark effect。

不過碰到相關的問題時,很難區分何時是共振游離(resonant ionization)或是直接 游離(direct nonresonant ionization),一般沒有特別說明的情況下,都是以直接游離的 情況下來考慮。

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多光子電離(multi-photon ionization)(MPI)

束縛電子要游離可以藉由吸收單一顆高頻率光子,即如同光電效應一般,或是同 時吸收好幾個低頻率光子來達成游離目的。不過後者需要搭配高輻射電場強度(光子 密度)才有可能發生。從微擾理論可以得知,n-光子游離速率Γ 為

Γ

為多光子截面(generalize multiphoton cross-section)[1],下標 n 表示吸收 n 個光子,

其與原子結構,輻射的頻率和極化有關。n 越大, 越小; 為雷射電場強度。通 常電場強度大於10 W cm⁄ 就會產生多光子電離(multi-photon ionization)。[2]

圖 2.1 A.電子同時吸收四個能量為 ω光子,恰好滿足束縛能E 而游離,這就是多 光子電離(multi-photon ionization);B.電子吸收除游離需要的四顆光子外,又多 吸收兩顆光子,會產生閥上電離(ATI)現象,電子在離開原子核時有額外的動 量。

自 1960 年代雷射被發明以來,原子與輻射交互作用的相關研究陸續被探討,

Voronov 和 Delone 等更在 1965 年左右開始進行多光子電離(multi-photon ionization)的 研究。當低頻率的光子輻射到原子,原子內的電子能藉此獲得能量,當獲得足夠的能 量,就能從低能態躍遷到相對較高的能態,在這些能態上,電子依舊被原子核束縛住。

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當電子吸收光子的能量超過於原子的游離能I 時,電子就能從原子當中游離出去,並 獲得動能E,此機制稱為多光子電離 multi-photon ionization,如圖 2.1(A)

E n ω I

n 為電子從光子得到能量恰好超過原子游離能,所需最少的光子個數。ω為光子頻率。

在 1979 年由 Agostini[3]實驗發現,當輻射強度逐漸增強(10 ~10 W cm⁄ )時,

游離的電子可以持續吸收光子的能量,如圖 2.1(B)所示。在光電子游離的能量光譜上,

可以看到明顯的波峰,峰與峰的寬度不但相等,恰好對應著輻射光子的能量,這個現 象就稱作閥上電離(above-threshold ionization, ATI),如下圖

圖 2.2 氙原子的光電子能量游離光譜,在λ 1064 nm平均雷射電場強度為 10 W cm⁄ 。原圖引用自[4]。

不過閥上電離(ATI)還是有欠缺不足的地方,因為現在輻射電場大小是會以一定 頻率改變,電子受到電場作用會來回振盪,當電子的振盪頻率大於光子振盪頻率時,

就不再是一般單純的閥上電離(ATI),故我們要討論另外一個可能的游離 隧穿電離 (tunneling ionization)。Kruit(1983)表示此時的閥上電離(ATI)是一種非微擾過程,即使 此時雷射強度只有10 W cm⁄ 。

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一般來說,只要雷射強度I I ,我們可以利用低階微擾理論 lowest order perturbation theory (LOPT)來計算電子躍遷速率。舉例來說,在計算 n-光子游離從能 量E 的初始態Ψ 到能量密度為ρ E 的連續態,其中E ⁄ 2 ,則 LOPT 躍遷 速率為

W 2

2 ρ E

為精細結構常數

Ψ | · |Ψ Ψ | · |Ψ Ψ | · |Ψ

E 1 ω E E 2 ω E E ω E

為 LOPT 躍遷矩陣元素

在這個公式裡,可以看到因選擇規則而禁止的單光子躍遷(如 1s 2s),藉由多光 子吸收可以達成。有一點必須注意的是,低階微擾理論(LOPT)並不適用於共振的多 光子吸收情況。在共振的情況下,可以用 Feshbach projection operator 方法去計算得 到 optical potential。當共振情形出現,通常都是共振影響較大,這種游離另外又稱 作為共振增強多光子電離resonance-enhanced multiphoton ionization (REMPI),如下 圖

圖 2.3 (A)多光子和二光子游離;(B)共振增強多光子電離

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不過,當雷射強度逐漸增強(10 W cm⁄ ),低階微擾理論(LOPT)計算就不太適用,

這時我們得另尋其他適當的近似方法,例如 Volkov wave function,Coulomb Volkov wave ,Floquet theory 和數值解 TDSE。

隧穿電離 tunneling ionization

當雷射的強度夠大時(10 ~10 W cm⁄ ),庫倫位能會受到雷射電場的微擾而產 生變化,位能障壁就好像傾斜一樣,這時候基態電子就像穿過隧道一樣,有一定機率 可游離出位能障壁外,這就叫做隧穿電離(tunneling ionization)。當電場大到使位能障 壁的鞍點(saddle-point)低於基態的束縛能時,這種情況我們就叫作過勢壘電離

(over-the-barrier ionization)。其中有兩個近似方法可以計算電子游離速率- Keldysh theory 和 ADK theory,不過 Keldysh theory 會比實際值少,因為它忽略了庫倫場的效 應,然而 ADK theory 卻可以與實驗數據相當接近。

圖 2.4 (A)多光子電離 (B)隧穿電離(C)過勢壘電離

動力勢能 ponderomotive potential

原子內的束縛電子會受到外加電場的影響而加速,在原子內部做來回震盪運動,

當滿足一定能量,能夠擺脫原子核的束縛而游離,即 tunneling ionization。

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動力勢能與帶電粒子在電磁場中震盪的平均動能相等。

假設在真空下,我們有一個電場其可以表示成

, cos( .

為震盪頻率。經過一連串的計算後,我們可以得到動力勢[附錄]

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其中 I 為輻射電場強度, 為真空下的介電常數。

則我們可以得到凱耳什參數γ(Keldysh parameterγ )

γ 2

2

其中 為電子游離能。

我們可以透過凱耳什參數判斷,若γ 1,則此系統為多光子電離(MPI);若γ 1,

則此系統為隧道電離(tunneling ionization)。

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原 time-independent 薛丁格方程式

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兩邊同乘以 2 exp 然後再對整個空間積分,我們發現使用(1)之後

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