□检验规范、□检验设备和仪器、□检验方法、□供应商之标准、□物料实验分析
这里以电阻式 Touch panel 使用的 ITO FILM 和 ITO GLASS 为例：〈1〉ITO FILM：
检验项目、检验标准、检验方法、检验结论：★，外观：导电层表面无刮伤，污点，凹凸不平，保护膜贴合良 好，应无明显彩虹纹，无牛顿环！★，尺寸：厚度与规格所示≤+5%！★，平均方阻值：方阻值与规格所示≤+20%
（检测工具：Four point tester）。★，电阻热稳定性：R=（R2-R0）/RO≤+20% R：电阻热稳定变动率、R1：
高温烘烤后之电阻值、RO：原始电阻值。检测方法：高温烘烤 150℃60min 后测试电阻值！★，线性变动率：横 向 TD：≤5%，纵向 MD：≤3%。检测与计算方法：
（Rmax-Rmin）×100%
Raver
★透光率：Clear ITO Film:≥85% Anti-glare ITO Film: ≥80%检测工具 SPECTROPHOT-OMETER.
★表面硬度（耐刮伤性）：≥2H（防刮伤 ITO 应无明显划痕）。检验方法：使用
2H 铅笔成 45 度角 1KG 力度斜推材料非导电面。★附着力：蚀刻区，非蚀刻区分别测试绝缘，耐酸的附着能力。
（各制造商标准不同）★耐 UV 性：UV 照射能量分崩离析≥3000mj/cm 后 ITO 层是否脱落。★蚀刻效果：ITO 层 易被蚀刻。★．耐高温性：材料无严重变形，表面无异常、缩水率 X≤1%， Y≤1%。高温测试条件 130℃60min。
★,环境测试：附着力较环测前无差异，电阻较环测前变动率小于 20%。环测条件：Environment Test condition
＋60℃98%RH4hour-20℃4hour, one cycle。
得出优点、缺点。总评：可用，不适用改后可用等结果。
〈2〉ITO GLASS：检验项目、检验标准、检验方法、检验结论：
★外观：颜色、外观无异常，裁切磨边状况良好。★尺寸：厚度、长度、宽度（个别制造检验标准不同）。★方 阻值：规格值所示±20%。★方阻均匀性：TD≤6% MD≤3% ( Rmax－Rmin)
2×Raver
★方阻垫隐定性：方阻变动率（R。）change rating of heat Resistance=R1/RO≤1.1.检验方法:高温烘烤 150
℃30min 测试电阻值.高温烘烤后接触电阻应在规格值以下,与方阻比率(RO)小于 1.1★透光率:在 550um WAVELENGTH 条件下测试透光率应大于 90%.SPECTROPHOT-OMETER. ★表面硬度(耐刮伤性)表面硬度应大于 3H pencil.测试方法:使用 3H 铅笔成 45 度角 1KG 斜推导电面. ★ITO 付着力:高温烘烤 ITO 应无脱落.(150℃60min) 每种测试完后使用 3M810 胶带或保护膜粘贴 ITO Coating 后撕开. (蚀刻后 ITO、UV 照射后 ITO、环测后 ITO 均 应脱落)
★耐 UV 性：UV 照射能量分崩离析≥3000mj/cm 后 ITO 层无脱落. ★蚀刻效果：ITO 层易被蚀刻、表面无异常、
电阻应在规格值以下。★环境测试：环测后，外观较测前无异常，方阻值较测前变动率小于 1.1,方阻值较测前 之下!环测条件:Environment Test condition＋60℃ 98%RH4Hour-20℃4Hour,3cyle＋60℃ 95%RH24hour,one cycle.环测后,接触电阻应在规格值以下,与方阻之比率(RO)小于 1.1.
得出优点,缺点.总评:可用、不适用、改后可用等结果。
（什么是方块电阻蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方 阻。什么是方阻呢？方阻就是方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，如图一所示，即 B 边到 C 边的电 阻值。方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的，不管边长是 1 米还是 0.1 米，它们的方阻都是一样，
这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关。
方块电阻如何测试呢，可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料呢？不可以的，因万用表的表笔只能测试点到点之 间的电阻，而这个点到点之间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻，首先我们需要在 A 边和 B 边各压上一个电阻比导电膜电阻
这样我们就可以通过用万用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料的方阻。如果方阻值比较小，如在几个欧姆以下，
因为存在接触电阻以及万用表本身性能等因素，用万用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就需要用专门的用四端测 试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等。测试方法如下：用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，如图二所示。四根铜棒用 A、
B、C、D 表示，它们上面焊有导线接到毫欧计上，我们使 BC 之间的距离 L 等于导电薄膜的宽度 W，至于 AB、CD 之间的距离没有要 求，一般在 10--20mm 就可以了，接通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。这种测试方法的优点是：（1）用这种 方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值，（2）由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻，铜棒 到仪器的引线电阻，即使比被测电阻大也不会影响测试精度。（3）测试精度高。由于毫欧计等仪器的精度很高，方阻的测试精度 主要由膜宽 W 和导电棒 BC 之间的距离 L 的机械精度决定，由于尺寸比较大，这个机械精度可以做得比较高。在实际操作时，为了 提高测试精度和为了测试长条状材料，W 和 L 不一定相等，可以使 L 比 W 大很多，此时方阻 Rs=Rx*W/L,Rx 为毫欧计读数。此方法 虽然精度比较高，但比较麻烦，尤其在导电薄膜材料比较大，形状不整齐时，很难测试，这时就需要用专用的四探针探头来测试 材料的方阻，如图三所示。）
这里我再以耐酸油墨以及绝缘点油墨为例，说一说它们的进料检验。
一、耐酸油墨(以日本互应 PER-208B-27 为例):检验项目、检验标准、检验方法、检验结论：
appearance：颜色 Colors 蓝色,外观异常.
★粘度 viscosity:100～300d,pas.Remark: ViT-04Viscosty, tester.
★印刷效果 Printing effect:应无渗透,干版,且无粘版现象
★硬度 Hardness:油墨烘干后硬度大于 3H(用 3H 铅笔 45 度斜角 1KG 力匀建划过无脱落).
★附着力 Adhesive strength:
Remark: UV condition: 300mj/ c ㎡
★蚀刻效果 Etching effect:蚀刻后方阻值较规格值变功率小于 20%.酸蚀刻段油墨应无脱落,易被碱蚀, 不留污渍.
(1)酸蚀段:a:酸浓度 5.5N+6.65N,b:速度:1.1M/min+19,c:温度:摄氏 40℃.
(2)酸蚀段: a:碱浓度 0.56N, b:温度:摄氏 35℃. C,速度: 1.2M/min+18, 得出优点,缺点,总评:可用,不适用,改后可用等结果.
二、绝缘点油墨（以日本 ASAHI 朝日 UV-10T-DS 为例）： 检验项目、检验标准、检验方法、检验结论：
★外观：颜色乳白色（无异常），无气 。透明度为半透明。Remark:较 UVF-10T-DS2 流动性稍差，透明度稍 好。
★绝缘点高度：A：￠0.05mm:0.006～0.007mm,B: ￠0.12mm:0.014～0.016mm, Remark:采用直径为 0.05 mm 和 0.12 mm 钢网印刷.
★绝缘点效果:印刷的绝缘点应有弹性.(Rebound feature is poorer!) 抗湿性:高温高湿后绝缘点阻≥200m Ω.抗湿测试条件:±80℃ 98%RH 4hour.
★粘度(at25℃,800～1200ps)Viscotest VT-04.
★环境测试:附着力,硬度较环测前无差异.环测条件: ±40℃ 90%RH 500hour.UV 固化条件:800mj/c ㎡ 得出优点,缺点,总评:可用,不适用,改后可用等结果..
找到原因,解决问题.
上述只是主要的项目,还有特殊的一些项目要求,这里就不鏊述了。
原材料接触电阻测试：
目的：测试上线原材料与下线原材料之间的接触电阻。看哪两种材料组合后的接触电阻最小。
方法：上线：缩水后印一条银棒 Ag 胶→415-C
下线：直接印绝缘点（3×3×φ0.04）和银棒 Ag 胶用 504ET-3 触模屏：上、下线下料后用 401-Z 线键将上、下线组合成成品。
〃
万用表两个表笔分别接上、下线两银棒，当档位打到 200K，将硅胶（圆球）固定在力度计上，用硅胶球 垂直按压成品，读取力度计 15g 时的读数。
（接触电阻：是指一对触点间相互接触时接触部位的电阻值.它由触点接触面上的收缩电阻和表面膜电阻组成.由于此电容具有分 布特性它对其他传输特性（阻抗和串音）起着特有的作用
两导电体相互接触处的电阻。比导体本身的电阻要大得多。为减小其阻值，可改变接触形式增大接触面积，选用电阻率低的导电 材料，使接触表面更光洁，增大接触压力。）