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5-2-1 綠光 OLED 直流 B-I-V 量測

一般正常的 OLED 在 B-I-V 量測,應該不會出現不穩定的情形,但是由於這 批樣品的穩定比之前來的差,即使是在一般操作下,都很容易就無法再發光了,

而且在發光前電流會大幅度地上升,所以本小節將對這種個現象做仔細的探討。

圖 5.2.1(a) 為實驗裝置示意圖,大致與圖 5.1.1 相同,圖 5.2.1(b)為實驗過程中 OLED 都是被箱子蓋住隔絕日光燈的干擾,不同之處是在於使用的 20 Ω外加電 阻,且改用HAMAMATSU 公司的光接收二極體 S2387-1010R [附錄 E],有效量 測區域為10 mm×10 mm,量測範圍從 320 nm 到 1100 nm,效率最高的波長為 960 nm,同樣地這個光接收二極體沒有經過校正,直接將偵測器兩端接到示波器 量測電壓。直流電壓源改為可程式化的電壓源 GW PST-3202,最大電壓為 32 V,

最大輸出電流為2 A,量測的方法是每隔 0.5 秒加 0.5 V 的電壓到 10 V,再從 10 V 每隔0.5 秒降 0.5 V 到 0 V,為一週期。圖 5.2.2 (a)與圖 5.2.2 (b)分別為第一個週 期的外加電壓上升部分與下降部分時OLED 上的跨壓。圖 5.2.3 (a)與圖 5.2.3 (b) 則為第一週期外加電壓上升部分與下降部分時,流經OLED 的電流,圖 5.2.4 (a) 與圖5.2.4 (b)為第一週期外加電壓上升部分與下降部分時,OLED 的發光亮度。

依此順序圖5.2.5 (a)、(b),圖 5.2.6 (a)、(b)與圖 5.2.7 (a)、(b)分別為電壓訊號第 二週期OLED 的跨壓,電流與發光訊號;圖 5.2.8 (a)、(b),圖 5.2.9 (a)、(b)與圖 5.2.10 (a)、(b),則為第三週期 OLED 的跨壓,電流與發光訊號。每個週期間隔 不超過十秒。

從圖 5.2.3 (a)、圖 5.2.4 (a),第一個週期的OLED跨壓與電流的曲線可以看出 當外加電壓在3 V左右的時候,OLED跨壓下降而電流急速上升,一直到外加電 壓為 7.5 V時下降到一開始加壓時的線性趨勢,如圖 5.2.2 中的虛線,而且這三 個週期I-V曲線都沒有出現臨界電壓的情形。出現這種情形有可能是加壓的過程 中OLED樣品的等效的電阻開始變小,所以會出現電壓驟降與電流驟增的情形。

而在OLED發光情形上,也是當電流驟增恢復的時候才開始發光而且亮度是突然 上升。當電壓從10 V降到 0 V的過程中,也會電壓與電流看到類似的趨勢,但是 變化就比較和緩,OLED的發光亮度到了電流驟增的時候就沒有了。在第二週期 電壓上升的期間,電壓驟降與電流驟增的區域更加擴大,從2.5 V到 8.5 V都持續 出現,而且在電壓下降的過程中,電流驟增的幅度也比第一週期要來的大。到第 三週期的時候電流往升之後就沒再下降了,在亮度上跟前兩個週期比起來也是非 常微弱,而且在這之後,用慢慢加壓的方式OLED就沒辦法發光了,只能一次就 加到6 V以上才會發光。圖 5.2.11 (a)、(b)、(c)為一次加到 10 V後再以每 0.5 秒下 降0.5 V地降到 0 V的OLED跨壓、電流與亮度曲線。OLED在電壓下降的過程中,

電流驟降又比第一與第二週期來得早,大約是在5 V就會出現,而且電流上升的 幅度也變得更大。在經過幾次重複直接將電壓加到10 V之後,OLED就不能再發 光了,而且如同其他無法發光的樣品一樣會出現銀白色小點,圖 5.2.12 照片圓 圈中為綠光樣品銀白色小點,這些白點有點像是金屬從有機層中析而結晶,而且 這批樣品都有相同的問題,因此我們推測這種銀白色小點可能是因為Alq3中的Al 產生結晶,在某些區域出現類似導通的通道。

(a) 20 ohm

(b)

(c)

圖 5.2.1 (a)直流 B-I-V 實驗量測架構示意圖,(b)實驗系統照片,(c) 光偵測器照片。

0 2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

10 8 6 4 2 0

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

0 2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

Applied Voltage (V)

Current (mA)

Applied Voltage (V)

Current (mA)

0 2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

圖5.2.5 (a)與圖5.2.5 (b)分別為第二週期的外加電壓上升部分與下降部分時

Applied Voltage (V)

Current (mA)

Applied Voltage (V)

Current (mA)

圖5.2.6 (a)與圖5.2.6 (b)則為第二週期外加電壓上升部分與下降部分時,流經 OLED的電流。

圖5.2.7 (a)與圖5.2.7 (b)為第二週期外加電壓上升部分與下降部分時,OLED的 發光亮度。

0 2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

10 8 6 4 2 0

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

0 2 4 6 8 10

Applied Voltage (V)

Current (mA)

Applied Voltage (V)

Current (mA)

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

圖5.2.10 (a)與圖5.2.10 (b)為第三週期外加電壓上升部分與下降部分時,OLED 的發光亮度。

10 8 6 4 2 0

Applied Voltage (V)

OLED voltage (V)

(a)

Applied Voltage (V)

Current (mA)

Applied Voltage (V)

Brightness (V)

(b)

(c)

圖5.2.11 (a)、(b)、(c) 分別為在三個週期後,一次加到 10 V 後再以每 0.5 秒下 降0.5 V 地降到 0 V 的 OLED 跨壓、電流與亮度曲線。

圖 5.2.12 無法再發光的綠光 OLED 樣品照片,圓圈中間為類似金屬析出的情況。

在這幾個實驗中可以發現到,這批樣品在穩定升壓的過程中,電阻會突然變 小使得電流突然上升,但同時亮度卻沒有跟著上升,反而是在電流下降為原來的 趨勢時才開始發光。因此推測其物理機制可能是在還未發光前,所加的電壓造成 的電流通路並是流經可以讓 OLED 發光的區域,反而是經過樣品中缺陷區域,

而這些缺陷區的電阻小於正常的OLED,一直外加電壓夠大時,正常 OLED 開始 導通,電流才恢復正常。而且缺陷區在導通的過程中,應該是會使缺陷區變得更 嚴重,所以在第二週期時,電流驟升的範圍就加大了,在經過幾次操作,就只有 一次加較高的電壓,才能讓 OLED 發光,再操作一段時間 OLED 就無法再發光 了而樣品上便會出現肉眼可見的銀白色小點。因此這些白點有可能就是原來樣品 中的微小缺陷擴大後的結果。然而為何在前兩個週期電流會驟增,而第三週期之 後,必須一次加高電壓才能讓OLED 發光,這邊提供一個可能的解釋:

第一週期 0~10 V: 假設缺陷區與可發光區的導通,都有一個電位障,超過電位 障之後就會大量導通,其中缺陷區會比發光區來得小。所以當電壓慢慢上升超過 缺陷區的電位障時,電流就會大量導通,而在電壓持續增加超過發光區的電位障 時,因為發光區的面積比較大,大部分電子與電洞會開始往發光區走並開始發 光。但可能是因為發光區會有陷阱的影響,所以電流並沒有增加反而是下降。

第一週期 10~0 V: 因為開始下降的過程中 OLED 發光區已經處於導通的狀態,

所以電位障會比從 0 V 上升時還來得低,所以電流出現驟升的電壓會比 0~10 V 時低。相同地在缺陷區可能也也有相同的現象,因為當電壓為 0~4 V 時電流對電 壓的斜率 10~0 V 的狀況會比 0~10 V 來得陡。

第二週期: 基本趨勢與第一週期相同,但是因為之前操作過程可能會讓缺陷區 擴大,所以電流驟升的區域區域會變大,電流值也會變大。

第三週期: 因為缺陷擴大得太大,以致於雖然外加電壓大於發光區的電位障,

但是通過發光區的電流還是不夠,所以無法達到像第一、二週期的亮度。

一次加壓至 10 V: 當瞬間加至 10 V 時,已經超過發光區與陷區的電位障,然 而發光區的面積還是比較大,對載子的吸引力仍大於缺陷區,所以還是會發光。

但是再操作幾次後,缺陷區擴大到比發光區對載子的吸引力大時,那此 OLED 樣品將無法發光,而且會出現肉眼可見的銀白色小點。

從以上的實驗可以發現,這批樣品在直流的 B-I-V 量測很不穩定,因此在電 容參數的粹取上變數太大,無法適用於一般情形。但是在這三個週期的量測過程 中,也推論出當 OLED 出現電流驟增的情形下可能的原因,如果能結合 OLED 製程參數的調控,或許可以作為OLED 製程在改善使用壽命的方法。

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