析。是以,必須應用通用克利金法(Universal Kriging)的概念,利用趨 勢面分析去除漂移(或稱區域平均值),使殘差滿足內在假設的條件,方
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一步從其中萃取綜合性之區域因素(Clapp and Wang,2004)。
由於空間資料並無時間順序的概念,且克利金法亦重視資料結構
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γ (ℎ )= E − (3-1)
表示配對樣本殘差值的變異程度。而計算並連接各空間級距內的平均 空間距離、平均試驗半變異元,可得試驗半變異元折線圖(見圖 3-1)。
然而,試驗半變異元折線是由數個不連續點所構成的圖形,實際 應用時仍需以連續性的模式套配後,方能求取理論函數之各參數,以 推估理論半變異元,並應用於克利金法之估計。因此,求得試驗半變 異元折線之後,將進一步套配連續性的理論半變異元模式;常用之理 論半變異元模式有次方模式(Power Model)、指數模式(Exponential Model)、球狀模式(Spherical Model)與高斯模式(Gaussian Model)等,各 理論模式不僅可捕捉不同的空間變異結構特性(見圖 3-2),更可根據已 知與未知樣本的距離估計理論半變異元,即根據配對樣本的空間距離 推測二者理論上應有的變異程度。
圖 3-1 試驗半變異元折線圖
圖 3-2 理論半變異元模式示意圖
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套配連續性理論模式之重要目的,在於求取各理論模式的估計參 數,即臨界變異值(sill)、最大影響範圍(influence range)與碎塊效應 (nugget effect)等三個參數。由於理論上配對樣本相距越遠,其間的變 異越大、同質性越低、相互影響程度越小,故由圖 3-3 中可見當配對 樣本之距離 h 越遠時,則其半變異元值 γ(h)也越大。惟當距離 h 達到 某一特定值後,γ(h)將趨近於一定值,而不再有明顯的變異增量,此定 值即為臨界變異值;該值相對應的距離 h 則為具有空間自相關現象的 最大影響範圍,惟依配對樣本距離及套配模式的不同,此參數又有不 同的計算方式。
圖 3-3 半變異元基本曲線
此外,半變異元函數具有連續的性質,即在理論上當兩樣本相距 越遠、變異越大,而相對距離趨近於零時,則無變異可言,即半變異 元 γ(h)應為零,故半變異元曲線應可延伸至坐標軸的原點。惟實際作 業時,γ(0)未必會等於零,而是為一定值,這種在微小距離內有極大變 異的現象,稱為碎塊效應。即
lim → ℎ = =Constant (3-2) 發生碎塊效應的原因可能是 Z(x)的量測誤差,或是 Z(x)在非常小的距 離內即有相當大的變異,而各樣本所在位置之間的距離比較大,故無 法由試驗半變異元來表現出極小範圍內 Z(x)的變化情形。
總而言之,藉由理論模式套配試驗半變異元可得知部分臨界變異 值(C)、最大影響範圍(A )、碎塊效應(C )等三個參數,分別代入不同
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雲圖(variance cloud)之變化,設定最佳空間分析範圍(active lag distance) 與級距(lag class distance interval)。同時,透過觀察模式套配之配適度、擬合試驗半變異元折線的的誤差,選擇配適度最大、誤差最小之理論 模式,方可做為應用克利金法劃分同質區的估計與製圖基礎。
(三) 劃分同質區
本研究擬以 ArcGIS 做為劃分同質區之地理資訊系統軟體,惟須先 利用 ArcMap、ArcCatalog 設定坐標系統、分析範圍、內插網格大小等 製圖環境,方可進行同質區劃分。本研究主要以 ArcMap 之空間分析 如:簡單克利金法(Simple Kriging,SK)、普通克利金法(Ordinary Kriging,OK)與指標克利金法(Indicator Kriging,IK)等。
由於本研究假設殘差滿足內在假設,故不採行僅適用於二階