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析。是以,必須應用通用克利金法(Universal Kriging)的概念,利用趨 勢面分析去除漂移(或稱區域平均值),使殘差滿足內在假設的條件,方

一步從其中萃取綜合性之區域因素(Clapp and Wang,2004)。

由於空間資料並無時間順序的概念,且克利金法亦重視資料結構

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γ (ℎ )= E − (3-1)

表示配對樣本殘差值的變異程度。而計算並連接各空間級距內的平均 空間距離、平均試驗半變異元,可得試驗半變異元折線圖(見圖 3-1)。

然而,試驗半變異元折線是由數個不連續點所構成的圖形,實際 應用時仍需以連續性的模式套配後,方能求取理論函數之各參數,以 推估理論半變異元,並應用於克利金法之估計。因此,求得試驗半變 異元折線之後,將進一步套配連續性的理論半變異元模式;常用之理 論半變異元模式有次方模式(Power Model)、指數模式(Exponential Model)、球狀模式(Spherical Model)與高斯模式(Gaussian Model)等,各 理論模式不僅可捕捉不同的空間變異結構特性(見圖 3-2),更可根據已 知與未知樣本的距離估計理論半變異元,即根據配對樣本的空間距離 推測二者理論上應有的變異程度。

圖 3-1 試驗半變異元折線圖

圖 3-2 理論半變異元模式示意圖

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套配連續性理論模式之重要目的,在於求取各理論模式的估計參 數,即臨界變異值(sill)、最大影響範圍(influence range)與碎塊效應 (nugget effect)等三個參數。由於理論上配對樣本相距越遠,其間的變 異越大、同質性越低、相互影響程度越小,故由圖 3-3 中可見當配對 樣本之距離 h 越遠時,則其半變異元值 γ(h)也越大。惟當距離 h 達到 某一特定值後,γ(h)將趨近於一定值,而不再有明顯的變異增量,此定 值即為臨界變異值;該值相對應的距離 h 則為具有空間自相關現象的 最大影響範圍,惟依配對樣本距離及套配模式的不同,此參數又有不 同的計算方式。

圖 3-3 半變異元基本曲線

此外,半變異元函數具有連續的性質,即在理論上當兩樣本相距 越遠、變異越大,而相對距離趨近於零時,則無變異可言,即半變異 元 γ(h)應為零,故半變異元曲線應可延伸至坐標軸的原點。惟實際作 業時,γ(0)未必會等於零,而是為一定值,這種在微小距離內有極大變 異的現象,稱為碎塊效應。即

lim ℎ = =Constant (3-2) 發生碎塊效應的原因可能是 Z(x)的量測誤差,或是 Z(x)在非常小的距 離內即有相當大的變異,而各樣本所在位置之間的距離比較大,故無 法由試驗半變異元來表現出極小範圍內 Z(x)的變化情形。

總而言之,藉由理論模式套配試驗半變異元可得知部分臨界變異 值(C)、最大影響範圍(A )、碎塊效應(C )等三個參數,分別代入不同

雲圖(variance cloud)之變化,設定最佳空間分析範圍(active lag distance) 與級距(lag class distance interval)。同時,透過觀察模式套配之配適度、

擬合試驗半變異元折線的的誤差,選擇配適度最大、誤差最小之理論 模式,方可做為應用克利金法劃分同質區的估計與製圖基礎。

(三) 劃分同質區

本研究擬以 ArcGIS 做為劃分同質區之地理資訊系統軟體,惟須先 利用 ArcMap、ArcCatalog 設定坐標系統、分析範圍、內插網格大小等 製圖環境,方可進行同質區劃分。本研究主要以 ArcMap 之空間分析 如:簡單克利金法(Simple Kriging,SK)、普通克利金法(Ordinary Kriging,OK)與指標克利金法(Indicator Kriging,IK)等。

由於本研究假設殘差滿足內在假設,故不採行僅適用於二階

(Interpolate to Raster)的普通克利金法,依序藉由選擇、輸入由變 異函數結構分析所得到的理論模式、基本參數等資訊,並設定鄰 自然分組功能(Natural Break (Jenks)),依據組內變異最小、組間變 異最大之原則劃分同質區,然最適劃分個數仍須另外進行測試。

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