第三章 激發─探測實驗系統
3.5 極化飛秒光譜實驗方法及步驟
在系統架設完成之後,我們即可進行樣品超快光譜量測。樣品量 測之實驗步驟如下:
1. 黏貼樣品:由於我們須進行低溫量測,所以我們必須將樣品 黏貼於降溫系統之樣品固定座上。黏貼樣品時,需使用低溫 銀膠,並確實將銀膠烤乾,以確保樣品與銅座接觸良好,避 免低溫實驗時造成嚴重熱效應,使得溫控不準確。另外,若 樣品有特殊軸向時,需確定樣品黏貼之軸向,確保軸向解析 實驗之準確性。
2. 打開雷射熱機:熱機時間約需要 1.5 小時到 2 個小時,以確 保雷射光源之穩定性。雷射熱機完成後,啟動鎖模,並觀察
紀錄雷射能量、出光光點狀況、並使用光譜儀,觀察雷射出 光光譜是否有 CW 光。確認光源狀況的穩定性,才能降低光 譜量測時雜訊之影響,並確定所得光譜之可靠性。
3. 樣品黏貼完成後,即可將樣品放入低溫真空腔中抽真空。抽 真空之前,須調激發、探測光束入射樣品之角度,將其調整 到盡量垂直入射。另外,探測光經樣品表面之反射光,須能 完全入射光偵測器。而且盡量避免激發光束之反射光,進入 光偵測器,降低反射率變化量訊號擷取之訊雜比。
4. 室溫光譜量測。在實驗進行當中,須時時確定激發光與探測 光兩者的能量、偏振方向與光點在樣品表面上之重合。我們 使用 power meter,配合偏振片與半波片的相對角度,進行雷 射功率控制。實驗時,我們所使用的激發光束功率與探測光 束功率比為 40mW:1mW。在偏振方向上,若樣品於表面上 並無軸向解析,我們可以將激發光束與探測光束的偏振方 向,控制為互相垂直,以避免光譜擷取時,激發光束與探測 光束產生干涉(Interference)現象,使得干涉信號蓋過我們真 正想擷取之訊號。但若樣品於表面上有軸向解析,則需將激 發光束與探測光束偏振方向,同時調整平行於欲觀察之軸向 上。但是,如此一來會產生嚴重的干涉現象,解決方式為進
行多次光譜量測,所得數據進行平均,將強度隨機變化之干 涉訊號互相抵銷掉。光點重合方面,我們使用附有放大鏡頭 的 CCD 以及監視器,觀察光點於空間重合之情形。為避免 時間延遲裝置在移動過程中,因光路校準無法非常準確,使 得激發光束會有所偏移。我們會將激發光束的聚焦光點,調 整大於探測光束聚焦光點,確保激發光能完全蓋過探測光 點,並在光譜擷取過程中,探測光不會移出激發光點之外。
5. 降溫進行光譜量測:使用液態氦進行降溫,並配合溫控器控 溫。控溫時需注意液態氦流量之控制,避免控溫不準確。控 到所需要的溫度之後,即可重複 4.的量測步驟。量測時,因 雷射光源之能量並非很穩定,所以必須時時確認雷射能量與 偏振方向。
第四章 實驗結果與討論
在本章節中,我們將討論極化飛秒光譜實驗中,所得到的反射率 變化與準粒子數目、樣品能隙分佈變化情形之關係。
4.1 量測結果
利用在第二章中的鍍膜技術,我們成功的成長了(100)與(001)的 Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ,還有(001) Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ。再使用第三章中 討論到的極化飛秒激發─探測系統,我們完整的取到各個樣品的超快 激發─探測光譜。
由於我們可以調變激發光束與探測光束的偏振方向,我們必須配 合欲觀察的樣品來調整偏振方向:對於有軸向之樣品─(100),要將探 測光與激發光偏振方向平行於欲觀察的軸向,如此將得到該方向上的 最大信號;至於(001)軸向之樣品,由於 YBCO 成長為(001)樣品時,
在膜面上(100)軸與(010)軸為隨機排列,並無各向異性,所以將激發 光束與探測光束偏振調整為平行或垂直並不影響觀測到的信號。但是 激發光與探測光偏振平行,會產生嚴重的干涉現象,增加實驗進行困 難度,所以在量測無各向異性的樣品時,會將偏振方向調整為互相垂 直。
0 10 20 30
-10 0 10 20 30 40 50
Relaxation Time (ps)
220k
0 20 40
Relaxation Time (ps)
Y
0.9Ca
0.1Ba
2Cu
3O
7-δ(001)
圖4.3 不同溫度下,(001) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ滿氧薄膜的
瞬時反射率(
R
ΔR )變化。
0 10 20 30 40 50
Relaxation Time (ps)
230k
-10 0 10 20 30 40 50
Relaxation Time (ps)
200k
圖4.1~圖 4.5 分別列出不同樣品,在各個溫度時,
R
ΔR隨時間變
化的關係圖。
圖4.1:(100) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ薄膜,激發與探測光束偏振方向 互相平行,且平行於Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (010)軸,E//b-axis。
圖4.2:(100) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ薄膜,激發與探測光束偏振方向 互相平行,且平行於Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (001)軸,E//c-axis。
圖4.3:(001) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ滿氧薄膜,激發與探測光束偏振 方向互相垂直。
圖4.4:(001) Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ滿氧薄膜,激發與探測光束偏振 方向互相垂直。
圖4.5:(001) Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ缺氧薄膜,激發與探測光束偏振 方向互相垂直。
透過分析這些關係圖,我們得到振幅隨溫度變化;以及,弛緩時 間隨溫度變化的關係。進一步分析這些數據,我們將得到在不同摻 雜、軸向上的能隙分佈與變化的情形。
4.2
RTime delay (ps)
NormalizedΔR/R (a.u.)
Time delay (ps) (001) YBCO
在過摻雜Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ樣品當中,我們亦觀察到在進入超導
Delay Time (ps)
Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (001) T=40k
ΔR/R
Delay Time (ps)
圖 4.7 (001) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ超導態
)
且 N(0)=2.5~5eV-1Cell-1Spin-1為態密度(Density of States)
36
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
Δp=359.41±22.65 k (30.97±1.95 meV)
Δ(0)=346.68±11.30 k (29.87±0.97 meV)
Δp=317.99±39.51 k
(27.40±3.4 meV)
Δ(0)=231±10.78 k
(19.90±0.93 meV)
圖 4.10 Y0.899Ca0.101Ba2Cu3O7-δ, R
ΔR 大小與溫度關係[3]
Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ(001)樣品 R
ΔR 變化行為與J. Demsar所發表之結
果極為類似(圖 4.10)。另外在,Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ我們同樣看到,在 Tc以上對應偽能隙的變化與Tc以下對應超導能隙急遽的變化。
由 R
ΔR 的大小與溫度變化的關係數據,配合V. V. Kabanov的理
論 , 我 們 可 以 得 到 在 Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ(001) 上 , 超 導 能 隙 (Superconducting gap)大小為 346.68±11.3k (29.87±0.97 meV);偽能隙 (Pseudogap)大小為 359.41±22.65k (30.97±1.95 meV)。
在Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (100)樣品的部分,當探測光與激發光偏振 方向同時平行於樣品的b軸,即Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (010)軸向時,我們 可以觀察到與在Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (001)樣品上觀察到的
R ΔR
,有著類 似的遲緩行為(圖 4.1);但是,若激發光與探測光偏振方向同時平行樣 品的c軸,即 Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (010)軸向時,除了激發與探測光造
成的干涉信號之外,並沒有顯著的弛緩現象。由此我們可以推論,在 Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (100)樣品當中,偽能隙與超導能隙,皆不出現在 (001)軸向上。
另外,從電場沿著b軸方向的 R ΔR
信號,同樣的將信號的振幅隨溫 度變化的情形,配合公式(4-2)與(4-3)做適配,我們一樣可以得到在 Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ (100)樣品當中,沿著(010)方向上的能隙大小。其 中,超導能隙大小為 231±10.78k (19.90±0.93 meV);偽能隙大小為 317.99±39.51k (27.40±3.4 meV)。
0 20 40 60 80 100 120 140 160
0 1 2 3 4 5 6 7
(001)-oritened Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-d , E//ab-plane
Slow Fast
Relaxation Time (ps)
Temperature (k)
圖4.11 (001) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ薄膜,弛緩時間對溫度的關係圖
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 0
2 4 6 8 10 12
(100)-oritened Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-d, E//b-axis
Slow Fast
Relaxation Time (ps)
Temperature (k)
圖 4.12 (100) Y0.9Ca0.1Ba2Cu3O7-δ薄膜,弛緩時間對溫度的關係圖
4.3
RΔR
光譜與能隙變化之關係
在 YBCO 樣品當中,氧的含量對於樣品的影響非常的大。改變 樣品中的氧含量,除了會改變載子的濃度之外,也會改變能隙的分布 情形。
圖4.13 (y=0.9,0.15,0.1,0) E//c-axis,O K edge XANES[18]
圖4.13 為Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O6+y在不同氧含量時的X-ray吸收光譜。
我們可以看到,當Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O6+y樣品從滿氧變為缺氧時,會多出 一個上哈伯能帶(Upper Hubbard Band)。這個能帶的出現,對於我們 量測 R
ΔR 光譜有重大的影響。
以下我們將定性的描述,滿氧與缺氧的Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ當中,
所觀察到的 R
ΔR 光譜變號情形。
4.3.1 滿氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ
圖4.14(a)表示overdoped Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ正常態能帶結構圖。
其費米面與滿氧YBCO一樣位於O 2p-like軌域中,不同的是,由於鈣 的摻雜使得電洞的濃度變高,費米面會比純YBCO在O 2p-like軌域中 來得高。另外,在Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ X光吸收光譜中(圖 4.13),充滿 電洞的上哈伯帶(UHB)已經消失不見,因此我們可以將能帶結構圖,
簡化為圖4.14(a)的形式。圖 4.14(b)則表示,在T≠ 0 k時,因為費米能 階分布滑移效應(Smearing effect),造成部份載子分布於費米能階之 上。
圖4.14 滿氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ正常態能帶圖
Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ正常態的時候,瞬時反射率與能帶結構關係:
在激發光脈衝尚未到達樣品時,樣品吸收探測光脈衝能量,唯一可能 造成的躍遷機制為圖4.14(b)中 1 的躍遷機制。在激發光脈衝激發樣品 之後,費米面附近的載子,吸收激發光子的能量,而躍遷到達較高之
能階。此時造成費米面附近的載子數目變少,如此一來造成圖4.14(b) 中躍遷機制1 的機率瞬間變小,而得到負的瞬時反射率變化。隨著時 間變長,費米能階之上的載子,透過各種散射機制將能量釋放掉而回 到費米能階之下,瞬時反射率才漸漸回到未被激發的平衡狀態。
在溫度低於Tc,樣品達到超導態的時候。因準粒子形成庫柏對,
在費米能階上下產生 的超導能隙。在激發光到達樣品之前,樣品 吸收探測光光子能量,產生躍遷的機制有兩個:一個為超導能隙之上 的載子,吸收探測光子躍遷到更高能階(圖 4.15 process 1);另一個為 超導能隙之下的載子,吸收探測光子能量,躍過超導能隙到達超導能 隙之上(圖 4.15 process 2)。
Δ 2
2Δ EF
圖4.15 滿氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ超導態能帶圖
在激發光脈衝到達樣品之後,樣品吸收激發光束脈衝光子,使得 超導能隙之下載子躍過超導能隙,到達更高能階之上;且原本於超導
能隙之上的載子,也吸收激發光能量到達更高能階之上。這樣將造成 圖 4.15(a)中躍遷機制 1、2 的機率同時變小,而觀察到負的信號。但 是在一小段時間之後,位於高能階的載子透過各種射散作用將能量釋 放掉,累積於超導能隙之上,造成躍遷機制1 的機率瞬間變大,而觀 察到正的信號(圖 4.15(b) )。
當溫度更低的時候,2Δ超導能隙將隨溫度的降低而變得更大。
其大致的躍遷機制,與上面所述超導態時相同。不同的地方在於,由 於超導能隙的變大,我們觀察到正的信號變大。且因為海森堡測不準 原理(ΔE*Δτ ≤ 2h),能隙的變大,造成弛緩時間的變短。
4.3.2 缺氧 Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ
利用實驗室所發展的控氧技術,我們將同一個樣品,從滿氧的狀 態,控制到缺氧的狀態。當樣品達到缺氧的狀態時,除了上哈伯能帶 的出現,費米面亦會比滿氧時來得低。
圖4.16 缺氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ正常態能帶圖
圖 4.16 表示缺氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ在正常態時,能帶結構的簡 圖。當機發時間零點之前,樣品吸收探測光脈衝能量,唯一可能造成 的躍遷機制為圖 4.16(b)中 1 的躍遷機制。在激發光脈衝激發樣品之 後,費米面下方的空軌域變多,如此一來,使得圖4.16(b)中 2 的躍遷 機制機率變大,所以我們將觀察到正的
圖 4.16 表示缺氧Y0.7Ca0.3Ba2Cu3O7-δ在正常態時,能帶結構的簡 圖。當機發時間零點之前,樣品吸收探測光脈衝能量,唯一可能造成 的躍遷機制為圖 4.16(b)中 1 的躍遷機制。在激發光脈衝激發樣品之 後,費米面下方的空軌域變多,如此一來,使得圖4.16(b)中 2 的躍遷 機制機率變大,所以我們將觀察到正的