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樣品製備-薄膜製備

第三章 實驗方法

3.1 樣品製備-薄膜製備

在本節將說明 La2-xSrxCuO4 (0≦x≦0.4)系列樣品薄膜之製備過 程。

3.1.1 靶材製備

本實驗製作的樣品靶材為 La2-xSrxCuO4系列,我們採取的方式 為固態反應法進行製備。首先計算出各樣品的 La、Sr、Cu 的莫耳數 比 , 再 由 其 比 例 推 算 出 所 需 混 合 的 粉 材 La2O3( 純 度 99.9%) 、 SrCO3(純度 99.9%)、 CuO(純度 99.999%)之重量,經微量天秤秤重 並均勻混合粉材,之後將混合的粉材倒入氧化鋁坩鍋,放入通以高純 氧的管狀爐中,以 10 ℃/min 升溫至 500 ℃預燒 1 小時,之後再升溫 至 1000 ℃做粉燒 8 小時,每次粉燒完之後再次磨成均勻粉末,並且 提高 10 ℃再進行粉燒,然後以 1 ℃/min 降溫至室溫,連續粉燒三次 至 1020 ℃後停止,每次粉燒完的樣品會漸漸變為黑色,體積及重量 都會略為縮小,這是因為碳酸物質揮發的結果。粉燒完成之後,將粉

1 ℃/min 升溫至 1020 ℃燒結 24 小時,然後以 1 ℃/min 降溫至室溫完 成燒結,燒結完成後測量其密度,再將其搗碎成粉狀再加壓成塊狀重 複塊材燒結。待完成的靶材其表面無裂痕且密度穩定無大幅度變化,

才停止燒結,得到本實驗用的靶材。

表 3-1 La2-xSrxCuO4靶材燒結條件

粉燒 1st溫度 粉燒 2nd溫度 粉燒 3rd溫度 塊材燒結溫度

La2-xSrxCuO4 1000 °C 1010 °C 1020 °C 1020 °C

3.1.2 薄膜磊晶

本實驗薄膜樣品製備是使用脈衝雷射蒸鍍系統(PLD, Pulse Laser Deposition System)如圖 3-1,成長膜厚約 300 nm 之薄膜樣品。此脈衝 雷射蒸鍍系統所使用之 KrF 準分子雷射( HyperEx400,Lumonics Excimer Laser),雷射光源波長為 248 nm,脈衝能量是 400 mJ/pulse,

經聚焦後估計雷射脈衝能量密度約為 4 J/cm2 ,脈衝頻率(Repetition rate) 5Hz,脈衝持續時間(duration) 約 12 ns。

圖 3-1 雷射蒸鍍系統裝置圖。

鍍膜前基板的材質選用與清潔、鍍膜時基板的溫度、氧壓及雷射 能量、基板與靶材的距離等因素均會影響薄膜的品質。因此進行蒸鍍 薄 膜 前 ,必 須先找 出 成 長的 最佳條 件 。 本實 驗所使 用 之 基板 為 LaSrAlO4(001),其基板之選定是由於 SrTiO3(001)與 La2-xSrxCuO4間晶 格不匹配,導致 Tc無法成長與文獻報導一致且達到 La2-xSrxCuO4系列 最高 Tc[14],故依成功長出高 Tc樣品之文獻[15],選擇晶格匹配程度 更高基板成長,如表 3-2。表 3-3 為可穩定製備出結構好、均勻度佳 的 La2-xSrxCuO4 (x=0, 0.18, 0.4)薄膜之條件。

表 3-2 晶格匹配比較表

a(Å ) c(Å ) Lattice mismatch for a (%)

La2-xSrxCuO4 3.777 13.23

LaSrAlO4 3.762 13.29 0.40 SrTiO3 3.837 13.18 -1.56

表 3-3 薄膜製備條件

蒸鍍溫度(oC) 氧壓(mTorr) 雷射能量(mJ) 雷射頻率(Hz)

La2CuO4 780 300 240 10

La1.82Sr0.18CuO4 790 300 240 10

La1.6Sr0.4CuO4 780 300 240 10

薄膜磊晶實驗步驟如下:

(a) 基板清潔

1. 將基板放入裝有丙酮(acetone)溶液之燒杯中,再以超音波震盪器 去除油質及表面的殘留物,時間約 10 分鐘。

2. 將基板放入甲醇(methanol)溶液中,利用超音波震盪除去表面殘留 的丙酮,清洗時間約為 10 分鐘。

3. 將基板放入去離子水溶液中,超音波震盪除去表面殘留的甲醇,

時間約為 10 分鐘,最後用氮氣槍吹乾基板正反面 。

4. 將乾淨的基板使用高溫銀膠黏貼在加熱器基座上,並在大氣壓力 下加熱烤乾銀膠。

(b) 鍍膜步驟

1. 抽真空及升溫:將已烘烤乾並黏有基板之基座放入高真空鍍膜室,

開機械幫浦(Rotary pump)將壓力抽至約 2×10-2 torr。同時設定基座 升溫速率及持溫溫度。

2. 對光及薄膜成長:在加熱至蒸餾溫度時填充氧氣至真空鍍膜室,

使其壓力、雷射功率、雷射頻率如表 3-2。啟動雷射進行對光,使 雷射光打至靶材上,並使基板位置對準火焰所涵蓋位置。之後將 火焰及基座之間遮罩移除開始鍍膜,鍍膜時靶材與基板的距離約 6 公分左右,確保濺鍍至基板上的原子或分子團的數目極少,可 在緩慢且均勻的過程進行成長。

3. 冷卻:鍍膜完成時,關畢雷射及加熱器,關閉抽真空閘,且於真空

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