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第二章 基礎理論與文獻探討

2.3 氮化物薄膜特性

磊晶薄膜的生長從薄膜和基板的同質性可區分為同質磊晶(homo epitaxy)和異質磊晶(hetero epitaxy)兩大類,同質磊晶是基板與磊晶薄 膜均為同一物質,例如:砷化鎵(GaAs)薄膜磊晶在砷化鎵的基板上;

而異質磊晶則是在基板上生長其他不同物質的薄膜,例如:氮化鎵(GaN)

生長在藍寶石(Sapphire)基板上。另外在異質磊晶部分又可細分為兩種,

第一種是薄膜硬度值較基底硬度值高的磊晶結構,第二種是基底硬度值 較薄膜硬度值高的磊晶結構,兩種差別會影響薄膜的延展性,例如前者 受到負載破壞時,硬薄膜只能往底下基材方向變形,造成壓痕塑性區域 局部有明顯裂縫產生,影響材料判定材質為脆性材料[17],而後者軟薄膜 只能在表面方向變形,造成擠出現象[18],因此判定為延性材料。

以大部分半導體材料而言,幾乎都屬於異質磊晶結構,其相關 III-V 族氮化物磊晶之研究,最大的癥結仍在於基板選擇的問題。如果想得到 品質較高的磊晶薄膜,則必須考慮到基板與薄膜本身的晶格匹配度

(lattice mismatch)與熱膨脹係數(thermal expansion coefficient)是否互 相匹配,並且需搭配良好的製程環境,才能得到較高品質的氮化鎵磊晶 薄膜結構。以下將列出各基材的晶格常數與熱膨脹係數並探討之間的關 係。

2.3.1 氮化鎵磊晶薄膜之基材種類

在磊晶氮化鎵薄膜結構最常用的基板大致有藍寶石(sapphire)、矽

(Si)、碳化矽(SiC)和砷化鎵(GaAs)這四種基板,其中以藍寶石基 板在學術研究與業界是最廣泛被使用之基板[5,19]

(1)藍寶石基板(Al2O3,Sapphire)

藍寶石基板其結構的堆積方式為六方最密堆積(Hexagonal)結構,

空間群(Space group)是 R3c,單位晶格由 12 個 Al3+與 18 個 O2-組成,

單位晶格體積為 254.792 Å3,晶格常數a=4.765 Å,晶格常數 c=12.982 Å,如圖 2-3[5] 所示。先前學者研究 A 面(1120)藍寶石基板和氮化鎵 薄膜之間的晶格不匹配度為 2%,相較於磊晶在 C 面(0001)藍寶石基 板的晶格不匹配度 13.9%好[5],也就是說使用 A 面藍寶石基板會具有更 好的磊晶品質,但目前在製程方面,已經使用兩階段磊晶製程,利用緩 衝層來改善晶格匹配度的問題,所以商品化發光二極體及雷射二極體都 已成功地在C 面藍寶石基板上製成。

(2)矽基板

Si 簡稱矽基板,晶格堆積屬於面心立方(FCC)結構,晶格常數為 0.543 nm,如圖 2-4[5]。矽的價格較低、尺寸也比較大並且擁有好的導熱 性和導電性,但是缺點是矽基板與氮化鎵之間晶格不匹配數為 16.9%

[5] ,導致薄膜與基材的交界面上有缺陷的產生(defect) ,進一步影響其磊

晶品質。為了降低缺陷的形成,在磊晶製作過程也採用兩階段磊晶製程,

首先磊晶一層氮化鋁(AlN)作為緩衝層,其主要目的在於降低薄膜與基 材之間的晶格不匹配度,接著再生長氮化鎵薄膜結構。另外也有學者研 究指出矽是屬於立方體(Cubic)結構,氮化鎵與氮化鋁皆屬於六方最密 堆積(Hexagonal)結構,而就結構的晶格常數而言在矽基板的(111)面 上會比較適合磊晶氮化鎵和氮化鋁 [20,21]

(3)碳化矽基板

碳化矽是一種人工合成的材料,它並不自然存在於大自然中,碳化 矽擁有多種結晶相屬於立方體結構(Cubic),晶格常數分別有:

(a)3C 結晶相=0.43596nm;

(b)2H 結晶相 a=0.30753 nm, c=0.50480 nm;

(c)4H 結晶相 a=0.30730 nm, c=1.00530 nm;

(d)6H 結晶相 a=0.30806 nm, c=1.51173 nm;

而造成其不同相的主要原因為製程溫度[19];碳化矽擁有一些非常好的特 性,如高硬度、高溫強度、低膨脹係數並且有好的導熱跟導電性,它跟

氮化鎵之間的晶格不匹配數只有3.5%[22,23],但是它的熱膨脹係數比氮化 鎵小,熱膨脹係數的不匹配數高達 25%。因此在冷卻的過程中內部會誘 發張應力,所以需要緩衝層來降低缺陷的發生[24]。此外,6H-碳化矽(SiC)

基板,它和氮化鎵薄膜之間的晶格錯配度亦有 3.4%。

(4)砷化鎵基板

砷化鎵是穩定的六方體結構(hexagonal)所構成的 zincblende 結構,晶 格常數為 0.56536 nm[5]。相較於碳化矽(SiC)與藍寶石(Sapphire)基板 則穩定性較差,與磊晶的氮化鎵屬於相同 zincblende 結構,所以具有較高 的電子遷移速率與較高的光電轉換效率,但是因生產上困難所以沒有量 產。

2.3.2 六方最密堆積之滑移機制[25]

材料的塑性變形行為,是由於原子最密堆積層面的差排受到剪應 力,使晶格逐漸滑動而造成的剪切變形。換句話說,塑性變形機制為差 排沿著原子堆積最密面上的方向滑動,因為沿著最密排列方向移動最短 的距離,可使材料造成永久變形。

要產生滑移現象,至少必須有一組滑移面與一組滑移方向才能組成

「滑動系統」。而滑動系統數目的多寡會影響材料的延脆性,例如金屬 滑動系統愈多,則其延性愈佳。而氧化鋁基板是屬於六方最密堆積

(Hexagonal)結構,具有一組滑動面{0001}與三個滑動方向<11 0>,2

<1 10>,<2 0> ,總共有 3 組滑動系統,相較於面心立方(FCC)結 構的四組滑動面{111}、三組<1 0>滑動方向所構成 12 組滑動系統,與 體心立方(BCC)結構六組滑動面{110}、二組<11 >滑動方向所構成 12 組 滑 動 系 統 , 由 晶 格 的 滑 動 系 統 理 論 更 可 說 明 六 方 最 密 堆 積

(Hexagonal)結構發生塑性變形機率相對較低,因此具有較好的機械特 性,例如:硬度與彈性模數。

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