在測試上，拉出多個測試與驗證的節點。除了於每一級類比電路的輸入/輸 出均有設置測試節點，驗證每一級類比核心電路是否正常運作之外，並於數位電 路的輸入/輸出拉出測試節點，避免因為數位電路失效後，導致無法測試核心類 比電路。在數位電路失效的情況化，仍可以直接由外部腳位，直接灌入訊號去測 試類比電路是否正常運作。其中，Fig.4-28 為晶片的全系統測試腳位打線圖，
Fig.4-29 為系統架構對應的測試腳位，Table 5 為其腳位訊號說明表。
Fig.4-28、晶片測試腳位打線圖
4.5.1 晶片腳位分佈與訊號說明
4.5.2 測試驗證平台架構
本系統的測試架構考量如 Fig.4-29，除了用以驗證每一級電路是否正常運作 之外，另外考量到若部份電路運作不正常時，外部補償電路方式。而晶片的主要 測試驗證主要分為兩階段，第一階段為電性測量(測試架構如 Fig.4-30 所示)，目 的在於確認本晶片之輸出電壓之DC 位準正確，晶片能夠正常作用，將輸入訊號 予以放大與濾波。第二階段直接上生理訊號擷取平台(架構如 Fig.4-31 所示)，利 用生醫感測電極，將生理訊號感測傳送至前端電路，進行訊號放大、濾除與抑制 雜訊等前處理動作，再使用ADC 將前端電路的輸出轉成數位訊號，經由後端處 理單元作運算、分析，最後在螢幕上顯像，用以驗證本晶片之設計。
Fig.4-29、系統測試架構圖
第一階段－電性測試：
Fig.4-30、晶片電性測試平台
使用器材：
訊號產生器，示波器，電源供應器
測試步驟：
1、 將電源供應器調整適當供應電壓，並接上其類比電源(+/-1.5V)、數位電 源(0/3.3V)、ESD電源(0/3.3V)、GuardRing電源(+/-1.5V)。
2、 經由訊號產生器產生適當模擬生理訊號頻帶之輸入弦波(分佈頻帶如圖 4.2)，經由前端電路晶片處理。
3、 此外，再經由訊號產生器產生適當的Clock(頻率視輸入訊號而定)，設定 切換電容低通濾波器的頻寬。例如：腦電波(EEG)訊號(DC~150Hz)，設 定切換時脈為5KHz，設定濾波器的3dB在150Hz左右。
4、 再視模擬訊號振幅，輸入編碼器的數位選擇電壓，導通電阻開關去選擇 所欲放大的倍率。
5、 接著從示波器輸出端讀出訊號，預計DC操作準位為0V，測試晶片是否 具有放大濾波功能。
6、 若能得到以上的結果，即可稱為晶片Function Work。
第二階段－生理訊號量測平台測試：
Fig.4-31、本實驗室交大腦科學研究中心研發之生理訊號量測分析系統平台
晶片經由第一階段－電性量測後，驗證此前端電路的確正常運作之後，即可 進行第二階段－直接上生理訊號量測系統平台驗證，直接利用本實驗室交大腦科 學研究中心研發的平台(如Fig.4-31所示)，將系統其中的訊號擷取放大單元直接替 換成本前端電路晶片，經由訊號輸入端的感測電極將感測到的生理訊號，傳送至 本電路做前處理(放大、濾波)，再傳送至後端的類比/數位轉換器作數位化的動 作，經由RF無線模組傳輸，再經由後端的嵌入式系統對信號作運算處理、分析，
進而輸出結果。