在本章節中將會一一介紹此模擬系統中所使用的基本背景知識。並以此背 景知識作為建構模擬晶體成長之基礎。
2-1 單位晶格
HAp 的分子式為 Ca10(PO4)6OH2,晶體結構為六角柱狀,圖 2-1 為 HAp 的 單位晶格1。將 HAp 中的氫氧基以氟取代可以得到 FHAp (Ca10(PO4)6F2)。FHAp 單位晶格之 a, b 軸長為 9.3684 Å 、c 軸長為 6.8841 Å 。
本研究根據 FHAp 單位晶格設計模擬之晶體單元大小,晶體單元長寬設置 為 FHAp 延 c 軸堆疊 2 個單位晶格之長寬比 1.47 而定。將晶體單元長寬分別設 置為 50 與 34 單位,每單位大小為 1010 m。
圖 2-1:HAp 單位晶格示意圖1。
2-2 Helmholtz 自由能
Helmholtz 自由能(A)在熱力學中可用來表示固定溫度下密閉系統受到有效 功的熱力學位能。其基本定義如式 2-1。在統計熱力學中:固定粒子數(N)、體 積(V)、溫度(T)情況下,可將 Helmholtz 自由能表示成式 2-2。
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Q : canonical partition function k : Boltzmann factor
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excess N kT
NVT N
ln NVTideal NVTexcess
ideal excess
模擬中,藉由計算系統之 Helmholtz 自由能得知晶體單元間的作用情形。模擬 時,每次在系統中加入一顆晶體單元,晶體單元在系統中的位置以晶體單元中 心 x、y 座標以及與垂直方向的夾角( )表示。新晶體單元在模擬系統中的 Helmholtz 自由能可設為以下形式:
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能分別以 Debye length 與排斥體積觀念描述系統內能(Earea)與熵的相關項(Easa) 表示。
2-2-1 Debye length
系統內能的設定中,先以 Debye length 來描述晶體間作用距離。Debye length 是指在稀釋溶液中離子運動並非理想情形,溶液中離子彼此會有作用3。 溶液中帶電離子的運動可用帕松方程式(Poisson equation)描述,如式 2-8。當電 解質溶液處於平衡時,帶電離子分布會符合波茲曼分布(Boltzmann
distribution)。溶液中正負離子濃度可由式 2-9、式 2-10 表示。
2
0D
2 : Laplacian operator
: electrostatic potential
: charge density
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式 2-即為 linearized Poisson–Boltzmann 方程又稱為 Debye–Hückel 方程,
為 Debye–Hückel 參數(式 2-15),1即為 Debye length (D)。
Debye length 可以表示帶電粒子的遮蔽距離,亦即帶電粒子在溶液中能感 受到其他粒子並與之作用的距離。當特定兩粒子間的距離小於 Debye length 時,兩粒子彼此會有作用力;若特定兩粒子間的距離大於 Debye length 時,兩
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向(orientation-dependent)差異所引起之熵的變化5。Onsager 理論可簡單的用排 斥體積來描述。排斥體積表示:每個分子所佔據的空間不可讓其他分子進入。
此概念被廣泛利用在描述液晶與聚合物的理論上6。在液晶的向列型狀態中,當
液晶整體的排斥體積變小時,會使系統中平移熵(translational entropy)變大7。當 溶液中的大分子排列良好會使其排斥體積會變小,讓溶液中其他小分子、粒子 可移動的區域變大,增加系統熵、降低系統的 Helmholtz 自由能。
系統熵在平衡系統中一般可以寫成式 2-17,W 為粒子在系統中所有組態,
表示系統熵與系統中的組態數目有關。
ln S k
欲計算粒子在系統中的所有組態,對粒子的描述會使用統計力學中的硬球 體假設。硬球體假設認為:原子、分子存在的區域不可與其他原子或分子重 疊,其作用力與距離關係可用圖 2-2 表示。當兩原子或分子靠得太近時,便會 產生一強大斥力使得兩原子或分子分離;當兩原子或分子距離太遠則無作用 力。當兩粒子在一維空間中,其 Helmholtz 自由能計算可表示成圖 2-3a。兩粒 子在一維空間中可移動的區域如圖 2-3b、配分函數可以寫成式 2-18。圖 2-3b 之 紅色部分為兩粒子間的排斥體積,會影響配分函數的計算,進而影響系統中的 Helmholtz 自由能。
圖 2-2:兩相同粒子間作用力與距離關係簡化示意圖。
式 2-17
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圖 2-3:兩粒子在一維空間中(a)位置示意圖,(b)位置與分佈關係圖。紅色表示 粒子之排斥體積、藍色表示兩粒子間彼此有作用力、灰色表示粒子間可移動範 圍。
將此一維空間計算推廣至二維空間中,用以表示模擬系統中晶體成長的 Helmholtz 自由能計算。在本研究中,模擬的晶體單元為長方形,晶體單元間彼 此排列關係會影響排斥體積大小。將晶體單元在系統中的所有組態寫成式 2-19,
Vi 表示晶體單元在系統中的所有區域、Vex表示晶體單元在系統中的排斥體積、
V0 為此模擬系統中的單位體積。晶體單元在系統中的組態數目以晶體單元在系
統中存在的全部區域扣除排斥體積估算。當晶體單元彼此排列較鬆散時,由於晶 體單元間可作用的距離不變,但排斥體積變大會使得配分函數變小,系統中的 Helmholtz 自由能下降。反之,晶體單元彼此排列整齊時,系統中的 Helmholtz 自 由能較高。因此,模擬時以計算晶體單元間的排斥體積表示系統中熵的相關項。
0
i ex
V V
V
(b) (a)
式 2-18
式 2-19
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2-3 晶格排列
單位晶格有序且重複地排列會形成晶體結構8,晶體結構與晶體形貌相關。
單晶(single crystal)為單位晶格有週期且連續排列形成;單晶中所有單位晶格以 相同方式互相鍵結且具有同樣之方向。故在單位晶格排列過程中,彼此為對齊 排列不易產生錯位情形。
在本研究中將此概念運用至模擬系統:當模擬系統中沒有添加物存在時,
晶體單元會因晶格關係彼此排列整齊,不易形成錯位。然而當模擬系統中有添 加物存在時,我們認為添加物會影響晶體排列,因此不考慮晶體單元間是否有 錯位。
2-4 Terrace ledge kink 模型
Kossel 與 Stranski 認為:新晶體在表面出現後,受到熱力學因素會使新晶
體傾向移動至與最多相鄰原、分子結合之位置9。以二維空間中之正方形為例
10(圖 2-4),鍵結數(N )與原子數(n)關係如
表 2-1。式 2-20 表示鍵結數與原子數關係之通式。系統能量受鍵結數目不 同而改變,系統能量變化情形即為鍵能( )與鍵結數相乘 (式 2-21)。
圖 2-4:二維空間中之正方形晶體與其相鄰晶體示意圖。
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表 2-1:相鄰原子數與鍵結數關係
Number of atoms, n Number of bonds, N
1 0
4 4
9 12
16 24
2 2 N n n
2 2 N n n
此現象在實驗的三維空間中稱為 terrace ledge kink 模型(TLK 模型),目前 晶體成長的統計力學模型常以此為基礎。假設晶體為正立方體,晶體表面各位 置如圖 2-5 所示,各位置之相鄰晶體數如表 2-2。TLK 模型描述:新加入的粒 子在晶體表面生成後,會迅速移動到階梯或扭折位以增加相鄰晶體數,進而使 系統能量更穩定。在本研究中之模擬參考此模型作設定:模擬系統中出現扭折 位時,晶體單元會優先在此位置附近生成,考慮完扭折位附近所有可能位置後 才會計算其他位置之系統能量,以得到較穩定之系統能量、增加模擬效率。
圖 2-5:正立方晶體表面各位置示意圖11。
式 2-20
式 2-21
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表 2-2:正立方晶體不同位置相鄰晶體數10
Atom Number of nearest neighbors
adatom 1
step adatom 2
kink atom 3
step atom 4
surface atom 5
2-5 蒙地卡羅方法
蒙地卡羅方法(Monte Carlo method)以隨機亂數取樣,使計算所得之結果符 合統計熱力學12。蒙地卡羅方法使用亂數產生器(random number generator)產生 隨機且平均的亂數;以此得到一個均勻分布的亂數數列。當產生的亂數足夠多 時,能使平均值趨近於理論值;亦即需要大量重複抽樣才能得到結果。
蒙地卡羅方法在取樣中已考慮能量的波茲曼分布情形;亦即在取樣過程中 已考慮各狀態存在機率。使得取樣的有效性提升,也能減少計算資源的浪費。
在取樣時,先計算系統初始能量(E )並將之隨機移動得到新系統能量(1 E )。若2 新系統能量較低時接受新狀態,否則會計算新系統能量之波茲曼權重( f ),並 和一隨機數R比較。當 f 值較大,接受新狀態;否則保留原狀態。
本研究中以蒙地卡羅法搜尋晶體構型最佳化位置,在模擬系統中的計算流 程如下:
1. 計算系統中新加入的晶體單元之系統能量(E )。 1
2. 將新晶體單元在系統中隨機移動、轉動,計算系統能量(E )。 2 3. 若E2 E1,接受新狀態。回到步驟 1. 。
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4. 若E2 E1,計算
E2 E1
f e kT
。
5. 產生一個隨機數R介在。
6. 若 f R,接受新狀態。回到步驟 1.。
若 f R,拒絕新狀態,保留已存在的狀態。回到步驟 1. 。
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2-6 參考資料
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