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3-1 何謂相位雜訊

一個理想的振盪器會產生一個完美的弦波

) sin(

)

(t A ω

S = (3-1) 實際上,信號一定會含有雜訊,可把雜訊分成相位及振幅兩方面,通 我們把一個振盪器產生的信號如下表示:

)) ( sin(

)) ( ( )

(t A a t t

S = + ω+φ (3-2) 此處

a(t)表示信號振幅隨著時間變化的變化量,稱作“振幅雜訊”。

)

φ(t 表示信號相位隨時間而變的變動量,稱作“相位雜訊”。

一個設計良好的振盪器,其振幅雜訊會受到本身電路振幅增益的限 制,所以振幅的變動非常的小[7],但相位雜訊卻不是這樣,相位雜訊 非常的難以消除,所以我們可以把振盪器的信號,看成只有相位雜 訊,表示如下:

)) ( sin(

)

(t A t

S = ω+φ (3-3) 在通訊系統中,相位雜訊會降低系統對頻道的選擇能力,並提高在接 收機端的誤碼率[8]。故在射頻頻率合成器中,低相位雜訊是系統性能

設計上的重要考量之一。

3-2 相位雜訊的量測:

在介紹相位雜訊量測方法之前,先定義一些描述信號頻譜的參 數,再來便是利用窄頻調變的理論來分析相位雜訊,並用此結果來量 測信號的相位雜訊。

以式(3-3)來說

)) ( sin(

)

(t A t t

S = ω +φ

一般定義[7]

spectrum) power

noise phase band side (double

(t) )

( 相位偏移量φ 的雙邊功率頻譜

φ fm =

S (3-4)

n) fluctuatio phase

of density (spectral

dt (t) ) d

( 頻率偏移量 φ 的雙邊功率頻譜

φ fm =

S (3-5)

( ) (fm) 1Hz ( )

Hz fm dBc

L = 距載波頻率 頻寬的雜訊功率與載波 功率的比值

(3-6) 3-2-1 相位調變簡介

在式 3-3 中,我們把φ(t)當成一個弦波信號,表示如下

t

t θ

PK

ω

m

ϕ ( ) = sin

(3-7)

θPK表示調變相位偏移的最大值,將(3-4)式代入(3-3)式

) sin(

sin(

)

(t A t t

S = ωc +θPK ωm ) (3-8) 從時域來看,此信號的相位會因相位調變信號的緣故,而有抖動(jitter) 的現象,從頻域上來看,在距中心頻率ωc兩旁,n 倍ωm處(n =±1,±2,...

圖 3-1 相位調變頻譜圖

理論上 n 等於無限大),都會有頻譜分佈,且諧波振幅大小可由 Bessel 函數來決定[9],如圖(3-1)所示,一個頻率等於 100MHz,功率 0dBm 的載波受頻率為 100KHz,但θPK各為 0.1,0.5,1,5(rads)的弦波作相位調 變之後的頻譜分佈圖。

相位調變是一個非線性的調變,當我們要得到載波受到由兩個信 號相加所產生的信號而調變的結果,是無法由兩個信號個別調變載波

的結果相加而得到。從圖(3-1)可知,當θPK增加時,頻譜並非以線性 方式增加,相位調變的非線性特性,一直是分析雜訊調變問題所需要 考慮的因素,幸運的是對於程度不大的相位調變,可用線性的方式來 描述。目前主要採用的方法是把雜訊當作是弦波的相加,將個別弦波 調變的效應相加起來,即可得到其總和效應[9]。

3-2-2 相位調變與頻率調變的關係

如式(3-8)所示為一相位調變信號

) ) sin(

sin(

)

(t A t t

S = ωc +θPK ωm (3-9) 此信號的相位與時間的關係為

) sin( t

t PK m

c θ ω

ω + (3-10) 對上式作微分可以得到信號的頻率與時間的關係為

( )

mt m

PK

c θ ω ω

ω + cos (3-11) 其頻率偏移最大值ωPK

m PK

PK θ ω

ω = (3-12) 由此可知相位偏移峰值與頻率偏移峰值的關係,並定義一調變指數

β(Modulation Index)使得

m PK m

PK

PK f

= f

=

= ω

θ ω

β (3-13) 調變指數便是指頻率漂移峰值與調變頻率fm的比值,因此可把一個頻 率調變信號表示成

( )

t A

(

t

( )

t

)

S = sin ωc +βcosωm (3-14) 也可將其頻譜如前面相位調變的信號頻譜般圖示出來,但不同的是相 位調變時比較θPK的不同,頻率調變時比較的是β

圖 3-2 頻率調變頻譜圖

正如相位調變一般,頻率調變也是非線性調變。

3-2-3 窄頻的相位及頻率調變

當調變指數β<<1(FM),也就是θPK<<1(PM)時,我們可將調變 信號加以簡化並求得其近似值,這就是所謂窄頻調變,如式(3-5)所 示,一個相位調變信號

( )

t A

(

t

( )

t

)

S = sin ωc +θPKsin ωm

假如θPK<<1,可將上式近似成

( )

t A

(

t

( )

t

)

S = sin ωc +θPKsin ωm

( ) ( ( ) ) ( ) ( ( ) )

{

t t t t

}

Asin ωc cosθPKsin ωm +cosωc sin θPKsin ωm

=

( ) ( ) ( )

{

t t t

}

Asin ωc +θPKcosωc sin ωm

( ) ( ( ) ) ( ( ) )

{

t t t

}

A ωc + θPK ωc +ωmθPK ωcωm

= sin 0.5 sin 0.5 sin (3-15) 我們知道當x<<1 時,sin

( )

xx,cos

( )

x1,所以窄頻相位或頻率調 變在載波兩旁距離中心頻率ωm處會產生一對的旁波帶,其單邊振幅 與載波振幅比值為

2

pk

V Vn θ

= (3-16) 而功率比值為

( ) 4 2

2

2 pk rms

V

Vn θ θ

=

= (3-17) 式中

2

pk rms

θ =θ (3-18)

根據(3-2)式定義,可得知

) 2 (

2

fm rms

Lθ (3-19) 根據(3-1)式定義,可得知

) 2

(fm rms

Sφ =θ (3-20) 所以

2 ) ( ) 2

(

2 S fm

fm

Lθrms = φ (3-21) 應用前列各式所得的結果,可藉由頻譜分析儀量測出 1Hz 頻寬雜訊功 率與載波功率的比值而求得相位雜訊的值。

3-3 迴路中各組件之雜訊響應

圖 3-3 為一鎖相迴路的雜訊模型,其中包含幾個迴路中主要的 雜訊源,每個雜訊源所產生的機制均不相同,此處先討論系統輸出雜 訊與各雜訊源的關係。

XTAL PD LPF VCO

÷N

÷R

PLL output

( )

f

φVCO

( )

f

φLPF

( )

f

φpd

( )

f

φrd

( )

f

φXTAL

( ) f

φ

Nd

S

( )

kv

( )

Fs

( )

kd

圖 3-3 系統雜訊模型

圖中:φXTAL

( )

f 表示參考振盪器的相位雜訊 φrd

( )

f 表示參考除頻器的相位雜訊 φpd

( )

f 表示相位比較器的相位雜訊 φLPF

( )

f 表示迴路濾波器的相位雜訊

( )

f

φVCO 表示 VCO 的相位雜訊

在線性系統中,輸出功率頻譜(power spectral)與輸入功率頻譜關 係為

( )

f S

( ) ( )

f H f 2

Sy = x (3-22) 其中Sx

( )

f 表示輸入功率頻譜,H

( )

f 為系統的轉換函數[8]。且迴路組 件雜訊源間的關係為 uncorrelatted,所以雜訊源在輸出端的總效應,

可由雜訊源個別的輸出效應相加而得[10],舉例來說,要得到 VCO

的相位雜訊在輸出端的效應,可將其他雜訊源的值設為零,則由 VCO 所造成在輸出端的相位雜訊φV .O

( )

f

( ) ( ) ( )

2

.O f V f H f

V φ

φ = (3-23) 其中轉換函數

( ) ( )

Ns s F K f K

H

o d V

+

= 1

1 (3-24)

同理可以得到其它雜訊源在輸出端的個別效應,個別雜訊源所對應轉 換函數如下:

Source Transfer function

XTAL

H s G

s G R• + •

) ( 1

) ( 1

R Divider

H s G

s G

• + ( ) 1

) ( N Divider

H s G

s G

• + ( ) 1

) ( Phase detector

K

d1

H s G

s G

• + ( ) 1

) ( N Divider

H s G

s G

• + ( ) 1

) ( VCO

H s G • + ( ) 1

1

Passive third-order LPF 1+G(s)H 1

表 3-1 不同的雜訊源所對應的換函數 其中

S S KdKvF s

G ( )

)

( = (3-25) 則系統輸出的相位雜訊如下:

H s f G

H s G f S H

s G

s f G

H s G

s f G

H s G

s f G H

s G

s G f R

f

K K

VCO

LPF d

Pd

Nd rd

XTAL out

• + +

• + +

• + +

• + +

+ +

• +

=

) ( 1 ) 1 ) (

( )1 ) (

( 1

) ( ) 1

(

) ( 1

) ) (

) ( ( 1

) ) (

) ( ( 1

) ( ) 1

( )

(

v

2 2

2

φ φ

φ

φ φ

φ φ

(3-26) 由表 3-1 可明顯看出、相位比較器、N 值除頻器,R 值除頻器及參考 頻率振盪器等的雜訊源、其轉換函數皆包含一個相同的因數,即為系 統的閉迴路增益

) ( ) ( 1

) (

S H S G

S G

+ (3-27) 將頻帶寬度ωC及相位邊界為φ定義如下:

1 )

(jH =

G ωc (3-28)

C

c H

j

G ω • =φ

( )

180 (3-29) 根據定義,可以得到

(3-30) 其 Bode 圖為

圖 3-4 閉迴路增益轉換函數 Bode 圖

在迴路頻寬內,這些雜訊將被放大 N 倍,在頻帶外則開始衰減,因 此這些雜訊源被稱作迴路頻寬內的雜訊源,VCO 則不同,其轉換函 數為

H S

G

+ ( ) 1

1 (3-30) 可將上式近似成

(3-31) 其 Bode 圖如下

圖 3-5 VCO 轉換函數 Bode 圖

此為一高通函數,在迴路寬內,VCO 的雜訊會受到抑制,頻帶外則 會通過,但並未被放大。

在迴路頻寬內的主要雜訊來自於參考晶體振盪器,除頻器及相位比較 器等,迴路頻寬外的雜訊頻譜則由 vco 主導。綜合迴路內幾個主要雜

圖 3-6 典型的迴路輸出頻譜

3-3-1 迴路頻寬ωc與相位雜訊的關係

圖 3-6 的輸出雜訊頻譜並非最佳化,由於迴路頻寬太寬使得除 頻器、相位比較器等元件的雜訊在頻寬內未被抑制,此時若將頻寬縮 減,由相位雜訊較低的 VCO 來主導,相位雜訊的表現應較佳。

根據經驗,將迴路頻寬ωc選擇在頻寬內雜訊源所造成的雜訊頻 譜曲線與迴路頻寬外雜訊源 VCO 的雜訊頻譜曲線的交點[11],如圖 3-7 所示會得到最佳的相位雜訊輸出。但迴路頻寬變窄,會使得頻道 切換時間變長,兩者之間的取捨,是在設計時所需考慮到的地方。

圖 3-7 迴路頻寬最佳化

3-3-2 各雜訊源的特性簡介

振盪器之相位雜訊:

根據 D.B.Lesson[12]所提出之線性振盪器模型,任何振盪器可以簡化 為僅包含共振器(Resonator)與放大-限幅器(Amplifier-limiter)之迴路,

如圖 3-8 所示

圖 3-8 Lesson’s model PLL BW In band noise

floor

VCO noise

ùc

A=1

) (

1

1

0

0 ω

ω ω

ω

+ jQ

Sè Σ Sö

振盪,則放大器的增益 A 亦必須為 1。設在大器輸入端,以 Sè代表 放大器雜訊功頻譜密度。則在放大器的輸入端,可得白色雜訊(white noise)每單位頻寬的功率 N 為

N=Ni+Na=FKT (3-32) 式中

Ni= 在輸入端的雜訊

Na=自放大器中加入的雜訊

F=放大器的雜訊指數值(noise figure)

K=1.38×1023j/οk (Boltsmana’s constant)

T=(273+οC) (絕對溫度)

由上可得,單位頻寬的白色雜訊功率,與信號功率 PS 的比值為 FKT/PS,是為 Sè中的一部份。再者,由於電晶體中,電荷載子密度 的變動,放大器會在載波信號頻左右,產生另一種雜訊功率,稱為 1/f 相位雜訊,或是閃爍雜訊(flicker)者。

圖 3-9 放大器雜訊頻譜

如圖 3-9 所示,為一典型的 Sè頻譜。當頻率低於 fa時,Sè的頻譜為

f0 fá

K/f

FKT/PS

Sè

1/f。在高頻率時,頻譜趨於平坦,是為 FKT/Ps。頻率 fa 決定於所用 放大器的特性。如圖 3-8 的電路,設為正回授而增益 A=1,在放大器 的輸入與輸出之間,可得環路穩態轉換函數為

) ( 1

1 )

( ) (

ω ω

ω

j H j

S j C

= − (3-33) 式中



 + −

=

) (

1 ) 1 (

0

0 ω

ω ω ω ω

jQ j

H (3-34)

由於 H(jω)為一高 Q 值濾波電路,同時討論的重點,為在ω0兩側的 雜訊功率的配置,故 H(jω)可改以其低通等效電路取代,得

) 1

( ) 1 (

L L

j j

H

ω ω ω

= + (3-35)

Q

L

2 ω0

ω = (3-36) 式中ωL=等效頻寬

由一般關係式可知,在濾波電路的輸出端,以電壓轉換函數 G(ω) , 及輸入雜訊的功率頻譜密度 Si(ω) ,所表出的雜訊功率頻譜密度 So(ω)為

2 0(ω) S(ω)G(ω)

S = i (3-37) 因此,在增益為1的放大器的輸出端,可測得閉環系統中,等效的相 位雜訊對信號功率的比值

θ 1

φ S

S = ⋅

[

1 1/(1 jω/ωL)

] [

S 1 1/(1 jω/ωL)

]

θ

⋅ +

= −

(1 )

/ ) / 1 (

2 2 2

2 2 2

L L

L S

S

ω ω ω

ω ω

ω θ

θ + = +

= (3-38)

參考(3-35)式,(3-36)及式(3-37)式中,(3-38)式可改寫為

4 ) 1 )(

( )

( 2 2

2 0

ω ω ω

θ ω

φ S Q

S = + (3-39) 上式為由 D.B.Leeson 所導出者,用以說明振盪電路輸出端的雜性特 性。以圖(3-9)中的 Sè,配合上式中,可得輸出相位雜訊的頻譜Sφ, 如圖 3-10 所示。圖 3-10(a)為低 Q 值諧振電路的狀況,濾波電路的頻 寬大於放大器的 fa ,在接近於載波頻率 f0處,雜訊功率以

1/f3(-18dB/octave)的斜率下降,在 fa與 fL之間,功率頻譜密度以 1/f2(-12dB/octave)的斜率降低。當頻率高於濾波電路頻寬後,輸出相 位雜訊都屬等高的白色雜訊。在高 Q 值的諧振電路中,如圖 3-10(b) 所示,頻寬 fL小於 fa,在 fL與 fa之間,輸出雜訊功率以 1/f(-6dB/octave) 的斜率下降,當頻率高於 fa後,輸出雜訊與頻率無關。(3-39)式中可 用為振盪器雜訊性能,與理論上放大器的最小雜訊(基於放大器的 fa 及雜訊因數 F),,兩者作定量比較的關係式。

振盪器在高頻時的雜訊基準,與振盪用放大器的雜訊因數 F 成正 比。而最低的雜訊因數為 F=1,則最低的雜訊基準為 KT,或為 –174dBm/Hz(t=300K),在接近於振盪頻率 f0的低頻率段,雜訊會隨之 增大,但是由(3-39)式中可知,實際的幅度與諧振電路的 Q2成反比。

因此,如果電路 Q 值高,則在 f0附近的相位雜訊會減少。

圖 3-10(a) 低 Q 值諧振電路

3-10(b) 高 Q 值諧振電路

晶體振盪器的相位雜訊

因為 Crystal oscillators 有很高的 Q 值所以其頻譜寬度非常的窄,

跟前面 VCO 一樣,其頻譜也包含水平區及 1/f 區域,但在過了 1/f 區的轉折頻率之後,其斜率就比 VCO 來得陡峭,在靠近中心頻率的

f0 fá fL

K/f3

FKT/PS

K/f2 SÖ

f0 fL fá

K/f3

FKT/PS

K/f SÖ

除頻器及相位比較器的相位雜訊

相位比較器及除頻器是除了VCO 及 Crystal 以外迴路中另一個主 要的雜訊源。目前最常用的相位比較器為正反器的型式,用正反器作 相位比較器最大的缺點在於靠近相位等於零的地方,會有非線性區,

即所謂的 dead zone,但此缺點已可用不同的設計方式來改善[13]。

相位雜訊隨頻率變化的特性,會因邏輯元件屬性不同而有所差 異,像 ECL 的元件其 noise floor 約為-145~-150dbc/(Hz),CMOS 的元 件其 noise floor 約為-155~-165dbc/(Hz),視輸入信號及輸出信號的操 作頻率而定。一般來說變化速度快及電壓擺幅(swing)較大的元件,其 相位雜訊較佳,這是由於雜訊主要產生於邏輯準位在 0 與 1 之間變化 的時候,速度愈快的元件,花在轉態的時間愈低,所以相位雜訊也愈 小[13]。

由於相位雜訊不高,要量測出數位元件的相位雜訊並不容易,一 些 PLL IC 元件製造廠會提供其產品的 noise floor 值,例如 National Semicoductor 所提供的 PLL IC noise floor 如下所示:

圖 3-11 NS 所提供的 PLL IC Noise Floor

由於相位雜訊會隨相位比較器的比較頻率及除頻器的除值增大 而增加,所以計算在迴路頻寬內,由數位元件所造成的相位雜訊可由 以下公式求得[6]

迴路頻寬內(ω<<ωc)

Phase Noise In band=(1 Hz Normalized Phase Noise Floor from table) +10

•log(Comparison Frequency)+20•log(N) (3- 40)

迴路頻寬外(ω>>ωc)

Phase Noise=(1 Hz Normalized Phase Noise Floor from table)

+10

log(Comparison Frequency)+20

log(G(S)) (3-41 ) 例如一個使用 lmx2326,操作在 900 MHz 的 VCO 其相位比較頻 率為 200kHz,除頻器 N 值為 4500,則在迴路頻寬內由 PLL IC 所造 成的相位雜訊為

-210+10•log(200000)+20•log(4500)=-84(dBc/Hz) (3-42 ) 此預測方法並不非常精準,然而對於設計者而言,仍有極高的參考價

值。

迴路濾波器的相位雜訊源

在被動式三階濾波器中如圖 2-8 所示,主要雜訊源為電阻 R2 及 R3 的熱雜訊(thermal noise),此熱雜訊在 VCO 輸入端會造成一調變電 壓源 VtRn,其關係如圖 3- 12 所示

圖 3-12 (a)電阻 R2 熱雜訊與調變雜訊源關係圖

圖 3-12(b) 電阻 R3 熱雜訊與調變雜訊源關係圖 R2、R3 電阻之熱雜訊值如下

R K T

VnRN = 40• • (3-43) 其中

K=1.38×1023j/οk (Boltsmana’s constant) T=(273+οC) (絕對溫度)

R=電阻值 (阻抗實部)

此熱雜訊在 VCO 輸入端會造成一調變電壓源 VtRn,其轉換函數如下 先求 VtR2

Z ) Z

( Z Z )

Z ( Z V V

Z Z Z

Z (f) Z

Z

3 (f) 1 Z

3 (f) Z

1 (f) 1 Z

2 2 1 (f) Z

R2_4 R2_5

R2_4 R2_2

R2_1 R2_2 nR2

tR2

R2_3 R2_2

R2_1 R2_2 R2_1 R2_5

R2_4 R2_3 R2_2 R2_1

• +

• +

=

+ +

= •

=

=

= +

=

SC R SC R SC

(3-44) VtR3

3 _ 3 2 _ 3 1 _ 3

3 _ 3 3

3 3 _ 3

2 _ 3

1 _ 3

3 ) 1 (

3 ) (

) 2 2 //( 1 1 ) 1 (

Z Z Z Vn Z Vt

f SC Z

R f Z

SC R f SC

Z

R

R = • + +

=

=

+

=

根據前面所提窄頻調變的理論,雜訊源 VtRn在迴路輸出端所造成的相 位雜訊,轉換函數為

) ) ( 1

1 2

) ( ( 2

log 20 )

( 10 2

2 f G S H

Kv f f Vt

PhaseNoiseR R

+

• •

= (3-46)

) ) ( 1

1 2

) ( ( 2

log 20 )

( 10 3

3 f G S H

Kv f f Vt

PhaseNoiseR R

+

• •

= (3-46 )

由上可知,R2、R3 所造成的雜訊效應在迴路頻寬內並不明顯,主要 是由於其轉換函數為高通,此點與 VCO 相同。若要降低電阻雜訊影 響,在同樣的迴路規格參數下,增大電荷幫浦(Charge Pump)的輸 出電流值,將可得到較低的電阻值[6]。

以上我們介紹了系統中各個雜訊源與輸出雜訊的關係,將雜訊源的值 代入轉換函數中,配合數學運算軟體 Matlab 等,將可求得系統的輸 出雜訊。

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