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3-1 Ce

x

Zr

1-x

O

2

(x = 0.1~0.9)奈米粒子的合成與探討

3-1-1 利用水熱法合成各比例 CexZr1-xO2 (x = 0.1~0.9)之固溶體

本實驗利用莫耳比例的硝酸鈰和二硝酸基氧化鋯,以六毫升去離子 水溶解後,在氫氧化鈉 15M 的鹼性環境底下14,以水熱反應進行各種比 例的摻雜實驗,反應條件為 150 οC 反應兩天。圖 3-1-1,3-1-2 為所得之 產物利用掃描式電子顯微鏡觀測所得之結果。

由圖 3-1-1 a、b、c 得知,當 x = 0.1、0.2、0.25 時,其外觀均為大小 均勻,類似球狀之奈米粒子,由 SEM 圖上觀測得知,其大小約 30 奈米。

圖 3-1-1 d 為當 x = 0.3 之混合比例,如圖所示,當 x = 0.3 時,其產 圖 3-1-1 a、b、c、d 分別表示 CexZr1-xO2 (x = 0.1~0.3) 各比例摻雜含量之產物掃 瞄式電子顯微鏡觀測結果。

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物外觀看來有許多類似柱狀及顆粒狀的產物。

圖 3-1-2 a 如圖所示,當 x = 0.4 時,可得到柱狀及許多不規則狀 粒子產物。

圖 3-1-2 b 如圖所示,當 x = 0.5 時,產物呈現不規則狀。

圖 3-1-2 a~f 分別表示 CexZr1-xO2 (x = 0.4~0.9) 各比例摻雜含量之產物掃瞄式電 子顯微鏡觀測結果。

圖 3-1-2 c 如圖所示,當 x = 0.6 時,其產物呈現柱狀及許多不規 則狀粒子。

圖 3-1-2 d 如圖所示,當 x = 0.7 時,所得到之產物為不規則之粒 子。

圖 3-1-2 e 如圖所示,當 x = 0.8 之混合比例時,所得之產物外觀 呈柱狀,此部分具有構形之產物於後面章節會詳細敘述。

圖 3-1-2 f 如圖所示,當 x = 0.9 之混合比例時,其產物所得之外 觀呈方塊狀,此部分具有構形之產物於後面章節會詳細敘述。

由這十張掃瞄式電子顯微鏡圖(x=0.1~0.9)中可以發現,當鈰的含 量較少時(x≦0.25),產物的外觀大致上呈現奈米粒子的形狀,當鈰的 濃度開始上升時(0.25<x<0.8),會發現構形開始產生變化,如果鈰的 含量佔大多數時(x≧0.8),則可以清楚的看到具有特殊奈米構形的產 物。

由圖 3-1-3 b、c、d 可知道,當 x = 0.1、0.2、0.25 時,反應所得 到的產物均為單一相,為氧化鋯之四方晶系的相。利用粉末繞射後,

所得之繞射峰半高寬,代入謝樂方程式中推算出參雜不同比例時之固 溶體粒子大小,當 x = 0.1 之固溶體時,其(011)繞射峰半寬為 1.857,

粒子大小約為 10 奈米;當 x = 0.2 之固溶體時,其(011)繞射峰半 寬為 1.639,粒子大小約為 10 奈米;當 x = 0.25 時之固溶體,其(011)

繞射峰半寬為 1.568,粒子大小約為 10 奈米。

由圖 3-1-3 e 可知道,當固溶體之摻雜比例提高至 x = 0.3 時,反 應所得到產物並非純相,是由氧化鋯四方晶系的相及氧化鈰立方晶系 的相所組成。

 

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圖 3-1-5 a~f 分別為調控氫氧化納濃度變化從 12、13、14、16、17 到 18M,所合成出來之 Ce0.25Zr0.75O2之固溶體,並沒有因此而有顯著的 構型產生,其外觀看來均為奈米粒子,而粒子大小也沒有因為鹼性濃 度不同而大小有所改變。

圖 3-1-5 a~f 分別表示 CexZr1-xO2 (x=0.25)時,改變氫氧化鈉 12、13、14、16、

17、18M 產物之掃瞄式電子顯微鏡觀測結果。

3-1-3 Ce0.25Zr0.75O2穿透式電子顯微鏡分析

圖 3-1-6 a 為固溶體摻雜比例為 x=0.25,且氫氧化鈉濃度為 15M 時,所得到之高解析穿透式顯微鏡圖。可由此圖看出,當 x=0.25 時,

其粒子,大小不超過十奈米且結晶性好。

圖 3-1-6 b 為固溶體摻雜比例為 x=0.25 粒子之電子繞射圖,可由 此圖知道,當 x=0.25 時,奈米粒子為多晶結構。

圖 3-1-6 c 為固溶體摻雜比例為 x=0.25 粒子之能量分散式光譜儀 (Energy Dispersive Spectrum, EDS)圖,由此圖可知,當 x=0.25 時,看 的到有鈰和鋯的訊號,因此判斷此粒子確實為鈰與鋯的固溶體。

圖 3-1-6 a~c 為 CexZr1-xO2 (x = 0.25),氫氧化鈉濃度為 15M 時之穿透式電子顯 微鏡觀測及能量分散式光譜儀結果。

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3-1-4 利用已知文獻合成純相 Ce0.5Zr0.5O2固溶體

當實驗摻雜比例 x = 0.5 時,如果利用上述水熱法合成會產生氧 化鋯四方晶系與氧化鈰立方晶系的混合物。因此參考 A. Ahniyaz 著作

35來合成 Ce0.5Zr0.5O2之固溶體。

本實驗利用 0.2M 的硝酸鈰和二硝酸基氧化鋯溶於去離子水中,

混合均勻後加入氨水使溶液 PH 值大於 9.0,水熱溫度控制於 120οC,

反應時間 6 小時,所得到的產物經過清洗而後於烘箱 80 οC 烘乾。

由圖 3-1-7 a、b 得知,由粉末繞射結果判斷,利用此方法所合成 出來的 Ce0.5Zr0.5O2之為 CeO2之立方晶系相。經由謝樂方程式推算得 到,Ce0.5Zr0.5O2大小約為 25 奈米。

由圖 3-1-7 c 可看出,Ce0.5Zr0.5O2為顆粒大小均勻的固溶體,其 大小從圖上判斷約為 30~50 奈米。

圖 3-1-7 a、b 為氧化鈰理論繞射圖及利用已知文獻所合成出來的 Ce0.5Zr0.5O2之粉末 繞射圖。c 為利用已知文獻所合成出來的 Ce0.5Zr0.5O2之掃描式電子顯微鏡圖。

3-1-5 合成純相之 Ce0.9Zr0.1O2固溶體奈米粒子

由前面所述的水熱反應條件中,當 x=0.9 時所產生的構形為奈米 方塊,為了比較上的方便,因此利用更換不同的前驅物和調控水熱反 應時間,嘗試產生單一相的 Ce0.9Zr0.1O2固溶體奈米粒子。

實驗條件為利用固定比例的硝酸鈰和氫氧化鋯,以去離子水混合 均勻後,在氫氧化納 15M 的鹼性環境底下,進行水熱反應,反應條 件為 150 οC 反應 24 小時。

依據圖 3-1-8 a、b 結果知道,Ce0.9Zr0.1O2所得到的產物為純相,

且為氧化鈰的立方晶系相。

而由圖 3-1-8 c 看到反應所得產物為奈米粒子。大小約為八十奈 米。

圖 3-1-8 a、b 為氧化鈰理論繞射圖及利用氫氧化鋯及硝酸鈰所合成出來的 Ce0.9Zr0.1O2之粉末繞射圖。c 為利用氫氧化鋯及硝酸鈰所合成出來的 Ce0.9Zr0.1O2 之掃描式電子顯微鏡圖。

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3-1-6 感應耦合電漿質譜分析儀分析結果

為了確定反應之後所得到固溶體較精確之摻雜比例,所以送測清 華大學感應耦合電漿質譜分析儀(ICP-MS)。

送測樣品主要是將微量粉末溶於 10 毫升的強酸,溶解均勻後裝 入鐵氟龍的樣品瓶中,之後送測清華大學貴重儀器中心。

表 3-1-1 為各比例成功摻雜之 ICP-MS 結果,從表中可以得知,

當 x 分別為 0.1、0.2、0.25、0.5、0.9 時,經由重量百分比換算莫耳 比後所得到較精確的 x 值為 0.14、0.23、0.26、0.59、0.89,與反應條 件所下的比例並沒太大的誤差,由此可以佐證反應後固溶體比例與反 應前所推測比例相符合。

表 3-1-1 不同摻雜比例之 ICP-MS 結果

Ce

x

Zr

(1-x)

O

2

Zr (ppm) Ce (ppm) Formula Morphology

x=0.1 293.8 72.69 Ce

0.14

Zr

0.86

O

2

particle x=0.2 142.3 66.26 Ce

0.23

Zr

0.77

O

2

particle x=0.25 245.2 134.0 Ce

0.26

Zr

0.74

O

2

particle x=0.5 58.5 130.1 Ce

0.59

Zr

0.41

O

2

particle x=0.8 43.65 454.2 Ce

0.87

Zr

0.13

O

2

rod x=0.9

a

9.55 148.9 Ce

0.91

Zr

0.09

O

2

cube x=0.9

b

9.89 106.6 Ce

0.87

Zr

0.13

O

2

rod x=0.9

c

13.10 158.3 Ce

0.89

Zr

0.11

O

2

particle CeO

2

tube

d

5.62 308.0 Ce

0.97

Zr

0.03

O

2

tube

a. Ce

0.9

Zr

0.1

O

2

48小時之奈米方塊構形

b. Ce

0.9

Zr

0.1

O

2

24小時之奈米柱構形

c. Ce

0.9

Zr

0.1

O

2

24小時之奈米粒子構形

d. CeO

2

tube 以微量ZrO

2

合成

3-2 Ce

0.8

Zr

0.2

O

2

奈米柱的合成與探討

3-2-1 利用水熱法合成 Ce0.8Zr0.2O2之奈米柱

本實驗利用莫耳比例的硝酸鈰和二硝酸基氧化鋯,以六毫升去離子 水溶解後,在氫氧化鈉 15M 的鹼性環境底下,以水熱反應進行各種比例 的摻雜實驗,反應條件為 150οC 反應 24、48 及 60 小時。

3-2-1(a)、(b)如圖所示,當 Ce0.8Zr0.2O2之固溶體反應時間為四十 八小時,所得到的產物外觀看來為均勻的柱狀物,其寬度大約 50~100 奈 米,長度約為 400~500 奈米。

3-2-1(c)、(d)如圖所示,如果將 Ce0.8Zr0.2O2之反應時間縮短為二 十四小時,所得到的產物由掃瞄式電子顯微鏡圖上看來,其反應後所得

圖 3-2-1 a、b 與 c、d 分別為合成固溶體奈米柱 48 小時、24 小時之產物掃瞄 式電子顯微鏡觀測結果。

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到的產物之寬度大約為 20~50 奈米,長度約為 200~300 奈米。由此可以 發現,當縮短水熱反應的時間可以調控奈米柱之大小,而由其巨觀一點 的範圍來看,奈米柱仍均勻的分佈,並沒有其他構形產生。

而當摻雜比例為 x = 0.8 且反應時間為 24 小時之產物,根據圖 3-2-2 a、b 可知,反應比例為 Ce0.8Zr0.2O2得到產物為純相,且屬於氧 化鈰立方晶系的相。根據謝樂方程式推算得到 ,其大小約為 15 奈米。

因謝樂方程式的係數 B 主要是針對球狀模型來計算,因此拿來計算 柱狀物可能會有較大的偏差。

圖 3-2-3 為合成固溶體奈米柱 60 小時之產物掃瞄式電子顯微鏡觀測結果。

圖 3-2-2 a 為氧化鈰之理論繞射圖。b 為摻雜比例 x = 0.8、反應時間 24 小時之粉 末繞射圖。

由圖 3-2-3 可知,當合成固溶體時間拉長為六十小時,其產物外 觀會由原本的柱狀改變成不規則粒子,由此可以得知,控制反應時間 可以調控奈米柱之大小,但當反應時間過長時,則構形會消失。

3-2-2 氫氧化鈉濃度對 Ce0.8Zr0.2O2奈米柱之影響

3-2-4(a)、(b)如圖所示,當固溶體反應濃度為 12M 時,所得 到產物由 SEM 圖得知,雖然有柱狀物,但也有許多奈米粒子產生,

較不規則。

3-2-4(c)、(d)如圖所示,當固溶體反應濃度為 18M 時,所得 到的產物,雖有柱狀物,但也摻雜了許多粒子,較不規則。

由此可知,改變氫氧化納濃度為 12M 或 18M,均不能使固溶體 得到較均勻的構型,亦不會改變構型。

圖 3-2-4 a、b 與 c、d 分別為合成固溶體奈米柱不同氫氧化鈉濃度 12M、18M 之產物掃瞄式電子顯微鏡觀測結果。

44   

3-2-3 穿透式電子顯微鏡分析 Ce0.8Zr0.2O2奈米柱

圖 3-2-5 a 為大範圍之穿透式電子顯微鏡觀測之結果,由大範圍 觀測之結果可知,反應 24 小時後所得到之 Ce0.8Zr0.2O2之固溶體,為 大小均勻之柱狀產物。

而圖 3-2-5 b 為小範圍之觀測結果,由此圖可知,Ce0.8Zr0.2O2之 固溶體奈米柱寬度約為 20~30 奈米,而長度約為 200~300 奈米。

表 3-2-1 氧化鈰 d spacing 表

圖 3-2-5 a 與 b 為固溶體奈米柱 24 小時之產物穿透式電子顯微鏡觀測結果

由圖 3-2-6 得知,由穿透式顯微鏡分析可以得到 Ce0.8Zr0.2O2固溶 體奈米柱晶體之層間距為 0.27 奈米,由表 3-2-1 所對照出為(200)的面,

高解析的圖上可以看到,兩個[200]的方向,所對應組成的方向應為 奈米柱的生長方向,故由此推測奈米柱成長方向為﹝110﹞,與相關 文獻35的結果相符合。而從電子繞射圖可知,Ce0.8Zr0.2O2固溶體奈米 柱為單晶結構。

圖 3-2-7 a 為 Ce0.8Zr0.2O2固溶體奈米柱反應 24 小時之穿透式電子 顯微鏡映射(mapping)選取範圍圖。由圖 3-2-7 b、c、d 可知道,在 Ce0.8Zr0.2O2固溶體奈米柱中,鈰、鋯、氧均有訊號存在於 Ce0.8Zr0.2O2

固溶體奈米柱中。其中鈰和氧為均勻分布在奈米柱中,而鋯則是少量 圖 3-2-6 為 Ce0.8Zr0.2O2固溶體奈米柱 24 小時產物穿透式高解析電子顯微鏡觀測 結果,右下角為電子繞射圖譜。

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分布在 Ce0.8Zr0.2O2固溶體奈米柱中。由此可以清楚的看到此奈米柱確 實為鈰與鋯之固溶體。

3-2-4 TEM/EDS 與 SEM/EDS 分析 Ce0.8Zr0.2O2奈米柱元素

本實驗主要是為了確定反應物反應後所得到之真實摻雜比例。

由表 3-2-2 可以得知,當反應所摻雜的量為 x = 0.8 時,TEM 及 SEM 之 EDS 結果顯示 x 值分別為 0.81 及 0.86。經由 TEM 之 EDS 觀 測結果,可以確定實際上每根柱狀產物之固溶體比例;而 SEM 之 EDS 則表示較大範圍奈米柱 Ce0.8Zr0.2O2之固溶體摻雜後之真實比例。而表 3-1-1 的 ICP-MS 所得到的 x 值為 0.87 與上述 EDS 結果並沒有太大差

由表 3-2-2 可以得知,當反應所摻雜的量為 x = 0.8 時,TEM 及 SEM 之 EDS 結果顯示 x 值分別為 0.81 及 0.86。經由 TEM 之 EDS 觀 測結果,可以確定實際上每根柱狀產物之固溶體比例;而 SEM 之 EDS 則表示較大範圍奈米柱 Ce0.8Zr0.2O2之固溶體摻雜後之真實比例。而表 3-1-1 的 ICP-MS 所得到的 x 值為 0.87 與上述 EDS 結果並沒有太大差

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