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薄膜程序處理 CMP 廢水

第二章 文獻回顧

2.2 薄膜程序

2.2.4 薄膜程序處理 CMP 廢水

產水水質與固體物去除率(Browne et al., 1999)。Ndiaye et al. (2004)比較了傳統混凝及掃 流 UF 過濾處理 CMP 廢水之優劣,顯示在固體物去除、單位處理面積及操作彈 UF 對水中的溶解性矽酸去除效果不佳造成濾液污泥密度指數(sludge density index, SDI)偏高,仍是後續 RO 處理之隱憂(林,2005 Juang et al., 2008)。 (dissolved organic carbon, DOC)及溶解性矽酸(吳,2001;林2005)。吳(2000)研究指出,前 混凝處理能減緩薄膜質傳係數的降低,對 UF 攔阻 DOC 亦有幫助。陳(2004)以前 混凝/膠凝程序合併截流過濾處理 CMP 廢水,得到以聚氯化鋁(polyaluminum

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chloride, PACl)做為前混凝對減緩薄膜通量下降有幫助,而添加微量之陽離子性聚 丙烯醯胺做為膠凝劑可放大膠羽顆粒減輕薄膜積垢現象。林(2005)研究各種不同 藥劑作為前處理手段去除水中之溶解性矽酸,其中以鎂鹽在高 pH 下生成之 Mg(OH)2對水中矽酸有良好去除率,合併添加 PACl 可以再提升對矽酸的去除濾 並放大水中顆粒,但會使掃流過濾的通量衰減變嚴重,而截流過濾的結果則剛好 相反。陳(2004)以同步電混凝/電過濾法,期望藉由電混凝產生之金屬鹽類對水中 顆粒產生混凝使顆粒聚集,以增加電過濾的速度並減少積垢現象的產生,而其處 理後之濾液水質可達超純水系統進流水標準。

濾液回收部分,因研磨製程中大量使用超純水清洗使得 CMP 廢水比其他股 廢水更具有水回收利用的潛勢(Kim et al., 2002)。藉由 UF 薄膜處理產出之水質良好濾 液可回收取代自來水成為超純水製程補充水來達到水回收目標,可使超純水製程 更具有成本效益。比較以往廠內水回收多數用於次級用途,經 UF 薄膜處理後之 水具有較好的水質可供 RO 系統使用。研究也顯示 UF 薄膜適合做為 RO 系統的 前處理程序,延長 RO 薄膜的操作時間及壽命(林,2005)

由文獻整理得知,目前關於薄膜處理皆是以單一濾程為主,且目標多半放在 濾液的回收上,然而以目前做為 RO 系統補充水產水的成本仍高於使用自來水(林,

2005),而產生污泥之處置仍是一筆花費。故若能將水中研磨砥粒回收再利用,即

使產水成本較高但其經濟價值應能更剩過單獨的濾液回收,並能減少污泥處理成 本,將有助於提升經濟效益,其中薄膜處理法是現行 CMP 廢水處理方法中唯一 能以純物理方式進行固液分離的技術,可取得無藥劑污染之高純度固體物,使研 磨砥粒的物化特性不致太大變化。

表 2-4 薄膜程序處理 oxide-CMP 廢水之相關文獻整理

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(續) 表 2-4 薄膜程序處理 CMP 廢水之相關文獻整理

作者 方法概述 成果摘要

楊,2003 MF 薄膜外加電場之掃流電過濾/

電透析技術處理 CMP 廢水

外加電場過濾能提升 MF 產水率、提升水中金屬離子、帶電懸浮物之去除 率並產生電解水,但對導電度及溶解固體物去除率稍差。以 0.5 N NaOH 清洗薄膜表面矽的積垢能延長薄膜壽命,水回收率可達 85%以上,再經 RO 系統處理可在有效降低離子濃度

陳,2003

以同步電混凝/電過濾處理 oxide-CMP 廢水,電極釋放之鋁離

子混凝水中顆粒可增加過濾之效 能,使用孔徑 0.1 μm 薄膜

在 87.5 V/cm 及過濾壓差 2.5 kg/cm2的條件下有最高過濾速率,濁度可降 至 1 NTU 以下,處理之濾液可達半導體廠純水系統進料水標準,當電場大 於臨界電場時濾素會有下降之情形,過高之過濾壓差會導致濾速下降

熊,2004

以孔徑 0.1-0.45 μm 之薄膜外加電 場之掃流電過濾

濾速會隨電壓增加程線性上升,可大幅提升濾速,脈衝式電場約為固定式 及未施加電場之平均值。濾液品質隨孔徑增加而下降,經計算每噸廢水之 處理費用約為 33 元

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