第二章 文獻探討
第三節 試題反應理論
壹、試題反應理論之假設
測驗需具有下列幾項基本假設,唯有在這些假設都成立的前提下,試 題反應模式才能被用來分析所有的測驗資料(Weiss&Yoes,1991)其假設 有四:
一、 單向度(unidimensionality)
試題反應理論中的各種模式有個最常用的共同假設,那就是測驗中的 各個試題都測量到同一種共同的能力或潛在特質;這種單一能力或潛在特 質(因素)必須包含在測驗試題裡的假設,便是單向度的假設。其實,在 實際的測驗情境裡,考生在測驗上的表現情形很少是純粹受到一種因素的 影響,其他因素如:成就動機、考試焦慮、應試技巧、及人格特質等,也 都會影響到測驗的結果;因此,試題反應理論中對測驗必須具有單向度因 素的基本看法,認為只要該測驗具有能夠影響測驗結果的一個「主要成份 或因素」(dominant component or factor),便算符合單向度假設的基 本要求,而這個主要因素所指的,即是該測驗所測量到的單一能力或潛在 特質。適用於含有單一主要因素測驗資料的試題反應模式,便稱作單向度 模式。
二、 局部獨立性(local independence)
它的涵義是說,當影響測驗表現的能力被固定不變時,考生在任何一 對試題上的反應,在統計學上而言是獨立的;換句話說,在考慮考生的能 力因素後,考生在不同試題上的反應間沒有任何關係存在。簡單地說,這 意謂著涵蓋在試題反應模式裡的能力因素,才是唯一影響考生在測驗試題 上做反應的因素;這組能力因素代表整個潛在空間(complete latent
代表具有能力為
θ
的考生在第 i 試題上的反應機率,且P U(
i =1|θ )
為正確 反應的機率,P U(
i =0 |θ )
為錯誤反應的機率,那麼局部獨立性的涵義:(
1 2 3) (
1) (
2) (
3) ( ) ( )
1
, , , , | | | | | |
n
n n i
i
P U U U U
θP U
θP U
θP U
θP U
θP U
θ=
= ⋅ ⋅ ⋅ ⋅ = ∏
…
,這條公式即是說明,對某一特定能力的考生而言,在某份測驗上的反應 組型(response pattern)的機率,等於在單獨一題試題上反應機率的連乘 積。例如,某位考生在一組三個試題測驗的反應組型為(1,1,0),其中
1
1,
21,
30
U = U = U =
,那麼,局部獨立性所要表達的意思即為:(
1 1, 2 1, 3 0 |) (
1 1|) (
2 1|) (
3 0 |)
1 2 3P U = U = U =
θ
=P U =θ
⋅P U =θ
⋅P U =θ
= ⋅ ⋅P P Q,其 中Pi =P U(
i =1|θ )
且Qi = −1 Pi,由於P U(
i|θ )
是一種條件機率(conditional probabilities)的表達方式,因此,局部獨立性假設又稱為條件獨立性(conditional independence)假設。通常,當單向度假設獲得成立時,
局部獨立性假設也會獲得成立,就這一項涵義而言,這兩個概念是相通的
(Lord, 1980; Lord & Novick, 1968),甚至於,即使資料不是單向度 的,局部獨立性也可以獲得成立。只要整個潛在空間被界定清楚,亦即當 所有影響表現的能力向度都考慮之後,局部獨立性便可獲得成立。局部獨 立性在下列情況下無法成立:影響測驗表現的能力向度不只一種時,連鎖 性試題,以及試題本身提供作答的線索等,在這種情況下,試題反應模式 也就無法適用於該筆測驗資料。
三、 非速度測驗
試題反應模式所適用的情況有個隱含的基本假設,那就是測驗的實施 不是在速度限制下完成的;換句話說,考生的考試成績不理想,是由於能 力不足所引起,而不是由於時間不夠答完所有試題所致。由於這項假設是 隱含在單向度假設裡,所以不常被試題反應理論學者所提起,但是在選用 試題反應模式時,這項基本假設亦必須要被考慮到才行。
四、知道—正確假設(know-correct assumption)
如果考生知道某一試題的正確答案,必然會答對該試題;換句話說,
如果他答錯某一試題,他必然不知道該試題的答案。當然,把正確答案填 錯在別的格子上以致整個試卷都錯的例子,不在本假設所考慮的範圍內,
因為人為的疏忽不是任何測驗理論所能顧及到的。此外,省略不答的試題
(omitted items)和未答完的試題(unreached items)有所不同,前者 是受能力影響所致,後者是受施測速度影響所致。本假設僅能適用於前 者,它和前個假設一樣,都隱含在單向度假設裡,故殊少被提及。
貳、試題反應理論的參數模式
一、二元計分單參數對數模式
二元計分單參數對數模式(One-parameter bivariate logistic model) 又稱 Rasch 模式(Rasch,1960;Wright & Stone,1979;Wright &
Masters,1982),式中僅有「難度參數(difficulty parameter);bi」,令
x
is 表受試者 s 在第 i 題的作答反應情形,θ 表第 s 位受試者能力參數,其機s 率函數如下:pi(
x
is=1|θ ) = s)) (
7 . 1 exp(
1
1
i S
− b
−
+
θRasch 模式只涉及難度參數,比較簡單容易使用,且有很好的數理統 計性質,應用甚廣,唯其須具「等鑑別力」及「最小猜測」之假定,常被 批評為不符實際,故而有下列二元計分雙參數對數模式、二元計分三參數 對數模式、二元計分四參數對數模式、等二元計分多參數試題特徵曲線模 式。
二、二元計分雙參數對數模式
二元計分雙參數對數模式 (Two-parameter bivariate logistic model)比 Rasch 模式 多一「鑑別度參數(discrimination parameter)」,
是由美國測驗學者 A.Birnbaum 修改自 F.M.Lord 的原始雙參數肩型模式 (Normal ogive model) 而來(Birnbaum,1968) 其機率函數如下:
pi(
x
is=1|θ ) = s)) (
7 . 1 exp(
1
1
i s
i
b
a −
−
+
θ三、二元計分三參數對數模式
二元計分三參數對數模式(Three-parameter bivariate logistic model)比二元計分雙參數對數模式多了一個「猜測度參數(guessing parameter)」,大多用於選擇題的測驗,受試者會發生猜題現象
(Birnbaum,1968;Lord,1980;Mislevy & Bock,1990),其機率函數如下:
pi(
x
is=1|θ ) =cs i+)) (
7 . 1 exp(
1
1
i s i i
b a
c
−
− +
−