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第五章 智慧型 智慧型 智慧型 智慧型 IED 之建構 之建構 之建構 之建構

5.5 逆電力電驛 逆電力電驛 逆電力電驛 逆電力電驛 .1 電驛建構電驛建構 電驛建構 電驛建構.1 電驛建構電驛建構電驛建構 電驛建構

一般逆電力電驛的設計,使用 ADC 取樣電壓與電流信號後,經由傅立葉演 算法計算電壓及電流的基本波有效值與相位角,接著利用

P VI = cos θ

公式求得 實功率,依實功率之正負來判別是否有逆送電力[56]。其只需利用電壓與電流的 相角差θvi,判斷是否落於二、三象限(即

cos θ < 0

),若無,表示 P > 0 無逆送電 力,電驛持續監控;反之,表示 P < 0 有逆送電力,電驛發出跳脫信號,如圖 5-12 所示。只利用電壓與電流之相角差來判別是否有逆電力的情況產生,其電路架構 較為簡易。

圖 5-12 逆電力電驛之動作流程圖

5.5.2 測試分析 測試分析 測試分析 測試分析

使用 LabVIEW 描述逆電力電驛電驛設計架構並配合 FPGA 做整合,如圖 5-13 所示,為逆電力電驛電驛之功能模組,頻率經 Host 端算出之後,傳入 FPGA 的 電驛模組後,即可執行逆電力電驛電驛之保護功能。此功能模組中,“Freq.”為 輸入頻率;“reset”為復歸信號,當送出跳脫信號時,trip 信號燈亮起、timer 及 counter 皆有數值,若故障排除可按下 reset 鍵,將一切狀態值復歸原始狀態;

“trip”為跳脫信號輸出,當孤島運轉發生時,將發出跳脫信號;“counter”為 跳脫次數,當孤島運轉發生時,滿足跳脫設定值情況下,計數器開始計數;

“timer”為執行時間,當孤島運轉發生時,從電驛正常狀態至跳脫狀態所耗費的 時間。完整的逆電力電驛合成圖如附錄 A-4 所示。表 5-4 為整合後所使用晶片元 件的利用率。

由表中可知 BUFGMUX 為全局時序緩衝,主要是控制時序切換;External IOB 與 LOCed IOB 分別為外、內部接腳,主要是用於硬體連接 FPGA 的 I/O 接腳用;

MULT18X18 為 18×18 位元的硬體乘法器;RAMB16 為 FPGA 內的內嵌記憶體;

SLICE 為 FPGA 內的邏輯閘,將所撰寫之程式燒入 FPGA,其會自動規劃為專製 的邏輯閘形式存在於晶片內部。

圖 5-13 逆電力電驛之功能模組

表 5-4 逆電力電驛模組之晶片元件利用表

晶片內容 佔用比例 利用率

BUFGMUXs 3/16 18%

External IOBs 147/484 30%

LOCed IOBs 147/147 100%

MULT18X18s 18/96 19%

RAMB16s 8/96 8%

SLICEs 4089/14336 29%

逆 電 力 電 驛 模 擬 圖 , 如 圖 5-15(a) 、 (b) 所 示 , 設 定 跳 脫 值 設 定 值 為 90° ≤

θ

vi ≤270°(1.57rad ≤

θ

vi ≤4.712rad ),相角差經 Host 端算出之後,傳入 FPGA 的電驛模組後,當相角差介於設定值範圍內,電驛則發出跳脫信號,圖(a) 為相角正常測試,圖(b)為相角異常測試。相位異常測試需要一電流信號,故利 用 R-C 串聯電路進行模擬,如圖 5-14 所示。

假設

I = I

m

θ ,

V

R

= ⋅ = I R V

R

θ 則

c c c

90

V = ⋅ I X = V ∠ −

θ °

S R c S

V = V + V = V ∠ −

θ δ (90° > >

δ

0 )°

圖 5-14 模擬電流訊號之電路圖

正常情況下,相角差約為-5.45rad(-312.8°)或 0.8245rad(47.2°),而跳脫情況 是利用一訊號產生器,變動頻率部份當成電壓訊號,和原始電路的電流訊號產生 一相角差,促使電驛模組動作,發出跳脫訊號。

圖 5-15 中,resource name 為選擇硬體項目,本報告使用 CompactRIO;Number of Channels 為輸入訊號通道;Number of Elements 為 Host 端所需讀取 FPGA 存入 暫存器之資料數;Sample rate 為取樣時間;Full 狀態指示燈,當 FPGA 暫存器被 存滿時,此燈即會亮起;upper、down 為設定值之上下限;counter 按鈕,主要功 能為啟動計數器;Elemenst Remaining 為暫存器內部剩餘之資料數;error out 為 當程式運行有錯誤發生時,即產生一 error code,可為偵錯用;theta 為相角差;

Voltage、current 為有效值;waveform 所表示振幅大小為電壓、電流之最大及最 小值。

(a)

(b)

圖 5-15 IED 孤島偵測逆電力功能之(a)相角正常測試 (b)相角異常測試

5.6 電壓變化率與功因變動 電壓變化率與功因變動 電壓變化率與功因變動 電壓變化率與功因變動電驛 電驛 電驛 電驛