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第四章 LIGBT 的改善結構設計

4.4 間斷式陽極結構

(i)結構規劃

圖4.6 所示為間斷式陽極結構[21],此種結構陽極端的部分已經改為沿著元 件寬度方向實現,N+陽極取代一部分區段的P+陽極。所以陽極端便由N+陽極區 段與 P+陽極區段重複地組成,因此稱為間斷式陽極結構。因此,除了 P+陽極長 度Lp與N+陽極長度Ln為多出的結構參數外,其餘結構部份均與傳統LIGBT 結 構相同。所以我們補充兩個結構參數,如表4.4 所示,其餘參數則沿用表 4.1 與 表4.2 的參數即可。因此,增加的參數部分與陽極短路結構相同。

尺寸參數 參數說明

Lp P+陽極長度 Ln N+陽極長度

表4.4 間斷式陽極結構補充尺寸參數規劃表

由於間斷式陽極結構的改變是沿著寬度方向的結構,除了表面的N+區域與 P+區域的變動外,依然符合 RESURF 結構。因此,與陽極短路結構相同,均可 沿用傳統LIGBT 結構的參數。此種結構亦不需要額外的光罩。

圖4.6 間斷式陽極結構規劃圖

(a)結構圖(b)俯視圖

(ii)導通特性

圖4.7 所示為間斷式陽極結構的電子流與電洞流路徑說明。當陽極端偏壓不 大時,電子從通道流經漂移區後到達陽極端,便沿著P+陽極到達N+陽極,此時 為LDMOS 的導通機制。隨著陽極端電壓增壓,電子流沿著 P+陽極到N+陽極所 造成的壓降將使得 P+/N-buffer 順偏,造成 P+陽極注入電洞至漂移區,產生漂移 區的傳導調變現象,降低了漂移區阻值,所以元件導通電阻亦降低。上述的導通 機制與陽極短路結構相似,除了電子流向的不同,所以間斷式陽極結構亦存在負 電阻效應。

圖4.7 斷式陽極結構的電子流與電洞流路徑圖

(iii)元件關閉速度的改善與面積的減小

當元件由導通切換至關閉時,其特性與陽極短路結構亦相同,均是加入N+ 區域來移除電子,減少關閉時間。雖然間斷式陽極結構與陽極短路結構均加入了 N+區域來改善元件關閉速度。然而,間段式陽極結構的優點是可以節省元件的面 積,因為陽極端結構沿著元件寬度形成,而 N+陽極所佔用的面積,相較於陽極 短路結構,使用較少的面積,有較好的面積使用效率。

除此之外,間斷式陽極結構使用了較小的N+陽極區域的面積,和陽極短路 結構關閉速度比較之下卻有同量級的改善,這是因為N+陽極的位置處於和P+陽 極平行的地方,而不像陽極短路結構的N+陽極是放置於P+陽極之後,所以對於 移除電子有較佳的效率。元件關閉時,移除的電子依然會沿著 P+陽極離開的現 象,造成件關閉時還有不必要的電洞注入漂移區。因此,還是會有曳尾效應

(Current tail)的存在,然而,隨著 N+陽極長度的增加,曳尾效應將逐漸消失。

間斷式陽極結構的P+陽極與N+陽極的比例均會影響到元件關閉時間與導通 電阻。較長的 P+陽極比例會有較好的注入效率,較小的導通電阻,卻需要較長

的關閉時間。而較長的 N+陽極比例需要較少的關閉時間。因此,在導通電阻與 元件關閉時間之間的取捨可以簡單地利用P+陽極與N+陽極的比例來調整。通常 我們以P+陽極長度Lp對N+陽極長度Ln的比值的改變來觀察其特性變化。