第二章 理論與文獻探討
2.4 金屬與半導體接觸理論
從 1900 年代初期,半導體元件應用就是金屬-半導體二極體,之後更 將金屬-半導體應用於半導體元件的導電金屬接觸或是積體電路方面。到了 1938 年,蕭特基提出,在半導體接近金屬接面處存在一個能障,可藉電子 的擴散及遷移來克服能障[30],由半導體與金屬接觸而形成的能障,稱為蕭 特基能障 (Schottky barrier)。
金 屬 與 半 導 體 接 觸 有 兩 種 情 形 產 生 : 一 為 蕭 特 基 接 觸 (Schottky contact),電子需要先克服一個能障,才能夠在金屬與半導體之間傳導。另 一種為歐姆接觸 (ohmic contact),只要稍加偏壓,電子就能在金屬與半導體 之間傳導,以下僅就與本研究相關蕭特基接觸[31]介紹。
安定核 再蒸發
表面擴散
臨界核
核形成 團簇
核成長 表面擴散
入射原子
反射
入射原子
2.4.1 蕭特基接觸
以 n 型半導體為例,假設金屬跟半導體一開始為電中性而且彼此分 開,而金屬的功函數大於半導體功函數時,其中 eΦm 為金屬的功函數,
eΦS 半導體功函數,圖 2-9 是金屬的能帶圖尚未與半導體接觸前,金屬與 半導體兩者有共同的固定能階,此能階稱為真空能階 (vacuum level, E0)。此 真空能階的定義為一個電子離開固體,並靜止在固體外的能量,靜止的電子 不會對固體產生任何的影響。費米能階 (Fermil level, EF) 定義為電子在系統 的平均能量。
真空能階與費米能階之差稱為功函數 (work function),功函數的定義為 電子從費米能階跳到真空能階所需要的能量。
費米能階在平衡的半導體是固定的位置,決定費米能階的位置為摻雜 (doping) 的濃度以及溫度,但是對與金屬的費米能階與導帶 (conduction band, EC ) 是在同一條上,距離真空能階是固定的距離,不會隨著金屬與半 導體接觸有改變。半導體的導帶與真空能階的能量差,定義為電子親和能 (electron affinity, χ)
圖 2-10 金屬與半導體接觸前的能帶結構 EF
eΦm
Vacuum level
Metal Semiconductor EV
EC
EF
eχ eΦS
e(Φm -χ)
當金屬與半導體緊密接觸達到熱平衡,在理想的狀態下,兩種不同材料 的費米能階應該相等,而且真空能階也必須是連續的,圖 2-10 中,費米能 階 (Fermi level) 與金屬表面的半導體能帶之差稱為能障高度 ΦBn (barrier height),金屬中的電子要進入半導體看到的能障,這個能障稱為蕭基能障 (Schottky barrier) 可以表示為
eΦBn =eΦm-eχ (2.11) eΦBn =e(Φm-χ) (2.12) 其中 eΦm 為金屬功函數,eχ為半導體之電子親和力 (electron affinity),
也就是傳導帶邊界與真空階之位能差,e 為電子電荷量。
從半導體這邊的 Vbi 是內建電位 (built-in potential barrier),是傳導帶中 的電子移動進入金屬看到的能障可以表示為
Vbi =ΦBn
-
Vn (2.13) Vn 為導電帶之底部與費米能階間的距離。而金屬與 p 型半導體的理想接觸能障高度可由下式表示
eΦBp = Eg-e(Φm-χ) (2.14) 其中 Eg 為半導體之能隙 (bandgap)。
圖 2-11 在熱平衡時,金屬與半導體之接觸能帶
2.4.2 金屬與半導體的電流傳導機制
在金屬與半導體接面的電流傳導主要由多數載子來完成,當摻雜半導體 的濃度較低 ( ND≦1017 cm-3 ),其接面處的空乏區 (depletion) 較寬,電子很 難直接穿透能障,大部分的載子要由半導體流入金屬,載子必須要獲得足夠 的能量才能越過能障到達金屬,此時載子經由熱離子發射 (Thermionic emission) 效應傳導[5]。
Vacuum level
Metal Semiconductor
EC
ΦBn
= e(
Φm-χ ) eχeVbi
= e(
Φm-ΦS)eΦS
eVn
EF EF
EV
eΦm