行政院國家科學委員會專題研究成果報告
量測評估系統模式與連續製程之品質損失模式之建構
Construct the Gauge Assessment System Model and the Quality
Damage Evaluation Model of Sequential Process
計畫類別：個別型計畫
計畫編號：NSC90-2416-H-151-002
執行期限：90 年 8 月 1 日至 91 年 7 月 31 日
主 持 人：盧昆宏
執行單位：國立高雄應用科技大學工業工程與管理系
中華民國九十一年七月三十一日
行政院國家科學委員會專題研究成果報告
量測評估系統模式與連續製程之品質損失模式之建構
Construct the Gauge Assessment System Model and the Quality
Damage Evaluation Model of Sequential Process
計畫編號：NSC90-2416-H-151-002
執行期限：90 年 8 月 1 日至 91 年 7 月 31 日
主持人：盧昆宏 國立高雄應用科技大學工業工程與管理系
一、中文摘要 量測技術之良窳對於科技發展及工 業升級是一重要關鍵，所以唯有先具備精 良的量測技術，才可能達成品質改善的目 標。國際上對於品質保證之要求越來越嚴 格，故如何確保有效的量測品質，使量測 系統能獲得有意義、正確的量測數據，是 個相當重要且不容緩的課題。雖然國內已 逐漸重視量測儀器的品保，然而大多偏重 於量測數據的追溯與量測儀器的校正，且 有關評估量測系統之文獻相當有限且所涵 蓋之內容亦不夠周延完整。職是之故，本 研究於計量特性之量測系統中，建構了一 套計量性量測評估系統之模式，以確保量 測系統足以提供可接受的量測數據，俾達 正確之量測。本研究的第二階段乃在於落 實 “ 內 部 顧 客 ”(internal customer) ， 及 “製程中各作業加工站皆同時扮演買、 賣、生產三種角色 ”的 理論建構。因此， 本研究又建構出一套連續性製程的品質損 失評估模式，供製程中”每一內部顧客”做 為評估上製程之產品，做為本製程是否應 該接受上製程之半成品之依據。另外，亦 可做為衡量整條生產線產品品質良窳之依 據。 最後，將所建構之模式於個案公司進 行模式之修訂、驗訂，即以該個案該公司 之 IC 板之鑽孔、蝕刻等檢測作業之實際量 測做為本研究之計量量測評估系統之理論 建構模式修正與實務之驗證。同理，將以 該公司之鑽孔→鍍銅(孔銅)→蝕刻等連續 製程做為本研究連續性製程品質損失評估 模式之理論與實務之驗證及模式之修正。 關鍵詞：量測評估系統、連續製程、內部 顧客、製程品損失評估模式 Abstr actThe gauge technology is the key for science and technological development and industrial promotion. Therefore, the goal of quality improvement will be achieved only when sophisticated gauge technology is provided initially. Because the requests on quality assurance are getting more rigid in the world, it’s an important and urgent task to ensure an effective gauge quality as well as to obtain a correct meaningful gauge data. Although quality assurance of gauge equipment is receiving more attention gradually in domestic industry, but which is mostly focused on tracing back the gauge data and adjusting gauge machine. Furthermore, literatures regarding evaluating gauge system are rather limited and the contents are not complete enough. Due to the mentioned reasons, this research proposal aims to plan the establishment of a gauge assessment system model for the measurement of quantity in gauge system with the characteristic of quantitative measurement, so that the gauge system can correctly provide the acceptable gauge data. After establishing a complete model for the gauge assessment system and being able to control correct gauge data, the second stage of this research is to carry out the theory constructions of “internal customer” and “simultaneously playing 3 roles of buying, selling, and producing at every step in the sequential process.” Hence, this proposal will set up a quality damage evaluation
system for the sequential process. “Every internal customer” in the process can evaluate the product from the last process through this system. It will then be used as a basis for the process in order to consider whether to accept or not and to judge the goods’ quality for the whole production line.
The real measurement from inspection tasks in case company, such as drilling and etching IC board, will be used to verify and modify the theory and practice of quantitative gauge assessment system after two modes described above are established. As the same, the continuous process, drilling → copper plating (pore copper) → etching, in this company will be used to verify and modify the theory and practice of quality damage assessment mode for continuous process in this research.
Keywor ds: Gauge Assessment System
Model, Sequential Process, Internal Customer, Quality Damage Evaluation Model 二、研究背景與目的 2.1 研究背景 人類的文明發展與量測能力息息相 關，工商業之發展使得人類對於”量測能 力”與”標準”的需求與日遽增，量測能力與 標準的改進更是奠定社會發展之良好基礎 這種情況在現代化的工業社會尤為顯著， 世界各地的零件或產品的製造，必須使用 相同的國際標準，經過嚴格的量測，才能 保證產品的標準品質與互通性，以期達到 大量生產與國際分工的可能性。量測是我 們對自然界各種可計量的事物之掌握，經 由量測吾人才能對數量或大小得到較準確 的認識與衡量，自從人類有了”數”的觀 念，並試圖建立”權衡”標準之後，”量測” 就成為事務被觀察之後的量化依據，且是 形成了自然科學與知識的根源，更是提供 人類客觀且具共識的溝通工具。 有量測就會發生量測誤差，至於造成 量測誤差的原因很多，舉凡：量測的方法 不同、量測的設備不同、量測設備裝設的 差異、量測儀器本身的誤差、被測物的缺 陷、環境因素、人為因素等缺失，均可能 導致誤差的發生。上述之誤差有些是可以 加以控制，使誤差減至最低。然而無論誤 差之產生係來自人員、儀器、校正、系統 或隨機性，若沒有一套量測之評估系統做 為衡量、評估與監控的機制，恐怕量測出 來的數據會不正確，甚至誤差很大，品管 人員仍不自覺。那麼，談何改善，降低誤 差及提昇品質。 隨著高科技機械、電子、電機工業的 快速發展，使得各類量測儀器所需之精密 度相對提高，因此，如何確保量測系統之 檢測品質益發重要。不僅 ISO 9000 系列對 於 量 測 系 統 的 評 估 與 校 正 相 當 重 視 之 外，於 1994 年 9 月所公佈的 QS 9000 品 質系統，也特別規定必須建立量測系統分 析，以瞭解量測系統之量測品質及客觀正 確的評價量測系統。 此外，量測評估系統在品質管制中是 想當重要的一環。在統計製程管制中，往 往假設數據是正確的，並以此數據資料作 為製程參數設定與產品良窳評價判斷之 依據。可是實際情況，絕大部份的製程數 據均需透過儀器設備量測而得，由於量測 系統本身存在許多不確定因素，唯有能確 定這些不確定因素皆能在可接受的範圍 之內，再以其所量得之可接受的量測值作 為依據，從事其他製程管制應用才有意 義。 雖然業者已逐漸重視量測儀器的品 保，然而大多偏重於量測儀器的校正與追 溯。此外有關評估量測系統之文獻亦相當 有限，或涵蓋內容不夠周延完整。職是之 故，本研究計畫乃著眼於計量特性之量測 系統，建構一套量測評估系統模式，以確 保量測系統足以提供可接受的量測數據。 若產品的品管僅是由品管部門的品 檢人員於最終成品進行檢驗，這樣的檢驗 則是一消極且不經濟的檢驗，根本沒有落 實線上(on-line)品管的精神，且無法做為 產品品質之調整與修正。若於連續製程 中，某一加工作業變異太大或偏離製程目 標而成為不良半成品，且該作業又沒從事 品檢，那麼可想而知，緊接在該加工作業 之後的所有加工作業都變成浪費了。因
此，為了落實連續製程中每一加工站，必 需同時扮演”買、賣、生產”三種角色(而非 僅是生產角色而已)，即每一加工站是前加 工站(前製程)的買方，需負責接受進入本 站半製品是良品的”購物檢驗”，確定是良 品後才進行加工(生產)，俟加工完成後， 則需扮演”賣方”從事”出貨前的檢驗”。此 外，品管人員從事品質評估時，總是認為 產品品質特性的量測值落在規格界限內 就是沒有任何品質損失；只有該品質特性 的量測值落於規格界限外，才會被認為有 產生品質的損失。從功能而言，產品的品 質特性落在標準值上與產品的品質特性 落在規格界限附近仍然具有某種程度上 的差異。然而，傳統的品質評估觀念，卻 無法反映此種變異。有鑑於，為了提昇產 品品質，降低產品間品質變異及製造成 本，本研究遂建構一套連續製程之品質損 失評估模式的動機，來評估由於製程不良 所產生的損失，間接地可提升產品品質， 同時也可降低製造總成本。 不少製造業的品管檢驗人員於實施 線上(on-line)連續製程品管時，還是著重 在最終成品的檢驗。這樣的檢驗是一種消 極性的檢驗，這種檢驗確實可以保證終產 品的品質(品質好出貨，品質不好剔除(不 出貨))。然而這種品檢作法是不經濟的， 因為這樣的做法無法在製程的各加工站 檢驗出不良的半製品及瞭解各站之品質 損失，只有在最終產品生產出來，做檢驗 時才會發現，且需等到以後製造相同或類 似產品時，才能做為改進品質的參考。工 件如果經過具有上下限規格的製程，依一 定順序加工，某一加工後如為不良半成 品，若某加工站沒作該站的檢驗，則且緊 接該製程之後的所有加工都變成虛工。如 果每個製程加工站皆實施品質管制及品 質損失之衡量，就可以掌握當批的品質， 如此一來就比較切合實際。 2.2 研究目的 鑑於上述之研究背景與研究動機，本 研究計畫之主要目的有二： 1. 建構一套完備地量測評估系統模式，包 括 量 測 的 線 性 (Linearity) 、 偏 差 性 (Bias)、重複性(Repeatability)、重現性 (Reproducibility)及穩定性(Stability)等 評估特性。以確保量測系統之檢測品 質，而非一般文獻所探討之量測追溯、 儀器校正或只著重於量測穩定性而已。 2. 為連續製程型態，建構一套連續製程之 品質損失評估模式，以落實“內部顧 客 ”與製程中各加工作業需同時扮演 買、賣、生產三種角色的精神，俾降低 產品品質變異及製造成本。 三、研究結果與討論 3.1 計量量測系統評估模式之建構 本研究建構之四階段量測系統評估 模式如下圖一： 以一量測實例說明該四階段中五個 特性的評估方法與衡量準則。本研究以 OPTECH 做為評估之對象，並以鑽頭之直 徑做為量測之品質特性。而在實驗進行之 前，必須決定每支鑽頭直徑的參考值。以 下即分別針對此四階段進行評估。 圖一：量測系統評估模式之架構 選定欲評估之量測系統 常態性檢定 階段一：評估線性 階段二：評估穩定性 階段三：評估重複性 與重現性 階段四：評估偏差 量測系統評估報告
階段一：評估線性 線性評估主要在於確保量測系統在其 期望的操作範圍內，能保持一到性，不隨 著所量測品質特性之大小，而造成不同的 偏差量。此外，由於線性評估是針對單一 時間點，探究多個參考值之相對應的平均 偏差分析，因此，本研究所建構量測系統 評估模式首先評估線性。 階段二：評估穩定性 穩定性評估主要是探究量測系統隨著 時間變化的程度，即針對不同時間點，分 析其所產生之變異。因此，必須在線性滿 足既定的要求水準條件下，才能進行穩定 性之評估。然而，當量測系統之穩定性未 知時，評估量測系統之偏差、重複性與重 現性，只能描述,某一特定時期所獲得之資 料，而無法用於預測量測系統未來的績 效。因此，穩定性的評估必須優先於偏差、 重複性與重現性之評估。 階段三、評估重複性與重現性 重複性與重現性之評估，在於探討量 測系統的散佈變異。散佈變異所能提供的 資訊較集中變異多，而且改善散佈變異所 造成的效果將遠大於集中趨勢變異。因 此，先評估必須優先於偏差、重複性與重 現性之評估。 階段四、評估偏差 即使量測系統之變異性符合要求水 準，其集中驅勢未必能落於參考值之可接 受範圍，因此，評估模式最後一個階段為 偏差之評估，其主要的目的在於確保量測 系統之量測觀測值與參考值之間的差異， 能符合所設定要求水準。而當偏差程度相 當 顯 著 時 ， 必 須 調 整 （ Adjustment or Tuning）量測系統其偏差的數值。 一、階段一 選擇 10 個鑽頭，此 10 個鑽頭之參考 值必須能涵蓋 OPTECH-M 的量測範圍。由 一位檢驗員，隨機量測此 10 個鑽頭各一 次，重複上述步驟，直至每一個鑽頭重複 量測 10 次，而每一次量測鑽頭的順序可不 同，一一記錄並計算每一個鑽頭的平均量 測值。 （一）建立線性迴歸模式 以 X 為參考值，Y 為相對於參考值的 觀測平均值。計算最適合這些點的線性迴 歸模式，其推估之線性迴歸模式為： i i i A BX X Y) = + =3.24958−0.029494 其中 i X 代表第 i 個物件之參考值 i=1, 2, 3, 4, … ,10 （二）檢定迴歸之線性 1、假設檢定為： H0：迴歸方程式無解釋能力 H1：迴歸方程式有解釋能力(α=0.05) 變異來源 平方和 自由度 均方 F* 迴歸 2.79835716 1 2.79835716 誤差 2.1716×10-4 98 2.215918367×10-6 總和 2.79625 99 1262843.1 表示在α=0.05 顯著水準下,有充分理由拒 絕虛無假設，因此迴歸模式的線性假設是 適當的。 （三）線性之評估 由於迴歸模式的線性假設是適當的， 所以推估之線性迴歸模式可用以評估量測 系統的線性，即： 推估線性迴歸模式為：Y) =3.24958−0.029494Xi 線性之衡量指標= B−1=1.029494 利用假設檢定評估量測系統之線性是 否符合所設定的水準： 1、假設檢定為： H0 ：斜率等於 1 H1 ：斜率不等於 1 2、檢定之統計量為：
(
)
−∑
= n i i X X B N b 1 2 2 1 1 ~ , σ 當σ 未知且為小樣本時，則2( )
( )
~(
2)
1 1 1 − − n t b V B b ) 式中( )
(
)
∑
= − = = n i I b X X S b V 1 2 2 2 1 1 σ) )(
)
2 2 1 2 2 − − = − = =∑
= n Y Y n SSE MSE n i i i ) ) σ 891291 . 0 20709 . 7 / 11375 . 3 029494 . 1 = − = t 3、決策 由於t =0.891291小於 t（0.025,8） =2.306 表示在α=0.05 顯著水準下，沒有充分理由 拒絕虛無假，即斜率 B 與 1 之間沒有顯著 的差異，因此,量測系統的線性是可以接受 的。 二、階段二 隨機選定一個鑽頭，與一位檢驗員， 定期重複量測此鑽頭 10 次，並按時間序列 記錄其量測值，且計算每一期量測所得之 平均值與樣本變異數，由穩定性之數據記 錄表(註九)中找出所有量測期中最大與最小 之量測平均值，以評估穩定性。 穩 定 性 Y= 最 大 量 測 平 均 值 - 最 小 量 測 平 均 值 =3.0984-3.095=0.0034 利用假設檢定以評估穩定性是否符合所設 定的水準，其檢定的步驟如下： 1、假設檢定為： H0：穩定性 Y 等於零 H1 ：穩定性 Y 不等於零 2、檢定之統計量為： 667485 . 5 10 2 10 599972 . 1 0034 . 0 2 6 = × × = − = − n sp Y Y t i j 3、決策 由於 t =5.667485大於 t（0.025,18） =2.101 表示在顯著水準α=0.05 下，有充分理由拒 絕虛無假設，即量測系統的量測平均值會 隨著時間而產生顯著的差異，因此，量測 系統之穩定性不符合既定之要求水準。 三、階段三 隨著選擇 10 個鑽頭，與 3 位檢驗員。 首先由第中位檢驗員隨機量測此 10 個鑽頭 各一次，接著由第二位與第三位檢驗員， 亦以隨機順序量測此 10 個鑽頭各一次.隨 後，重複上述步驟 2 次，即每一位檢驗員 量測此 10 個鑽頭各 3 次，而每量測順序可 不同，一一記錄。 利用假設檢定以評估重複性、重現性 與量具變異。 1、假設檢定為： (1) H0：檢驗員量測能力相等 H1：檢驗員量測能力不相等 (2) H0：鑽頭重現性相同 H1：鑽頭重現性不相同 (3) H0：檢驗員量測能力與鑽頭重現性 無交互作用 H1：檢驗員量測能力與鑽頭重現性 具有交互作用 2、檢定統計量為： 利用變異數分析將總變異解析成檢驗員， 物件、交互作用、誤差四部份，變異數分 析結果如附表二所示： 表二：變異數分析表 變異來源 平方和 自由度 均方 F* 檢驗員 1.7556×10-5 2 8.778×10-6 F 1=4.2034×10-8 物件 2.222×10-6 2 1.111×10-6 F 2=5.3201×10-9 交互作用 1.0222×10-5 4 2.555×10-6 F 3=1.2235×10-8 誤差 16915.36957 81 208.8317231 總和 16915.36957 89 3、決策 a、由於F1 =4.2034×10−8小於F0.05( )
2,81 =3.11 表示在α=0.05 的顯著水準下，沒有理 由拒絕虛無假設 H0，即檢驗員量測能 力相等沒有顯著的偏差，因此，檢驗員 量測能力之偏差符合既定之要求水準。 b、由於F2 =5.3201×10−9小於F0.05( )
2,81 =3.11 表示在α=0.05 的顯著水準下，沒有理 由拒絕需虛無假設 H0，即鑽頭重現性 相當沒有顯著的偏差，因此，鑽頭重現性之偏差答合既定之要求水準。 c、由於F3 =1.2235×10−8小於F0.05（4,81）=2.49 表示在α=0.05 的顯著水準下，沒有充 分理由拒絕虛無假設 H0，即檢驗員量 測能力與鑽頭重現性無交互作用，因 此，符合既定之要求水準。 四、階段四 隨著選取一個鑽頭,由一位檢驗員重 複量測此鑽頭 10 次，一一紀錄如表三所 示，計算量測平均值，及計算量測平均值 與參考值之間的差異，以評估量測系統之 偏差，即： 量測平均值 2.5458 10 458 . 25 = Y) 參考值 X=2.55 平均偏差 B=Y−X=−0.0042 表三 偏差性之數據記錄表 DIAMETE 1 2 3 4 5 TEST 2.548 2.548 2.546 2.546 2.544 DIAMETE 6 7 8 9 10 TEST 2.548 2.544 2.546 2.544 2.544 利用假設檢定以評估偏差是否符合即定要 求水準，其檢定步驟如下： 1、假設檢定為 H0：平均偏差 B 等於零 H1：平均偏差 B 不等於零 2、檢定之統計量為： 5842 . 7 10 / 10 7512 . 1 0042 . 0 / × 3 =− − = = − n s B t 3、決策 由於t =7.5842大於 t（0.025,9）=2.262 表示在α=0.05 的顯著水準下，有充分理 由拒絕虛無假設，即量測系統有顯著的偏 差，因此，量測系統之偏差不符合即定之 要求水準。 3.2 連續製程之品質損失評估模式 通常我們對於可以接受的差異（即規格 內的差異）比較沒有興趣。對於超出規格界 限（即超上限、下限或上下限）比較有興趣， 因為超限的產品為不良品，不管此不良品是 否可重工變成良品，都會增加費用，即：如 不良品不能重工，則除材料費的損失外，還 有加工工資、水電費、設備折舊費等損失。 如不良品可以重工變成良品，則額外的重工 費用，也是一種損失。總之我們要注意產品 規格外的品質。 當工件經過第一道過程加工後，如果 1 1 1 i u L X S S ≤ ≤ ，其中 1 L S =第一道過程加工後某特定特性的規格下限 i X1 =第一道過程加工後某特定特性的測定值 1 u S =第一道過程加工後某特定特性的規格上限 則X1i為經過第一道過程加工後的第 i 件半成品，此件半成品為良品，不會有損 失。 如果X1i >Su1或X1i <SL1則有以下損 失： 超過規格上限之損失為：
( )
(
)
2 1 1 1 1i Kxi Xi Su X L = − 低於規格下限之損失為( )
(
)
2 1 1 1 1i Kxi Xi SL X L = − 當 N 件工件通過第一道過程加工後， 有n 件大於1 S ，u1 m 件低於1 S ，則經過第L1 一個加工過程的損失為：( ) (
X1 L X1n1) (
L X1m1)
L = +(
)
[
]
(
)
[
2]
1 1 1 2 1 1 1 1 2 1 1 1 2 1 1 1 1 L m m m u n n n S X Sx Kx S X Sx Kx − + + − + = 其中 L( )
X1 =經過第一道過程加工後產品 某一特性測定值不在公差 內之損失 L(
X1n1)
=經過第一道過程加工後產 品某一特性測定值超過規 格上限之損失 L(
X1m1)
=經過第一道過程加工後產 品某一特性測定值低於規 格下限之損失 Kx1n1=經過第一道過程加工後產品 某一特性測定值超過規格上 限之成本比例常數Sx1n12=經過第一道過程加工後 n1 件 產品某一特性測定值超過規 格上限之變異數 X1n1=經過第一道過程加工後 n1 件 產品某一特性測定值超過規 格上限之平均值 Kx1m1=經過第一道過程加工後產品某 一特性測定值低於規格下限之 成本比例常數 Sx1m12=經過第一道過程加工後 m1 件 產品某一特性測定值低於規 格下限之變異數 X1m1 =經過第一道過程加工後 m1 件 產品某一特性測定值低於規格下限之平均 值 因此經過第一個過程加工後的良品（即 1 1 1 N n m N = − − ），才有機會進入第二道過 程加工。當 N1 半成品經過第二道過程加工 後，如果SL2 ≤ X2j ≤Su2，其中 2 L S =第二道過程加工後第二個特性的規格下限 j X2 =第二道過程加工後第二個特性的測定值 2 u S =第二道過程加工後第二個特性的規格上限 則X2j為經過第二道過程加工後的 第 j 件半成品，此件半成品為良品，不會 有損失。 如果X2j>Su2或X2j <SL2則有以下損失： 超過規格上限之損失為：
( )
(
)
2 2 2 2 2j Kx j X j Su X L = − 低於規格下限之損失為：( )
(
)
2 2 2 2 2j Kx j X j SL X L = − 當 N1 件的半成品通過第二道過程加 工後，有 n2 件大於S ，m2 件低於u2 S ，L2 的損失為：( ) (
X2 L X2n2) (
L X2m2)
L = +(
)
[
]
(
)
[
2]
2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 L m m m u n n n S X Sx Kx S X Sx Kx − + + − + = 其中 L( )
X2 =經過第二道過程加工後產品 第二特性測定值不在公差內 之損失 L(
X2n2)
=經過第二道過程加工後產 品第二特性測定值超過規 格上限之損失 L(
X2m2)
=經過第二道過程加工後產 品第二特性測定值低於規 格下限之損失 Kx2n2=經過第二道過程加工後產品 第二特性測定值超過規格 上限之成本比例常數 Sx2n22=經過第二道過程加工後 n2 件 產品第二特性測定值超過 規格上限之變異數 X2n2 =經過第二道過程加工後 n2 件 產品第二特性測定值超過 規格上限之平均值 Kx2m2=經過第二道過程加工後產品第 二特性測定值低於規格下 限之成本比例常數 Sx2m22=經過第二道過程加工後 m2 件 產品第二特性測定值低於 規格下限之變異數 X2m2 =經過第二道過程加工後 m2 件 產品第二特性測定值低於 規格下限之平均值 同理，當Nr−1件半成品（即經過 r-1 道加工過程後的良品）經過第 r 道過程（即 最後加工過程）加工後，有n 件大於r S ，ur m m 件低於S ，的損失為：Lr( ) ( ) ( )
Xr L Xmr L Xmr L = +(
)
[
]
(
)
[
2 2]
2 2 Lr mr mr mr ur mr mr mr S X Sx Kx S X Sx Kx − + + − + = 其中 L( )
Xr =經過最後一道過程加工後產 品最後一個特性測定值不在 公差內之損失L
( )
Xmr =經過最後一道過程加工後產 品最後一個特性測定值超過 規格上限之損失 L( )
Xmr =經過最後一道過程加工後產 品最後一個特性測定值低於 規格下限之損失 Kx =經過最後一道過程加工後產品mr 最後一個特性測定值超過規 格上限之成本比例常數 Sxmr2=經過最後一道過程加工後nr 件產品最後一個特性測定值 超過規格上限之變異數 Xmr=經過最後一道過程加工後n 件r 產品最後一個特性測定值超 過規格上限之平均值 Kxrmr=經過最後一道過程加工後產品 最後一個特性測定值低於規 格下限之成本比例常數 Sxrmr2=經過最後一道過程加工後mr 件產品最後一個特性測定值 低於規格下限之變異數 Xrmr =經過最後一道過程加工後m 件r 產品最後一個特性測定值低 於規格下限之平均值 因此工件經過 r 過程加工後，因品質 沒有達到各個過程的要求（品質特性大於 規格上限或低於規格下）的總損失為：( ) ( )
X L X L( )
Xr L L= 1 + 2 +...+(
) (
) (
) (
)
( ) ( )
mr mr n n m n X L X L X L X L X L X L + + + + + + = .... 2 2 2 2 1 1 1 1(
)
[
]
(
)
+ − + − + = 2 1 2 1 1 2 1 1 1 1 2 1 1 1 2 1 1 1 1 L m m m u n n n S X Sx Kx S X Sx Kx(
)
[
]
(
)
[
2]
2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 L m m m u n n n S X Sx Kx S X Sx Kx − + + − + +(
)
[
]
(
)
[
2 2]
2 2 ... Lr mr mr mr ur mr mr mr S X Sx Kx S X Sx Kx − + + − + + + 3.3 結論 3.3.1 計量量測型製程 一、本研究所建構之評估模式，以量測鑽 頭為例來探究線性、穩定性、偏差、 重複性與重現性五個特性，而目前產 業界所廣為接受使用的 GR&R 研究， 僅探討重複性與重現性兩個特性，因 此，後續可比較量測儀器分別依據此 兩種方法進行校正的結果。 二、依照本研究所建構之評估模式架構、 評估方法、準則與數據收集格式，發 展一套使用者親和性高的電腦化量 測評估系統，以增加其在實務上使用 之簡便性。 3.3.2 連續型製程 田口玄一（Genichi Taguchi）所提出 之品質工程的理念和方法，是將品質改善 之重點由製造階段向前提昇到設計階段， 一般稱為離線品質管制方法。這個方法不 僅可以提昇產品品質，同時也是降低成本 之有效方法。 在田口品質損失之觀念下，降低變異性已 成為品質改善活動之首要目標，即使品質 特性已在規格界限內，品質改善活動仍須 持續進行。本專題利用田口損失函數建構 一連續型製程品質評估模式，並用實例驗 證。 四、參考文獻 1.王皇均，機器視覺量測品質確保系統之分 析與構建，逢甲大學，工業工程學系碩 士論文，87 年度。 2.江瑞清，計量量測系統評估模式之建構， Proceedings of the 1997 CSQC Conference and the Asia Quality Symposium, pp.220-224. 3.李景文，製造業製程品質評估模式。 4.張保隆等，生產管理，華泰書局，2nd， 89 年。 5.陳鴻麟，量測重複性/重現性之探討－混 合模式下量測能力之實證研究，國立台 灣科技大學，工業管理系，88 年度。 6.陳耀達，量測系統與品質分析之電腦化研 究，國立中央大學，機械工程學系，84 年度。 7.童甲春，統計學，86 年 7 月初版，台北 市，前程企業管理有限公司，87 年 6 月。8.駱文欽，母體分配對田口式二次損失函數 的影響，國立雲林科技大學，工業工程 與管理研究所碩士論文，83 年度。 9.曾淑容、江瑞清、陳俊翔、駱景堯，中華 民 國 品質 學 會 86 年年會論文集， pp.220-224，86 年。
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