LED 顯示模組之陣列式光學檢測模組研製及 均勻度補償應用
蔡明忠 王凱生 李旻鴻 張書槐
臺灣科技大學自動化及控制研究所
摘 要
發光二極體 (Light Emitting Diode, LED) 已廣泛應用在室外顯示看板、
TFT-LCD
背光源及各種照明等。然其單一模組之品質如發光均勻性等，造成大型化 LED 面板組立後之品質問題仍有待改善。為了提升 LED 顯示模組的生 產品質，本研究設計研製一 16 × 16 陣列型數位光電檢測模組，並建構一套快 速亮度檢測及自動補償裝置。可自動檢測彩色 LED 面板的亮度分佈，並執行 均勻度補償運算。再運用 LED 之硬體式亮度補償電路，可有效提昇 LED 顯示 模組亮度均勻性。本研究以 2R1G1B LED 顯示模組 (16 × 16 LEDs) 之實驗結 果顯示，經自動補償後均勻度可達 98%以上，效果相當明顯，且任一灰階之檢 測時間只要 1 秒左右，驗證本系統確實能有效的提高 LED 模組生產品質，具 有線上實用價值。
關鍵詞：發光二極體顯示模組，亮度均勻性，自動光學檢測，補償查詢表
(CLUT)
。IMPLEMENTATION OF ARRAY-BASED OPTICAL INSPECTION DEVICE AND UNIFORMITY COMPENSATION FOR LED
DISPLAY MODULES
Ming-Jong Tsai Kai-Sheng Wang Ming-Hung Li Shu-Huai Chang
Graduate Institute of Automation and Control National Taiwan University of Science and Technology
Taipei, Taiwan 106, R.O.C.
Key Words: light emitting diodes (LEDs) display module, luminance uniformity, automatic optical inspection (AOI), compensated look up table (CLUT).
ABSTRACT
The wide applications of Light Emitting Diodes (LED) include
message displays, TFT-LCD backlight, and lighting sources. However, the
integration quality for large LEDs panel, made of LED array modules, is
still under development. To improve the quality of a LED array module,
this study develops a speedy array-based luminance inspection device with
16
× 16 digital optical sensors which were calibrated to measure theluminance distribution of an LED module for different grey levels. An
Automatic Optical Inspection system for LED modules is set up to
automatically analyze and compute the luminance uniformity. An LED
is also built to improve the non-uniformity luminance of a LED module.
Some 2R1G1B LED modules (16
× 16 LEDs) from local industry havebeen verified in this study. From the experimental results, an improved luminance uniformity of over 98% was achieved. The inspection time for any grey level of a 16
× 16 LED module can be reduced to about 1 second.Therefore, this Automatic Optical Inspection implementation is feasible for industrial applications.
一、前 言
在 LED 顯示面板生產方面，由於 LED 材料差異特性，
導致即使是同一晶圓，在經過裁切封裝後，每一顆的 LED 呈現的光電特性也不盡相同[1]。LED 在生產製造時，現有 自動檢測機台只能以單顆 LED 為標的物，檢測其發光波長 及亮度後，使用大量分類的方法，取出相近波長及亮度的
LED
組裝至同一批 LED 顯示模組。再將這一批特性一致 的模組組裝成顯示面板，只有在 LED 剛生產出來時有做自 動檢測的動作，之後直到組裝成顯示面版的流程都只是由 組裝人員做目視檢驗及品管。因此目前業界的生產流程會 有下列問題[1]：(1) 因為人為疏失而導致漏測；(2) 自動化 測試不易；(3) 時間成本太高；(4) 人為品管標準不一致，導致產品品質之差異。
所以在 LED 顯示模組組裝完成後，若能提供一套可自 動檢測發光強度、均勻度、顯示品質的系統，對於提升品 質與生產效率將有莫大的幫助。LED 顯示模組的瑕疵問題 大致可分為亮點與暗點、亮度不均勻、色度不均勻等的現 象。亮暗點一般較為容易檢測，色度不均勻就是所謂波長 不相等。由於 LED 發光波長是由製程及材料所影響，因此 在量產時大多靠分級的方法取到波長相差不大的 LED。但 由於製程和材料的誤差會導致每一顆 LED 的內阻及發光 效能有所差異，這也是導致亮度不均勻的主要原因。少部 分原因則因定電流驅動 IC 本身驅動電流通道有所誤差。
LED
未來具有相當應用潛力，然而其在全彩顯示面板均勻 性方面需有一套完整且快速的檢驗與補償機制，以提高其 顯示品質。LED
雖然已發展很久，但應用於全彩平面看板也是這 幾年才慢慢發展起來，相對的其品質要求也越來越被重 視。由於 LED 面板是屬於平面顯示器的一種，因此相關文 獻探討可參考其他類型平面顯示器 (如 TFT-LCD、OLED 等)。於 TFT-LCD 方面，顏有宏[2]於「顯示面版亮度自動 檢測系統之研製」，發展出一套用於顯示面版的亮度檢測系 統，結合了輝度計、運動機台、PC-Based 控制系統，以CIE
量測規範為基礎建構出一套自動化檢測系統，可應用 在不同型式的平面顯示器，如：TFT-LCD、PDP、OLED 等。在 OLED 方面，Juan 及 Tsai [3, 4]利用 Look-Up-Table(LUT)
機制改善 PMOLED 面板的發光均勻性，利用輝度 計 (BM7) 對面板做亮度量測，再將所量測到的亮度值做 成一補償 LUT，針對亮度較低或較高的像素，調整它的影像灰階，提高較暗像素的亮度，以達到改善整體面板的亮 度均勻性。
在 LED 單顆檢測方面，賴永昌[5]於其著作「LED 光 電特性量測系統之開發」中，依據 LED 的光電特性，如順 向偏壓、光強度、色相、色度座標、主波長、色溫等，開 發一套自動化檢測系統。其檢測結果能夠顯示於人機介面 中，並且可將其所量測的數據由報表輸出，可做為 LED 出 廠前分級制度的參考。劉憲勳[6]於其著作「利用類神經網 路從 CCD 照相機之照片去獲得發光二極體二維光強度分 佈」中，提出一套 LED 準確又快速的檢測方法，首先利用 光功率計量測 LED 水平和垂直兩方向的照度分佈，再利用
CCD
拍下量測面上 LED 的照度分佈，將兩組數據導入類 神經網路，建立一套光功率計和 CCD 的照度對應網路，以達到快速檢測 LED 的目的。林宏森[7]於其著作「以 RGB 發光二極體為 LCD 背光源之光學回授補償」中，以 RGB 三色 LED 取代 CCFL 做為 TFT-LCD 的背光源，由於 LED 會受到溫度變化影響，產生各個不同的亮度和色溫衰減，
於是利用發光二極體來做回授補償，使其穩定性增加，且 利用脈寬調變 (PWM) 方式來做 RGB 三色順序循環點 亮，可降低 LED 的消耗功率。
Francis Nguyen [8]
提到，由於室內環境中其平均環境 亮度較低，因此人眼更容易察覺顏色色度及亮度之不一 致，因此當在室內裝設 LED 影像銀幕時，更要注意其亮度 及色度均勻性的問題。運用 “chip-on-board” 生產製程，同一顯示模組之 LED 利用自動化機器直接從 LED 晶圓上 割取相鄰近之 LED 晶片做組裝，此製程方法能有效提升
LED
之可視角度，及縮小封裝體積，縮短顯示模組 pitch 距離，提高像素密度 (解析度)。以上所提之檢測方法雖然能夠達到快速和準確的檢 測 LED，但大多都是只有針對單顆 LED 做探討，只有少 部分討論到 LED 顯示面版之亮度校正問題。本研究整合 運用近年來自行發展 OLED/LED 補償機制與驅動技術
[9-13]
於 LED 顯示模組之品質改善，針對彩色 16 × 16LED
顯示模組的發光均勻性問題，設計一套專用的陣列 型光電檢測模組。並整合自動化光學檢測技術，同步快 速檢測 LED 顯示模組每一像素之輝度，建立 LED 顯示模 組品質指標輸出，並使用電子電路控制的方式補償其每 一顆 LED 的輝度，希望可有效的提高 LED 面板品質，降 低生產成本，使 LED 面板更廣泛運用於工業或民生消費 品上。LED
LED
LED
(a) (p10) (b) (p10) (c) 2R1G1B (p20)
圖
1
常見LED
顯示模組類型Gamma
LED
圖
2 LED
顯示模組之均勻度補償構想示意圖二、
LED
顯示模組簡介與均勻度補償架構1. LED
顯示模組簡介常見彩色 LED 顯示模組類型如圖 1 所示，不同型式的
LED
顯示模組通常需不同的驅動電路，三晶合一及三晶獨 立模組使用 RGB LED 模組驅動電路，2R1G1B LED 顯示 模組使用 2R1G1B LED 模組專用驅動電路，佰鴻工業[14]提供之三種模組長寬均為 160 mm，LED 間距為 10 mm。
而本研究主要使用 2R1G1B LED 顯示模組 (16 × 16 LEDs,
p20)
作為實驗載具，每像素由兩個紅色 LED、一個綠色LED
及一個藍色 LED 所組成如圖 1(c)，此模組使用內建PWM
功能的定電流 IC，具有 65536 灰階控制解析度。2. LED
顯示模組均勻度補償架構本研究所提出之 LED 顯示模組均勻性補償架構，包括 亮度均勻性補償、白光色度校正、模組間亮度一致性補償、
Gamma
曲線校正功能。圖 2 為 LED 顯示模組補償示意圖，原始影像首先可套用 Gamma 校正計算，接著進行 CLUT 套用計算。此 CLUT 內含三種補償方法，分別為亮度均勻 性補償、白光色度校正及模組間亮度一致性補償。此三種 皆為使用線性補償，因此可將三種補償參數相乘。CLUT 乃針對每一顆 LED 做計算補償，經過 CLUT 計算完成之
MCU SRAM
Flash ROM CLUT
LED display module
Control system LED LCM
LED
USB link
UART link RS232 or RS485
(a)
(b)
圖
3
彩色LED
驅動模組(a)
架構圖(b)
實體圖影像資料，即為補償校正後影像訊號。即可藉由適當的硬 體驅動電路達到均勻度補償效果。
3.
彩色LED
顯示模組之驅動控制要實現 LED 即時硬體補償技術，必須有一 LED 驅動 模組能儲存檢測系統計算出的 LED CLUT。所以本研究建 構一彩色 LED 驅動模組，主要功能為驅動 LED 顯示模組。
但要能儲存 CLUT，以及將接收到的影像訊號即時與 CLUT 做計算，再傳送至 LED 顯示模組。此外本模組能靈活修改 其硬體補償參數，方便實驗之進行。圖 3 為彩色 LED 驅動 模組之架構圖與實體圖，本模組由於只驅動單一 LED 顯示 模組，使用一 MCU 為模組控制核心，由於在進行 LED 即
USB link LED sensor module: 256 sensor
UART link: RS232 or RS485
FPGA 4 FPGA 3 FPGA 2
MCU PC
FPGA 1 Group A
Sensor 1 - 64
Group B Sensor 65 - 128
Group C Sensor 129 - 192
Group D Sensor 193 - 256
圖
4
陣列式光電檢測模組電路架構圖時補償運算時會耗費大量之記憶體，所以使用 512k SRAM 以提供 MCU 足夠運用之空間，並使用一 Flash ROM 儲存 電腦傳送過來的 CLUT，此模組工作狀態會即時顯示在液 晶顯示模組 (LCM) 上，使操作人員能監控 LED 驅動模組 工作狀態。
三、陣列式光電檢測模組研製
本研究為能在 LED 產業界中對於 LED 顯示模組線上 快速檢測有所貢獻。首先設計出一符合檢測要求的陣列式 光電檢測模組，搭配上 PLC 控制之運動平台，以達成快速 且精準量測 LED 顯示模組後。再加上可即時補償的彩色
LED
驅動模組，驗證其補償效果，最後以 PC-Based 控制 系統，搭配上人機介面做系統控制。陣列式光電檢測模組顧名思義就是在一電路板上以 矩陣的方式放置光電感測元件，使光電感測元件完全依照
LED
顯示模組 LED 的排列。採用一對一對應，並加上導 光治具的輔助，能使每一顆光電感測元件獨立感測其對應 的 LED，並不受旁邊 LED 光線或外界光線所影響。另一 特點為使用同步感測之架構，因此只需一個單位時間即可 使 256 顆 LED 同時檢測完畢，大幅縮短總檢測時間。當決 定好選用的光電感測元件後，根據其輸出訊號規格，規劃 設計數位控制電路，使用可程式閘陣列 (field program-mable gate array, FPGA)
，並以 VHDL (硬體描述語言) 實現 出此一數位資料處理架構。FPGA 為一高密度、高容量、腳位密度高之可程式邏輯設計 IC，其內部由大量 LUT、
Gate
、FF、SRAM 所構成，可依照使用者依據用途將其規 劃連線，經由規劃連線後，即成為一特定用途之 IC。圖 4 為陣列式光電檢測模組電路主架構圖，256 顆光電感測元 件分為 4 群，分別由 4 顆 FPGA 所控制，再加上一顆單晶 片 (micro controller unit, MCU) 負責接收電腦指令做系統 控 制 及 傳 輸 檢 測 資 料 回 電 腦 ， 使 用 通 訊 介 面 支 援USB/RS232/RS485
，但以 USB 的傳輸速度最高，可達 10Mbps
。圖5為本研究完成之陣列式光電檢測模組之實體圖。FPGA
16 × 16
(TSL230) (a)
(b)
圖
5 16 x 16
陣列式光電檢測模組實體圖(a)
上視圖(b)
下視圖經測試後其電路架構能精準且同步對 256 顆光電感測元件 做數據採集動作，並使用 USB 通訊介面即時將檢測資料傳 送回電腦。
由於使用 256 顆光電感測元件同時做檢測，必然會有 光電感測元件間感度不一致之問題。此問題會造成檢測
LED
顯示模組時，檢測數據之失真，必須先進行光電檢測 模組之校正補償。由於數位光電感測元件 (TSL230) [15]之頻率輸出對應亮度曲線為線性，因此可使用線性補償公 式對每一顆光電感測元件做補償。其校正流程為：使用一 固定亮度之標準鹵素白光光源，先用精準的 BM-7 輝度計 確認其發光亮度，此光源亮度作為 256 顆光電感測元件共 同的目標亮度，接著使 256 顆光電感測元件檢測其標準光 源，全部測量完後，其獲得之光電感測器原始輸出頻率 矩陣就是尚未校正之數據，再依據目標值求出每一顆光 電感測元件之校正參數，此校正參數將會存於人機介面 軟體中，在每次檢測後自動套用並計算出校正後頻率或 亮度。
四、
LED
模組自動化光學檢測系統建構本研究目標為建構一 LED 顯示模組自動化光學檢測 系統，以供線上生產檢測用。因此規劃自動進退料且能精
PC-Based
LED
PLC
( ) LED
(USB.RS232.RS485)
(USB.RS232.RS485)
(RS232.RS485)
圖
6 LED
顯示模組自動化光學檢測硬體架構方塊圖&
LED &
LED
&
圖
7 LED
顯示模組自動化光學檢測雛型機台實體圖密定位之機構，圖 6 為 LED 顯示模組自動化光學檢測硬體 架構方塊圖，使用一龍門結構搭配精密氣壓缸，將自製並 經工業級輝度儀 (BM-7) 校準之陣列式光電檢測模組 (圖
5)
精準的與 LED 顯示模組之 16 × 16 LEDs 對準，使用 AC 伺服馬達搭配高精度導螺桿達成快速進退料及精密定位之 目的，圖 7 為研發之 LED 顯示模組自動化光學檢測雛型機 台實體圖。本系統軟體與人機界面乃採用 Visual Basic 來開發，
目的在於整合自動化檢測機台，以實現 LED 顯示模組自動 化亮度檢測與高精度補償機制驗證，其功能主要分為「陣 列式光電檢測模組控制」、「LED 驅動模組控制」、「機台控 制」、「自動化整合流程控制」等，LED 顯示模組自動化檢 測與補償流程如圖 8 所示。
五、實驗結果與討論
本研究以 2R1G1B (p20) 之 LED 顯示模組進行亮度檢
(
)
LED
LED
LED
NO
YES
OK NG
圖
8 LED
顯示模組自動化檢測系統之檢測與補償流程LED
圖
9 LED
顯示模組自動化檢測之人機主畫面測與補償相關實驗，在硬體進料動作完成後，使用人機介 面 (如圖 9) 設定其檢測參數、補償參數、檢測項目後開始 進行自動檢測，在檢測完畢後，人機介面軟體會自動將其
7 6
5 5
8
6 7 8 4 3 2 1 1 2 3 X-Axis4
Y-Axis 1700
1600 1500 1400 1300 1200
cd/m2
(a)
7 6
5 5
8
6 7 8
4 3 4
2 1 1 2 3 X-Axis Y-Axis
1700 1600 1500 1400 1300 1200
cd/m2
(12287) = 99.17%
(b)
圖
10 2R1G1B
模組 (紅光一) 灰階12287
補償前後亮度 分布圖 (a) 補償前均勻度 = 78.46% (b) 補償後 均勻度 = 99.17%實驗數據用 Matlab 或 Excel 製成數據圖表。本實驗使用
2R1G1B
之 LED 顯示模組，檢測每 pixel 之四顆發光 LED(
紅光一、紅光二、綠光、藍光) 之亮度均勻性，並套用本 研究提出之補償方法後，再進行相同的檢測，比較補償前 與補償後兩者之均勻性，以驗證本研究中提出之補償方法 是否可以有效改善其 LED 顯示模組的亮度均勻性品質。由 於 2R1G1B 之 LED 顯示模組之驅動電路之色階可達 65536 階，可以實現相當高精度之補償。由於本研究製作之 LED 驅動模組皆已包含硬體補償電路，因此補償實驗皆使用硬 體即時補償之方式，以實現 LED 驅動模組利用 CLUT 即 時對外界輸入影像做補償運算，驗證其補償之效果。以下 為 2R1G1B LED 模組之補償效果說明。1.
紅光一檢測與補償效果本小節將針對 2R1G1B 之 LED 顯示模組之第一色光- 紅光一 LED 說明其亮度均勻性檢測與補償之實驗結果。
9000 8000 7000 6000 5000 4000 3000 2000 1000 0
cd/m2
10000
8000
6000
4000
2000
0
cd/m2
60 40
20
0 1 23 4 56 7 89 10111213141516 60
40 20
0 1 23 4 56 7 89 10111213141516 (× 4096) LED Dots
(a)
(b)
Gamma Gamma = 1 Gamma Gamma = 1
(× 4096) LED Dots
圖
11
紅光一補償前後之輸出曲線圖(a)
紅光一補償前 之輸出曲線圖(b)
紅光一補償後之輸出曲線圖圖 10 為 LED 驅動點亮灰階在 12287 之亮度均勻性分佈 圖，補償前其亮度均勻性為 78.46%，而補償後其均勻度提 升為 99.17%。將其點亮灰階以 0 階 (最暗)~65535 階 (最 亮)，平分 16 階，間距為 4096 階，使用陣列型光電檢測模 組同步量測其 256 顆 LED，將其測量數據全部整合至同一 圖表中，即為 64 顆紅光一 LED 之輸出曲線圖。圖 11 為補 償前後之輸出曲線圖，並將其 16 階不同的補償前均勻度及 補償後均勻度整理如圖 12。表一為 2R1G1B 之 LED 顯示 模組的紅光一 LED 之補償表。實驗結果表示除了高灰階會 有亮度飽和問題導致均勻度降低，其餘灰階其均勻度皆能 從 77%左右提升至 99%左右，補償效果十分明顯。
2.
不同灰階補償前後均勻性之比較2R1G1B
之 LED 顯示模組的每像素之四顆 LED (即兩 個紅色 LED、一個綠色 LED 及一個藍色 LED) 在不同灰 階之亮度均勻性補償前後之比較如表二，檢測取樣分為 16表一
2R1G1B
模組(
紅光一) LUT
補償表X
Y 1 3 5 7 9 11 13 15
1 1.018768 1.079895 0.994608 1.073142 1.139089 0.966976 1.03047 0.997521 3 0.905517 0.976808 0.911204 1.023882 1.064867 0.92795 0.920357 1.000092 5 0.941114 0.976832 0.953122 0.978379 0.949383 1.024464 1.053956 1.032289 7 0.941106 1.101829 1.02118 1.147227 0.975751 1.080307 0.994767 1.00015 9 1.03609 0.948931 1.005488 0.930144 0.950892 1.045997 0.976319 1.128255 11 0.976804 1.002362 0.994655 0.978353 1.055469 1 0.983333 1.1301 13 1.008636 1.20666 1.015645 1.069169 0.933897 0.900826 0.98303 1.008288 15 1.109868 0.947698 0.966793 0.982375 0.999176 1.095952 1.001264 0.953694
備註：本補償表為使用灰階 53247 所檢測之亮度數據並以平均亮度作為補償目標，計算製作而成，XY 座標為 2R1G1B LED顯示模組絕對座標。
表二
2R1G1B LED
模組補償前後亮度均勻性比較表灰階 4095 8191 12287 16383 20479 24575 28671 32767 未補償 78.24 78.39 78.46 78.49 78.42 78.35 78.25 78.15 紅光一 補償後
98.80 99.02 99.17 99.32 99.43 99.54 99.53 99.46
未補償 78.12 78.25 78.30 78.32 78.34 78.35 78.36 78.36 紅光二 補償後
99.01 99.26 99.37 99.41 99.50 99.53 99.54 99.47
未補償 79.32 79.29 79.29 79.28 79.26 79.26 79.25 79.25 綠光 補償後
99.12 99.31 99.39 99.47 99.54 99.60 99.64 99.71
未補償 68.21 68.26 68.28 68.29 68.30 68.31 68.31 68.31 藍光 補償後
98.89 99.40 99.52 99.55 99.54 99.55 99.52 99.48
灰階 36863 40959 45055 49151 53247 57343 61439* 65535*
未補償 78.06 77.98 77.89 77.78 77.69 77.60 77.53 77.42 紅光一 補償後
99.39 99.30 99.16 99.01 98.84 98.49 92.45 86.37
未補償 78.38 78.37 78.38 78.39 78.39 78.40 78.42 78.44 紅光二 補償後
99.46 99.41 99.30 99.13 99.00 98.85 93.83 87.72
未補償 79.26 79.25 79.27 79.27 79.29 79.29 79.16 79.19 綠光 補償後
99.70 99.63 99.58 99.53 99.46 99.38 97.11 90.43
未補償 68.30 68.31 68.31 68.32 68.32 68.32 68.35 68.36 藍光 補償後
99.46 99.41 99.38 99.29 96.59 89.62 83.35 77.52
註*：因亮度飽和問題導致均勻度降低
(
單位：%)100%
95%
90%
85%
80%
75%
70%
65%
60%
55%
50%
4095 8191 12287 16383 20479 24575 28671 32767 36863 40959 45055 49151 53247 57343 61439 65535
圖
12 2R1G1B LED
模組(
紅光一)
多段灰階均勻度比較圖段灰階。由表二可得知，排除高灰階段補償後會有亮度飽 和之問題，其餘補償後亮度均勻性皆可提升至 98%左右。
由於實驗數據需要穩定，實驗量測速度約為 1.5 秒/單一灰 階。若透過調整檢測參數，針對量測速度及流程進行最佳 化後，應可進步至 1 秒/單一灰階。檢測數據經過與 BM-7 輝度計比較後，證明其量測精度有一定水準，加上與自動 化機台進一步整合後，使其整體 LED 顯示模組檢測流程快 速且穩定可靠。
六、結 論
本研究對 LED 模組亮度檢測與補償進行探討，成功研 製出陣列式光電檢測模組，並完成 LED 顯示模組自動化光
學檢測雛型機台之建構，亦提出一後端電路補償架構，實 現高精度即時補償運算，可放寬生產 LED 面版模組之 LED 單顆分類篩選之門檻。由於系統具有快速、精準、穩定等 特性，因而可提升 LED 模組生產品質。由本研究之實驗結 果與討論，可歸納出以下幾個結論：(1) 本研究所研製之 陣列式光電檢測模組，能同步量測 LED 顯示模組的 256 顆 LED，與一般單點檢測儀器相比之下，能大幅縮短檢測 時間至 1 秒/單一灰階，檢測快速且穩定可靠。(2) 本研究 進一步探討 LED 顯示模組硬體即時補償方法，對於亮度均 勻性補償及模組間亮度可作一致性補償，並以 2R1G1B
(p20) LED
顯示模組為例，其補償前亮度均勻性約為68-79%
，除因較高亮度因飽和問題外，補償後亮度均勻性平均可達 98%，其效果相當明顯，驗證本補償方法確實可 行。
誌 謝
感謝教育部推動技專校院與產業園區產學合作計畫
(Edu96-E-01-294)
提供研究經費補助，教育部影像顯示科 技設備與材料人才培訓中心 (北東區) 之相關協助，以及 佰鴻工業股份有限公司提供部份經費補助並提供測試用LED
顯示模組和相關技術上的支援。參考文獻
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2009年 02 月 05 日 收稿 2009年 02 月 13 日 初審 2009年 03 月 18 日 複審 2009年 04 月 03 日 接受
