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半導體光放大器之製程

第四章 實驗設計

4.1 半導體光放大器之製程

(1)清洗晶圓:

待分子束磊晶( Molecular Beam Epitaxy, MBE )成長完晶圓(wafer)後,我們將 其破片取約 1cm 立方的面積來製作成我們需要的半導體光放大器。首先將其放 於丙酮溶液中,振動 3 分鐘,目的為清除在晶圓上肉眼也看不見的污染粒子。接 著放置燒杯內,以去離子水(DI water)沖洗五分鐘,再使用 的溶液 浸泡約 30 秒或是到晶圓表面不沾水為主,目的在於清除晶圓上的原生氧化物,

其原生氧化物較晶圓本身更具有親水性,因此我們可以用是否沾水來判斷其去除 的程度。接著再以去離子水沖洗五分鐘,以氮氣槍吹乾後,放置於 的烤箱 中 3 分鐘,以去除表面的水氣,使晶圓表面足夠乾燥以免水氣影響接下來的光阻 塗佈,使其不牢固或是定影。

(2)第一道微影製程

待確定晶圓清洗完畢,沒有氧化物且足夠乾燥後,我們才會上第一道光阻。

我們在第一道光阻所使用的是 AZ6112 正光阻,其目的為定義波導位置。將晶圓 放置於光阻塗佈機上的中央後,將液態光阻滴於晶圓上,接著透過光阻塗佈機的 旋轉使其均勻分布於晶圓上。光阻塗佈機旋轉分成兩階段,首先先是 10 秒 1000rpm,目的為將光阻平均散佈至晶圓的每一處,再來是 40 秒 4500rpm,目的 為均勻光阻厚度,若設定 40 秒 4500rpm 則厚度大約為 1.2um~1.5um。接著由於 晶圓邊緣會有光阻堆積的現象,會影響曝光機在使晶圓與光罩(mask)貼近過程中 的使用,因此我們將棉花棒沾些許丙酮後用手輕輕貼著邊晶圓邊緣抹過,去掉邊 緣的光阻。接著為了去除光阻內大部分的有機溶劑,我們將晶圓正面朝上的放置 於 的 hot plane 上。接下即可進行 DUV 曝光,在對準位置後,盡量使光罩(mask) 與晶圓貼近,此時若沒有將邊緣光阻去除乾淨會使兩者無法非常貼近,或是邊緣 光阻碰到光罩的情形,不僅使得光繞射情況明顯,也會汙染光罩。接著使用 AZ300

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之顯影液顯影約 25~30 秒,或是使晶圓在晃動下,沒有光阻溶於顯影液的情形發 生後再晃動約 5 秒即可。如圖 4-3。

圖 4-3 第一道光阻並顯影

(3)蝕刻

這一步我們要將定義好的波導位置進行 mesa etching,在蝕刻之前,我們要 先 量 測 光 阻 的 厚 度 , 這 樣 我 們 才 能 知 道 蝕 刻 的 深 度 。 我 們 使 用 : : = : : 的溶液來進行 GaAs 的蝕刻,配好此溶液後需靜 置 30 分鐘,待其均勻,以免蝕刻速率不穩定。蝕刻速率方面在不同結構下會有 些微不同,但平均來說大約為每秒 9nm。我們蝕刻至主動層上約 200nm 即可。

如圖 4-4。

圖 4-4 蝕刻出光波導

(4) 沉積

我們使用 PECVD 沉積 約 300nm 厚做為絕緣層,而由於避免 沉積 過程中因為高溫使得光阻 AZ6112 被燒焦,因此沉積溫度設定為 。過程中,

PECVD 腔體中通三種氣體,其種類與含量分別是: , 5sccm; , 4sccm; , 800sccm。在沉積完 後,我們將晶圓泡在丙酮中,藉由丙酮去掉光阻的過程

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中,將 掀起來,此步驟我們稱為 lift off。待 lift off 完成後,我們將晶圓清 洗並吹乾。如圖 4-5。

圖 4-5 沉積與 lift off

(5)第二道微影製程

此道黃光目的為定義絕緣位置。如第一道,在上光阻前我們一樣要確認晶圓 是否足夠乾淨,且再一次的去除原生氧化物,以免接下來鍍 E-GUN 時因為電極 鍍在氧化物上而剝落。第二道光阻我們使用 5214E 做為負光阻使用,其轉速與 第一道相同,不同的是多了一個反轉烤與曝後烤的步驟,目的為將光阻從正光阻 轉成負光阻。曝後烤之後顯影,接著一樣用去離子水沖洗定影並用氮氣槍吹乾。

如圖 4-6。

圖 4-6 第二道光阻並顯影

(6)鍍 P-type 電極金屬

再一次的去除原 生氧化物後,使用電 子槍真空蒸鍍系統 (E-GUN)蒸鍍 。蒸鍍結束後,一樣使用丙酮 lift off,便可以使絕緣 位置的金屬剝落,以達到絕緣效果。lift off 結束後,一樣使用去離子水沖洗並吹

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乾。如圖 4-7。

圖 4-7 鍍 P-type 電極金屬並 lift off

(7)背面磨薄

此步驟可以稍微降低半導體光放大器的電阻,也可以方便劈裂,至於磨到多 薄主要是看腔體長度需要劈到多短,若需要劈到越短,則要磨的越薄。我們先使 用黃膠加熱使晶圓穩定的固定在載玻片上並露出背面後,使用 : : 的溶液浸泡並以棉花棒在背面均勻等速的擦拭。此溶液中的 可使 GaAs 氧化,而 可侵蝕其氧化物,在不斷氧化且氧化物被侵蝕的情況下,背面 會變得越來越薄,達到磨薄的目的。在經由棉花棒擦拭約 15~20 分鐘後,便可將 其放至 : : 的溶液中,使其在不被氧化的情況下,將氧化物侵 蝕乾淨。最後加熱載玻片取下晶圓,用丙酮浸泡去掉殘膠後小心的以去離子水沖 洗並吹乾。

(8) 鍍 N-type 電極金屬

一 樣 先 去 除 原 生 氧 化 物 , 再 使 用 電 子 槍 真 空 蒸 鍍 系 統 (E-GUN) 蒸 鍍 。蒸鍍結束後,將晶圓放置於快速熱退火機器中,

迅速加熱到 ,目的在於透過快速的升溫使得 E-GUN 蒸鍍的金屬能夠與晶 圓表面形成歐姆接觸(ohmic contact)以降低電阻。最後將晶圓劈裂成我們需要的 各種長度即可量測。如圖 4-8。

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圖 4-8 磨薄並鍍 N-type 電極金屬

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