名詞解釋

茲將本研究中出現的名詞說明如下：

一、 國中基本學力測驗

國中基本學力測驗（以下簡稱國中基測）是教育部自民國90年起開始採行的 測驗，測驗發展的過程完全依據標準的測驗編製程序來建立，從各學科領域雙向

細目表的擬定、試題的編製與取樣、預試、分析試題以及信、效度的建立，完全 依照標準化的測驗編製程序來進行，是一套結合測驗專業與各學科領域所發展出 來的標準化測驗。一年舉辦兩次，代替傳統聯考的測驗方式，採二元計分模式，

目的在評量國民中學學生在各學科上的基本能力，測驗共分為國文、英文、數學、

自然及社會等五科，各科均為四選一的單選題，答錯不倒扣。國民中學學生可以 自由選擇參加一次或兩次的基本學力測驗，並且可以擇優使用其中一次的分數來 參加高中、高職或五專的推薦甄試、申請入學或分發入學（國中基測驗推動工作 委員會，2004）。

國中基測是在教改之下，及順應世界新的測驗潮流下所形成的，其目的在評 量國民中學學生能力表現及其發展潛能。其主要目標則是在維持制度公平的前提 下，消除入學考試對於國民中學教育的不利影響，進而充分發展學生的潛能。因 此基本學力測驗的命題方向，偏重在對學生未來的學習與生活有所幫助之基礎 的、核心的、重要的知識與能力；命題概念是完整的、周延的，而非偏狹的、殘 缺的。至於測驗難度則是以國中學生平均能力為主，因此過去以「過度學習」和

「機械式練習」來提升考試分數的學習方法，將無法在本測驗中獲得預期的效 果。希望在這樣的制度與測驗方式之下，能夠還給學生一個理想、正常的學習空 間（國中基測驗推動工作委員會，2004）。

二、 差異試題功能（DIF）

差異試題功能（DIF）是指在兩組能力相當的條件下，不同群體受試者在回 答同一題目時的答題表現有顯著差異（Dorans & Holland, 1933），因此DIF檢測之 目的，在於檢定兩群不同背景但能力相當的應試群體答題表現是否一樣。余民寧

（1993）曾提及，目前比較被心理計量學者所接受的DIF的定義為：「來自不同族 群，但能力相同的個人，如果在答對某個試題上的機率有所不同的話，則該試題 便顯現出DIF的現象。」如果測驗題目具有DIF現象，表示同一試題於兩團體當中 展現出不同的功能（functioning），可能是因不同性別、族群或是地區性教學差異、

生活經驗不同、資源分配不公……等等因素所造成的（余民寧、謝進昌，2006）。

三、 偏誤試題（biased item）

Camilli和Shepard（1994）曾進一步針對試題偏誤（item bias）與 DIF 作區分，

認為 DIF 僅是數量統計分析的結果，對於被檢定為 DIF 的試題做進一步的審視 和判斷後，若發現試題含有與測驗想要測得的構念無關（construct-irrelevant）的 因素，因而造成試題的難度對不同背景的應試群體發生不相等的現象，才稱該試 題為偏誤試題（biased item）。

產生試題偏差的原因包括：（1）測驗編製者僅以多數族群的團體為考慮施測 對象，造成編題時偏向以多數族群之特有文化、生活經驗、文化特色或風俗習慣 為欲測驗的題目內容，造成不利其他族群的受試結果；（2）測驗抽樣的過程抽 取了不具代表性的樣本，造成某些不同族群的能力或潛在特質測量不利或不公 平，間接使測驗產生偏差的推論和預測結果；（3）不同族群對測驗本身即產生 不同反應結果的差異現象，因此測驗所產生的差異結果便反應了試題本身具有不 同的測量功能。試題偏差種類包括：（1）文化、種族、語言測驗偏差；（2）社 經地位測驗偏差；（3）性別測驗偏差；（4）明星學校測驗偏差（余民寧，2006）。