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影像匹配依據匹配方式可分為:區域匹配、特徵匹配及符號式匹配等,本 研究採用之小波套合流程及對照之洪偉嘉(1999)流程,於影像匹配部分皆採區 域匹配。本章即依套合流程中,影像匹配之前置處理(3-1 節)、匹配原理(3-2 至 3-4 節)以及後續之除錯(3-5 至 3-6 節),說明其原理。

3-1 角度累計直方圖(Angle Histogram)

影像匹配前之初始方位判定,可利用自影像萃取之線特徵,計算線特徵之 走向(Orientation),藉比較線特徵走向差值製成一角度累計直方圖,該直方圖 即可提供兩影像間概略旋轉角度資訊[Heipke, 1997]。本研究以點特徵作為匹配依 據,必須對特徵點進行線性擬合計算,取得各特徵點之走向資訊,以製作角度累 計直方圖。

利用一大小為(2M +1)2的運算窗,對邊緣點 P(x,y)而言,位在運算窗內可決 定 P 點走向之點集合

pi(xi,yi)需滿足兩項約制條件[Hsieh et al., 1997]:

1. 連接性:

qk =(~xk,~yk)為特徵點pi(xi,yi)之鄰近點,若 ~xkxi >2或 ~ykyi >2, 則不符合連接性約制,即qk

pi(xi,yi)

2. 方向一致性:

同上,若pi1pipiqk 間夾角大於pi1pipipi+1,則不符合方向一致性,

qk

pi(xi,yi)

透 過 上 述 約 制 條 件 , 可 得 近 似 擬 合 於 直 線 yi =mxi+b 之 點 集 合

{

pi =(xi,yi)

}

i=1,2,....,N,並可透過以下函數評估其擬合程度:

2

1

2

= 

 − −

= N

i i

i

i b mx

y

ξ σ (3- 1)

σ 為點i (xi,yi)之權值,當ξ出現最小值時為最佳擬合解,故可由ξ最小化得(3- 2)

式:

3-2 標準化互相關法(Normalized Cross-Correlation, NCC)

標準化互相關法主要計算灰度向量之夾角,將每個運算窗內灰度之標準偏

g , :分別為目標窗(Target Window)與遮罩窗(Mask Windows)內

各像元之灰度值

3-3 最小二乘匹配法(Least-Squares Matching, LSM)

利用最小二乘影像匹配技術,可求取影像座標至次像元精度,Rosenholm 前提下,目標窗與搜尋窗間之轉換模式可用六參數仿射轉換(Affine Transform)來 描述,另外由於攝影時光線及陰影的影響,同時將灰度值之平均尺度參數h1, h2列 入考慮,故整個方程式可寫成[Ackermann, 1984]:

T

無從得知的,影像灰度值乃是灰度函數加上雜訊而來:

假設觀測值是等權不相關的 , 則 權 矩 陣P= I , 故 法 方 程 式 係 數 矩 陣

此必須經重新取樣以內插得對應之灰度值。內插方法種類甚多,本研究所 使用者為雙線性內插(Bilinear Interpolation):

+

+

= +

+ , ) (1 )(1 ) ( + , + ) (1 ) ( + , )

( i j S i 1 j 1 S i 1 j

S x y g x y g x y

g α β α β α β

) , ( )

, ( ) 1

( − ⋅gS xi yj 1 + ⋅ ⋅gS xi yj

β + α β

α (3- 15)

圖 3- 1 雙線性內插重新取樣 4. 迭代結束條件

LSM 迭代過程結束與否,可由以下數項判斷:

a. 目標窗內之代表像元位置以轉換參數進行座標轉換後,是否超出搜 尋窗範圍?

b. 轉換參數之變化量是否小於臨界值?

c. 迭代之次數?

若 a 條件成立,則疊代結果為發散,迴圈結束,若 a 不成立則考慮 b 條件。

一般於 b 條件可考慮轉換參數中的平移參數a ,1 a 的變化量,若4 a 與1 a4 的變化量小於所設的臨界值,則迴圈結束,匹配完成。c 條件主要目的在

當 a, b 條件都不成立時,為避免陷入無窮迴圈,故設迭代次數上限,當迭 於不受線性輻射變形(Linear Radiometric Distortion)影響,故本研究採用之。

定義如下[Zheng and Chellappa, 1993]:

[ ] [

2 2

]

[Hsieh et al., 1997]:

[ ] [

2 2

]

對一致性檢查,可有效剔除錯誤配對,Hsieh et al. [1997]提出以下檢查機制:

今有兩影像f1(x,y)及 f2(x,y),兩影像間概略旋轉角已知,將f1(x,y)經該

對並剔除。

3-6 TAU 測試

在匹配時為剔除粗差,本研究進一步在轉換參數求取之過程中,配合幾何 轉換模式,以 TAU 測試法剔除不適當之觀測量。方式如下:

1. 計算得某一觀測量之殘差 V 及其後驗中誤差σ 。v

V=AX+L=AX-(-L) (3- 20)

)

2 / 1

1 , 1

; 1

1

; 1

1 



 +

= −

n r r n

F r

rF

α α

τα (3- 29)

r:多餘觀測數,α :信心區間,n:觀測數 3. 若 τα

σ >

V

V

ˆ ,則該觀測量為一錯誤。

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