第四章 模擬結果及量測考量
4.4 本論文之 Differential CMOS 低雜訊放大器模擬結果
圖4-9 輸入端反射係數S11
S11模擬結果說明:由於適當的選擇電晶體的尺寸,使得
Γ s = Γ opt
且盡量接近Γ in *
,所以有2GHz頻寬的輸入端反射係數。如圖4-9,輸入 端反射係數S11<-10dB於4.875GHz~6.95GHz。圖4-10 輸出端反射係數S22
S22 模擬結果說明:由於輸出端為高阻抗的特性,若使用 L、C 被 動元件作匹配元件,將不易得到較寬頻的匹配結果,而使用共洩極組 態及共源極組態的匹配電路架構,即可得到較寬頻的輸出端的阻抗匹 配。如圖 4-10,輸出端反射係數 S22<-10dB 於 1.575GHz~10GHz。
圖4-11 增益S21
S21模擬結果說明:如圖4-11,增益S21>10dB於3.9GHz~5.65GHz。
由圖中可以看到增益的最大值是18.025dB,在頻率是4.775GHz的時 候。由於電感元件模型選擇有限,導致
Γ in *
並沒有與Γ opt
完全重疊,因 此增益S21會有如此的偏差。圖 4-13 雜訊指數
圖 4-12 逆向增益 S12
雜 訊 指 數 模 擬 結 果 說 明 : 如 圖 4-13 , NF<3dB 於 3.1GHz~5.75GHz,由於輸入端阻抗匹配採用
Γ s = Γ opt
,所以在頻率 5.25GHz的時候,NF min = 2 . 524 dB
。S12 模擬結果說明:如圖 4-12,逆向增益 S12<-30dB,因為電路 本身使用疊接電路,所以有不錯的隔絕度。
穩定度參數,k模擬結果說明:如圖4-14,由於S
11 <
1、S22 <
1且 k>1,所以無條件穩定成立。由式(2.8)、(2.9)得知21 12
2 2 22 2 11
S S 2
S S
k 1 − − + ∆
= , ∆ =
S11
S22 −
S12
S21
因此將5.25GHz的S參數模擬結果代入以上公式,即可求得 其中
S 11 26 . 915 dB 10 20 0 . 045
915 . 26
=
=
−
=
−
197 . 0 10
dB 102 . 14 22
S 20
102 . 14
=
=
−
=
−
88 . 4 10
dB 771 . 13 21
S 20
771 . 13
=
=
=
0196 . 0 10
dB 128 . 34 12
S 20
128 . 34
=
=
−
=
−
最後可得 5
095 . 0 2
095 . 0 10 8 . 8 0197 . 0 045 . 0 1 k
2 3 2
× ≈
−
× +
−
= −
−
圖4-14 穩定度參數,k
圖4-16 線性度參數OIP3
IMD Pout
IM3
線性度參數P 1 dB
模擬結果說明:如圖4-15所示。dB
P 1
=P 1dB ( dBm ) = G 1 dB ( dB ) + IP 1 dB ( dBm )
=
(13.771-1)+(-26)=-13.229dBm與實際模擬值-14.541dBm接近。圖4-15 線性度參數
P 1 dB
線性度參數OIP3模擬結果說明:如圖4-16所示。
OIP3= (75.295 27.803) 4.057dBm 2
803 1 . 27 2IMD
P
out +
1= − + − = −
。表4.1為本論文5.25GHz CMOS Differential LNA 設計模擬特性表。
Frequency Range 5.15~5.35GHz
DC +1.8V
Total DC Current 7.5mA Input Return Loss 26.915dB Output Return Loss 14.102dB Gain 13.771dB Noise Figure 2.524dB
P1dB -14.541dBm OIP3 -4.057dBm
功率消耗 15mW
表4.1 5.25GHz CMOS Differential LNA 設計模擬特性表
表4.2考量製程變異及PAD、Bond Wire效應後的5.25GHz CMOS Differential LNA設計模擬特性表。
Simulation corner-case=TT
Simulation corner-case=FF
Simulation corner-case=SS
PAD Effect + Bond Wire Frequency
Range 5.15~5.35GHz 5.15~5.35GHz 5.15~5.35GHz 5.15~5.35GHz DC +1.8V +1.8V +1.8V +1.8V DC
Current
2.49mA 3.14mA 2mA 2.39mA S11 -26.915dB -13.385dB -33.986dB -34.966dB S22 -14.102dB -54.070dB -10.896dB -31.113dB S21 13.771dB 16.141dB 10.469dB 6.991dB
NF 2.524dB 2.674dB 2.966dB 6.114dB P1dB -14.541dBm -12.524dBm -15.545dBm -15.562dBm
OIP3 -4.057dBm -2.608dBm -5.147dBm -5.8355dBm 表4.2 考量製程變異及PAD、Bond Wire效應後的5.25GHz CMOS
Differential LNA設計模擬特性表
4.4.1 比較三種不同設計方法的差異:
第一種設計方法:
在第一種設計方法中,使用電晶體內部的雜訊來源,推導出 NF、
P D
與Q L
之間的關係,然後去作一個最佳化的電晶體尺寸選擇或功率 損耗的取捨,最後設計出整個低雜訊放大器中的元件值。因此在設計 的過程中即可大約預估功率消耗、雜訊指數。輸入端的匹配電路設計 是利用電感L s
、L ,得到g Z in = 50 Ω
的阻抗匹配,優點是可以得到最 低雜訊的電晶體尺寸。缺點是在設計理論中,推導式(3.31)時,其中忽略了分佈閘極電 阻(R
g
)及閘極電感耦合電阻( R l )
所造成的雜訊,因此在雜訊指數的 預估上會有較大的偏差。輸入端的阻抗匹配電感L s
、L 由於簡化電g
晶體內部寄生效應,因此輸入端的阻抗匹配會有不準確的預估,在輸 出端的阻抗匹配方面高阻抗的特性,造成匹配電路完成後,呈現非常 窄頻的輸出端反射係數。第二種設計方法:
在第二種設計方法中,主要是使用電感
L s
及 M1、M2 電晶體通 道寬度 W1 及 W2 使電路中最低雜訊的阻抗Zopt
與電晶體輸入端Z * in
重疊,再使用L 完成輸入端阻抗匹配。優點是在雜訊指數的預估上,g
因為是考慮整體電路的影響,因此理論上會有較準確的預估且由於Z
opt ≈ Z * in
,因此,與第一種設計方法比較有更好的輸入端匹配結果。缺點是在本設計方法中,沒有明確說明電晶體尺寸的選擇,並且 呈現非常窄頻的輸出端反射係數。
本論文的設計方法:
首先使用第一種設計方法選擇電晶體尺寸及偏壓電路;再利用電 晶體源極端低輸入阻抗特性,使輸出端阻抗匹配會有較寬頻的反射係 數。然後再參考第二種設計方法,在輸入端的阻抗匹配考慮最低雜訊 指數與最大功率增益同時發生,即
Γ in * = Γ s = Γ opt
,因此本論文避免第 一種設計方法中雜訊及輸入端的阻抗匹配會有不準確的預估,也避免 第二種設計方法中沒有明確電晶體尺寸選擇的缺點。雖然Γ in *
、Γ s
、Γ opt
只能盡量靠近,不過雜訊指數與增益也有不錯的模擬結果。本論文 CMOS 差動式低雜訊放大器佈局平面圖,如圖 4-17 所示:
CKT name : 差動低雜訊放大器之研究與設計(設計名稱) Technology : 0.18
µ
m 1P6M CMOS(使用製程)Chip Size : 1.470 * 1.468 mm
2
(晶片面積;mm2
) Transistor : 11(電晶體數)Power Dissipation : 15mW (功率消耗;mW) Frequency : 5.25GHz (工作頻率 ; GHz) CAD Tool : ADS 、 OPUS
圖4-17 CMOS差動式低雜訊放大器佈局圖