第三章 工業準度評價
第三節 準度評價法謬誤
資料來源：Intel Measurement Capability and Correlation (1999)
判定方法及結論：從JMP套裝軟體分析數據可以得知，量測值是常態分配，且沒有 contained in the interval
“prob>|t|” is less than 0.05 (significant)
謬誤一、 精度謬誤
AIAG所制定的TS 16949量測系統分析指導手冊利用統計迴歸手法探討量測系統準 度能力，然而迴歸分析都假定迴歸方程式的殘差項之變異數是等變異，表示若我們繪製 基準值與偏誤值之間的關係圖時，其量測的變異程度在不同的基準值下都是一樣的。但 是事實上，在不佳的量測系統下，對每個零件重複數回所量測的數值可能產生不同的變 異，即變異數不齊一性。如圖3.18所示。
圖3.18 變異數不齊一性的迴歸模式 資料來源：本研究
詳如圖3.18，對其數據求迴歸方程式得到yi 0.0002xi0.0467，其斜率為趨近於 零，若依TS 16949準度評價方法，其判斷量測系統準度為良好的，但由圖中可以發現變 異數不齊一性。當變異數不齊一時，普通最小平方估計法雖具不偏性，但會使迴歸係數 的變異數發生偏誤，使統計推論的檢定值不正確，而使推論的結論發生變異。
謬誤二、 準度謬誤
縱使偏誤迴歸之斜率近似於零，但由圖3.19可以明顯看出量測數值有正偏誤及負偏 誤的情況，任何利用量測設備所量測出來的值，其偏誤值不論是正值或負值，都會明顯 損及該設備量測待測物的準確性。由於正負相抵之效果，所以在計算偏誤度時，不能立 即對平均偏誤值的總和計算其偏誤度，這樣異常偏誤會被忽略。所以不論是正偏誤或負 偏誤，只要是量測偏誤，對量測系統的準確性都有不良影響。
-1.0 -0.8 -0.6 -0.4 -0.2 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2 1.4
0 20 40 60 80 100 120
基準值 偏
誤
Bias Bias Average 迴歸線
變異大 變異小
圖3.19 斜率為零的模式
Bias Bias Average 迴歸線
負偏誤 正偏誤
參、 Intel 準度評價謬誤
Intel公司量測手冊(1999)提出統計顯著與技術顯著兩種方式來評價量測系統準度，
使用統計手法 t 檢定量，檢測量測所得的平均值(
x
)是否等於標準值(0)，利用檢定手法 探討準度評價，判定是否須對量測設備進行校正。Intel是使用JMP統計分析軟體，分析 量測數據及繪製圖表，再從圖表當中解釋分析其所代表的意義，此為統計顯著的方法。本研究揭露Intel公司量測系統分析在準度評價方面的謬誤：
謬誤一、統計顯著的謬誤
在統計顯著上，Intel公司量測手冊(1999)是利用 t 檢定量檢定量測平均值(
x
)是否等 於標準值(0)，但此檢定方法對工業界在評價準度時無太大指導功能。對工業界而言，統計檢定不能用來判定量測設備的準度優劣，且並沒有其必要性。
謬誤二、技術顯著的謬誤
在技術顯著上，Intel公司量測手冊(1999)提到任何量測的偏誤平均值超過0.005，
視為技術問題，此計算方法與TS 16949在計算偏誤度時，亦有相同的謬誤，會有正負相 抵之效果，所以不論是正偏誤或負偏誤，只要是量測偏誤，對量測系統的準確性都有不 良影響。而與TS 16949標準及MINITAB 15套裝軟體不同，Intel公司對於準度評價方法有 提出技術顯著的規範，即偏誤平均值是否超過0.005。
本研究探討工業界準度評價方法：TS 16949標準、MINITAB套裝軟體、美商Intel 公司。將個別針對三種準度評價方法的步驟做探討及整理，並沒有比較三者的優劣；利 用範例，來說明三種準度的評價法，由範例的說明，可以清楚看到三種評價法數據分析 後的呈現；接著揭露這些評價法有哪些謬誤，吾人在前兩節檢視此三種評價法，並分別 探討三種評價法，可以發現準度評價法的謬誤。
本研究將在第四章針對準度評價法謬誤，改良量測準度評價，首先建構量測系統分 析的統計模型；進而，根據模型掌握零件值、量測值及測手偏誤之間的變異關係。針對 各界的準度評價謬誤，提出符合工業界需求的改良方法；並且，本研究開發準度評價的 軟體範本。