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5. 無鉛壓電材料系統的初步開發
由文獻資料探討,我們認為Ba(TiyZr1-y)O3將會是個不錯的非鉛材料系統,希望藉由 Barium Titanate(BaTiO3)和Zirconia(ZrO2)的混合製程技術,以獲得壓電常數d33高的 非鉛壓電陶瓷塊材。本研究分別以一般乾壓及膠粒製程的方式製備非鉛材料系統,流程 如(圖3.50)所示,在BaTiO3中添加不同比例的ZrO2(0、5、8、13 wt%),乾壓部分選用直 徑為兩公分的圓形模具,施加壓力為90 MPa。膠粒製程的溶劑為去離子水,選用的分散 劑為PMAAE。試片經拋光、1140℃下thermal etching後做SEM觀察。
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圖3.50 乾壓與膠粒製程流程示意圖。
磁滯曲線分析(Hysteresis D-E loop)
無論是乾壓或膠粒製程,磁滯曲線的圖型都隨著ZrO2含量的增加而縮小,殘留 極化值(Pr)也如文獻所示隨ZrO2量的增加而減小。(表3.3)為利用量測C-V curve所得 到的室溫介電係數(dielectric constant, K)與介電損失(tanδ)。
SEM微結構觀察
此次兩組實驗在沒有binder的添加之下,密度與緻密性表現不佳,孔洞的情形 嚴重,尤其是乾壓製程(圖3.51(b)、(c))。在乾壓方面,pure BaTiO3發現有異常成長 的現象(圖3.52),5%及8%的孔洞過多,而13%則是出現針葉狀的第二相。在膠粒製 程方面(圖3.53),孔洞情形較為輕微;pure BaTiO3的晶粒相當粗大,約50μm左右,
5%已經有雪花狀第二相出現,8%的第二相變小分布更均勻,13%的第二相粗大且 孔洞密佈。值得一提的是,在顯微結構呈現孔洞大量分佈的情形時(乾壓5%及8%、
膠粒製程13%),其磁滯曲線表現有類似之處,當電場加至 3 MV/m時,極化值(D) 呈約略上升,明顯的有leakage情況,故孔洞會造成漏電現象。
由本次實驗知道緻密性對電性有著深鉅的影響,故在製程方面,之後將會尋找 適當的binder減少孔洞的發生。在電性量測方面,我們目前已添購 displacement gauges來測量壓電常數d33,屆時會有更完整的數據資料。在顯微結構方面,第二相 晶體結構的定性分析是下一步要做的,並會準備TEM試片來做進一步鑑定。在壓電 性質方面,系統中將加入第四款元素如Ca、Nb、或Sr以調整其介電性質。
◆ Dry pressing
◆ Colloid BaTiO3
ZrO2
Alcohol
Ball milling
24Hrs
Drying
Oven drying 100 mesh
Die pressing Sinter 1340℃
1Hr
BaTiO3
ZrO2
Water
PMAAE
Ball milling
24Hrs Pressing
Sinter 1340℃
Air drying 1Hr
Rotary evaporator
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表 3.3 Ba(TiyZr1-y)O3室溫介電係數(dielectric constant, K)與介電損失(tanδ) Dielectric constant K (25℃) Dielectricloss(tanδ)
Pure BT 4500 0.52
5% 1500 0.33
8% 1300 0.23
乾壓
13% / 0.20
Pure BT 4000 0.52
5% 1700 0.4
8% 1600 0.14
膠粒製程
13% ~1000 0.12
圖 3.51 乾壓製程 Ba(TiyZr1-y)O3ceramics 的磁滯曲線
圖 3.52 膠粒製程 Ba(TiyZr1-y)O3ceramics 的磁滯曲線
-25 -20 -15 -10 -5 0 5 10 15 20 25
-4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4
E (MV/m) D (μC/㎝2)
Pure 5%
8%
13%
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0.1mm
(a) (b)
(c) (d)
圖 3.53 乾壓 SEM: (a) pure、(b) 5%、(c) 8%、(d) 13%
圖 3.54 乾壓 pure BaTiO3異常晶粒
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(a) (b)
(piezoelectric stress constant)與介電常數(dielectric constant)等係數,方能透過商用 套裝軟體(如ABAQUS等)進行分析。就本計畫所使用的PZT材料而言,由於PZT材料
上式中S為應變、D為電位移、T為應力、E為電場。spq為柔度係數(compliance constant)、
上標E代表固定電場;dij為壓電應變電荷常數(piezoelectric strain constant)、ij為介電 常數(dielectric constant),上標T代表固定應力。對於此10個材料係數,傳統上是利用IEEE Standard中所制定的方法,針對幾種特殊幾何形狀的壓電元件利用實驗方式進行量測,