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第三章 研究設計
第一節 研究架構與流程
本研究之架構與流程如圖 14 所示：
第一階段：確立研究架構與文獻探討
首先，敘述薄膜太陽能電池產業相關的研究背景。再藉由日本發展薄膜太陽 能電池產業的成功經驗，說明其所引發之研究動機與目的，並確認本研究所欲討 論之範圍及限制。
接著，進行薄膜太陽能電池與專利組合兩方面的相關文獻資料之蒐集與整理：
在薄膜太陽能電池方面，先說明薄膜太陽能電池的發電原理，再介紹不同化學原 料與物理結構所組成的種類，最後則為目前全球市場的發展概況；而在專利組合 方面，則是透過比較相關理論與做法，選定專利資料庫與合適的專利指標，從而 建立研究架構。
第二階段：個案廠商分析
第一部份為專利檢索，先確定所使用的檢索軟體為 Patent Guider 2008，並選 定美國專利商標局（USPTO）之專利資料庫作為檢索來源，其原因為現時國際上 大部分的重要發明專利皆在美國申請，加上美國亦是世界高科技產品和技術的最 大基地和市場。接著，以日本前五大太陽能電池領導廠商作為研究對象，確立專 利檢索的關鍵字與時間範圍，並刪除重複出現的專利資料，篩選出適用的數據。
第二部份為專利指標計算，將第一部份所統計到的各類薄膜太陽能電池之歷 年核准專利件數，以及該五家日本太陽能電池廠商於某技術領域的專利總引證次 數，計算出本研究所選定的專利指標。
第三部份則為製作與分析專利組合圖，即利用專利指標繪製各廠商的專利組
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合圖，希望透過觀察四類薄膜太陽能電池於該專利組合圖的定位，協助後續確認 各廠商的研發資源之可行配置，以及未來的技術發展趨勢。
第三階段：歸納與總結
首先，歸納與總結第二階段的分析成果，並提出相對應的研究發現。最後，
針對研究架構與研究問題作完整的探討，並提出後續研究之建議。
圖 14、研究架構
資料來源：本研究繪製
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第二節 專利指標
三項專利指標說明如下：
1. 技術吸引力（Technology Attractiveness）
技術吸引力為 Brockhoff（1992）所提出之專利組合的指標之一。Ernst（1998）
則以特定技術領域之專利申請數量的成長率作為技術吸引力的指標衡量。其衡量 方法採用技術相對成長率（Relative Growth Rate，RGR）與技術相對成長潛力率
（Relative Development of Growth Rate，RDGR）。
技術相對成長潛力率（RDGR）代表主流技術領域的成長率之相對潛力，若 RDGR 值在全部技術領域中屬於較高，則表示該技術領域於最近幾年有較高度的 成長，若 RDGR 值在全部技術領域中偏低，則表示該技術領域已開始呈現負成長 或停頓的狀態，故較不屬於該產業之熱門主流技術。
RDGR 之計算方法如公式（1）所示，其以能求出單一技術領域在後十年平均 成長率相對於前十年平均成長率為目的，並觀察出該技術領域之專利數是否呈現 成長、停頓或負成長。
RDGR =單一技術領域專利核准數的平均成長率(於後 10 年內)
單一技術領域專利核准數的平均成長率(於前 10 年內) 公式(1)
2. 專利相對定位（Relative Patent Position，RPP）
專利相對定位為 Brockhoff（1992）所提出之專利組合的指標之一，主要是衡 量單一公司在特定技術領域所佔專利數與該技術領域之最主要競爭者的專利數之 相對比例。最主要競爭者為該技術領域中擁有最多專利數的公司，以最主要競爭 者所擁有的專利數做為標竿，來計算其他公司在專利表現上的相對位置。專利相
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對定位最大值為 1，透過 RPP 值可得知某公司在該技術領域的表現，即該公司技 術投入的規模大小。若數值愈接近 1，即表示公司專利數量在該技術領域屬領先；
若數值愈接近 0，則表示公司與該技術領域標竿之差距愈大。其計算方式如公式
（2）所示：
RPP = 同一技術領域之單一公司的核准專利數
同一技術領域之最主要競爭公司的核准專利數 公式(2)
3. 專利相對優勢（Relative Patent Advantage，RPA）
Schmoch（1995）所提出的專利相對優勢是指將專利數轉換成可以衡量不同 公司在特定技術領域之技術能力的相對專利指標，以顯示公司技術的相對優勢。
RPA 越高，表示其技術的重要性越高，越有可能成為該技術領域的研發焦點，為 其他公司的標竿。
RPA 可以描述特定公司在特定專利分類的技術強度，其值界於-100 至+100 之間。若 RPA 為正值，代表相對技術重要性高；反之則代表相對技術重要性低。
在專利組合中將能以技術強度之規模判斷研究公司之技術能力高低。其計算方式 如公式（3）所示：
RPAij = 100×tanh ln ( !!!" !!!"
!"
! !"!!") 公式(3)
其中，
RPAij：指第j家公司在第i個技術領域的專利相對強度指標
P!"：指第j家公司在第i個技術領域的專利數
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P!"
! ：指第j家公司在所有技術領域的專利數總和
𝑃!" !𝑃!"：指第 j 家公司在第 i 個技術領域的專利數佔所有技術領域的專利數總
和之比率
! P!"：指第 i 個技術領域的所有公司專利數總和
P!"
!" ：指所有公司在所有技術領域的專利數總和
P!"
! !"P!"：指第 i 個技術領域的所有公司專利數總和佔所有公司在所有技術領
域的專利數總和之比率
本研究於第二章第二節「伍、專利組合」中，曾經說明在專利組合分析方法
的建構上，以 Brockhoff（1992）與 Ernst（1998）提出的架構為主，並輔以陳鈞 宜（2009）所提出之修正方法，亦即使用專利總引證數作為相對專利優勢指標中 的變數，而其所修正後的公式如公式（4）：
RPA’ij = 100 + 100×tanh [ln 專利總引證次數!" ] 公式(4)