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第四章 計算結果

4.2 忽略邊界 EDL 效應

4.2.3 縱向模態

4.2.3 縱向模態

在縱向模態方面,即當 θ= / 2π 時,所作的數值運算。無論怎麼

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更改變數,收斂條件或運算邏輯皆無法算出θ= / 2π 的穩定性分析的中 性曲線。於是,由θ=0 ,10 ,20 ,...o o o 每10 求出其中性曲線,而答案也o 可呼之欲出了。觀察圖4.6(a)發現。當把角度增加時,其中性曲線的 無因次參數也開始提高,尤其又以80 以上成長最劇烈,而o 89.8 即無o 因次尺度在10 ,若考慮8 90 其無因次參數o Rae將在10 以上或更高。與9

橫向模態的10 尺度比相距甚遠。在此可以說當越接近縱向模態時,3 其系統無因次參數Rae越趨於無窮大,系統幾乎不會發生不穩定的情 況。就算橫向模態已相當不穩定時,也很難對縱向模態有所影響。

依圖 4.6(b)更可發現當固定 H=10、Sce=500、k =2.1、Rae =107的 情況下,其角度變化與成長率的關係。發現當角度為θ=0 時,其橫向o 模態時,成長是最劇烈的。而在越接近θ=90 時,其成長率趨於零甚o 至到負數去。表示在當越趨於縱向模態,越穩定。縱向模態在Rae =107 以下必為穩定狀態。由圖4.2 及圖 4.4 可知,若改變無因次參數,導 電梯度H 及電施密特數Sce其效應亦無法造成縱向模態的發生,其影 響程度有限。

在此可以下結論,在縱向模態的中性曲線尺度遠大於橫向模態尺 度,在正常的狀況下,絕無縱向模態的發生。

而會造成此結果,以物理來看,因為系統的驅動力電場,只加在 x 軸的橫向方向,故橫向模態最容易發生,成長率也最大。但本系統 並無其他機制使系統不穩定驅動力電場力作用在縱向 y 方向上,也無 浮力、溫度、壓力等作用力能將橫向不穩定擾動的影響擴及在縱向上。

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因此,正常狀態下無論在橫向 x 軸的水平電場加到多大,皆無法影響 到縱向模態。除非超過Rae =109,換算成電場為E =3.4 10 V/m0 × 6 的話,

才有可能會發生縱向不穩定的模態。

最後,基於上述理由,我們不考慮縱向模態的穩定性分析。

4.3 考慮邊界 EDL 的效應

4.3.1 改變導電梯度的影響

由前節 4.2.1 所述,當導電梯度增加,將增強電場對系統不穩定 的作用力。由圖 4.7 所示,固定Sce=500、Q= 、1 n= −0.333、

ψ

=1 時,改變導電梯度為 H=1、10、20、50、100 的變化時當增加導電梯 度的影響,的確使得系統更不穩定。在此Rae即代表造成不穩定所需 的電場力。相較於前小節忽略EDL 的情況中,在此情形並無發現兩 模態。那是因為當考慮EDL 的邊界滑動條件時,系統在一輸入外加 電場產生邊界的滑動速度(即電滲速度),進而使系統一開始就有基態 流場。因此,避免一開始由靜止開始時到產生不穩定擾動階段的「固 定模態(stationary mode)」與「震盪模態(oscillatory mode)」,因此時 基態流場其動能將增強系統抵抗流體對黏滯力的束縛。

當提高導電梯度時,發生不穩定所需的Raec會下降。此時電場代 表所造成的擾動的因素,而黏滯力代表穩定因素,當上下板的導電度 差異大時,則系統受電場作用的力量也越強,也造成邊界的電滲速度 影響加大,其擾動機制也增加以抵抗黏滯力的穩定作用的力量,因此 所需的Rae即電場強度會減少。在圖4.7(b)中更可觀察,當導電梯度

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增高時,其虛部成長率增高趨勢。而虛部成長率所代表的物理意義即 為頻率的變化,相對亦代表波速(velocity)的成長。因此當提高導電梯 度變化時,發現波速成長越大,不穩定度越高,因此所需的臨界電場 也越小。

而圖 4.16(a)中,我們觀察當提高導電梯度 H,其臨界Raec的變化。

結果發現,當導電梯度上升,電場力的影響加大,的確會造成系統的 不穩定發生。數據說明當H>5 時,其不穩定的影響已不再明顯。

4.3.2 改變電施密特數(electric Schmidt number)的影響

由 4.2.2 節所述,電施密特數(Sce)其物理意義可看成是擴散係數 的影響。而在高導電梯度時,Sce減小代表離子擴散效應增加。而擴 散效應增加,使得由離子擴散所造成的導電梯度因擴散加快而變得均 勻進而使導電梯度變小。電場力作用亦因此減小,使系統較穩定。

而低導電梯度時,擴散效應因加速離子擴散,使得原本就很穩定 的低導電梯度系統,更易形成導電梯度。進而使得電場力作用增大,

系統較不穩定。即在高導電梯度時,擴散效應代表穩定的機制;而低 導電梯度,擴散效應代表不穩定的機制。

原本在圖 4.5,忽略 EDL 效應的高導電梯度系統中,其擴散效應 並無法對系統產生穩定作用。而觀察圖4.9 發現,在考慮 EDL 效應 的系統,當Sce = 100,即擴散效應較強的狀況下,其擴散效應扮演穩 定的角色,使得系統穩定度提高。在Sce > 100,擴散機制並不足影響 流體使其穩定,其臨界Raec並無變化,其不穩定的影響並不明顯。。

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而自然界中,並無法找到Sce<100 的流體。故可說明在此系統下Sce對 系統穩定性無法發揮作用。

4.3.3 改變 n 的影響

n 在本研究為邊界電滲速度則塔電位(zeta potential)與導電度關 係的影響因子,當 n 越大則導電度影響則塔電位越高,受則塔電位影 響的電滲速度也會越快,造成系統不穩定的影響也會越大。而使用

n= −0.5,為假設在表面電荷密度為常數時為的理論值。而當考慮邊 界為矽硼酸玻璃(borosilicate)表面,則所實驗出的n= −0.333[1]。本文 以此實驗值n= −0.333為系統的參考值。並代入此值與系統做出比較,

觀察圖4.10,改變此參數並無太大影響。

4.3.4 改變 Q 的影響

為完整定義電滲速度的無因次參數,特別令Q=σ σ0/ r來代表底 板的無因次導電度。依據之前的觀念我們知道,當導電梯度越大則系 統越不穩定。因此,當我們提高底板導電度,但無因次導電梯度

/ 0

σ σ

Δ 保持不變。則頂板的導電度亦增大,相對也造成上下板導電

度差變大,系統也較不穩定。觀察圖4.11 也可發現計算的結果,改 變此參數並無太大變化。代表改變底板導電度並不會造成系統的穩定 性分析,因導電梯度固定時,上板導電度也會呈相對比例的成長。因 此造成系統Raec極值並不會改變。

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4.3.5 改變

ψ

的影響

ψ

此無因次參數,由其定義來Rv = −1/ξr

(

μkeff /ε

)

1/ 2Rae1/ 2 1/ 2

Rae

ψ

= 。其中,Rv代表無因次電滲速度,即系統邊界滑動速度。

ψ

在本系統,代表則塔電位的效應。也可看成有無 EDL 效應的影響。

ψ

減小代表 EDL 效應明顯;反之,則代表可忽略 EDL 效應的作用。

因此,若控制

ψ

即代表控制系統是否考慮 EDL 效應的作用當減小

ψ

。其結果應趨近考慮 EDL 效應的影響。若增大

ψ

,其結果應趨近忽 略 EDL 效應的作用。

由圖 4.12 及圖 4.13,繪出

ψ

其(a)中性曲線變化;(b)虛部成長 率與波數的關係曲線。說明,當ψ >10其結果已相當趨近忽略EDL 效應的結果。並可由4.12(a)觀察,當ψ =0.1,H=10的高導電梯度系統 反而對系統有穩定的作用。理論上,當提高則塔電位效應,應會造成 電滲速度加快,使系統不穩定才對。但圖 4.12(a)卻反而變穩定。其 原因為,當把則塔電位效應增大至某一程度時,其則塔電位在邊界對 電荷的吸引力加大的原故,反而會使 EDL 的厚度加大。電解質內的自 由電荷都被吸附在邊界上,使系統電泳力下降。且 EDL 厚度亦增加,

使系統不穩定性降低。若討論ψ =0.1,H=1的低導電梯度系統 ,由圖 4.16(a)所示,系統將變得比較不穩定。代表當低導電梯度系統,其 電力作用較小時,則塔電位將扮演使邊界電滲速度滑動加快的角色。

因電力較低時,系統由則塔電位及黏滯力所控制。此時ψ 越小代表黏 滯力越小,則塔電位越大,使邊界得滑動速度也越快,加大系統不穩 定作用。

而圖 4.13 更說明,當ψ >10其中性曲線與忽略 EDL 效應的比較,

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幾乎重合。代表當其ψ >10則塔電位影響已相當小,系統趨於忽略 EDL 效應的作用。

觀察 4.14,

ψ

所影響的臨界流場變化。說明當ψ =0.1其則塔電 位影響明顯時,其對流包成震盪的變化。代表系統的則塔電位吸附離 子所造成的穩定機制與外加電場的不穩定機制相互抗衡,所產生的震 盪現象。而當ψ >0.1,其對流包有趨於固定的現象發生。此為則塔效 應減弱,電場的趨動力對系統更易造成不穩定的作用有關。

由圖 4.17 更可進一步說明,在低導電梯度系統(H=1)的情形下。

EDL 效應越強,即

ψ

越小時。系統會有不穩定的情形出現,印證前 述所說,在此情形,因電場強度很小,故則塔電位的影響將增大。此 時則塔電位扮演不穩定的角色。當邊界則塔電位增大時,將使得邊界 的電滲速度加快,增加系統基態流場的動能進而抵抗黏滯力的穩定力,

產生不穩定的作用。而當在高導電梯度系統(H>10)時,將有相反的情 形出現。當EDL 效應增強時,系統將更穩定了。因此時電場的不穩 定驅動力已遠大於邊界EDL 的不穩定效應,系統已不需要邊界上則 塔電位所產生的基態速度,其所造成系統的不穩定動能。此時邊界的 則塔電位將扮演穩定的角色,將流體內的離子吸附在邊界上,使得流 體內因帶電離子減少,而減少電泳力的作用。且邊界EDL 的厚度亦 增加,如同邊界層般,加強流體的黏滯力作用,使系統穩定。

4.3.6 縱向模態

同理,依據 4.2.3 節的理由說明。無論如何控制參數變化,其縱 向模態的中性曲線尺度都遠大於橫向模態。但我們還是試著觀察,在 考慮EDL 的物理模型,是否還會有相同結果。我們觀察圖 4.15(a),

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無論如何控制H、Q 、n、

ψ

Sce,皆發現在角度超過80°後,無因 次參數Rae的變化依然很陡峭,且尺度也遠大於橫向模態,與4.2.3 節有相同的結果。再觀察圖4.15(b),角度與成長率的關係圖,仍然 可以發現在角度0°的橫向模態其成長率最高,依角度上升其成長率遞 減,到90°時期成長率為負成長。故在Rae =108的尺度下,縱向模態 不存在或趨於。系統幾乎不會發生不穩定的情況。就算橫向模態已 相當不穩定時,也很難對縱向模態有所影響。

會造成此結果,以物理來看,因為系統的驅動力電場,只加在 x

會造成此結果,以物理來看,因為系統的驅動力電場,只加在 x

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