足印測量與足弓高度的關係

對於足部的足弓高度，臨床上最常用觀察的方式來評估，結果常取決 於評估者的臨床經驗。例如以目測扁平足，依據其嚴重程度可分為輕度扁 平足，指站立時足弓有點下陷但仍看的到足弓的型狀，中度扁平足是指站 立時看不到足弓，重度扁平足是指距骨向下塌陷且足內緣凸出。而足弓高 度較低的中及重度扁平足會影響到下肢的功能性表現，其行走的速度較 慢、平衡也較差，長距離的行走耐力不佳，也較易產生足部痠痛。至於高 弓足的目測觀察無法如扁平足來的明顯。

內側足弓高度常用來做扁平足、正常足與高弓足的判定，而常用的分 析方法各有其優缺點，為了評估內側足弓高度，間接或是直接的方法都曾 被採用。其中間接的方法包括足印與攝影分析，而直接的方法則包括人體 測量學與 X 光技術(Arangio, Wasser, & Rogman, 2006)。因此約可分為三大 類別，即 X 光放射線測量、人體測量與足印測量(如圖 2-3.)。放射線照片 測量的結果較準確，研究也指出其評估足部功能的高信賴度(Cavanaugh et al., 1997)，但成本價格與需暴露在輻射下是必須考慮的(McClay & Bray, 1996)。人體測量的方法主要是測量足底內側縱弓的高度，例如讓受測者站 立於水槽中，利用超音波測得舟狀骨上緣到地面的距離為足弓的高度。另 外臨床上常用的簡易評估方法是測量足底內側邊緣的軟組織之最高點到 平台面的高度，定義高度小於 2.43cm 為扁平足(Nachbauer & Nigg, 1992)。

足印測量的花費便宜、操作方便，所以大多用此方法來研究足部的形態 (Mickle, Steele, & Munro, 2008)。

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圖 2-3 單腳站立的足印測量方法

取自: 董莉貞，蕭佩琦，周偉倪，許正，林彣芷，度詠文 (2008)。遲緩兒 童扁平足篩檢探討。台灣復健醫誌，36(1)，31-37。

足印的測量方法所得的結果與放射線測量的結果做比較，研究指出兩 者之間有很高的相關性(Kanatli, Yetkin, & Clia, 2001)。足印測量依學者的定 義，可得一些不同的足印參數來分析足弓與足弓高度的預測比較

(Cavanaugh et al., 1997)，並且認為足印分析是評估扁平足方法中既簡單又 省錢、且能立即取得的方式。

足部是三維立體空間的構造，臨床上簡易方便的足弓高度預測方式是

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以足印測量來分析，所取的的測量資料常是二維平面上的線段比例、面 積、面積比例與角度等。

壹、 線段比例的足印分析

足印分析法中 Chippaux-Smirak index(CSI)為 b/a％ (如圖 2-4.) a 表 蹠骨頭(metatarsal head)的寬度，b 表足部中央最窄的寬度，c 表示足跟的 寬度，arch index 為 b/c。Chippaux-Smirak index 的界定扁平足，以 0.1 至 29.9％為正常，30 至 39.9％為輕度扁平足，40 至 44.9％為中度扁平足，大 45％於為重度扁平足。以 arch index(如圖 2-5.)界定 0 至 0.29 為高弓足，0.3 至 0.59 為正常，0.6 至 0.89 為輕度至中度扁平足，大於 0.9 為重度扁平足 (Echarri & Forriol, 2003)。

圖 2-4 為 Chippaux-Smirak index ( b/a％)， 圖 2-5 為 arch index ( b/c )

取自:Echarri, J. J., & Forriol, F. (2003). The development in footprint morphology in 1851 Congolese children from urban and rural areas, and the relationship between this and wearing shoes. J Pediatr Orthop B, 12(2),

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141-146.

足弓長指標(如圖 2-6.)定義為 PQ/L 的比值，其中 PQ 長為足印中蹠骨 區最外側的點和足跟邊緣的切線長，L 為沿著足印 P 和 Q 的連線長，其足 弓長指標愈小，足弓愈低(Hawes, Nachbauer, Sovak, & Nigg, 1992)。

圖 2-6 足弓長指標

取自:Hawes, M. R., Nachbauer, W., Sovak, D., & Nigg, B. M. (1992).

Footprint parameters as a measure of arch height. Foot Ankle, 13(1), 22-26.

貳、 面積比例測量的足印分析

足弓指數(Arch index)是靜止站立下取得足印，進行面積比例的分析。

腳掌的足印(不包括腳趾)全長等分成三段，前足(C)、中足(B)與後足(A)。

足弓指數是以中足區的面積與足底面積的比例，公式為 B/A＋B＋C，比例

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值愈大代表足弓愈低(圖 2-13.)。此足弓指數值大於 0.26 則為扁平足，數值 介於 0.21 至 0.26 之間則為正常足，小於或等於 0.21 則為高弓足(Cavanagh

& Rodgers, 1987)。

圖 2-7 足弓指數(Arch index)

取自: Cavanagh, P. R., & Rodgers, M. M. (1987). The arch index: a useful measure from footprints. J Biomech, 20(5), 547-551.

目前許多足印的測量取得與足弓高度的關係中，有些學者提出某種測 量方式是較能表示足弓的情形，Cavanagh 和 Rodgers 提出足弓指數(arch index)(Cavanagh & Rodgers, 1987)，對於中足較少與地面接觸的高弓足也可 以計算到，為測量內側縱弓高度具有良好信效度的間接方法，並且認為是 研究足弓高度與下肢功能關係的重要參考指標(Duffey, Martin, Cannon, Craven, & Messier, 2000)。但是也有學者認為該指數是著重於中足區的變 化，扁平足尚需考慮前足的外展及後足的外翻等角度影響到足底面積的變 化(陳嘉炘，2006）。

參、 角度測量的足印分析

足弓下角(subarch angle)是涵蓋前足、中足與後足而共同決定出來的角

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度，如圖，O 點為中足部最外側的點，以此點向前足與後足做切線，分別 交於 A 與 B 點，AOB 所構成的角度即為足弓下角(θ)(如圖 2-7)。足弓下角 是目前被認為足印分析中具代表性的扁平足測量參數(C. H. Chen et al., 2006)，陳嘉炘學者認為雖然有一些足印測量用來描述足弓的高度，但足弓 下角度是能顯示足弓高度在足印平面上變化的一種分析方式(陳嘉炘，

2006）。目前為止，只有該學者以足弓下角的研究方式發表，所以研究數 量極少，同樣是足印角度的分析，Clarke’s angle 的使用相較於足弓下角，

已有較多的研究發表。

圖 2-8 足弓下角

足印分析法中可利用的足印參數，足印角度的克拉克氏角度(Clarke’s angle)是橫切面上的測量方法。Clarke’s angle 的定義為 : 足印中蹠骨區內 側最靠外面的切點和足跟邊緣的連線，與蹠骨中內側最靠外面的的切點和 足弓蹠骨區中間狹窄部位的連線之夾角(如圖 2-8.)，此兩線所夾之角度愈 小，則足弓之高度愈低。此角度若大於 42 度為正常，介於 35 至 42 度為

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輕度扁平足，介於 30 至 34.9 度屬中度扁平足，介於 0 至 29.9 度為重度扁 平足。此方法所測出的足印角度施測足弓有高度的相關性(reliability coefficient=0.971)(Razeghi & Batt, 2002)。自 1933 年 Clarke 學者提出此測 量方式以來，在足印分析的種類中常被討論到。早期曾有學者以此方式研 究 1676 位 3 至 17 歲兒童，其性別、年齡與足弓發展的變化(Forriol & Pascual, 1990)，近期國外學者 Echarri 等人與國內學者董莉貞，也用此方式調查正 常兒童與發展遲緩兒童足弓型態與扁平足的發生率，此外 Grabara 學者對 於兒童以運動介入，其足弓變化的情形，也用此足印分析方式來探討 (Grabara, 2008)。所以 Clarke’s angle 是常用的足印分析方式，本研究採用 此方式評估發展遲緩兒童的足弓型態，並且進行相關性的分析。

圖 2-9 足印角度的 Clarke’s angle

取自:Echarri, J. J., & Forriol, F. (2003). The development in footprint morphology in 1851 Congolese children from urban and rural areas, and the relationship between this and wearing shoes. J Pediatr Orthop B, 12(2), 141-146.

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