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高次振態對表面波震測之影響

5.1 壩體表面波震測檢測技術改良

5.1.7 高次振態對表面波震測之影響

過去的表面波震測分析中以所得之基態頻散曲線為主,惟根據民 國 94 年本團隊執行「水庫安全監測問題評析與非破壞性檢測技術應 用之研究」專案於石門水庫、新山水庫與仁義潭水庫之壩體所獲得之 表面波震測測試結果顯示(如圖 5.17所示),常有高次振態出現於試驗

結果中,此情形對頻散曲線分析影響頗大,因此有進一步探討其影響 的需要。

圖5.17 仁義潭殼層表面波震測頻散曲線影像(摘自水庫安全監測問 題評析與非破壞性檢測技術應用之研究,民國94 年)

在水平層狀地層中,以純彈性理論對地層進行解析可獲得一地層 的表面波頻散曲線,如圖 5.18實線所示。此頻散曲線由任一頻率自低 速往高速依序被命為基態頻散曲線、第一高次振態頻散曲線、第二高 次振態頻散曲線等次序而下,此些振態為該地層所可能產生的所有振 動模式,但在實際的試驗結果中,會因為地層特性、震源的不同以及 施測參數(近站支距、接收器位置等)的不同而會有不同的能量集中(如 圖 5.18的影像所示)。在頻散曲線的分析上,每個頻率上最大能量的 位置稱做主控振態,過去都假設此主控振態會是基態,然而由圖5.18

影像中可知,能量的集中會隨著頻率的不同而在不同振態上甚至是集 中在振態與振態間。由過往文獻與經驗總結,高次振態做為主控振態 主要是地層特性造成,對於夾弱層之地層或是在近地表2 公尺內有非 線性的快速波速增加的地層常可發現。於 5.1.2 小節對於表面波震測 法的現況評析中已提及在測線展距不足的情況下將會有資料遺漏情 形,進而造成對於各振態間的解析度不足而無法進行各振態的確認。

因此,在對於高次震態對於表面波震測結果影響之探討中,將對於其 影響分為兩部份進行討論,一是在振態可被辨識的情形下,另一是在 各振態無法被分離辨識的情形。

圖5.18 表面波振態理論值與數值模擬值比較

在 本 探 討 中 所 採 用 的 解 析 值 以 及 數 值 模 擬 程 式 是 由 Herrmann(2002)所撰寫,使用的震測模擬方法是振態疊加法(modal summation method)。而在反算部份是使用Kansas University團隊所發 展的Surfseis v1.8 行,為使此探討更符合在現地施作後的分析情 形,因此對於反算中的參數設定,除半無限域深度外皆以其內設值進 行(參數包含土層層數、土層密度、土層卜松比、土層厚度以及半無 限域深度,其中土層層數為以 10 層進行,厚度採用隨深度漸增,卜 松比為0.4,密度為 2 g/cm3,半無限域深度根據所得頻散曲線之最大 波長為其值)。使用於探討用的地層參數如

表5.3所示,此地層共有四 層,各層厚度漸增,第四層為半無限域空間,剪力波速在第二層中較 第一層及第三層為低,使此地層有夾弱層的特性用以製造出高次振態 的影響。

表 5.3 地層模型參數表

層序 厚度(m) 密度(g/cm3) 壓縮波速

(m/s) 剪力波速 (m/s)

1 2 1.8 300 140

2 4 1.8 300 120

3 8 1.8 360 180

4 -- 1.8 750 360

1. 振態分離可辨識的情形

模擬時的現場施測配置如圖 5.19所示,採用敲擊式震源,以 15 公尺的近站支距施炸,接受器間距為 1 公尺,共使用 48 個接收器,

測線總長47 公尺。對其結果進行頻散曲線分析後,得到頻散曲線如圖 5.20所示。圖中圓圈是由進行頻散曲線分析所得到的頻散曲線值,實 線的是由解析解所獲得的地層頻散曲線。由圖中可清楚的發現,由分 析 所 得 的 頻 散 曲 線 在 不 同 頻 率 上 是 由 不 同 的 振 態 主 控 , 在 頻 率 5~40Hz是由基態主控,而 40~70Hz是由第一高次振態主控,70~100Hz 是由第二高次震態主控。因為所採用的展距 47 公尺對此地層來說已 數足夠,因此可以看見不同的振態間會有很明確的不連續產生,而可 使我們得以分辨其不同振態。在此頻散影像中可發現,在一個頻率 下,除了最大能量集中而得到的主控振態外,在其他振態的地方亦會 有較淺色的能量存在,此等現象顯示,只要有能量在該振態中存在,

分析者便有機會將該振態的頻散曲線挑選出用以地層反算。

由此地層所得到的頻散曲線結果可了解,在基於基態頻散曲線為 反算標的的前提下,若可將振態分離,則高次振態存在對於表面波震 測的影響將主要是使得所獲得的基態頻散曲線頻寬變小(以圖為例,

此頻散分析所得到的頻寬是5~100Hz,但是可用於反算的基態頻寬僅 有5~40Hz)。接下來將透過對不同頻寬的反算與此地層模型進行比對

以了解其對於反算結果的影響。

圖 5.19 振態可分離下的現場模擬施測配置

圖 5.20 測線長 47 公尺的頻散曲線影像圖

在前文已提及,在頻散曲線影像中於頻率高於40Hz 後的主控振 態由基態跳至第一高次振態,但仍可在影像中看見基態延續的位置,

藉由人工挑選可增長基態頻寬。基於在現地施測的經驗顯示,現場的 收錄到的訊號頻寬以10-60Hz 為主,因此,在反算中將使用二種基態 頻 寬 的 頻 散 曲 線 進 行 反 算 , 此 二 種 頻 寬 分 別 是 10-60Hz 以 及 10-40Hz。第一頻寬帶是用以觀察在較好的資料品質下以基態頻散曲 線進行反算所獲得之最佳結果與實際地層的差異;第二頻寬帶是用以 觀察在獲得此頻散曲線後,實際使用所得之基態頻散曲線頻寬所得之 反算結果。

反算所得之結果如圖5.21所示,此反算之RMS值皆僅 1%,在試 驗值與反算所得之理論值間有良好的吻合度。由圖中可見,10-60Hz 及 10-40Hz 結果極為相似,其主要的差異是產生在近地表 4 公尺 內,此結果明確地顯示在缺少高頻段資料時將對於近地表的地層探測 產生較大的差異。將真實的地層與反算所得之地層比對可發現,反算 所得之地層在6 公尺後有低估波速的情形,但在整體趨勢上確實地顯 示出約略在2 至 6 公尺深度段有夾弱層存在的情形。反算的結果因為 在反算過程中並沒有限制亦沒有給定地層厚度,因此在地層變化處會 有一定的誤差。

此外,在地表下 6 公尺後與真實的給定地層有較大的誤差存在,

造成此一影響的除了因為在反算中缺乏基態頻散曲線較低頻(<10Hz) 的資訊外,根據Xia et al.(2000)的研究指出,在相同的頻率下,高次 振態與基態比起可攜有較深層的地層資訊,而可有助於對較深處的地 層解析。

圖 5.21 不同頻寬之頻散曲線反算結果比較

2. 振態無明顯分離的情形

使用相同的地層模型,緊改變施測的展距,其模擬時的現場施測 配置如圖 5.22所示,採用敲擊式震源,以 15 公尺的近站支距施炸,

接受器間距為1 公尺,共使用 24 個接收器,測線總長 23 公尺。對其

結果進行頻散曲線分析後,得到頻散曲線如圖 5.23所示。圖中圓圈是 由進行頻散曲線分析所得到的頻散曲線值,實線的是由解析解所獲得 的地層頻散曲線。由圖中可清楚的發現,原先於圖5.20中可清楚分離 的不同振態在這裡並沒有很明顯的斷點不連續,在不同振態間的跳躍 會有漸變過渡的情形。在此狀況下所獲得的頻散曲線可稱之為視頻散 曲線(apparent dispersion curve)或有效頻散曲線(effective dispersion curve)。由圖中亦可發現,在較高頻的位置(~70Hz)因為不同振態間的 差距縮小,不同振態的轉換更加平滑,在不知其實際高次振態的位置 時,是完全無法感受到其可能混有兩個以上振態的可能。

圖 5.22 振態無明顯分離下的現場模擬施測配置

圖 5.23 測線長 23 公尺的頻散曲線影像圖

在此採用10-60Hz頻寬段的視頻散曲線資料進行反算,反算所得 之結果如圖 5.24所示,反算的誤差值為 3%。由圖中可見在近地表 6 公尺以下的反算地層與單使用基態進行反算所得的結果相類似。一般 認為各深度的波速與波長相關,因此在相同的頻寬段使用相同的頻散 曲線時,雖然會稍為受到其它頻寬的影響,但大致相去不遠。然而在 近地表6 公尺以內的反算結果與地層模型比起,不但無法顯示出地層 的趨勢,且使地層有些人造現場產生。反算所得的地層顯是在近地表 有兩個夾弱層的結構,一個極薄約 1 公尺厚位於地表下 2 公尺處,另

一個弱層約4 公尺厚,在地表下 4 公尺至 8 公尺的位置。此一反算地 層所造出的結果顯示出將 0-60Hz頻寬段的第一高次振態做為基態振 態與10-40Hz頻寬段一起反算時將可能使得結果有極大的不合理。

4

100 150 200 250 300 350 400 0

2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22

shear wave velocity, m/s

dept h, m

True Model 10-60Hz

圖5.24 地層模型與視頻散曲線反算結果比較

由上述兩種高次振態在頻散曲線中的不同存在情形可了解,在現 行以基態振態為反算標的的反算技術下,只要能有效的辨識出基態頻

散曲線,則即使在頻寬較為不足的情形下只要有合理數量的頻寬(會 隨地層的複雜度而有所不同,但以本文所舉之例而言,30Hz 的低頻 頻寬已可掌握)便可掌握地層的整體趨勢與結構特徵。在此點上,

Zhang and Chan(2003)在其研究中指出,基態頻散曲線的頻寬在低頻 處的資料於反算中較高頻處的資料更形重要,只要能確保低頻資料的 正確,則反算結果皆可合理地反應出地層特性。而若無法將高次振態 與基態振態分辨,則反算的結果將會有較大的誤差,且會有為降低反 算誤差而造成的人造地層特徵出現。

可能的解決方案:其一,考量現行已發展完整的表面波震測反算 工具的使用,於試驗分析中獲得地層之基態頻散曲線仍是首要目標 (Zhang and Chan, 2003),在此一目的下,於 5.1.3 小節中所提出之高 側向解析法將為一良好之應用方法。如前所述,高側向解析法可有效 提升表面波震測的側向解析度並提高探測深度,其概念便是在於利用

可能的解決方案:其一,考量現行已發展完整的表面波震測反算 工具的使用,於試驗分析中獲得地層之基態頻散曲線仍是首要目標 (Zhang and Chan, 2003),在此一目的下,於 5.1.3 小節中所提出之高 側向解析法將為一良好之應用方法。如前所述,高側向解析法可有效 提升表面波震測的側向解析度並提高探測深度,其概念便是在於利用